G01N 23/00 — Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе

Номер патента: 542406

Опубликовано: 07.12.1988

Авторы: Вольченко, Пекарский

МПК: G01N 23/00, G01N 23/02

Метки: влажности, радиоизотопное

...низкую чувствительность анализа.Целью изобретения является увеличение чувствительности устройства.Поставленная цель достигается тем, что в устройство дополнительно вводятся детектор быстрых нейтронов, схема измерения отношения скоростей счета импульсов, поступающих на ее 40 входы с выхода детектора быстрых нейтронов и второго выхода детектора гамма-квантов, и схема измерения отношения сигналов, поступающих на ее входы с выходов схемы корреляции и45 схемы измерения отношения скоростей счета импульсов, включенйая перед показывающим прибором.На фиг. 1 показано предлагаемое радиоизотопное устройство для контроля влажности; на фиг. 2 - изменение 50 показаний прибора, регистрирующего только медленные нейтроны, является возрастающей функцией...

Номер патента: 1469400

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Анохин, Захаров, Полевич, Сироко, Шперер

МПК: G01N 23/00

Метки: кювета, проточная

...(например, сплавов алюминия).Проточная кювета работает следующим образом.Проточную кювету устанавливают врабочую камеру спектрометра и последнюю вакуумируют. Герметичностьсоединения кюветы и спектрометрадостигается с помощью вакуумного уплотнения.Через наливной штуцер 4 и наливной канал 3 вводят в кювету исследуемую жидкость. Жидкость в кюветеподнимается до уровня, определяемого положением сливных каналов 5, через которые избыток жидкости попадает в сливную полость 6 и удаляетсяиз кюветы. Так как рабочая областьокна кюветы расположена ниже отверстий сливных каналов, воздух, попадающий в кювету вместе с исследуемой жидкостью, не скапливается награнице раздела жидкость - окно, авымывается током жидкости из кюветы.Если объем проб...

Номер патента: 1497532

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Аристов, Шабельников

МПК: G01N 23/00

Метки: поликристаллов, рентгеновских, топограмм

...зерна от 1 до 3 мкм, При измерениях падаюций пучок пропускают через щели01Соллера (угол расходимости М,= 2,5и кварцевый коллиматор 2 полного вне шнего отражения, уменьшающего ширину падающего пучка до Ь = 20 мкм. Дифрагированное излучение, соответствующее, дебаевской линии (200) кремния с дифракционным углом В гго = 10,5 на излучении р,1 выделяют ограничивающей щелью 6 шириной Б = 50 мкм и щелью 5 Соллера К = 2,5") . Распределение интенсивности регистрируют линейным координатным детектором РКЛ(7), имеющим линейное разрешение2 = 300 мкм (для излучения М,1 с,). 1 опо раммы по - лучают при непрерывном перемещении объекта по одной из координат Х (или У) при фиксированном значении второй координаты У (соответственно Х), Пределы непрерывного...

Номер патента: 1520408

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Ицкович, Косинов, Сиднев

МПК: G01N 23/00

Метки: исследования, физического, характеристик, эксперимента

...(6 рЕЭХ 1 ИЗОВсЗН В ВИДЕ деШИфра торэ эдресны 8 Входы кОторОГО сое диьены с магистралью 7 адреса микро процессорной вины), ПЗУ 17 и 18, регистр 5 критериев, регистр 20 текущих значений, компэра.ГОр 2, Элемент И 22, 1 ыэ 1 ц 23, триггер 24, при этои Выходы 5-"3 селектора 16 адреса со" единены с входами ЙЗУ 17 и 18, реги"стоов 19 и 20 и Элемента И 22 в ПЗУ 17 и 18 ГгреДНЭ Знач 8 НЫ СООТ ВВТСТ веННО ДЛяхоанения констант критериев Физического Эксперимента стадиЙ восстанов" ления и релаксации. Ддресные Входы ПЗУ 17 и 1,: соединены с мэгистраль 1 о 7 адреса микропроц 8 ссорной шины э магистраль 31 соединяет группу выхо" дов П"У 1 с 1 О г 1 рПЛОВ Эхо ов огистрэ" Послегйий предназначен дляпромежуточнОГО хранения констант ста гИЙ ":ОССТЭНОВЛ 8...

