Сиройць

Номер патента: 1226197

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Молочников, Морозов, Сиройць

МПК: G01N 21/43

Метки: кристалла, оптической, ориентации, оси, рефрактометрического

...значительно возрастает.П р и м е р, Пусть ориентация оптической оси определяется в кристалле исландского шпата, а измерительная призма выполняется из стекла ТФ-.4. Для измерения используется автоматический Фоторефрактометр ИРФб 1, снабженный голяризаторами во входной и выходной диафрагмах. На фиг.2 показана зависимость интенсивности сигнала на фотоприемнике (пропорционального коэффициенту г,) в зависимости от угла падения 6 для угла=10 . Симметричная Форма минимума на кривой позволяет определять Ы с высокой точностью. При погрешности определения 9 зЗ погрешность определения с получается попреломления кристалла для необыкновенного луча).Таким образом, если при вращении относительно нормали к его поверхности кристалл, помещенный...

Номер патента: 1226196

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Молочников, Морозов, Сиройць

МПК: G01N 21/43

Метки: показателя, преломления

...этой плоскости (и, и п, - главные показатели преломления кристаллической призмы, и - показатель преломления внешней среды, в качестве. которой при измерениях выступает исследуемая жидкость). Если и, п,сп то в положении, при котором п=1,коэффициент отражения имеет минимум, аналогичный имеющемуся на фиг.1.Условие минимума коэффициента отражения можно получить, дифференцируя известные формулы для коэффициентов отражения от одноосного кристалла,Тогда в случае естественного света илидК =в случае поляризованного перпендикулярно плоскости падения, где ф - уголповорота кристаллической призмы относительно положения, когда оптическая ось перпендикулярна плоскости падения.На практике удобнее проградуировать шкалу угломерного устройства...