G01N 27/82 — обнаружение локальных дефектов

Страница 13

Способ неразрушающего контроля глубинно-насосных штанг

Загрузка...

Номер патента: 1481668

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Кардынов, Семенов, Сюр, Чазов

МПК: G01N 27/82

Метки: глубинно-насосных, неразрушающего, штанг

...на выходе первой измерительной 40обмотки 6 появляется ЭДС (двухполярный импульс), При попадании дефектанесплошности в зону Аерромагнитного диска 7 (Аиг.4) векторная суммапотоков Ф,+ ф Равна нулю, и сигнална выходе измерительных обмоток 6отсутствует.В дальнейшем, при входе дефектанесПлошности в зону второй измерительной обмотки 6 в Ферромагнитномдиске 7 возникает ненулевая векторная сумма потоков ф,+ Ф, и во второй измерительной обмотке 6 наводится ЭЛС (двухполярцый импульс ). Благодаря встречному включению измерительных обмоток 6 импульсы ЭЛС первой и второй обмоток 6 совпадают пофазе, и на вход быстродействующегосамопишущего прибора поступает однополярный суммарный импульсИмпульсы другой полярности срезаются полупроводцикбвым...

Устройство для неразрушающего контроля объектов

Загрузка...

Номер патента: 1490612

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Бондарчук, Скриган

МПК: G01N 27/82

Метки: неразрушающего, объектов

...опрашиваются коммутатором 5, причем номер опрашиваемого приемного элемента 3 из системы задается двоичным кодом на выходах счетчика 11, Во время опроса очередного приемного элемента 3 выход соответствующего полосового Фильтра 4 подключается коммутатором 5 к входу детектора 6, на выходе которого формируется напряжение, пропорциональное амплитуде выходного сигнала Фильтра 4, которое поступает на входы цифроаналоговых преобразователей 12 и 13, Выходные сигналы приемных элементов 3 поступают также на входы сумматора 16, ца выходе которого Формируется сигнал, пропорциональный сумме выходных сигналов всех приемных элементов 3+ р; (С)где К ( 1 - коэффициент передачисумматора 16.Сигнал 9(С) поступает на вход режекторного Фильтра 17, который...

Магнитнотелевизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1499205

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Абакумов, Фаттахов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитнотелевизионный

...между электромагнитом 8 и магниточувствительным 35преобразователем 1,Блок 6 управления содержит соединенные последовательно формирователь 11 импульсов (Фиг. 2), регистр 12сдвига и блок 13 Формирователей то- . 40ков,Электромагнит 8 (фиг,3) содержитярмо 14 рамочной конструкции, внутрикоторого располагается магниточувствительный преобразователь 1, Кроме 45того, электромагнит 8 содержит И полюсов 15,1-15,М, расположенных попериметру ярма 14 перпендикулярноего плоскости, с 11 обмотками 16,1 -16,Н, размещенными на полюсах 15.Магнитотелевизионный дефектоскопработает следующим образом,Обмотка 16.1 электромагнита 8 подключена к блоку 9 питания постоянного тока непосредственно и образуетпостоянный северный полюс, Обмотки16, 2-16.И образуют...

Модуляционный магнитотелевизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1499206

Опубликовано: 07.08.1989

Авторы: Абакумов, Мукаев, Ураксеев

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитотелевизионный, модуляционный

...электромагнита,Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано при визуализации дефектов в металлических изделиях.Целью изобретения является повышение чувствительности за счет коррекции положения рабочей точки на рабочем участке кривой намагничивания. 10На чертеже приведена структурная схема предлагаемого дефектоскопа.Дефектоскоп содержит последовательно соединенные блок 1 управления, магниточувствительный узел 2, видео усилитель 3, амплитудный селектор 4, блок 5 памяти, второй вход которого подключен к блоку 1 управления, и видеоконтрольный блок 6, второй вход которого также подключен к блоку 1 управления.Кроме того, дефектоскоп содержит последовательно соединенные линейный детектор 7,...

Способ изготовления стандартного образца с дефектом типа щели

Загрузка...