Номер патента: 1083765

Опубликовано: 23.12.1989

Авторы: Вольченко, Грачев, Майоров, Пекарский

МПК: G01N 23/00

Метки: влаги, доли, массовой, радиоизотопное

...8 и регистрируются детекторам медленных нейтронов 2. Часть замедлившихся нейтронов поглощается в контролируемом материале 8 с испусканием гаммаиэлучения радиационного захвата, которое вместе с прошедшим через контролируемый материал гамма-излучением источника 1 регистрируются детектором 3. Дифференциальный дискриминатор 4 выделяет из общего импульсного потока детектора 3 импульсы, обусловленные гамма-излучением радиационного захвата, Масштабный усилитель 5 приводит в соответствие (для данного материала и диапазона изменения концентрации ядер-поглотителей нейтронов) сигналы детектора 2 медленных нейтронов и сигналы на выходе амплитудного дифференциального дискриминатора 4. Блок сложения импульсных потоков 6 осуществляет суммирование...

Номер патента: 1539618

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Калиниченко, Попов

МПК: G01N 23/00

Метки: термоупругих, характеристик

...взаимодействия, которая в процессе всего измерения остается постоянной,Из уравнения (1) получаемГ(Т ) = 2 (2)Е маркс что позволяет по максимумам термоакустических сигналов, генерируемых в областях 4, 5, 6, образца, характеризующихся различными температурами Т 4, Т, Т , определить значение параметра Грюнайзена образца Г(Т ), Г(Т), Г(Т), Облучив последовательно всю пространственную область неоднородного поля температур исследуемого образца, по амплитудам термоакустических сигналов определяют температурную зависимость параметра Грюнайзена. В этом варианте реализации способа время снятия температурной зависимости параметра Грюнайзена определяется временем сканирования ИППИ по образцу либо временем перемещения образца от его начала до...

Номер патента: 1326005

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Игошин, Овчинников, Теврюков, Фрейберг

МПК: G01N 23/00

Метки: атомами, взаимодействия, газа, молекулами, характеристик, электронов

...пропорциональности, соответствующий величине сечениявзаимодействия электронов с частицами газа. Деля это равенство на Б(х)и переходя к пределу при д -ф О, находим 1 дй(х) - = -Ьп 0(х) йВ том случае, если б и п не зависят от х, это уравнение можно проин-. тегрировать: М(х) Ю ехр(- 6 пх)(2) Такии образом, количество электро вов в пучке экспоненциально уменьшается по иере его црохожденкя. сквозь . гаэ. Рассуждения, приводящие к формулами (2), не эависят, ни от родавзаимодействующих чзстиц,.ни от их 5скорости, нн от конкретных физических явлений, приводящих к выбываниюэлектронов из пучка. Эти факторывлияют иа величину Ь . Физика процесса заключена в величине сечения взаимодействия и в его зависимости отрода частиц и от условий...

Номер патента: 1597703

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Наумов, Рагимов

МПК: G01N 23/00

Метки: излучающего, неразрушающего, нуклида, образцах, распределения

...Аш.. Р;и- линейный коэффициент ослабления-й у-линии в образце;элементы вектора А : А1элементы вектора К: К; = 1 С1 о где С - содержание искомого радионуклида в контрольном образце; 15 1 1 . - скорости счета в пиках полф 0ного поглощения Х-й аналитической у-линии соответственно от анализируемого и контрольного образцов. 20Значения р,определяют или экспе-риментально или расчетным путем, если известен состав образца, а содер-жание в нем искомого радионуклида существенно не влияет на величину р . 251Распределение радионуклида по длине образца чаще всего имеет сложный вид и для его корректного описаниятребуется полином не менее 2-й или 3-й степени, т.е, необходимо измерять 30 потоки не менее трех или четырех - линий искомого...

