G01N 27/82 — обнаружение локальных дефектов

Номер патента: 1795360

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Абакумов, Вершинин, Мукаев, Ясовеев

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопического, магнитных, полей, ферромагнитных

...сигнальной обмотке 8, 9. Концы обмоток 6, 7 подключены к генератору 10 импульсов, а концы обмоток 8, 9 - к входам соответствующих усилителей-формирователей 11, 12 импульсов считывания. Их входы подключены соответственно последовательно включенным детекторам 13, 14, пропускающим положительные импульсы, блокам 15, 16,памяти, выполненным на основе сдвиговых регистров, блоку 17 суммирования, видеоусилителю 18 и видеоконтрольному устройству 19(телевизору без антенн, канала звука и высокочастотных узлов). блок 20 управления соединен с вторыми входами генератора 10 импульсов, блоков 15, 16 памяти, видеоконтрольного устройства 19 и представляет собой совокупность логических устройств, генераторов строчной и кадровой разверток, управляемых...

Номер патента: 1797029

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимно противоположных направлениях, считыва" ют сигнал от дефекта и по величине этого Составитель А,СиницаТехред М.Моргентал Корректор М.Макимишинец Редактор Т.Иванова Заказ 649 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 дефектоскопов за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов.Указанная цель достигается тем, что имитаторы сварного шва и...

Номер патента: 1797030

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Вакуленко, Денисов, Ненека

МПК: G01N 27/82

Метки: неразрушающего, цилиндрических

...вторичногоэлемента 21.Длина участка перемещения относительно начального положения определяется выражениемЬ 1=ЬХ а,где т - число шагов перемещения индуктора относительно начального положения.Частота 1 и число шагов п 1 задаются системой управления двигателя, Минимальная дискретность перемещения каретки определяется выражениемЬХ = - ,гк41где- коэффициент деления единичногомеханического шага шагового двигателя.Например, при т, = 4 мм;= 8;ЛХ = - = 0,125 мм,:448При этом погрешность перемещениядх = Ь Х соя О = 0.125 сов 30 = 0,1 мм,где сов О- угол нагрузки,Таким образом, высокая точность, с которой определяется положение преобразователя средства контроля на изделии при его сканировании, практически бесшум 45 50 55 ного магнита 19....

Номер патента: 1797048

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Койфман, Лиховид, Рыбин

МПК: G01N 27/82, G01N 29/26

Метки: дефектоскопии, цилиндрических

...при перемещении устройства вокруг контролируемого изделия, и15 обеспечить осуществление контроля повсей толщине стенки контролируемой трубы,На Фиг. 1 и 2 графически представленопредложен ное устройство, две и роек ции.20 Устройство для дефектоскопии цилиндрических изделий состоит из каретки 1, накоторой размещены пальцы 2 со свободновращающимися на них кронштейнами 3,стойками 4 и двигателями 5 и 6. НА кронш 25 тейнах 3 установлены оси 7 с катками 8. Встойках 4 свободно вращаются валики 9, накоторых установлены барабаны 10 и 11 выполненные в виде обгонных муфт. Внутренние полумуфты этих муфт жестко связаны с30 валиками 9, а наружные полумуфты имеютразное направление свободного вращенияи связаны с валиком 9 при помощи...

Номер патента: 1801205

Опубликовано: 07.03.1993

Автор: Федюкович

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопу, сканирующее

...входящеймают в зацепление с двумя другими шестернями, а планка соединена своими концами по- (. ) средством шарниров с пальцами, Преобра- (Я зователь закреплен на планке.На фиг.1 показан общии вид заявляемого сканирующего устройства. подсоединенного к индикаторному блоку; на фиг,2 - кинематическая схема сканирующего устройства.Сканирующее устройство к дефектоскопу включает каретку 1, ведущую шестерню 2, насаженную на вал электродвигателя 3, находящуюся в зацеплении одновременно с двумя идентичными ведомыми шестернями4 и 5. С помощью пальцев в точках А и В ведомые шестерни шарнирно соединены планкой 6, на которой укреплен преобразователь 7, гальванически соединенный с индикаторным блоком 8 дефектоскопа. Шарнирное соединение ведомых...