Номер патента: 1502998

Опубликовано: 23.08.1989

Автор: Косовский

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектом, образца, стандартного, типа, щели

...сжатии пластины 1 и втулки на одинаковую величину, вследствие различной длины деформируемых участков, материалы пластины 1 и втулки находятся в различных областях деформации. Длина пластины 1, в пределах которой осуществляется ее дефОрмация, при ширине щели 0,1-0,2 мм не превышает 0,2-0,4 мм соответственно. Кольцевая проточка 6 длиной 12-30 мм при этом также деформируется на величину 0,2-0,4 мм. Таким образом, материал пластины 1 в месте расположения щели нахоцится в пластической области, а материал втулки в упругой области деФормаций. Поэтому после снятия нагрузки Р втулка восстанавливает свои первоначальные размеры.Размещение пластины 1 в направляющих так, чтобы ее торцы, параллельные продольным сторонам поперечного паза 2, находились...

Способ дефектоскопии тонких магнитных пленок

Загрузка...

Номер патента: 1506345

Опубликовано: 07.09.1989

Автор: Гаврилюк

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, магнитных, пленок, тонких

...в токовую шину, В результате обеспечива 10 ется надежность регистрации дефектов. Кроме того, использование токовой шины позволяет осуществить многократную проверку полученных результатов.15 Визуализацию доменов можно осуществлять с помощью простых методов,не требующих высокого разрешения,например с помощью магнитооптического эффекта Керра,20 Формула изобретения Составитель И, Ре Техред М. Ходанич Редактор А. Коэориз Заказ 5422/45 Тираж 789 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 действия поля Н , образуется доменВобратной намагниченности. Длина доме"на определяется шириной шины и амплитудой поля Н,. После прекращениядействия поля Н, домен...

Устройство для имитации магнитных потоков рассеяния дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1508137

Опубликовано: 15.09.1989

Авторы: Шишкарев, Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, имитации, магнитных, потоков, рассеяния

...с я тем, что стенкиканалов выполнены с реэьбовой нарезкой, пары токовводов выполнены в виде коаксиальных цилиндров, а концытоковводов для взаимодействия состенками имеют Фланцы с нарезкой набоковой поверхности, ответной нарезке стенок,нова Корректор М.Шароши Заказ 5535/47 Тираж 789 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 3 1508137Изобретение отпосится к контроль, но-измерительной технике и может бытьиспользовано при проектировании инастройке средств электромагнитнойдефектоскопии в качестве имитаторадефектов в ферромагнитных средах,Цель изобретения - расширение ди,апазона...

Способ контроля поверхностных деформаций и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1516942

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Жернаков, Фридман

МПК: G01N 27/82

Метки: деформаций, поверхностных

...генератора 30 гармонических сигналов после преобразования в прялоугольную форму через ключевой упранляемьп каскад 32 поступает ца магнитные головки 20, 21 ц 27.1-27,М, цацосящце на магцитць.е носители 24 и 28 магггитцьге метки.масле цацессшя меток трехканальныйй трехпозициоццый переключатель 41 ус.агганггивают н первую позицию и осуществляют нагружецие контролируемого объекта 29, что вызывает го деформацию, а следовательно, и смешение маггцтгых меток.Грц сканиронании этих леток магнитггай гела кой "7 сигнал поступает ца схему ИЛИ 47, сул.мируясь с сигцалом от магнитной головки 21 Импульсы с магцитцай гаг:овкц 20через илятульсцыг 1 ус илптеггь 43 поступают на генератор 44 жггущей вертикапьцой развертки, вызывая атклецешгс...

Фазомодуляционный магнитотелевизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1516943

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Абакумов, Мукаев, Ураксеев

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитотелевизионный, фазомодуляционный

...дефектовНа чертеже приведена структурная схема дефектоскопа.Дефектоскоп содержит последовательно соединенные блок 1 развертки, магниточувствительныи узел 2, линейный детектор 3, фазометр 4, видеоусилитель 5, амплитудный селектор 6 и видеоконтральный блок 7, второй вход которого подключен к блоку 1 развертки. Также устройство содержит последовательно соединенные регулируемый генератор 8 синусоидального напряжежения, выход которого подключен к фазометру 4 и блок 9 намагничивания. Контролируемое изделие 10 размещают вблизи блока 9 намагничивания и магниточувствительного узла 2Дефектоскоп работает следующим образом.Блок 9 намагничивания, питаемый от регулируемого генератора 8 синусоидального напряжения, создает в контролируемом иэделии 1 О...