Номер патента: 1603261

Опубликовано: 30.10.1990

Авторы: Пастухов, Салов

МПК: G01N 23/00

Метки: коррозии, скорости

...равномерно, так как получен из нуклида железо, которыйявляется составной частью естествен1603261 пример приклеивают на внутреннюю поверхность, ипроводят измерения в процессе коррозии прибором, регистрирующим гамма-излучение. Формула.и з обр ет ения Составитель Н.ВалуевТехред М.Ходаннч Корректор Т.Палий Редактор А.Лежнина Тираж 494 Заказ 3380 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 ной смеси присутствующих элементовв материале датчика.Полученный радиоактивный датчик впроцессе коррозии теряет свою массу,.го оборудования, например стали маркиСт 3 размером 60 х 33,мм. Значения...

Номер патента: 1608627

Опубликовано: 23.11.1990

Авторы: Акчурин, Аспандияров, Биттеев, Достияров, Сим, Туманов

МПК: G01N 23/00, G05D 23/00

Метки: влажности, дозирования, заданной, сыпучего

...26 сравнения, второй вход которого соединен с задатчиком 27 влажности. В качестве задающего параметра принята температура тз в зоне конденсации тепловой трубы, соответствующая требуемой влажности сыпучего материала. Выход "Больше" блока 26 связан через первый 28 исполнительный орган с.регуляторами 3 и 18, выход "Меньше" связан через второй 29 исполнительный орган с регулятором 8, причем первый 28 и второй 29 исполнительные органы, а также третий 30 исполнительный орган, к которому подключен выход "Равно" блока сравнения, связаны через четвертый 31 исполнительный орган с приводам 10 вала. Третий 30 исполнительный орган связан также с заслонкой 32 выпускного патрубка сыпучего материала.В качестве хладагента может использоваться...

Номер патента: 1619170

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Баранов, Ермолаев, Козлов, Кудрявцев, Самохвалов

МПК: G01N 23/00, G01N 29/12

Метки: дефектности

...мм), изготовленные, например,методом двустороннего прессования, имеют три различные (по вертикали) зоны, Наличие дефекта в первой (верхней) зонеприводит к появлению дополнительного резонансного пика 1, а дефекты в зонах И и Ивыз:ахают появление дополнительного пика2, Определяется разность частот между дополнительными пиками бездефектного эталонного изделия Л т 1 = т 1 - т 1; А 2 = 2 - т 1.Контролируемые изделия (цилиндры) позонно просвечиваются узким пучком гаммаквантов и определяется степень ослабления 20излучения и/пэ( = 1,2,3), где и - плотностьпотока гамма-квантов, прошедших череззону цилиндра с номером , пэ - плотностьпотока гамма-квантов, прошедших черезэталонное бездефектное изделие, В результате контроля определяется...

Номер патента: 1635089

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Гельфанд, Клиндухов, Макаров, Точилин

МПК: G01N 23/00, G01N 23/08

Метки: блок, радиоизотопный, релейный

...Составитель В.КостюхинРедактор М,Петрова Техред М.Моргентал Корректор С.Шевкун Заказ 752 Тираж 410 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 контролируемого процесса, т.е. при изменении п 1 и по.Предлагаемое изобретение позволяет повысить статистическую надежность за счет атвоматической регулировки порогов 5 срабатывания прибора по заданному быстродействию в условиях медленного дрейфа отношения сигнал/помеха на входе прибора,10 Формула изобретенияРадиоизотопный релейный блок, содержащий источник агонизирующего излучения, блок детектирования, генератор импульсов, ЙЯ-триггер...

Номер патента: 1643619

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Бондаренко, Остроуменко, Спиридонова, Твердохлебова

МПК: C21D 1/00, G01N 23/00

Метки: борсодержащих, образцов, сплавов, стандартных

...в среде инертного газа, После удаления поверхностного слоя, а также при быльной и донной части слиток длиной 120 мм для повышения его однородности путем прогнозированного управления ликвацией подвергают нагреву в вакуум-индукционной печи при 1223 К в течение времени, найденного из зависимости макронеоднородности по слитку стандартного образца от времени нагрева, 1 редварительно на примере типичного монолитного материала стандартных образцов состава борсодержащих сплавов, наплавленного по" 5 О 5 20 25 30 35 40 45 50 рошковой лентой металла до безокислнтельного нагрева, убеждаются втом, что макронеоднородность послитку носит волновой характер,Дляэтого используют эмиссионный и дисперсионный методы анализа, Из статистически...

