Патенты опубликованные 15.03.1991
Устройство для определения напряженного состояния легкодеформируемой среды
Номер патента: 1634991
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Сапожников, Терновский
МПК: G01B 7/18
Метки: легкодеформируемой, напряженного, состояния, среды
...и экспериментально. Так, в глестэх устэновки тензопреобрэзователей 11 с фиксировэнсцягли углами Д значение продостьного напракессия ог получэот из следующей 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 олтс -Л+т сов 2 (/А, 0), (1)Вгде 1=1, 2 - число закрепленных тензопреобразователей;р, В, Гст - радиус кривизны, ширина иплощадь поперечного сечения криволинейс 40 Й балочки;о 1 + оз от - оз1/22о 1 и оз - главные максимальные и минимальные напряжения;О - угловая координата от,При этом шарнирное соединение осьсо5 криволинейной тензобалочки 2 со стойкой4 и их крепление осями 3 и 6 к основанию 1тензометра обеспечивает статическую определимость всей системы, а в стойке 4обеспечивает появление сжимающих напряжений (для избежания возникновенияизгибных...
Датчик угловых перемещений
Номер патента: 1634992
Опубликовано: 15.03.1991
Автор: Абрамцев
МПК: G01B 7/30
Метки: датчик, перемещений, угловых
...первичную обмотку 11 датчика (фиг, 1) подается напряжение переменного тока промышленной или повышенной частоты. Магнитные потоки Ф 1 и Ф 2, созданные этой обмоткой, замыкаются через полюсные наконечники 6 - 8 магнитопрооода 2, якорь 14 и его полюсные наконечники 16-19, а также воздушный зазор между ними. Благодаря тому, что дисковый участок якоря 14 имеет площадь поперечного сечения в области воздушного зазора, уменьшенную вдвое и смещенную относительно оси неподвижного мдгнитопровода 2, происходит возвратно-поступательное перемещение этогоучастка между боковыми полюсными наконечниками б и 8 и средним полюсным наконечником 7. При повороте якоря 14 в ту или другую сторону от начального положения величина участков зазора (например, 5 д 1,...
Устройство контроля правильности базирования деталей
Номер патента: 1634993
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Гутман, Ларин, Маршенников, Сентяков
МПК: G01B 7/34
Метки: базирования, правильности
...4, источник 5 питания, один из концов которого подключен к светодиодам 4, втсрой - через геркон б к общей шине, В радиальном канале корпуса (не показан) размещен постоянный магнит 7 с возможностью взаимодействия его с герконом б.Установочные элементы 2 содержат корпус О, установленную в нем изолирующую втулку 9, выполненную из упругого изоляционного материала, электроконтактный элемент 10, установленный во втулке и накидную гайку 11, Электроконтактный элемент 10 соединен проводником 12 с соответствующим светодиодом 4 блока 3 сигнализации,Устройство работает следующим образом,При установке детали 13 в приспособление, например в токарный патрон 1, происходит касание детали с электроконтактными элементами 10 установочных элементов 2, в...
Устройство для измерения перемещений
Номер патента: 1634994
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Плешивцев, Терещенков
МПК: G01B 11/00
Метки: перемещений
...3 с чередующимися треугольными и квадратными окнами, двумя ячейками с квадратными окнами изглерительного растра 4, фоконами 5 и 6 и фотоприемниками 7 и 8, и электронного блока, содержащего усилители 9 и 10, сумматор 11, фильтры 12 и 13, измеритель 14 уровня, счетчики 15 и 16 и регистратор 17. Ячейки растров выполнены о виде набора плоских пластин, установленных параллельно опти еской оси.Устройство работает следующим образом.Опорный и измерительный растры 3 и 4 устанавливают так, что их окна перекрывают друг друга (фиг. 3), при этом измерительный растр 4 жестко связан с контролируемым объектом, а опорный растр 3 вместе с источником 1 света и линзой 2 укреплены на неподвижном основании. Измерительный растр 4, перемещаясь вдоль опорного...