Номер патента: 1807382

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Бабиков, Виногреев, Виногреева, Гальперин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопу, протяженных, сканирующее

...3, подключенного через разъемы икабель к дефектоскопу, Предварительно горизонтальные 42, 43 и вертикальные ролики44, 45 каждого механизма 1, 2 центрирования максимально разводятся, Для этого поворачивают диски 17, 18 навстречу другдругу и их конечное положение фиксируютрукоятками 59. 60, Эта операция производится для каждого механизма 1, 2 центрирования.После этого контролируемое иэделиезаводится в прямоугольное окно, образованное разведенными парами роликов 42 -45 механизма 1 центрирования. Затемизделие 6 пропускается через прямоугольное окно 5 проходного преобразователя 3,далее - через окно, образованное роликами42-45 механизма 2 центрирования.После этого с помощью тех же рукояток59, 60 производят расфиксирование положе.ния...

Номер патента: 1809375

Опубликовано: 15.04.1993

Авторы: Абакумов, Королев

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитных, матричный, полей

...ко вторым входам магниточувствительного узла 3 и видеоконтрольного устройства 5.Преобразователь работает следующим образом,Намагничивающее устройство 1 созда- Ы ет магнитное поле, в которое помещается 4 объект контроля 2. Возникающие магнит- (Я ные поля рассеивания отдефектов создают магнитный рельеф, определяемый структурой обьекта контроля, Этот рельеф воздействует на магнитодиоды магниточувст-вительного узла 3, что приводит к появлению на поверхности матрицы электропотенциального рельефа, определяемого индукцией магнитного поля, С ростом магнитной индукции В сопротивление магнитодиода увеличивается, ток через диод: уменьшается, при этом уменьшается ток че1809375 оставитель Н,Королевехред М,Моргентал Корректор А,Козориз Редактор...

Номер патента: 1810805

Опубликовано: 23.04.1993

Авторы: Газизова, Косовский, Шелихов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопии, магнитной, образец, стандартный

...количество вставок должно соответствовать количеству отверстий. Верхняя часть каждой вставки длиной 7 мм, содержащая прорези, выполняется диаметром, равным 10,15 мм, остальная часть вставки 2 имеет диаметр меньше диаметра отверстий основы. В верхней части вставки диаметром 10, 15 мм электроэрозионным способом выполняются две взаимно перпендикулярные прорези одинаковой ширины 0,2 мм и глубиной 10 мм. Вставки запрессовываются заподлицо в круглые отверстия оси и дисков. При этом прорези должны быть ориентированы по направлению ожидаемых характерных дефектов на данном участке образца или при необходимости выявления дефектов различной ориентации щели должны быть расположены перпендикулярно предполагаемым направлениям намагничивания...

Номер патента: 1817015

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...с полем Чо(см.фиг.2), близко к распределению напряженности поля в зоне термического влияния реального сварного соединения из закаливающейся стали, если ширина каждой из пластин 4 равняется ширине участков с различной структурой и химическим составом в ЗТВ реального сварного соединения,После установки, необходимого значения электрического тока в пластинах 2 - 4 (см,фиг.1) на поверхность контрольного образца устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают в направлении, пересекающем пластины 2 - 4, При пересечении датчиком пластин 2 - 4 регулировкой чувствительности настраивают дефектоскоп на выявление дефекта с заданными размерами. Устройство для осуществления способа (см,фиг,1) калибровки магнитных...

Номер патента: 1820310

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Загидуллин, Щербинин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефекта, изделии, параметров, ферромагнитном

...как поверхностных, так и внутренних дефектов,"Пороговое" значение параметра Моопределяют следующим образом. Намагничивают в постоянном магнитном поле 20эталонной образец, представляющий собойметаллическую пластину с прорезанным наней дефектом, расположенным перпендикулярно к поверхности пластины. Измеряюттопографию Нх составляющей магнитногополя дефекта в совокупности точек с коор- .динатами х на поверхности эталонного образца на постоянной высоте от ееповерхности, расположенных симметричноотносительно дефекта, Для совокупности ЗОэтих измеренных значений определяют параметр М по формуле (1), что есть "пороговое" значение параметра М и обозначаетсяМо что учитывает погрешности измерениятопографии магнитного поля дефекта и...