Номер патента: 1122099

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Глушкова, Пронякин, Синчуков, Стройковский, Шейкин

МПК: G01N 23/00

Метки: влагомеров, градуировки, нейтронных, образец, эталонный

...таких материалов влагомером возникает погрешность вследствие влияния колебаний насыпной массы на показания приборов. В этом случае требуется измерять весовую влажность материала, т.е, объемную влажность, отнесенную к массе сухого материала.Однако известные эталонные образцы воспроизводят только значение объемной влажности.Целью изобретения является повышение точности градуировки, учитывающей свойства реальных сыпучих материалов. Поставленная цель достигается тем, что эталонный образец для градуировки нейтронных влагомеров, состоящий из помещенных в корпус материалов двух видов, один из которых является водородсодержащим (напри-мер, парафин, полиэтилен, капролон, оргстекло, пенопласт), содержит размещенную в корпусе трехмерную...

Номер патента: 1205668

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Глушкова, Максакова, Стройковский, Тегза

МПК: G01N 23/00

Метки: влагомеров, градуировки, нейтронных, образец, эталонный

...в блоки первоговида в атомных единицахьав еьМ 2 " масса молекулы воды В атомных единицах, а. е,ш, - масса одного блока первого вида (г),а количество бь оков Второго вида И,определяется в заВискмостк от заданной насыпной асы эталонного образца соотношением)Ч - ш2где в - масса трехмерной сгержкеВой решетки, г. ш, - масса одного блока второговидав гьпричемь мЕжцентровое расстояние г трехмерной стержневой решетки и количество стержней Б решетки определяются выраеениямкИ,+М, ь) 2где а - максимальный геометрический размер блоков первого или второго вида, см.а В эталонном образце, воспроизводящем малое содержание влажностиь блоки первого вида выполнены из материала, идентичного блокам второго вида, и заключены в оболочку из во П...

Номер патента: 1651172

Опубликовано: 23.05.1991

Авторы: Остроуменко, Спиридонова, Твердохлебова

МПК: G01N 23/00

Метки: легирующих, равномерности, распределения, сплавах, элементов

...Р ,р, который сравнивают с табличным при уровне значимостии числе степеней свободы Е, и Е,т. 30, В табл. 1 представлены данные для определения равномерности распреде 724ления В, 81, Мп, Сг в сплаве и параметр Р; в табл. 2 - сравнительные данные по точности определения равно мерности распределения легирующих элементов.Предлагаемый способ дает возможность использования методов эмисси онного спектрального и дисперсионного анализа в качестве более точного, простого и универсального способа определения равномерности распределения элементов в сплавах.Ф о р м у л а изобретения Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах, включающий выплавку, отжиг и механическую обработку образцов; о т л и ч а ю щ и й с я...

Номер патента: 1679309

Опубликовано: 23.09.1991

Авторы: Коробочкин, Латыпова

МПК: G01N 23/00

Метки: ксантогената, распределения

...объемом 1 мл на радиоиндикаторный анализ для определения общего количества ксантогената и параллельно измеряют оптическую плотность Дзю) для избирательного определения количества ксантогената методом Уф-спектроскопии.В таблице представлены результаты определения разрушенных Форм ксантогената1679309 Сочетание радиоиндикаторного метода и метода УФ-спектроскопии, позволяющего определять разрушеннце формц ксантогената, дает возможность использовать высокую чувствительность определения всех форм ксантогената радиоиндикаторным методом и избирательность в определении ксантогената УФ-спектроскопией.Формула изобретения Способ контроля распределения ксантогената при взаимодействии его водного Радиоиндикаторнцй метоУФ- спектроскопия...