Оптический датчик к устройству для измерения линейных перемещений и вибраций
Номер патента: 1634995
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Барченко, Герасимов, Сергеев, Таборко
МПК: G01B 11/00
Метки: вибраций, датчик, линейных, оптический, перемещений, устройству
...от оси световода 2, то, пройдя световод 10, луч смещается на 2 Х вниз от оси световода 2. С таким же смещением (2 Х вниз от оси световода 2) луч входит в световод 9, ось которого совпадает с осью световода 2, и выходит иэ световода 9, повернувшись относительно его оптической оси на 180, смещеным на 2 Х вверх от оси. В свеговод 11, смещенный вниз на Х, луч входит смещенным д ЗХ вверх от оси световода; йо выходит из него, повернувшись нд 180 относительно его оси на расстоянии ЗХ ниже оптической оси световода 11, д так как она сдмд смещена на Х вниз от оси световода 2, то, пройдя световод 11, луч смещается на 4 Х вниз от оси световода 2. уч, войдя в световод 6 сглещенным на 4 Х вниз от его оси, проходит его и, разворачиваясь, выходит на...
Способ определения характеристических величин полей напряжений вблизи вершин трещин
Номер патента: 1634996
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 11/16
Метки: вблизи, величин, вершин, напряжений, полей, трещин, характеристических
...пластинки.Голщипа клеевого слоя должна быть мипнл,дльпо возможной для того, чтобы обеслечи гь идентичность искривления зсркдлыого слоя и поверхности обьекта в црлцсссс ндгружения, При использовании укдздцных компаундов толщина клеевого с Оч дслж а быть це лченее 50 мкм, если и, рьпис наносится при 15 - 25 С, и не меч.; 30 .)кль соли ко; гцауцд предварительно д; рс ь д 50-60 С, Уменьшение толщины ,сдсго слприводит к снижению качест- Д ОтРДжаь-ОЛГО ЦОКРЫтИЯ ИЗ-ЗД ПОЯВЛЕНИЯ , -.,пы,. усгог и местных отслоений.г."сбусмдл толщина покрытия (30 - 50 мкм) дб. гцсчцвдстсч калибровочными прокладка,)п гпсжду поосрхностью образца и стеклцой пластинкой,Пучок свсгд От лоцохроматичсского исгц,ппкд 1, например лазера, превращается : и;г)дллсльпый с...
Способ определения 2-хлорэтилфосфоновой кислоты в воздухе
Номер патента: 1634997
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Жидкова, Москалева, Хлебников
МПК: G01N 30/04
Метки: 2-хлорэтилфосфоновой, воздухе, кислоты
...промежуточный расгоор ХЭФК, концентрация 35которогоСисхЧисхСлрЧкгде Спр - массовая концентрация ХЭФК впромежуточном растворе, мг/см; 40Чисх - объел 1 исходного раствора, взятый на разведение, см .Градуировочные растворы с массовой концентрацией УЭФК от 0,3 10 до 3,0 10 мг/смгогооят разбаилением промежуточного раст оорл о мерных колбах вместимостью 100 см,здля чего отбирают пипеткой последовательно 0,5; 1,0; 2,0; 3,0; 4,0; 5,0 см промежуточного раствора, переносят в мерные колбы идоводят объем до метки 0,01 и. водным растоором соляной кислоты, Точное значениемассовой концентрации ХЭФК о каждомградуирооочном растворе рассчитывают пофор.1 улес, ч55Сгркгде Сгр - массовая концентрация ХЭФК вградуирооочном растворе мг/см; Ч,р - объем...
Способ аттестации пентагонального отражателя и устройство для его осуществления
Номер патента: 1634998
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Докучаев, Замолодчикова, Казаков, Панина
МПК: G01B 11/26
Метки: аттестации, отражателя, пентагонального
...2 устанавливают 25 трь, чтобы его визирная ось была перпендикулярна визирной оси автоколлиматора 1, Мекду плоским зеркалом 3 и рвтоколлиматором 1 располагают юстировочный стол 4, ось врргцения которого пересекает визир ную ось автоколлимртора 1, Нр юстировочный стол 4 устанавливают пентагональный огракртель 5 так, чтобы в исходном положении обеспечить оптическую связь между плоским зеркалом 3 и рвтоколлиматором 1. 35 Проверяют их взаимное расположение и при наличии рассогласования фиксируют отсчет и нр шкале автоколлиматора 1. Затем разворачивают юстировочный стол 4 на некоторый угол и устанавливают пентагональ ный отражатель 5 в полокении, обеспечивающем оптическую связь автоколлимрторов 1 и 2. При помощи механизма рзимутрльной...
