Лабунов
Устройство измерения относительного изменения сопротивления
Номер патента: 561141
Опубликовано: 05.06.1977
Авторы: Лабунов, Мыхлик, Сокол
МПК: G01R 17/10
Метки: изменения, относительного, сопротивления
...н усилителя подсоединен к из." тси ерительнои ыход - к перра вторичная эовь- арадиагонали мостовой схемы, в ,ичной обмотке трансформато обмотка которого через конд ния во всО метра,.Бель тения - сбеспечени ьнссти измерения осре нсатор, т морезисторнали питания Недостат яинои ч резистор под,ключе мостовой цепи 1 ом известного устр ая нелинейность фун 1 ства является бод образовани кции п аиболее б ко к преддага ому устния эдекнны Й четывный мост,нный стивнь атчик, вкд , иузелу выход кот одноо источ нен с э плеч мос яек ника питандиагональю го тания моста, а с выхо 3 Ут бретение относится к электроизм ойство для измерения сопротивдеодов, содержащее неуравновещехплечий измерительный резисти тельного изменения сопротивления - достигается...
Множительное устройство
Номер патента: 559246
Опубликовано: 25.05.1977
Авторы: Лабунов, Михайлов, Можухов, Сокол
МПК: G06G 7/161
Метки: множительное
...перемножаемогонапряжении Оотсутствует. При этом сопротивление плеча, образованного линейнымпреобразователем напряжение-сопротивление 2 Мх, равно сопротивлению эталонного резистора 3 Я и равно сопротивлениювсех остальных плеч неуравновешенного резистивного моста 1, так как выполняетсяравенство40.При этом четырехплечий . неуравновешенный мост 1 окажется сбапансирбваниым и, незави симо от наличия или отсутствия напряжения питания Она выходе управляемого источника питания 4, напряжение в выходной диагонали неуравновешенного резистивного моста 1 отсутствует, а следовательно, результат перемножения упомянутых напряжений равен нулю, т.е.и О"ОЕсли Ох не равно нулю, то К изменяется линейно с изменением Ох, При этом второе перемножаемое...
Устройство для параметрического преобразования
Номер патента: 531084
Опубликовано: 05.10.1976
Авторы: Лабунов, Можухов, Сокол, Чукаев
МПК: G01R 17/00
Метки: параметрического, преобразования
...состояние схеленя датчика,1. - ток черезУчить вйая чтозт. р эталонный резистор. ыо ЬР- и бР= ЭРмы таково что при равенстве сопротивления датчика 2 и эталонного резистора мос- ЯОта 1, напряжение источника эталонного нагряжения 5 ( О эп,) равно напряжению наэталонном резисторе (Оэд 1 Р), В этом случае напряжение на выходе блока сравнения6 и блока управления 7 равно нулю, а па- Щпряжение питания моста, т.е. выходное нав.,ряжение управляемого источника питания, -,)При изменении сопротивления датчика 2изменяется напряжение на эталонном резисторе моста 1 что приводит к появлениюнапряжения на выходе блока сравнения 6,так как парушается равенство напряженийОЭзи 0 ЭгИнтегрирование этого напряжения блоком управления 7 приводит к появлению...
Процентный частотомер
Номер патента: 530262
Опубликовано: 30.09.1976
Авторы: Лабунов, Можухов, Сокол, Чукаев
МПК: G01R 23/00
Метки: процентный, частотомер
...значения используетсяпромежуток преобразования периода в активпериод-сопретнсатором Сремени которремени образей из Йо и С тель кон посто постоян очки, с нения,ноистояш з ей триггер, генератор возмушающего во двия, активный делитель напряжения, кл чсчетчик,Низкое быстродействие такого частотмера связано с последовательным выпчием операции пре ю 20 олнеои частоть 25 носится к электроизмерможет использоваться и измеряемои частот.ности он снабжен дели последующим сравнении двухи-цепочек, в одну казанное активное сослучае величина отноя частоты от номинальляется по количествуобразцовой частоты, ок времени, равный к управления, кл частоты, преобрвление, ооразую ЯС - цепочку, 1 сравнивается с евой ЯС - цепдва блока сра образовачия...
Устройство токовой корректировки номиналов тонкопленочных резисторов
Номер патента: 491104
Опубликовано: 05.11.1975
Авторы: Катерного, Лабунов, Сокол
МПК: G01R 17/22
Метки: корректировки, номиналов, резисторов, токовой, тонкопленочных
...тонкопленочного рсзцстора корректируется в два цикла. В цикле грубой корректировки сигнал источника опорного напряжения 12, предварительцо устаноьлсцнныи пропорционально разбалансу измерительного моста, равному максимально возможной погрешности корректцрог,ки, пос- пает через коммутатор 11 ца схему срдвсция 10. Прп замыкании ключа правления 17 цд исто гнцк напряжения корректировки 7 поступает разрешающий сигнал с одновп,одтора 16. Постоянное напряжение источника 7 цдчпцает нарастать и поступает на корректируемый резистор 4, При нагреве резистора изменяется его сопротивление, а следовательно и сигнал разбаланса,При уменьшении сигнала разбалднса цз. мерительного моста до напряжения источ. пика 12 нд выходе схемы сравнения 10...