Номер патента: 1679310

Опубликовано: 23.09.1991

Автор: Матюков

МПК: G01N 23/00

Метки: заряженных, облучения, образца, пучком, ускоренных, частиц

...ядро определяется синусоидальным законом сканирования, В общем случае это не всегда так, В качестве примера на фиг, 6 и 7 изображены некоторые временные зависимости, по которым также может быть осуществлено периодическое сканирование, Но уравнения типа (5) с ядром, определяемым этими функциями, не имеет решения, т.е.никакое изменение амплитуды не позволит 15 получить равномерное облучение образца,если сканирование осуществлять так, как на фиг, 6 и 7 (в частности, фиг. 7 соответствует использованию тиристорного регулятора без фильтра высших гармоник для изменения амплитуды сканирования на низких частотах),Таким образом, при медленном изменении амплитуды синусоидального сканирования от нуля до Т в соответствии с выражением (7) получают...

Номер патента: 1681209

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Пархоменко, Пенский

МПК: G01N 23/00

Метки: выхода, работы, электронов

...либо поварианту сферического конденсатора, либопо Варианту "цилиндрическое зеркало", регистрируют максимумы пиков упругоотражен;ых электронов от образца и эталона,После этого, зная работу выхода для этало; а, находят работу выхода образца по Форфул е;Боб = Еоб - Еэт + Оэт,ГДЕ Е об - ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЕ ПОЛОЖЕНИЕ МВКСИмума упругоотраженных электронов от исследуемого образца;Еэт - энергетическое положение максимума упругоотраженных электронов от эталонного образца;Иэт - работа выхода электронов эталонного образца;Боб - рабата ВЫХОда ЭЛЕКтрОНОВ ИССЛЕдуемого образца,Облучением исследуемого образца потоком низкоэнергетических электронов добиваются высокой локальности определенияработы выхода, так как пучок электроновможет быть сфокусирован до...

Номер патента: 1689817

Опубликовано: 07.11.1991

Авторы: Алексеев, Беляков, Варлачев, Епонешников, Мирончик, Панов, Солодовников

МПК: G01N 23/00

Метки: анализатор, жидких, нефтепродуктах, нефти, рентгеноабсорционный, серы

...импульсов К - йф и автоматическое вычисление концентрации в пробе углеводорода составляет 120 с.Таким образом, изобретение позволяетпоьысить,точность и экспрессность анализаза счет оп гимальной для даоо типа измерений процедуры измерения и учета фона, а также автоматической обработки результатов измерений и вычисленной искомой величины,Рассмотрим кратко работу анализатора по принципиальным схемам.В исходном состоянии реверсивного счетчика (фиг.4) на счетных выходах 07-012 присутствует логический "О", на выходах 01- 03 - логическая "1", на выходе 04.1 - логическая "1", на выходе О 06.1 - логическая "1", на выходах 1-10 013 - 018 и входах 019- 028 - логическая "1", на выходах 019- 028 - логический "О", на входах 029 - 038 - логическая "1",...

Номер патента: 1574019

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Дубовенко, Пронкин, Терентьев, Хахалин, Яковлев

МПК: G01N 23/00

Метки: параметров, периодического, процесса

...отражаются Определенным функциональным образом д форме спектра длительностей Ин Га)Вдлан между импутэ" сами, котарьй )зоб цем слуцда предстдаляе 1 собой псриодицеси меняОщуася функциО, нд катаруо наложено общее затухание с ростом 1,Особое положение здним тат пик Гри т О.Он является самым крупным, но нд нем скд" зындется влияние "),рта)го" г ремени регистрирующей аппаратуоы, вследствие чего он мает быть существенно искажен (область От к А на фиг. 8), Поэтому его можно не рассматривать и о параметрах процесса судить по второму, третьему и т.д, пикам. Если уже гторай пик слишком мал для удаб)о 1) Оарабатки, то можно УВеличить Относительный вклад этих пиков, уменьшив интенсивность патока импульсов от опробыадющего излучения и тем самым...

Номер патента: 1695196

Опубликовано: 30.11.1991

Авторы: Клемпнер, Кравец, Уманец, Шамшин

МПК: G01N 23/00

Метки: градуировки, естественной, зольности, приборов, радиоактивности, угля

...спорядковым номером до Яре=26. При этомнеобходимо обеспечить определение по таким Образом, чтобы результат измерения не зависел от толщины и плотности нерадиоактивного материала,Для этого производят измерение от двухчастей нерадиоактивного материала равной5 толЩины с толщиной.б и 2 б,Скорость счета детектора излученияв первом измерениип 1=по+(пф - по)ехр (- ирб)=-по+(пф-по) Ь,во втором измерении10 п 2=по+(пф - по)ехР( - ,и Р 2 б)=по+(пф - по)ЬилиП 1-По=(пф-По)ЬП 2 - П о=(П ф - П о) ЬОткуда15п 2 пф - п 1 2 по= п 2 + пф - 2 п 1 Значение по не зависит от толщины иплотности нерадиоактивного материала и в определенной мере от,и, а следовательно, соответствует значению по при б - оо, Если измерение производится в пробе, толщина котороЙ...