Устройство для контроля загрязненности оптической поверхности
Номер патента: 1634999
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 11/30
Метки: загрязненности, оптической, поверхности
...6 выполняется по любой известной или доступной рабочему проектированию схеме сопоставления двух сигналов (анализатор отношения, разности, совпадения и т,д,).Приемники 2 и 3 излучения установлены в одной плоскости, симметрично относительно оптической оси излучателя и с воэможностью изменения расстояний между ними, Пластина 7 расположена вплотную к приемникам 2 и 3 излучения,Описанное устройство работает следующим образом.Излучение от излучателя 1 попадает в контролируемую оптическую деталь 5 и после переотражений в нем воспринимается приемниками 2 и 3 излучения, При загрязнении или при дефекте поверхности детали 5 в зоне контроля уменьшается часть излучения, достигающая приемников 2 и 3 излучения. На приемнике 2 излучения это...
Способ определения функции распределения углов наклона микронеровностей шероховатой поверхности
Номер патента: 1635000
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 11/30
Метки: микронеровностей, наклона, поверхности, распределения, углов, функции, шероховатой
...4 состообьективов и диафрагмы междужит для расширения пучка и форволны с плоским волновым фростинка 2 ориентируется таким обее ось наибольшей скорости сост45 с плоскостью поляризациипучка, что позволяет получить циркулярную поляризацию освещающего пучка. Поляризатор 6 вращается с помощью шагового двигателя (не показан), что обеспечивает вращение плоскости колебаний световой волны относительно плоскости падения, Объект 12 осуществляет поляризационнофазовую модуляцию лазерного пучка, Объектив 5 проецирует изображение исследуемой шероховатой поверхности объекта 12 сквозь поляризатор 3 в плоскость полевой диафрагмы 7, за которой расположены магнитооптический модулятор 8 и фотоэлектрический блок 9 регистрации, Размер полевой диафрагмы 7...
Способ измерения толщины металлического покрытия на диэлектрической подложке и чувствительный элемент для его осуществления
Номер патента: 1635001
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Амельянец, Гуничев, Пчельников, Федичкин
МПК: G01B 15/02
Метки: диэлектрической, металлического, подложке, покрытия, толщины, чувствительный, элемент
...магнитного поля сопровождается изменением фазовой скорости поверхностной волны, что приводит к изменению времени О. Кроме того, время О изменяется в зависимости от температуры Т подложки покрытия, находя 1635001щегося в тепловом контакте с пластиной 1,Действительно, изменение тмпературыприводит к изменению геометрических размеров пластины 1 и диэлектрической проницаемости ее материала, с которым 5взаимодействует электрическое поле поверхностной волны. Таким образом, времяОэависит от величин Л, М, Я, Т, На рабочемучастке многомерной градуировочной характеристики эта зависимость по экспериментальным данным имеет вид;0(Л) = О, (Л 1) 1 + а(Л 1) (Л - Ло) 1+3(Л 1)Хх(М - Мо) 1 + у (Л 1) (Я - 5 о) 1 + д (Т - То),(2)где Оо, Ло,йо, Яо, То -...
Устройство для контроля периодических перемещений
Номер патента: 1635002
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Борисова, Ершов, Каниовский, Николаев, Смирнов, Чупак
МПК: G01B 21/00
Метки: перемещений, периодических
...кол 1 паратора О 1 и О 2 устанавливаются в зависимости от требуемого диапазона изменения управляющего напряжения при контроле. В результате срабатывания компаратора б на его выходе формируются прямоугольные импульсы, передний фронт которых формируется при значениях Оьх=О 1, а задний - при Оьх=О 2. Последовательность прямоугольных импульсов с компаратора б поступает на первый управляющий вход счетчика 7 и на счетный вход счетчика 8. Счетчик 8 просчитывает заданное число полупериодов, необходимое для тренировки контролируемого пьеэокерамического преобразователя 14, после чего выдает разрешение на второй управляющий вход счетчика 7. В результате появления разрешающих сигналов на обоих управляющих входах счетчика 7 происходит его...