Устройство для неразрушающего контроля цилиндрических изделий

Загрузка...

Номер патента: 1518772

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Брандорф, Гончаров, Денисов, Кузнецов

МПК: G01N 27/82

Метки: неразрушающего, цилиндрических

...помщипереходцьх муфтс отверстиями встенках. ЕОле т(зго, устройство содержит гибк,й стягивепощий знемецт 12,который р;сцожец во внутренней полости бдлк 9 т;к, что оц проходит через (злс;Оццыс- Отцоегге:ьно ос ц симметрии бялк 9 )тперся в стенкахперсх,зццых муфтц торцовых крьшкдх(це ОГо.)(д ець), и ме;дни зм3 цатя -жия в вид( цпцовых пар, зякреп,ецц,х и; коццх6 ко о стя и)ающегоэлс м. цтя2. и е ц зз,) 1 1 (и 1 е и ы м (х (1 ц 11 )1 ц (1я ц сиее) циз 1 е е)иц тг) цых ц)р, 3 3, и, (Ь - ,ы5 з,содержит группу преобсредств( контроля, усцд кареткес цозможия расстояния между нической Образуошей издеработает следующим образом.В соответствии с габаритами контролируемого изделия 5 стыкуется нужное количество ун фииировдццых секций 10 балки 9, нд...

Устройство для неразрушающего контроля изделий сложной формы

Загрузка...

Номер патента: 1518773

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Брандорф, Гончаров, Денисов

МПК: G01N 27/82

Метки: неразрушающего, сложной, формы

...1 О старельчатыми пружинами 11, а контактирующие с кареткой 5 поверхностистенок Т-образных профилей 8 и 9 выполнены рифлеными или покрыты слоемфрикционного материала. В данном устройстве на полке одного из Т-образных профилей 8 (9) выполнена рейка12, в зацепление с которой входитзубчатое колесо 13 привода 6. Устрой 15 8771ту тацавчца тся ц коцтролирус - мц и д лцс 14.Устрйс гво работает следующим обра ом.По шаблону, профиль которого соот - ветствует профилю поверхности контролируемого изделия 14, направлянщая 2 путем нагружения изгибается в плоскости минимальной жесткости. При этом вследствие упругой связи между собой при помощи болтовых соединений 1 О с тарельчатыми пружинами 1 стенки упругих Т-образных профилей 8 и 9 с рифлениями...

Магнитотелевизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1523981

Опубликовано: 23.11.1989

Автор: Бабакин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитотелевизионный

...блока ., суммирующий сче; -чик 9, цифроаналоговый преобразователь 10, выход которого соединен свторым входом блока 5 измерений, уси.литель 11 и электромагнит 12, и последовательно соединенные вычитающийсчетчик 13, вход которого подключен квыходу коммутатора 8, цифроаналоговыйпреобразователь 14, выход которогоподключен к третьему входу блока 5измерений, и усилитель 5, выход которого подключен к второму входу электромагнита 12.40Кроме того, контролируемое изделие 16, размещено - между электромагнитом 12 и магниточувствительным узлом 1,Устройство работает следующим образом.Электромагнит 12 размещают на поверхности контролируемого изделия 16.Магниточувствительный узел 1 считывает образующееся при этом неоднородное магнитное...

Способ контроля качества поверхности электропроводящих объектов

Загрузка...

Номер патента: 1525559

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Ахмеджанов, Исаков, Попков

МПК: G01N 27/82

Метки: качества, объектов, поверхности, электропроводящих

...паде" ния пучка, приемно-регистрирующий блок 4, выполненный с воэможностью регулировки угла приема отраженного от поверхности слоя 2 жидкого кристалла пучка монохроматического света, Слой 2 жидкого кристалла размещается над объектом 5. На фиг. 2 обозначено;1 - интенсивность дифракционно 9го максимума на бездефектном участкеили на воздухе;1 - интенсивность дифракционной9картины в точке фиксации положениядифракционного максимума при наличии50дефекта;- длина волны падающего монохроматического света;Р - период спирали жидкого крис 9талла при отсутствии дефекта;Р - период спирали жидкого крис 9талла при наличии дефекта;5 - угол дифракции; 2 - ось холестерической спирали жидкого кристалла.Способ осуществляют следующим образом.В объекте 5...

