Патенты с меткой «пушек»

Номер патента: 27584

Опубликовано: 31.08.1932

Автор: Иванов

МПК: F41F 23/28

Метки: воздушным, полевых, пушек, станок, стрельбы, установки, целым

...гайкой. Болтами и муфтой скрепляется хоботовая часть жолобов 5. Обойма 2 в своей верхней части имеет каучуковый буфер для уменьшения жесткости давления на колеса при выстреле.Жолобы 5 служат обычно для наката орудия на станок. В предлагаемом станке они взяты усиленного профиля и устанавливаются в направлении на ребро, Этим достигается как большая сопротивляемость такой балки прогибу, так и удобство устройства всех добавочных приспособлений. В лобовой части оба жолоба скрепляются с верхней вращающейся частью самого станка. Для этого к заднему брусу поворотной рамы приклепываются две особые планки с проушиной, а каждый жалоб имеет соответствующий выступ, входящий в про ушину и закрепляемый вслед за этим 1 навл ваются, как обычно, на своих...

Номер патента: 1675968

Опубликовано: 07.09.1991

Автор: Пенский

МПК: H01J 49/00

Метки: ионной, оже-спетрометрах, пушек, совместной, электронной, юстировки

...штоке образца. Образец экспонируют втечение 40 мин под ионным пучком аргона(Аг ), при этом режим работы ионной пушкиследующий; энергия пучка Ч = 4 кэВ, ток 50эмиссии 10 мкА, диаметр пучка 35 мм, а вкачестве газа используют спектрально чистый аргон.Затем образец в течение 6 мин обрабатывают в смеси метилэтилпенкетона и изопропанола (3:1), в результате чего наповерхности образуется рельефный следпучка ионной пушки (фиг, 2).На образец наносят сцинтиллирующийслой окиси цинка (фиг, 3) и последующей обработкой в указанной выше смеси в течение 7 минут добиваются локализации сцинтиллиоующего слоя окиси цинка только на месте следа ионной пушки. Далее образец вводят повторно в камеру анализа на то же место, что и в первый раз с...

Номер патента: 1808578

Опубликовано: 15.04.1993

Автор: Коваль

МПК: B23K 15/00

Метки: луча, позиционированием, пушек, сварочных, электронного

...тем, что в зоне стыка свариваемых модулей из потоке Вторичной эмиссии выделяются поляризованные сво. бодные. электроны, определяется асиммет-рия рассеяния вторичных поляризованных электронов вводится дополнительное корректирующее воздействие на положение электронного луча. Изобретение позволяет учитывать намагниченность йзделий в зоне . сварки, 1 ил. Ф одновременно: анализируютса поперечные ф компоненты, Когда же фильтр 3 Вина включен, две компоненты поляризации, перпендикулярные его . магнитному полю, поворачиваютея. на 90, так что продольная компонента становится поперечной и ее можно измерить. Детектор 5 принимает поляризованный вторичный электронный пучок, измеряет . число электронов, рассеянных на один и тот же угол влево Ке й...