Устройство для контроля измерительной головки
Номер патента: 1635003
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Аугустайтис, Бансявичус, Гинетис
МПК: G01B 21/00
Метки: головки, измерительной
...фотодетектора 11 формируется интерференционная картина, интенсивность которой зависит от величины зазора между наконечником 5 и пластинкой 6. Пока наконечник 5 не касается упора 2, зазор между наконечником 5 и пластиной 6 остается постоянным, и интенсивность света, регистрируемая фотодетектором 11, тоже постоянна, следовательно, сигнал с выхода фотодетектора 11 постоянный, а на выходе компаратора 13 - постоянный уровень. Триггер 14, как и счетчик 16, находится в исходном состоянии, т.е, на их выходах нули. Нуль выхода триггера 14 поступает на вход конъюнктора 15 и на его выходе формирует постоянный нуль, независимо от сигналов, поступающих на второй вход конъюнкгора 15. Таким образом, сигналы с выхода канала 12 измерительной системы...
Термоэлектрический способ контроля толщин одинаковых покрытий на различных основах
Номер патента: 1635004
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 21/00
Метки: одинаковых, основах, покрытий, различных, термоэлектрический, толщин
...конуса, диаметрконтакта электрода с иэделием 2 мм. 10Результаты измерений приведены втабл, 1 и 2.Способ осуществляется следующим образом. 15Пусть один горячий электрод (элект 1) имеет радиус контактной площадки г 1другой (электрод 2) - Г 2. Так как в данномслучае электроды выполнены из материалапокрытия, то значения термоЭДС для пар с 20электродом 1 и с электродом 2 соответствуютЕ 1- апот(Г 1, д); (1)Е 2 = СЬо (Г 2, 0), (2)где апо - коэффициенттермоЭДСпарыматериал покрытия - материал основы; .1(г 1, и) - температура на стыке покрытие -основа под электродом 1;т(Г 2, а) - температура под злеОтношение этих ЭДС 30Е 2апой Г 2,ОЕ 1 апо 1 Г 1 ОТемпературу на стыке покрытие - основа можно представить в видет(Г 1, а) = то(Г 1)- Ьт(Г 1,...
Устройство для определения толщины магнитной ленты
Номер патента: 1635005
Опубликовано: 15.03.1991
Автор: Калинин
МПК: G01B 21/06
Метки: ленты, магнитной, толщины
...к формированию на втором выходе блока В,управления импульса. который производит очистку (сброс в "0") реверсивных счетчиков 6-8(по входу й), причем на обоих входах схемы 5 10 15 20 25 30 35 ИЗ блока 5 (фиг,2) имеются разрешающие уровни.Второй пришедший по второму входу импульс переводит второй выход счетчика Сч 2 блока 5 в активное состояние. Это приводит к окончанию импульса сброса по второму выходу блока 5 управления и формированию управляющего сигнала по первому и третьему выходам блока 5 управления, Наличие этих сигналов на соответствующих входах реверсивного счетчика 6 разрешает запись в параллельном коде числа М, что подготавливает схему к работе по ээцанному алгоритму. На четвертом выходе блока 5 управления присутствует...
Датчик вибраций
Номер патента: 1635006
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Бритвин, Бритвина, Иванов
...использования этой информации для процесса уп равления движением или параметров подвески кузова.Цель изобретения - повышение точности определения характеристик возмущающих воздействий. 10На чертеже показан датчик в составесигнального устройства, общиИ вид.Устройство содержит световые сигнэлизаторы 1, расположенные в кабине водителя на планке 2, Сигнализаторы 1 15 подключены к источнику 3 питания через датчик 4 вибрации. Датчик 4 выполнен из токопроводящего основания, в одной части 5 которого выполнены посадочные отверстия 6 переменного диаметра, в которых 20 расположены шаровые инерционные элементы 1. Элементы.1 выполнены иэ токо- проводящего материала и контактируют с другой частью 8 основания. При необходимости определения больших...