Номер патента: 1700452

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Григорьев, Кесслер, Лоскутов, Холева

МПК: G01N 23/00

Метки: керамического, состава, фазового

...газа, используемого в качестве источника первичных ионов. Из всех ВИ, составляющих масс-сп ктр исследуемого образца, только эмиссия ВИ СиОд не зависит от вида образца, а только от его фазового состава, Поэтому для увеличения экспрессности анализа нет необходимости измерять весь масс-спектр ВИ во всем диапазоне масс 60 - 300 а.е.м., а достаточно измерить его в узкой полосе с центром около 216 а.е.м который соответствует эмисии+СцО, Ширина полосы измеряемого спектра зависит в основном от характеристик масс-спектрометра ВИ и при улучшении их может быть сокращена,П р и м е р 1. Образец исследуемого керамического материлаВа 2 СцзОм" помещают в масс-спектрометр ВИ, снабженный источником первичного ионного пучка. В качестве рабочего газа...

Номер патента: 1707470

Опубликовано: 23.01.1992

Авторы: Михайлов, Цимко

МПК: G01B 15/02, G01N 23/00

Метки: объекта, толщины

...0). (3)Для повышения точности определениянапряжения на трубке эталонный ослабитель выполняют в виде ступенчатого клина, а его эквивалентную толщину определяют для ступенек, соответствующих по оптической плотности линейному участку характерист;1 чсской кривой, Полученные для этих ступенек значения напряжения на трубке усредняют по числу ступенек, а результат используют в качестве параметра при определении толщины обьекта решением уравнения (3).П р и м е р. Проводилась съемка в качестве объекта плексиглазового образца толгщиной 3 см вместе с алюминиевым клином (8 ступенек с шагол 1,5 мл) и эталонным ослабителел, представляющим собой параллелепипед из оргстекла с 6 ячейками, одна из которых заполнена водой, а 5 - растворами...

Номер патента: 1728743

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Ашихмина, Богатиков, Садовская, Томашпольский, Фрих-Хар

МПК: G01N 23/00, G01V 9/00

Метки: восстановительной, выявления, магме, минералообразования, среды

...К; 3- втечение 1 ч при 1070 К; 4 - в течение 1 ч при 1270 К(по оси абсцисс - температура в К, по оси ординат - выход вторичных электронов в условных единицах).На фиг. 3 - температурная зависимость выхода вторичных электронов для скола породообразующего кристалла пироксена с острова Фогу, где 1- окисленные (невосстановленные) участки; 2 - участки, обогащенные восстановленными формами элементов.На фиг, 4 - температурная зависимостьвыхода вторичных электронов для частицвулканического лунного стекла, где 1 - 5окисленные (невосстановленные участки); 2- участки, обогащенные восстановленнымиформами элементов.Способ определения восстановительной среды минералообразования в магме 10состоит в следующем,Сначала отбирают пробу; свежие не измененные...

Номер патента: 576824

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Бунж, Резник

МПК: G01N 23/00

Метки: измеритель, плотности, поверхностной, радиоизотопный

...схемарадиоиэотопного измерителя поверхностной плотности,Измеритель содержит источник излучения 1 в рабочем контейнере 2 с коллимационным отверстием, детектор 3 излучения,выход которого через усилитель 4 и формирователь 5 соединен с входами интегратора6 и блока 7 измерения времени интегрирования, блок 8 управления, вход которогосоединен с выходом интегратора б, э еговыход подключен к блоку 7 измерения времени интегрирования и к интегратору б, показывающий прибор 9,Рабочий контейнер 2 снабжен вторымколлимационным отверстием 10, обеспечивающим проход пр.,мого пучка излучения кдетектору 3, э измеритель дополнительносодержит регулятор 11 прямого потока излучения, например, в виде клина, размещенного между источником 1 и детектором3, и...