Способ изготовления контрольного образца для магнитной дефектоскопии сварных соединений

Загрузка...

Номер патента: 1527565

Опубликовано: 07.12.1989

Авторы: Выборненко, Лаврентьева, Уланова, Шарова, Шкляр

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, контрольного, магнитной, образца, сварных, соединений

...что и контролируемыеизделия, при этом оси электродовдолжны проходить через центр внутреннего отверстия шайбы, 2 ил. Способ изготовления контрольного образца заключается в следующем.Перед сваркой между пластинами 1 и 2 укладываются шайбы 3 из тугоплавкого немагнитного материала. В шайбах 3 выполнены отверстия, которые определяют диаметр литого ядра. Диаметр отверстий должен соответствовать диаметру литых ядер, которые должны получаться при сварке реальных изделий. В качесшайб 3 можно использтитан, ниобий и т.птериал, являющийсяи тугоплавким. Благ1527565 ядра в точечных сварных соединениях,изготовленных иэ ферромагнитных материалов. аида.г оставитель И, Рекунова Техред М,дидык Корректор Н.Корол едактор О. 111 рковецк Заказ 7505/49...

Устройство для неразрушающего контроля длинномерных изделий с утолщенной концевой частью

Загрузка...

Номер патента: 1527566

Опубликовано: 07.12.1989

Автор: Костяницын

МПК: G01N 27/82

Метки: длинномерных, концевой, неразрушающего, утолщенной, частью

...20, на величину поджатия пружин 15 при контролеперемещением втулок 16 и последующейфиксацией винтами 17,Устройство ориентируют на специальной подставке (не показана) попродольной оси контролируемой трубы 20, которая подается по транспортному рольгангу (не показан). Утолщенная часть трубы при своем движении отклоняет качающиеся рычаги 4,которые, воздействуя на штоки 12,перемещая их. Поршень гидроцилиндра7 вытесняет объем жидкости из полостей гидроцилиндров 7 и 8 в последующие гидроциг;индры 9 и 10. Происходитперемещение штоков 13 в сторону увеличения размера К и пропуск утолщенной части трубы 20 мимо преобразователей 6.После прохода утолщенной частитрубы 20 через центрирующие ролики5 рычаги 4 под действием пружины 14возвращаются в...

Способ обнаружения дефектов в изделиях из неферромагнитных электропроводящих материалов

Загрузка...

Номер патента: 1532861

Опубликовано: 30.12.1989

Авторы: Гончаров, Перегуд

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, изделиях, неферромагнитных, обнаружения, электропроводящих

...что предварительная балансировка моста произве,дена, На экране лучевого осциллографа 7 при этом будет наблюдаться прямая линия. Затем бездефектное изделие выводится иэ зазора моста и на егоместо помещается исследуемое изделие,вращающееся с той же скоростью.Результат диагностики отображаетсяна экране осциллографа 7. При наличиидефекта, состоящего из материала, отличающегося от материала изделия попроводимости, на экране осциллографа,будет присутствовать периодическийсигнал 11 с периодом Т, соответствующим периоду вращения изделия, Ампли туда сигнала зависит от размеров включения, а фаза - от угловой координа ты включения.35П р и м е рЭкспериментальнаяпроверка способа проводилась на установке, схема которой представлена на; фиг.1,Ярмо...

Установка для перемещения преобразователя дефектоскопа внутри трубопровода

Загрузка...

Номер патента: 1473533

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Бабаджанян, Оганесян

МПК: G01N 27/82

Метки: внутри, дефектоскопа, перемещения, преобразователя, трубопровода

...1, 2 выполнены в виде электродвигателей 254, 5, статоры которых установлены свозможностью вращения в противоположных направлениях, и закрепленныхна боковых поверхностях статоровупругих оболочек 6, 7, имеющих нанаружной поверхности противоположнуюдля каждого статора винтовую навивку,а узел 3 связи выполнен в виде цилиндрической пружины 8, соединяющейроторы электродвигателей 4, 5, и за -крепленных в средней части пружины8 блоков 9 опорных роликов. В даннойустановке упругие оболочки 6 7 выполнены с кольцевыми камерами 10, а дляУстановления необходимого зазора меж-ду опорными поясами 1, 2 и стенкойконтролируемого трубопровода 11 установлены упоры 12 и фиксаторы 13.Преобразователь на чертежах не изображен) дефектоскопа закреплен на узле...