Устройство для контроля уровня маловязкой жидкости в сосуде в процессе его заполнения
Номер патента: 1635007
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Еварницкий, Соколовский
МПК: G01F 23/28
Метки: жидкости, заполнения, маловязкой, процессе, сосуде, уровня
...электрический сигнал поступает на фильтр 8, в котором выделяется частотная полоса анализируемого звука,Усиленный в усилителе 9 электрический сигнал звуковой частоты поступает на детектор10, где выпрямляется и сглаживается. Первый формирователь опорного напряжения11 формирует напряжение ОО 1 и уровеньего регулируется таким образом, чтобы онНЕСКОЛЬКО ПРЕВОСХОДИЛ Оси 1 На ВЫХОДЕ ДЕтектора 10. В узле 12 сравнения напряЖЕНИЕ Осг 1 СРаВНИВаЕт Я С НаПРЯжЕНИЕМОол 1. При этом узел 12 сравнения выдаетнулевой сигнал через интегратор 13 накомпаратор 14, где происходит сравнение его с напряжением О,сформированным во втором формирователе 15 опорного напряжения и Ос, полученного на выходе интегратора 13. ПриООП 2 ) О,иг 2 УПРаВЛЯЮЩИй СИГНаЛ На...
Способ измерения спектров короткопериодных поверхностных волн
Номер патента: 1635008
Опубликовано: 15.03.1991
Автор: Запевалов
МПК: G01H 3/00
Метки: волн, короткопериодных, поверхностных, спектров
...для осуществления способаработает следующим образом,Сигналы волнографов 1-6 поступают насумматор 7, где сигналы с датчиков имеющих четные номера, суммируются беэ изменения знака, а сигналы от нечетныхдатчиков - с противоположным знаком, Сигнал от сумматора 7 поступает на анализатор8 спектра и затем на вычислитель 9, Навычислитель 9 также поступают сигналыдвух соседних волнографов 5 и 6, входящихв состав решетки.Сравним передаточные функции, определенные с учетом и без учета эффекта по 1 ери когерентности,Сначала получают выражение для передаточной функции в общем виде, Пусть решетка состоит из 2 гч (где й = 1,2,3,.) идентичных идеальных волнографов 1-6, 5 сигнал каждого из которых пропорционаленизменению уровня поверхности....
Способ измерения направления колебаний объекта
Номер патента: 1635009
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Поляков, Сперанский
МПК: G01H 9/00
Метки: колебаний, направления, объекта
...образующихся при колебательном движении объекта, 3 ил. Способ измерения нап ия колебаний объекта осуществляе дующим образом,Изготавливают две карточки с изображением ряда контрастных точек, расположенных с одинаковым угловым шагом по окружности. Одну из них изготавливают с градуировкой, другую беэ цифровых обоз. начений, Карточку без цифр выставляют в плоскости колебаний так, чтобы линия, проходящая через четыре точки и центр была параллельна базовой линии, например ориэонтали, и прикрепляют к корпусу вибромашины, При необходимости карточку ащищают прозрачным влагонепроницаеым материалом При работающеи вибро- машине находят радиальную ось симметрии смежных пересекающихся фигур или линий, образованных при колебаниях (на фиг.2 и 3...
Способ измерения малых линейных и угловых перемещений
Номер патента: 1635010
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01H 9/00
Метки: линейных, малых, перемещений, угловых
...способа и его упрощение.На чертеже изображено устройство для осуществления способа.Устройство для осуществления способа содержит блок 1 формирования светового потока, прибор 2 с зарядовой связью (ПЗС), систему 3 управления ПЗС, запоминающее устройство 4 для хранения тестовых параметров кольца, процессор 5 и индикаторное устройство б.Способ измерения малых линейных и угловых перемещений осуществляют следующим образом,Излучение от блока 1 формирования световбго потока, несущее изображение кольца, попадает на прибор 2, формирующий информацию о смещении центра тяжести кольца и искажении его формы из-за колебаний, Эта информация без существенных потерь передается в процессор 5, в который поступают из запоминающего устройства 4 тестовые...
Устройство для контроля вибрации подшипников качения
Номер патента: 1635011
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Белых, Божко, Корсун, Полищук
МПК: G01H 11/06
Метки: вибрации, качения, подшипников
...работает следующим образом,При движении по направляющей 16 бегунков последние прижимаются к подпружиненной жесткой пластине 1 в точке А.Вибрация, связанная с состоянием подшипника, находящегося в бегунке, передаетсяна жесткую пластину 1. с которой связанвибропреобразователь 2. Выходной сигналвибропреобразователя 2 через второй ключ8 подается на вход усилителя 9 в течениевремени, когда замкнут подвижный контакт3, Подвижный контакт 3 замыкается в точкеБ, что дает возможность исключить ударныевоздействия в момент касания бегунком же Формула изобретения 40 Устройство для контроля вибрации подшипников качения, содержащее вибропреобразователь и последовательно соединенные усилитель, блок фильтров и индикатор, о т...
