Номер патента: 1334182

Авторы: Буцевицкий, Карасева, Русинов, Стрепетов, Франк

ZIP архив

Текст

1 1334182Изобретение относится к области оптики ультрахолодных нейтронов (УХН) и может быть использовано для формирования и регистрации увеличен,) ного нейтронного изображения объектов с целью их нейтронномикроскопического исследования.Цель изобретения - ускорение процесса регистрации изображения за счет 1 О увеличения апертуры и улучшение качества изображения путем уменьшения гравитационных искажений при больпгих значениях увеличения.На чертеже изображена схема нейтронного микроскопа,Нейтронный микроскоп содержит подводящий нейтроновод 1, соединенный с вакуумной камерой 2, в которой расположены исследуемый объект 3 и сферические зеркала 4 и 5 с общей оптической осью и общим центром кривизны, а также плоские зеркала б и 7, образующие оборачивающую оптическую систему. В плоскости изображения располо жен регистратор 8 изображения, например той же конструкции, что и в прототипе. Диапазон длин волн(4,5-7 м/с) 18,6 мм 5,4 мм 16 мм ЗО 35 40 55 5 О 0,5 Нейтронный микроскоп рабртает следующим образом.Нейтроны от реактора поступают по нейтроноводу 1 и облучают объект 3, расположенный вблизи фокуса объектива, последовательно отражаются от вогнутого 4 и выпуклого 5 зеркал, образующих зеркальный микрообъектив. После отражения от выпуклого зеркала 5 нейтроны проходят в центральном отверстии вогнутого зеркала 4 в направлении оборачивающей системы 6 и 7. После двух отражений в плоских зеркалах вектор скорости меняет знак, а сама траектория смещается в вертикальном направлении. После отражения в оборачивающей системе нейтроны фокусируются в плоскости иэображения, где и регистрируются регистратором 8. В качестве примера конкретного вы О полнения приведены данные нейтронного микроскопа со следующими техническими характеристиками и конструктивны-, ми параметрами.Нейтронное оптическоеувеличениеЧисловая апертураЛинейное поле в пространстве предмета 0,3 мм Расчетное разрешение 5 мкмРасстояние от предмета до первогозеркала по оси АРадиус К, первогосферического зеркала 14,2 ммРадиус К второгосферического зеркалаРасстояние В пооси второго сферического зеркаладо первого зеркала оборачивающейсистемы 12,2 ммВертикальное смещение Н (для света)Расстояние С отоборачивающей системы до изображения 164 ммДля сравнения приведем некоторые ,данные прототипаНейтронное увеличение 1,375Числовая апертура О, 12Расчетное разрешение 90 мкмСледовательно, предлагаемый нейтронный микроскоп превосходит прототип по увеличению в 36 раз, по числовой апертуре в 4, 16 раза, по светосиле, примерно, в 12 раз, по расчетному разрешению в 18 раз. Формула изобретения Нейтронный микроскоп, содержащий подводящий от реактора нейтроновод, вакуумную камеру, в которой расположены по ходу пучка два сферических зеркала, одно из которых вогнутое, с общей оптической осью и два плоских зеркала, а также регистратор изображения, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью ускорения процесса регистрации изображения за счет увеличения апертуры и улучшения качества изображения путем уменьшения гравитационных искажений, второе сферическое зеркало выполчено выпуклым, при этом зеркала имеют общий центр3 13341824 кривизны, а общая оптическая ось рас- их отражающих плоскостей расположеположена горизонтально, причем плос- на горизонтально и лежит в плоскости, кие зеркала расположены перпендику- перпендикулярной оптической оси сфелярно друг другу, а линия пересечения рических зеркал.Составитель В.Васильев Редактор А.Ревин Техред Л.Сердюкова КорректорА,Тяско Заказ 3966/47 Тираж 394 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

4010875, 22.01.1986

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1758, ЛЕНИНГРАДСКИЙ ИНСТИТУТ ТОЧНОЙ МЕХАНИКИ И ОПТИКИ

БУЦЕВИЦКИЙ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, КАРАСЕВА ИРИНА АРКАДЬЕВНА, РУСИНОВ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ, СТРЕПЕТОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, ФРАНК АЛЕКСАНДР ИЛЬИЧ

МПК / Метки

МПК: G21K 1/06

Метки: микроскоп, нейтронный

Опубликовано: 30.08.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1334182-nejjtronnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Нейтронный микроскоп</a>

Похожие патенты