Многоэлементный полупроводниковый индикаторный прибор
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
"ф". :.: тена МЬА ОП ИСАНИЕСоюз СоветскихСоциалистическихРеспублик(45) Дата опубликования описания 03.12.76 Кл,Н 01 1.15/О Госудврственнын комитет Совета Министров СССР по делам изооретеннй и открытийПОЛУПРОВОДНИКОВ ЬЫЙ ПРИБОР ага Изобретение относится к области полупроводниковой электроники, в частности к полупроводниковым приборам, излучающим свет в видимой области спектра и предназначенным для индикаторных устройств.Известен многоэлементный полупроводниковый индикаторный прибор, состоящий из кристалла карбида кремния, содержащего на поверхности активный легированный слой с расположенными на нем омическими контактами, конфигурация и размеры которых определяют топологию светящихся элементов.Однако известный прибор имеет высокую гальваническую связь между элементами, что ведет к сомовключению элементов, на которые не подается сигнал, и значительное размытие области излучения за пределы, заданные топологией схемы. С целью улучшения локализации излучения впредл емом приборе между излучающими р- и-пеходами имеется дополнительная область того жеолупроводникового материала с концентрациейдефектов структуры от 10 щдо 10 см; кроме того,ее;вополнительная область имеет глубину залегания,ревышающую толщину полупроводникового слоя на котором расположены дискретные омические контакты на 0,1 мкм.Дополнительная область характеризуется в ысоким удельным сопротивлением и высокой концентрацией центров-гасителей электролюминесценции,На чертеже показан предлагаемый многоэлементный индикаторный прибор.В пластине 1 карбида кремния формируютсякомпенсированная область 2 и р-область 3. На высокоомной области 3 получают ряд дискретных омических контактов 4, между которыми находится дополнительная область 5 с концентрацией дефектов от 10 "едо 10 см з Толщина области 5 превышает толщину области 3 не менее, чем на 0,1 мкм.На противоположной стороне кристалла расположен омический контакт 6.Прибор работает при подаче прямого смещенияна общий вывод и на нужную комбинацию элементов со стороны высокоомной области кристалла, 0 при этом наблюдается свечение заданой комбинациидискретных элементов, Благодаря тому, что свечение имеет место только под дискретными омическими контактами, наличие дополнительной области с высокой концентрацией дефектов обеспечивает щ отсутствие краевых свечений за счет поглощения460832 Составитель М. ЛепешкинаТехред Н. Андрейчук Корректор Т. Кравченко Рьдактор О, Янова Тираж 963 Подписное ЦНЯИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35;-Раушская наб д, 4/5Заказ 5055/423 филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 светоизлучения дефектными центрами кристаллической решетки дополнительной области и резкийконтур свечения рисунка. Формула изобретения1. Многоэлементный полупроводниковый ин. дикаторный прибор, состоящий из кристалла полупроводникового материала, имеющего р п; переход, общий омический контакт к области одного типа проводимости и ряд дискретных омических 4контактов к области другого типа проводимости.отличающийся тем, что, с целью улучшения локализации излучения, между излучающими р-тьпереходами имеется дополнительная область того же полупроводникового материала с концентяа -3рацией дефектов от 10 до 1 У см2. Прибор по п.1,отличающийся тем, чтодополнительная область имеет глубину залегания, превышающую толщину полупроводникового слоя, 1 р на котором расположены дискретные омическиеконтакты на 0,1 мкм.
СмотретьЗаявка
1795599, 08.06.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Х-5594
КАРАЦЮБА А. П, КМИТА Т. Г, КРУГЛОВ И. И, КУРИННЫЙ В. И, КУРНОСОВ А. И, РЫЖИКОВ И. В, ЮДИН В. В
МПК / Метки
МПК: H01L 15/00
Метки: индикаторный, многоэлементный, полупроводниковый, прибор
Опубликовано: 05.08.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-460832-mnogoehlementnyjj-poluprovodnikovyjj-indikatornyjj-pribor.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Многоэлементный полупроводниковый индикаторный прибор</a>
Предыдущий патент: Устройство для программного управления
Следующий патент: Термоиндикатор плавления
Случайный патент: Устройство для измерения магнитных моментов скачков намагниченности в ферромагнетиках