Способ определения собственной частоты упругой системы
Номер патента: 1635012
Опубликовано: 15.03.1991
Автор: Кузьмин
МПК: G01H 13/00
Метки: системы, собственной, упругой, частоты
...Рз, соответствующую дз.Перемещение с помощью действующего на упругую систему ускорения создают, например, на центробежной установке, при этом фиксируют значение угловой скорости (а соответствующее смещению дз, и определяют величину )з - й 3 Р, где Й - радиус, на котором закреплена упругая система,1635012 По полученным данным (значениям(Ь, )з и Рз) определяют собственную частотуупругой системы из выражения формула изобретения Способ определения собственной частоты упругой системы, заключающийся в том, что создают статическое перемещение упругого элемента с помощью действующего на упругую систему ускорения, измеряют, величину перемещения дз и соответствующую ей величину ускорения )з и определяют собственную частоту упругой системы, о тлича...
Спектрометр
Номер патента: 1635013
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Коваленко, Столяров, Таразанов
МПК: G01J 3/12
Метки: спектрометр
...щель 3 монохроматора 2 поступает на коллиматор 4 и через диспергирующий элемент 5, плоское сканирующее зеркало 6, фокусирующий объектив 7 и выходную щель 8 направляется на оптический вход фотоприемника 9. При колебании (или вращении) зеркала 6 изображение спектра сканируется по выходной щели 8. Оптический сигнал преобразуется фотоприемником 9 в электрический и поступает на информационный вход регистратора 31, Управление величиной потока излучения на выходе ослабителя 1 осуществляется следующим образом. Синхронно со сканированием спектра сканируется иэображение щели 13 по фогочувствительным элементам приемника 18. Это происходит следующим образом, Источник 11 с помощью конденсатора 12 заполняет щелевую диафрагму 13, которая...
Сканирующий интерферометр фабри-перо
Номер патента: 1635014
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Евдокимов, Кравчинский, Соловьева, Тхоржевский, Шатенев, Штенгер
МПК: G01J 3/26
Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо
...либо удовлетворяют неравенству ас-ав-фаз,либо35 ас(аеа. Во-вторых, точность выполненияусловия (1) термостабилизации толщины интерферометра определяется лишь разбросом ТКЛР, их зависимостью от температурыи точностью изготовления элементов его40 конструкции.Пьезоэлементы 3, разброс ТКЛР которых максимален, не влияют на условие стабилизации, так как в каждой точкекрепления зеркал 2 к фланцам число пьезо 45 элементов 3 - четное, поэтому они взаимнокомпенсируют друг друга.Температурную стабильность рассматриваемого интерферометра определяют по .вытекающей из выражения (3) формуле:50 61/6 Т = 4 (О+ Н) ба, (5) гдв ба- максимальный разброс ТКЛР в рассматриваемом диапазоне температур.При изменении толщины интерферо метра предлагаемой конструкции...
Атомизирующее устройство
Номер патента: 1635016
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Матвеев, Прибытков, Ткачев
МПК: G01J 3/42
Метки: атомизирующее
...испарителя для разогрева углеродной нити и верхней части центрального электрода.Значения потоков газов подбирают и устанавливают предварительно, Режим нагрева испарителя зависит от состава пробы и устанавливается в процессе разработки методики анализа. Обычно режим нагрева включает в себя стадию сушки (температура 60-100 С), оэоления (300-400 С) и испарения пробы (500 2500 С).Устройство позволяет устранить эффект образования корочки иэ твердого остатка пробы эа счет использования в качестве испарителя нити из углеродных волокон и существенно снизить потери вещества пробы, связанные с его накоплением на холодных частях испарителя, за счет использования дополнительного электрода. Уменьшение потерь вещества пробы, реализуемое в...
