Электролюминесцентный микроскоп

Номер патента: 66974

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Линник

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: качества, микроскоп, поверхности

...поверхностью.Отличие предлагаемого микроскопа от ранее известных состоит в том, что для возможности изучения тонкой структуры поверхности объектив микроскопа снабжен интерференционной насадкой, выполненной по схеме интерферометра Майкельсона.Устройство насадки изображено на фиг, 1. Насадка содержит два зеркала: зеркало М состоящее из двух склеенных плоскопараллельных пластинок, одна из которых имеет полупрозрачный слой на склейке., и зеркало М, с наружным отражающим слоем.Пучек лучей, вышедший из источника света 5, частью отражается от разделительного зеркала М,. попадает на объект А, отражается от него обратно и попадает в микроскоп через объектив О. Часть пучка, прошедшая через зеркало М, .отражается затемМа и, снова отразившила М,...

Номер патента: 1095036

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Кучин, Малышев

МПК: G01B 11/30

Метки: микроскоп, однообъективный, поверхности, растровый, шероховатости

...образом,Свет от источника 1 света с помощьюконденсора 2 попадает на исходныйрастр 3, штрихи которого находятся вфокальной плоскости линзы 4, и,отразившись от зеркала 5, попадает на децентрированную диафрагму 6, расположенную вблизи зрачка объектива 7. С помощью одной из половин объектива 7штрихи исходного растра 3 проектируются на исследуемую поверхность 14.Исследуемая поверхность 14 вместе соспроектированными на нее штрихамиисходного растра 3 второй половинойобъектива 7 и линзой 8 изображаются вплоскости растра 9 сравнения. При этомсвет проходит через второе отверстиев диафрагме 6. Образовавшаяся в плоскости растра 9 сравнения картина муаровых полос рассматривается с помощьюсистемы отсчета.Известно, что цена С муаровой полосы связана с...

Номер патента: 78570

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Поляков

МПК: G01B 9/02, G01N 21/45, G02B 21/14

Метки: интерференционном, микроскопом, объектов, поле, прозрачных, рассматривания

...5 и окуляр б, В микроскопе, в месте образования изображения щели 8 объективом 5, устанавливают плоскопараллельную пластинку 7, покрытую полупрозрачным слоем, алюминия с пропускной способностью 0,3 - 035. На алюминированной поверхности пластинки 7 сделана щель (или щели) шириной 0,01 - 0,02 мм.Плоскопараллельную пластинку 7 устанавливают так, чтобы изображение щели 8 было совмещено со щелью в пластинке 7. Тогда пучок лучей света, пройдя через щель в пластинке 7, подвергнется лишь дифракционным изменениям и создаст одну из двух иятерферирую щих волн. Другой интерферирующей волной являютсялучи, прошедшие через рассматриваемый объект и полупрозрачный слой пластинки 7 и подвергшиеся изменению уже в зависимости от оптических свойств...

Номер патента: 95600

Опубликовано: 01.01.1953

Автор: Малышек

МПК: G01N 21/01, G02B 21/32

Метки: микроскопом, микрофауны, сортировки

...отверстием в центре, расчерчебелыми линиями, образующими 24 сектора, В верхней части сектограниченных второй окружностью, нанесены произвольные обознадля того, чтобы в процессе работы не терять исследуемого участка.Пластинка 6 (фиг, 7), изготовленная из плексиглаза, используетсядля сортировки по видам микрофауны, отобранной с помощью описан95600ного Выше приспосооления. В пластинке Вырезано ОкнО, В которое ВстаВ- ляются камеры,При йсйо%ьзовании приспособления в паз диска 3 укладывается камера, на которую накладывается чашечка 1 соответствующим квадратным отверстием,Приспособление в таком положении готово к употреблению.Порошок породы с микрофауной рассыпается в чашечке 1 равномерным тонким слоем.Отбор микрофауны ведется от периферии к...

Номер патента: 113433

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Драганов

МПК: G02B 1/10, G02B 21/02

Метки: аноптральных, микроскопов, объективов

...например меди, пропускающего коротковолновую часть видимого спектра.Пленка металла беззерниста и не рассеивает проходящий свет. Такие металлы как медь (и ряд других: золото, серебро) в тонком слое пропускают только коротковолновую часть спектра (зеленые и синие лучи), что улучшает разрешающую способность объектива, Толшина пленки (а также степень уменьшения яркости нулевого максимума), от которой зависит контраст, легко регулируется количеством металла, длительностью испарения или изменением расстояния линзы от испарителя.Для нанесения металла могут быть использованы известные ваку. умиспарительные установки, например, применяемые для напылеКомитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Отв. редактор Л. Г....