Номер патента: 1775654

Опубликовано: 15.11.1992

Авторы: Полевич, Сатаров, Сироко

МПК: G01N 23/00

Метки: кювета, проточная

...входные отверстия сливных каналов располоконы выше рабочейполости окна 8, (т.е, области, через которуюрентгеновское излучение попадает в рабочую.полость кюветы).Кювета имеет подвижное нижнее основание 9, в котором выполнен паз для вакуумного уплотнения 10. Три направляющих 11закреплены в основании 9 и свободно проходят через отверстие в корпусе 1 кюветььПружины 12 служат для устранения жесткойсвязи между вакуумным уплотнением 10 ирабочей полостью 2 кюветы, Сливные штуцера корпуса кюветы и основания соединены посредством гибких шлангов 13(изготовлены из полипропилена или силиконовой резины).Крышка 14 выполнена в форме конуса15, который обращен вершиной внутрь кюветы и имеет цилиндрическую стенку 16, Набоковой поверхности конуса...

Номер патента: 1783395

Опубликовано: 23.12.1992

Авторы: Глушкова, Домбровский, Савелов, Стройковский

МПК: G01N 23/00

Метки: влажности, сыпучих

...позицией 1 показаны теку- . "Ричем значение определяют в зэвисимощие значения влажности ЧЧь измеряемые сти от разности двух последовательных тевлагомером беэ усреднения информации; кущих значений ЧЧ и. ЧЧь 1 и среднего позицией 2 - усредненные значения влаж- значения ЧЧп, ЧЧпности ЧЧ, определенные по известному 40 Если каждое из двух последовательных способу измерения: позицией 3 - усреднен- значений разности ЛИ и ЛЧЧпревышаные значения влажности па заявляемому ет заданный предел ЛчЧмакс, а сумма способу измерения, На фиг,1,2 11 - , врея этих двух разностей с учетом знака ЛЧЧ реакции при выполнении заявляемого спо-Л ЧЧ + ЛЧЧпревышает заданнь 1 й саба измерения; т 2 - известного способа 45 предел ЛВ/макс, то это с большой...

Номер патента: 1783396

Опубликовано: 23.12.1992

Автор: Туманов

МПК: G01N 23/00

Метки: влажности, органогенной, почвы

...захвата нейтронов, т.е, соответственно. с водородосодеркания, плотности и зольности одного и того же объема органогенной почвы, одновременно поступают на соответствующие 45 входы программно-вычислительного устройства 3, где. по соответствующему алго ритму(см. формулу 5) происходит обработка полученной информации и определяется относительная весовая влажность органогенной почвы,П р и м с р 1, Проводили измерение .влажности осушенной почвы (торф различного типа и вида, степени разложения и зольности). Коэффициенты а и Р, учитывающие содержанке водорода в твердой фазепочвы, принимались равными 0,05 и 1,2,Для получения сравнительных данныхпараллельно в точках, где проводились из-марания влажности способом. прототипом,Iотбирались пробы...

Номер патента: 1805359

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Власкин, Даренских, Парфентьев, Ступин, Чванкин

МПК: G01N 23/00, G01T 3/00

Метки: нуклидов, распадающихся, смеси, содержания, спонтанно

...от раствора смеси СРН. Как показали результаты исследований, эти коэффициенты практически не зависят от состава и содержания смеси СРН в растворе.Для определения содержания смеси СРН в каждой емкости при изменении нуклидного состава смеси СРН в растворе, поступающем на вход в систему емкостей, необходимо измерить показания нейтронного датчика (1 ч) и гамма;абсорбциометра (1 ч,) на входе в систему емкостей и показания нейтронных датчиков на каждой емкости (1 чы), Содержание смеси в 1-й емкости рассчитывают с помощью полученных градуировочных коэффициентов по зависимо- сти 11 н 11 н 1й.й,Опытная проверка изобретения в условиях радиохимического производства при переработке отработавшего ядерного топлива реакторов на смеси СРН...