Способ лазерной обработки материалов и устройство для его осуществления
Номер патента: 1635017
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Вейко, Костюк, Чуйко, Яковлев
МПК: B23K 26/04, G01J 5/00
Метки: лазерной
...Сканирование зоны обработки в процессе обработки осуществляется покачиванием селективного зеркала 8 с частотой з. приводящим к перемещению сфокусированного пучка видимого диапазона спектра со скоростью Чз = Из относительно неподвижной диафрагмы 11. Излучение, прошедшее через диафрагму при сканировании зоны обработки, регистрируется фотоприемником, выход которого соединен с осциллографом. На экране осциллографа наблюдают картину усредненного по времени обработки распределения интенсивности ИК-излучения в зоне обработки,Усредненое по времени обработки распределение интенсивности видимого излучения в зоне обработки полностью идентично распределению интенсивности ИК-излучения, так как и то, и другое распределение формируются эа счет...
Радиационный термометр
Номер патента: 1635018
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Воробьев, Двинских, Плаксина, Скляров
МПК: G01J 5/24
Метки: радиационный, термометр
...отсутствии измеряемого теплового излучения температуры чувствительных элементов 1 и 2 и тела 7 сравнения одинакова, так как все они размещены в общем корпусе 4. Следовательно, сопротивления чувствительных элементов 1 и 2 одинаковы, что обеспечивает состояние равновесия трансформаторного моста 15, При воздействии через апертурное окно 5 измеряемого теплового излучения на болометрический приемный чувствительный элемент 1 он нагревается. в то время как компенсационный болометрический чувствительный элемент 2 находится при прежней температуре, Это приводит к нарушению состояния равновесия трансформаторного моста 15 и с помощью избирательного усилителя 8 положительной обратной связи и ограничителя 9 амплитуды колебаний, в трансформаторном...
Пирометр
Номер патента: 1635019
Опубликовано: 15.03.1991
Авторы: Игнатьев, Леготкина, Махнев, Поскачей
МПК: G01J 5/60
Метки: пирометр
...которого определяется необходимой точностью вычисления макс С выхода регистра 19 цифровой код поступает на первый вход вычислительного узла 14. на выходе которого формируется сигнал, равный отношению 238/Жакс Величина этого сигнала. соответствующая измеренной действительной температуре исследуемого обьекта, индицируется на табло регистрирующего прибора 15, Через один оборот диспергирующего элемента 3 устройства 1 для сканирования спектра датчик 7 перемещения вновь занимает исходное положение, пиковый детектор 16 обнуляется, а на его втором выходе формируется импульс, по которому триггерное устройство 13 возвращается в исходное положение. При этом эапре:цается работа ПЗУ 18, а регистр 19 и вычислительный узел 14 обнуляются, Цикл работы...
Устройство для измерения температуры
Номер патента: 1635020
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01K 7/02
Метки: температуры
...комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва. Ж, Раушская наб 4/5 Произеодственно-издательский комбинат,"Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению неэлектрических величин электрическимиспособами,и преднаэначенодля измеренияодновременно двух параметров - температуры и расхода в потоке теплоносителя внефтяных скважинах.Цель изобретения - расширение функциональных воэможностей за счет одновременного измерения расхода теплоносителяв нефтяных скважинах.На чертеже приведена блок-схемапредлагаемого устройства.Устройство представляет собой глубинный снаряд 1 с ребром 2, являющимся дляпотока теплоносителя 0 гидравлическим сопротивлением в виде сужающего...
Способ определения критического усилия при продольном изгибе элемента конструкции
Номер патента: 1635021
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01L 1/00
Метки: изгибе, конструкции, критического, продольном, усилия, элемента
...Цель изобретения - снижение трудоемкости при определении критического усилия для выпуклых, шарнирно опертых, сжатых со всех сторон пластин, Гоставленная цепь достигается тем, что иэготэвливакл модель в виде упругого бруса, поперечное сечение которого геометрически подобно форме пластины, нагружают брус на кручение, определяют его геометрическую жесткоть, а критическое усилие рассчитывают по энзпитической зависимости с электрическим коэффициентом,Ам/спп - безразмернысона материала пластиНпл - высота пласт(1)м - геометричеречного сечения брусаК = 0,2-0,25 - безрент.1635021 Способ позволяет определить критическое усилив элемвмта в форме выпуклых, равномерно сжатых пластинок с шарнирно опертыми краями путем изготовления модели-бруса...