Способ определения оптической ориентации поликристаллических веществ

Номер патента: 1608505

Авторы: Вохменцев, Кукуй, Третьякова

ZIP архив

Текст

(2 (4 (7 3ый институт им(72 и Л (53 нцев ический анаиентировок ми987, с. 89.л С 01 М 21/35,л е 198 (54 ОРИ ЩЕС (57 лен СПОСОБ ОПНТАЦИИ ПОЛИВИзобретентекстуры ПТИЧЕСКО ЕСКИХ ВЕ ДЕЛЕНИЯРИСТАЛЛИЧ ся к опр род,. Цел относ рных зобретение деления с ентов гор ель изобр л ственн пр нтации оптещества.а фиг. 1 и о азан спектр отражекальци н аралле ча ая 1, на ндикуля кривк а сть м ения к т у м вого пу в я опре сей зе кальцита из про н СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ р РЕСПУБЛИК ДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПНТ СССР ТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ 4414,1 18/31-2522.04,88.-23. 1-1.90. Бюл. В 4Ленинградский горнГ,В.ПлехановаА.Л,Кукуй, А.Я.ВохмИ.Третьякова543.422.4(088.8)Казаков А.Н. Динаммикроструктурных орлов. - Л.; Наука, 1аявка ЕР В 0176827,к относится к области.руктурно-текстурныхх пород.тения - определениеой пространственнойической оси исследуем направление паденияльно оптической оси - . равление падения лу но оптической оси крися 2; на фиг. 2 - завированной интенсивности ьцита при=11,24 мкм оптической осью и осью ка.ления суммарной ориента 2 изобретения является определение преимущественной пространственной ориентации оптической оси исследуемого вещества. Измеряют интегральную нормированную интенсивность отраженного ИК-излучения в трех взаимно перпендикулярных срезах поликристаллических веществ на двух длинах волн, отражение на одной из которых не зависит от ориентации оптической оси кристаллов относительно направления падающего луча, а другая имеет такую зависимость. Ориентацию в каждой плоскости определяют по отношению интенсивности отраженного излучения на этих длинах волн. Пространственную а ориентацию восстанавливают по ориен- Е тации во всех трех плоскостях. 2 ил. ственно ориентированного образца из"вестняка или мрамора вырезаются иполируются три взаимно перпендикулярно ориентированных пластины смаркировкой их ориентации. На ИКспектрометре для всей площади срезакаждого образца получают ИК-спектротражения. Известно, что у несдвой-,никованных зерен кальцита, например,в известняках и мраморах ориентировка оптических осей совпадает с направлением оси сжатия. В ИК-спектрахотражения кальцита в диапазоне 515 мкм выделяют два максимума на11,24 и 6,66 мкм, величина первогозависит от ориентации кристалла(фиг. 1). Определяется интенсивность1 отражения на длинах волн 11,24,и1608505 Щ ЮО 40 Составитель Д.ПахомовТехредЛ.Сердюкова орректор М. шарош актор Е.П 0 Тираж 511 Подписноесударственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 акаэНИИПИ эводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород П агарина, 101 6,66 мкм. По отношению-- , кото 14, г.а6 66рая в зависимости от угла между направлением оптической оси и направле нием оси падающего светового пучка варьирует в пределах 0-1,45, определяют по графику (фиг. 2) преимущественную оРиентировку зерен кальцита.1 (1,га 10 Так, для значения ---- = 0,5 имеют1 6,66 о 1 ,га угол К = 32 а для в в - - = 1о э 1о 6,66 Ы., =. 58 . Уточняют общую ориентацию, например, путем нанесения результатов замеров в каждой пластине на стереографическую проекцию Вульфа. формула изобретения20 Способ определения оптической ориентации поликристаллических веществ, заключающийся в том, что на образец воздействуют ИК-излучением сдвумя длинами волн, характеристикиотражения на одной из которых не зависят от оптической ориентации текстуры образца, а для другой такая зависимость имеет место, определяют характеристики отражения на этих длинах волн, по которым судят об оптической ориентации вещества, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с цельюопределения преимущественной пространственной ориентации оптическойоси исследуемого вещества, определяют интегральную по площади интенсивность отраженного излучения для всехзерен одной кристаллической фазы втрех взаимоперпендикулярных срезах,затем по отношению интегральных интенсивностей отраженного излученияопределяют ориентацию для каждогосреза и восстанавливают пространственную ориентацию по ориентациям,полученным для срезов.

Смотреть

Заявка

4414118, 22.04.1988

ЛЕНИНГРАДСКИЙ ГОРНЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. Г. В. ПЛЕХАНОВА

КУКУЙ АНАТОЛИЙ ЛЬВОВИЧ, ВОХМЕНЦЕВ АНАТОЛИЙ ЯКОВЛЕВИЧ, ТРЕТЬЯКОВА ЛЮДМИЛА ИОСИФОВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 21/35

Метки: веществ, оптической, ориентации, поликристаллических

Опубликовано: 23.11.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1608505-sposob-opredeleniya-opticheskojj-orientacii-polikristallicheskikh-veshhestv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения оптической ориентации поликристаллических веществ</a>

Похожие патенты