Номер патента: 1826050

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Филиппов

МПК: G01N 27/82, G01R 33/12

Метки: ферромагнитных

...зазора (величина которого складывается из толщины прокладок 7 и величины случайного зазора между поверхностью изделия 2 и прокладками 7), намагничивает ферромагнитное тело 5. После снятия намагничивающего поля ферромагнитное тело 5 имеет магнитодвижущую силу, которая компенсирует изменение, обусловленное случайным зазором магнит ного потока в магнитопроводе 1, создаваемым магнитодвижущей силой изделия 2 и измеряемым измерителем 4, В случае динамического размагничивания ферромагнитного тела 5 после установки изделия 2 20 испытуемый участок 2 тоже размагнитится, что позволяет в некоторых случаях (для мелких изделий) исключить операцию магнитной тренировки.Пример реализации способа, Измерения производились с помощью приставного...

Номер патента: 1838780

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Глазунова, Неволин, Тимофеев, Токмачев, Щепак

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоотметчик

...участок 18 запорной иглы 17, предлеж щий каналу 2 для подвода краски, выполнен в виде плунжера и имеет кольцевые проточ 1838780Переходный участок от запорной иглы 17 к сердечнику 16 электромагнитного клапана 13 выполнен в виде диска 20. Между диском 20 и корпусом 12 электромагнитного клапана 13 установлена пружина 21. В стыках корпуса 1 с крышкой 8 и корпуса 1 с регулятором 6 установлены уплотнения 22. Между корпусом 12 электромагнитного клапана 13 и диском 20 имеется зазор 23. Направляющие.выполненные на корпусе 12 электромагнитного клапана и на корпусе 1 дефектоотметчика, имеют вид шлицевого соединения и предназначены для предотвращения относительного вращения корпусов 1 и 12.Работает устройство следующим образом,К отверстиям 9, 10...

Номер патента: 2002246

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, согласно изобретению имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиленич,На фиг, 1 представлено сварное соединение с поверхностным дефектОм и распределение напряженности магнитного поля Н на его поверхности; на фиг. 2 - устройство для калибровки, описанное в прототипе, и распределение Н на его поверхности; на фиг, 3 - заявляемое устройство и распределение Н на его поверхности.Так как усиление сварного шва 1 (фиг, 1)оказывает на намагниченность сварного 5 соединения размагничивающее действие,зависящее от Формы усиления, распределение Н на его поверхности неоднородно(фиг,...

Номер патента: 1391300

Опубликовано: 30.11.1993

Авторы: Баев, Гринцевич, Коновалов, Прохоренко

МПК: G01N 27/82, G01N 29/04

Метки: меток, нанесения, объект

...метки,Отметчик содержит корпус 1, размещаемый над обьектом 2 с зазором, источник постоянного магнитного поля - магнит 3, магнитную жидкость 4, размещенную на внешней поверхности корпуса отметчика в зазоре между корпусом 1 и объектом 2. Способ осуществляется следующим образом.Размещают отметчик оппозитно объекту 2 с зазором относительно последнего. В исходном состоянии магнит ориентирован параллельно рабочей поверхности корпуса и одновременно параллельно поверхности объекта. При этом магнитная жидкость принимает форму, показанную на фиг,1. При поступлении сигнала об отметке дефектного места изменяют положение магнита 3 на СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ МЕТОК НА ОБЪЕКТ, заключающийся в установке отметчика оппоэитно обьекту, введение магнитной...