Устройство для калибровки дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1557513

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Жуков, Коновалов, Тарасов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки

...работает следующим образом.Приводные ролики 5 приводят вовращение элемент 1 с искусственными дефектами 2 и 3 вместе с элементом 4 из диэлектрического материала вокруг оси. Проточки 6 роликов 5предохраняют от соскальзывания элемент 1 с дефектами 2 и 3 относительно вращающихся роликов 5 и, тем самым удерживают элемент 1 в однойплоскости вращения, Элемент 1 с дефектами 2 и 3, проходя через преобразователь 7 или 8 дефектоскопа,периодически формирует на его выходеимпульсы от начала и конца, а такжекалиброванные импульсы от минимальных искусственных дефектов 2 и 3,что эквивалентно получению импульсов на выходе преобразователя 7или 8 дефектоскопа от начала, концаи дефектов длинномерных изделий.Для калибровки дефектоскопов сразличными...

Способ определения качества обработки поверхности образца

Загрузка...

Номер патента: 1562834

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Калиберда, Кучеренко, Спольник, Чегорян

МПК: G01B 21/30, G01N 27/82

Метки: качества, образца, поверхности

...кусочки диамагнитной липкой ленты (не показана), Таким образом отделяют порошок от образца. Кусочки с порошком помещают поочередно в спектрометр ЭПР й измеряют интенсивность линии ЗПР. Интенсивность линии однозрачно характеризует качество по,верхности образцов. 10П р и м е р. Испытания эффективности предлагаемого способа проводились на образцах из алюминия размером 1 О х 5 х 1 мм, Испытуемые образцы были разделены на три серии.Первая серия образцов (точка 5 нафиг.2) подвергалась обработке на шлифовальной бумаге с размером зерна20 мкм, вторая (точка 6, фиг.2) обрабатывалась на шлифовальной бумаге с 20размером зерна 7 мкм, третья (точка7 на фиг.2) электрополировалась,После обработки образцы укладывались на предметный столик,...

Способ изготовления образца с дефектом типа трещина

Загрузка...

Номер патента: 1562835

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Газизова, Косовский, Петров

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектом, образца, типа, трещина

...образом, чтобы глубина продольного паза был 0,05-0,1 мм. Это необходимо для то о, чз обы при5 1562835 6шлифовании не коснуться азотирован- - С возрастанием глубины прорези 4 шиной поверхности продольного паза 2, рина раскрытия ее увеличивается. Тасодержащего трещину 7, Поверхность ким образом, применение электродаобразца с продольным пазом 2 подвер- толщиной менее 0,2 1 невозможно, Негается полированию, в результате5целесообразным является также причего сполировывается металл, затя- мененне электродов толщиной болеенувший краевые щели 8 при шлифовании, 0,5 1, так как при этом прорезь 4 неи они становятся хорошо визуально является уже концентратором и точновидимыми. не определяет то место, где можетВозможность получения единичной...

Однострочный преобразователь магнитного поля

Загрузка...

Номер патента: 1567965

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Абакумов, Мукаев, Ураксеев

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитного, однострочный, поля

...выходы каждого прерывателн 18подключены к соответствующей координатной шине 16,50Преобразонатель работает следующимобразом,Блок 1 намагничивания создает вконтролируемом иэделии (не показано)магнитное поле 1 распределение которо 55го зависит от структуры контролируемого изделия, Полученный магцитньпрельеф .воздействует на кольцевыеерритовье сердечники 15 магциточувствительного узла 2. Блок 10управления последовательно коммутирует прерыватели 18, в результате чего геердтор 13 ноэбуждеция последовательно подключается к координатнымшинам 16, Одновременно управляемыйгенератор 12 низкой частоты нозбуждает в шице 17 подмагничивация низко-.частотный сигнал, осуществляя темсамым модуляцию сигнала, Сигнал смагниточувствительцого узла 2 поступает...

Магнитотелевизионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1567968

Опубликовано: 30.05.1990

Авторы: Бабакин, Степанов, Фаттахов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитотелевизионный

...ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к цераэрушающему коцтролю материалов и изделийи может быть использовано для визуализации структуры ферромагнитных 5объектов,Цель изобретения - повышение надежности работы эа счет введения режима импульсного управления электромагнитом, 1 ОНа чертеже представлена структурная схема магнитотелевизионного дефектоскопа, Дефектоскоп содержит последовательно соединенные магниточувствительный узел 1, амплитудный селектор 2 ц видеоконтрольный блок 3,блок 4 раэверток, выходы которого подключены к магциточувствительному узлу 1 и видеоконтрольцому блоку, ипоследовательно соединенные управляющий импульсный генератор 5, подключенный к выходу амплитудного селектора,тирцсторный регулятор 6 и электромагнит 7, Оа...

Устройство для дефектоскопии изделий из ферромагнитных материалов

Загрузка...

Номер патента: 1573409

Опубликовано: 23.06.1990

Авторы: Демин, Миронов, Покровский

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, ферромагнитных

...1, характеризующийнамагниченность объекта контроля, поступает на оптический детектор 3, который регистрирует изменение напряженности маг- З 5 нитных свойств пленки. С выхода оптического детектора 3 сигнал поступает в блок 4 управления, который выдает сигнал разрешения для работы блока 6 счетчиков, включая его в режим прямо го или обратного счета. Импульсы с генератора 5 импульсов поступают на счетный вход блока 6 счетчиков, после" довательно увеличивая или уменьшая содержимое счетчиков. Сигналы с выхо да блока 6 счетчиков преобразуются цифроаналоговым преобразователем 7 в аналоговую Форму. Аналоговый сиг" нал управляет магнитодоменным преоб" разователем 1, увеличивая или умень шая порог чувствительности.Сигналами иэ блока...

Способ неразрушающего контроля ферромагнитных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1573410

Опубликовано: 23.06.1990

Авторы: Демин, Миронов, Покровский

МПК: G01N 27/82

Метки: неразрушающего, ферромагнитных

...обнитодоменный преобразователь 1 ют на поверхности контролируеделия и подмагничивают импульгнитного поля пилообразной форор пилообразного подмагничиполя позволяет уменьшить поть измерения и упростить обраолучаемых результатов за счет ия линейной зависимости знаамагничивающего поля при колпсировании доменов от намагничен1513410 Составитель Л.КрюковаН.Яцола Техред М.Ходанич Корректор М.Максимишинец Редак 641 Тираж 515 Подп Государственного комитета по изобретения113035, Москва, Ж, Раушская а о тиям прн ГКНТ СССР4/5 отк роиэводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарин ности изделия. Сигнал яркости изобра" жения магнитодоменной структуры пленки, соответствующий намагниченности изделия, через Фотоанализатор 3 пере дается...

Способ измерения износа стальных канатов

Загрузка...

Номер патента: 1575109

Опубликовано: 30.06.1990

Авторы: Белоножко, Головатый, Завгородний, Заика, Клименко, Онищенко

МПК: G01N 27/82

Метки: износа, канатов, стальных

...магнитную цепь и непрерывноизмеряют сопротивление 1 к катушкина высокой частоте,Предварительно на образцовом канате каждую из Физических величин4ф 1 1 1 измеряют многократнопри одних и тех же изменениях влияющих параметров (температура, влажность и давление воздуха, напряженность магнитного поля, температура, увлажненность и эамасленностьканата, толщина цинкового покрытия,величины натяжения и вытяжки каната, количество ржавчины в канате идр по полученным массивам данныхрассчитывают дисперсии б13 ькг г гкаждой иэ четырех Физическихвеличин; рассчитывают коэффициентыКиК Б Ккю Кэю характеризующие значения важностей каждой из четырехФизических величин для определенияпо ним сечения каната, где К= б,Предварительно для и сечения каната...