Устройство для токовой корректировки номиналов тонкопленочных резисторов
Номер патента: 468168
Опубликовано: 25.04.1975
Авторы: Лабунов, Сокол
МПК: G01R 17/22
Метки: корректировки, номиналов, резисторов, токовой, тонкопленочных
...блок 22,пороговый элемент 23 минимума производной и дополнительная дифференцируюшаяцепочка 24, причем управляющий входэлектронного ключа 20 соединен с выходомпорогового элемента 23,Устройство работает следующим образом,При нажатии кнопки 15 срабатываетпороговый элемент 16, порог срабатываниякоторого соответствует допуску на номиналкорректируемого резистора 1. Сигналомс выхода порогового элемента 16 запускается одновибратор 17 и включается корректирующее реле. 9, которое контактом 8подключает резистор 1 к источнику кор-ректирующего напряжения 11 через регулирующий резистор 10, Время, в течениекоторого контакт 8 будет замкнут, определяется параметрами одновибратора 17.В момент возвращения одновибратора 17в исходное состояние...
Тонкопленочный конденсатор
Номер патента: 422047
Опубликовано: 30.03.1974
Авторы: Изобретени, Косаревич, Кураева, Лабунов
МПК: H01G 4/10
Метки: конденсатор, тонкопленочный
...окисла посравнению с теплотой образования окисногослоя диэлектрика. В результате реакциивблизи к А 1 образуется слой А 1,0 и слой чистого бе вблизи беО. Свободный германийГ 5 диффундирует вглубь диэлектрического слоя,образуя проводящие каналы, что в сильноймере снижает электрическую прочность конденсатора.Кроме того, технология получения извест 20 ных тонкопленочных конденсаторов усложнена тем, что для создания контактных площадок и нижней обкладки используют разныемаски, Это увеличизает затраты на изготовление масок и время технологического цикла25 изготовления конденсатороз.Цель изобретения - повышение электрической прочности, надежности и долговечноститонкопленочного конденсатора,Это достигается тем, что в предложенномз 0...
415734
Номер патента: 415734
Опубликовано: 15.02.1974
Авторы: Бондаренко, Воробей, Лабунов, Максидонов, Минский, Соловьев, Структура
МПК: H01C 7/00, H01C 7/18, H01G 4/10 ...
Метки: 415734
...связи.Известна КС-структура со ступенчатым распределением параметров, состоящая из резистивного, диэлектрического и проводящего слоев.Недостатком известной структуры является то, что ступенчатая неоднородность в пих достигается скачкообразным изменением ширины структуры, что приводит к усложненито топологии, нерациональному использованшо площади подложки и образованию электрически слабых мест на ступеньках.В качестве материала диэлектрического слоя использована термически напылетптая моноокись кремния, позволяющая получать весьма малые удельные емкости, обладающая высоким температурным коэффициентом емкости, значительно меняющая свои диэлектрические характеристики во вреатени, что ведет к увеличению габаритов структур, их низким...
Устройство для измерения холловских характеристик тонких пленок
Номер патента: 352239
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Колосницын, Лабунов, Поинтуй
МПК: G01N 31/02, G01R 33/07
Метки: пленок, тонких, характеристик, холловских
...устройства для измерения холловских характеристик металлов и пи на переменном токе как в массивном, так и в тонкопленочном состоянии.Известно устройство для измерения эффекта Холла на переменном токе, содержащее электромагнит с Ш-образным сердечником, который, имея небольшие габариты, создает достаточное для,проведения холловских измерений магнитное поле за счет малого зазора в магнитопроводе, в который помещается измеряемый образец; генераторы тока для питания катушки электромагнита и образца; смеситель для выделения сигнала с частотой холловской э,д.с.; измерительный усилитель; синхродетектор и регистрирующий прибор.Однако это устройство не позволяет проводить измерение холловских характеристик тонких металлических и п/п пленок...
Магнитная головка ц. ля создания магнитного поля при измерениях эффекта холла в тонких пленках
Номер патента: 347705
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Колосницын, Лабунов
МПК: G01R 33/07
Метки: головка, измерениях, магнитная, магнитного, пленках, поля, создания, тонких, холла, эффекта
...ц холловскими контактами, при этом в процессе напыления и па время измерений сердечник и перемычка соответственно размыкаются ц замыкаются.На чертеже схематично изображено предлагаемое устройство. Ъстройство содержит распаечцые клеммы 1,ца держателе которых коммутцрлотся выводы холловских контактов (ца чертеже не показаны), откидную пружину 2, катушку электро мапшта (головки) 3, тягу 4, средний стержень5, подложку 6, маст; 7, каркас 8, пружцццыц зажим 9, холловскце контакты 10, уголок 11, Ш-образный сердечник 12, перемычку 13, изоляционную прокладку 14, дополнительные 10 уголки 15, шарнирное соединение 16 и скобу 17.В зазор между средццм стержнем 5 ц перемычкой 13 помещают подложку 6, а на цее кладут маску 7. Подложку ц маску...
Устройство для обработки металлов давлением в ультразвуковом поле
Номер патента: 194521
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Лабунов, Северденко
МПК: B21D 31/00, B21J 5/00
Метки: давлением, металлов, поле, ультразвуковом
...из магнитострикциоппого преобразователя 1 с волноводом 2 и экспоненциального концентратора у длиной, равной половине длины ультразвуковой волны. К концу концентратора присоединен штамп 4, находящийся в пучности ультразвуковых колебаний при любом усилии деформации. Оорабатываемый метал 5 расположен на торце полуволнового отражателя б, прикрепленного к станине машины с помощью фланца 7, расположенного в узловой плоскости отражателя.При обработке металлов давлением при помощи данного устройства в процессе деформации с возрастанием статического усилия образуется акустическпп контакт между штампом, обрабатываемым металлом и отражателем. Это равносильно удлинению колебательной системы, состоящей пз элементов 1, 2, 3, 5 б, на...