Номер патента: 1727486

Опубликовано: 30.04.1994

Авторы: Дюжиков, Семенов, Сюр

МПК: G01N 27/82

Метки: изделия, протяженного, структуры, ферромагнитного

1. СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТРУКТУРЫ ПРОТЯЖЕННОГО ФЕРРОМАГНИТНОГО ИЗДЕЛИЯ, заключающийся в том, что изделие одновременно нагружают, намагничивают до насыщения, перемещая вдоль изделия намагничивающую и измерительную системы, и по измеренному сигналу определяют структуру изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности определения структуры изделия, предварительно на контрольных образцах известной структуры получают зависимости величины сигнала измерительной системы от площади поперечного сечения искусственного концентратора магнитного поля рассеяния, в процессе контроля структуры исследуемого изделия выявляют зоны с экстремальными значениями сигналов измерительной системы, выполняют в этих зонах искусственные концентраторы магнитных...

Номер патента: 995601

Опубликовано: 27.07.2000

Авторы: Абакумов, Вильданов

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитных, матричный, полей, твердотельный

Твердотельный матричный преобразователь магнитных полей, содержащий магниточувствительный блок с датчиком считывания, выход которого подключен через амплитудный селектор к первому входу видеоконтрольного прибора, к второму входу которого подсоединен первый выход блока разверток, второй выход которого подключен к входу блока соленоидов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, в него дополнительно введен блок тактирующих импульсов, вход которого подключен к третьему выходу блока разверток, при этом магниточувствительный блок выполнен в виде отдельных секций формирования и считывания на магнитной пленке, в секции формирования размещены n ячеек генерации цилиндрических магнитных...

Номер патента: 1047287

Опубликовано: 27.07.2000

Авторы: Абакумов, Вильданов

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитных, полей

Преобразователь магнитных полей, содержащий герметичную ячейку, выполненную в виде двух плоских прозрачных пластин, соединенных по периметру прокладкой из диэлектрического материала, и заполненную жидким кристаллом, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности, в него введены кинескоп, прозрачный и непрозрачный электроды с размещенным между ними фотопроводящим слоем, резистор и источник питания, подключенный последовательно к резистору через непрозрачный электрод, фотопроводящий слой и прозрачный электрод, размещенный на внешней поверхности первой пластины ячейки, ячейка дополнительно заполнена ферромагнитной суспензией, а кинескоп оптически связан с внешней поверхностью второй...

Номер патента: 1018504

Опубликовано: 27.07.2000

Авторы: Абакумов, Вильданов

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитных, полей

Преобразователь магнитных полей, содержащий магниточувствительный узел, выполненный в виде секций накопления и переноса, выход которого подключен через амплитудный селектор к видеоконтрольному прибору, управляющий вход которого подсоединен к первому выходу блока разверток, второй выход которого подключен к блоку соленоидов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, а него введены блок тактирующих импульсов, m генераторов к аннигиляторов, а секция накопления выполнена в виде m строк с каналом управления, каналом перемещения и n элементами задержки в каждой строке, причем вход каждого элемента задержки подключен к соответствующему выходу канала управления, а выход - к...

Номер патента: 928905

Опубликовано: 10.08.2000

Автор: Абакумов

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитных, матричный, полей

Матричный преобразователь магнитных полей к структуроскопу, содержащий магниточувствительный узел, выполненный в виде матрицы, блок разверток и видеоконтрольный блок, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и уменьшения габаритов преобразователя, он снабжен амплитудным селектором, матрица выполнена в виде магниторезисторов и соединяющих их адресных шин, блок разверток подключен к управляющим входам магниточувствительного узла и видеоконтрольного блока, а адресные шины подсоединены через амплитудный селектор к видеоконтрольному блоку.

Номер патента: 1055243

Опубликовано: 10.09.2000

Автор: Абакумов

МПК: G01N 27/82

Метки: магнитных, матричный, полей, структуроскопу

Магнитный преобразователь магнитных полей к структуроскопу по авт.св. N 974239, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности, информационно-управляющий узел матрицы выполнен в виде электроиндуктивных возбудителей вращающихся магнитных полей ферромагнитных аппликаций шевронного типа и гальваномагнитных датчиков.