Магнитный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1576858

Опубликовано: 07.07.1990

Авторы: Абакумов, Типикин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитный

...элемег 1 тов магниточувствительного узла.гНа чертеже приведена структурнаясхема предлагаемого дефектоскопа.Дефектоскоп содержит блокнама ничивания, последовательно соедине пые датчик 2 скорости движения15ма ниточувствительного узла, блок 3синхронизации, формирователь 4 адресны токов, магниточувствиельныйузл 5, усилитель 6 и аналого-цифровоГг преобразователь 7. Кроме того,деектоскоп содержит интерфейсную шину 8, к которой подключены аналогоци ровой преобразователь 7, блок 3си ронизации, блок 9 суммированияблак 1 О памяти и видеоконтрольныйблоок 1 1 .Дефектоскоп работает следующим образом.,Магниточувствительный узел, выпог 1 ненный на эластичной основе в ви 30 де матрицы магниточувствительных элемегтов, располагается на .контролируемой...

Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов

Загрузка...

Номер патента: 1578625

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Касимов, Палеесь, Шишкарев, Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: воздействия, дефекта, дефектоскопов, имитации, контрольный, настройке, образец, электромагнитных

...образом,Вихревые токи, возбужденные проходным преобразователем, обтекают дефект,разветвляясь относительно некоторой плоскости, проходящей через поперечное сечение иэделия, При использовании наиболеешироко применяемых проходных преобразователей с соленаидальнай возбуж дающей обмоткой вихревые токи будутразветвляться относительно плоскости,проходящей через середину дефекта, поэтому сечение образца в этой плоскости приведет к минимальным искажениям поля. вихревых токов и позволит выполнить искусственный дефект. Создать без сеченияобразца искусственный дефект, выходящийна внутреннюю поверхность, затруднительно, а размещенный в толще образца внутренний дефект (полости 3 и 4) невозможно.Вместе с тем наличие стыка между частями 5 10 15 20...

Способ имитации воздействия дефекта на электропотенциальный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1578626

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Давыдов, Шатерников, Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: воздействия, дефекта, дефектоскоп, имитации, электропотенциальный

...боковых границ цилиндрического образца 1 на электропотенциальный преобразователь, Влиянием границ можно пренебречь, если диаметр образца в 1,8 раза превосходит расстояние Яп 1 х (здесь Явах - большее из двух расстояний; между токовыми электродами и междувнешними не обращенными друг к другу гранями прорезей 2 и 3).Поскольку распределение тока в образце соответствует распределению тока в изделии с имитируемым дефектом, напряжение между потенциальными электродами также будет соответствовать напряжению, измеренному на этом изделии,Соотношение б = 2 д /соз а следует из соответствия электрического поля в изделии с подповерхностной трещиной и электрического поля в образце, Предполагается, что в процессе измерения параметров трещины токовые...

Устройство контроля электромагнитных параметров гибкого магнитного диска

Загрузка...

Номер патента: 1578627

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Бублик, Петренко, Подгорный, Тележенко, Чуглазов

МПК: G01N 27/82

Метки: гибкого, диска, магнитного, параметров, электромагнитных

...18. При активном значении готовности АЦП (выход 1 АЦП 28) код с выхода 2 запоминается, Затем опросом сигнала индекса определяется конец дорожки. Если дорожка не окончена, то на выходе 2 сигнал,. запускающий АЦП-преобразование, устанавливается в пассивное состояние и производится опрос следующего кодаАЦП. При идентификации конца дорожкиуправление передается следующему блоку алгоритма,Производится расчет среднего уровня сигнала, Запомненные значения кодов АЦП суммируются и делятся на число кодов по дорожке,Производится возврат в основную программу. В качестве выходного параметра передается значение среднего уровня сигнала,3035 4050 Осуществляется вход в подпрограмму, определение коэффициента разрешающей способности. В качестве...

Магнитный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1580239

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Абакумов, Мяздриков

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскоп, магнитный

...с входами управления формирователя 1 адресных токов и коммутатора 3 и подключен кблоку 6 сопряжения, а выход соединенс вторым входом стробируемого блока5 сравнения, датчик 9 положения, подключенный к блоку 6 сопряжения, иблок 10 намагничивания.Также дефектоскоп содержит системную шину 11, к которой подключен входблока 6 сопряжения, блок 12 памяти,видеотерминал 13 и процессор 14, выходы которых подключены к системнойшине 11,Дефектоскоп работает следующим образом. 40Согласно программе, записанной вблоке 12 памяти, выбирается либо контроль структуры объекта (не показан),либо отображение ранее исследованного объекта. При этом задается порядок переключения формирователя 1 ад"ресных токов, позволяющего считать"информацию о магнитном поле,...