Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах

Номер патента: 1651172

Авторы: Остроуменко, Спиридонова, Твердохлебова

ZIP архив

Текст

16511 Т а 1 б и и ц в 4Сече Ивссоввл поилине испытуеиото,ОО 1 круге до шероховатости В не более 20 мкм, Подвергают эачищенные поверхности образца воздействию искрового разряда от генератора, производят по 10 обыскриваний на каждой поверхности образца при использовании железного электрода. Разлагают излучение в спектр с помощью спектрографа и регистрируют эти спектры на Фотоплас тинку. Выбирают под спектропроектором при наличии специальных таблицгомологичные пары спектральных ли-ний. На микроФотометре измеряют плотности почернений спектральных линий 15 с последующим переводом их в интенсивности с помощью характеристической кривой Фотопластинки. Находят эначе" ния относительных (К) интенсивностей, например В/Ре и Ре/Ре, затем выбо рочные дисперсии отношений интенсив" ностей аналитической (83.;) и матрич йной (8 .) пар обоих сечений образца.2Затем определяют средневзвешенныедисперсии отношений интенсивностей 25 аналитической (8 ) и матричной (8)а 8 пар спектральных линий и находят параметр Р ,р, который сравнивают с табличным при уровне значимостии числе степеней свободы Е, и Е,т. 30, В табл. 1 представлены данные для определения равномерности распреде 724ления В, 81, Мп, Сг в сплаве и параметр Р; в табл. 2 - сравнительные данные по точности определения равно мерности распределения легирующих элементов.Предлагаемый способ дает возможность использования методов эмисси онного спектрального и дисперсионного анализа в качестве более точного, простого и универсального способа определения равномерности распределения элементов в сплавах.Ф о р м у л а изобретения Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах, включающий выплавку, отжиг и механическую обработку образцов; о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, после механической обработки снимают спектрограммы и определяют значения относительных интенсивностей гомологич ных пар спектральных линий легнру)ощего и основного элементов, далее определяют средневзвешенные дисперсии. относительных интенсивностей и на основании сравнения их отношения с табличными значениями Р-распределения судят о равномерности распределения легирующего элемента.1651172 Та блица 2 Сплав Массовая доля элементов, Х Относительная погрешность определения, 7, по спо- собу известному пред- лагаемому Стапь марки. 17 Г 1 СУ В 3,0 2,1 0,77 Составитель Ф.СтеценкоТехред С.Мигунова Корректор Т.Палий Редактор О.Головач Заказ 1602 Тираж 411 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Рауюская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,10 Расплав цинкаБорсодержащиесплавы на основе железа Зд 0,40-1,0Мп 1,0-2,0А 1 0,12-0,15 3,4 2 3 7,9 0,870,871,3

Смотреть

Заявка

4709218, 05.05.1989

ДНЕПРОПЕТРОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. 300-ЛЕТИЯ ВОССОЕДИНЕНИЯ УКРАИНЫ С РОССИЕЙ

ТВЕРДОХЛЕБОВА СВЕТЛАНА ВАСИЛЬЕВНА, СПИРИДОНОВА ИРИНА МИХАЙЛОВНА, ОСТРОУМЕНКО ПАВЕЛ ПАВЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/00

Метки: легирующих, равномерности, распределения, сплавах, элементов

Опубликовано: 23.05.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1651172-sposob-opredeleniya-ravnomernosti-raspredeleniya-legiruyushhikh-ehlementov-v-splavakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах</a>

Похожие патенты