G01N 23/00 — Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе

Номер патента: 313146

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Зварич, Исаков, Шамов

МПК: G01N 23/00

Метки: типа, электродинамического

...щегос айних Изобретение относится к области экспериментальной техники для изучения эффекта Мессбауэра.Устройство электродинамического типа для перемещения источника (поглотителя), в установках для изучения эффекта Мессбауэра известно. Указанное устройство состоит из магнитной системы, закрепленного в центрирующих пружинах подвижного каркаса с катушками, который перемещается в зазорах магнитной системы.Основным недостатком известного устройства является наличие упругих центрирующих пружин, искажающих заданный закон движения.Цель изобретения - улучшение отработки заданного движения источника и увеличение возможного диапазона скоростей.Цель достигается тем, что подвижный каркас выполнен в виде свободно перемещающегося в подшипниках...

Номер патента: 313147

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Вареник, Волынский, Любимов

МПК: G01N 23/00

Метки: магнитного, резонанса, спектрометр, ядерного

...на исполнительные катушки 32, Одновременно на эти же катушки подает ся ток от узла 39 выравнивания разности полей.Спектрометр р аботает следующим обр аз ом.При разомкнутом тумблере 38 узлы 1 - 30 функционируют известным образом. Ввиду 30 того, что поля в точках расположения опорного и компенсирующего образцов при этом, вообще говоря, неодинаковы, сигнал компенсирующего образца первоначально может и не наблюдаться. Однако изменяя ток в исполни тельных катушках 32 с помощью узла 39,можно без труда выравнить величину поляризующего поля в этих точках, поскольку поля, создаваемые катушками 32, направлены встречно. При этом, в результате срабатыва ния систем стабилизации (узлы 21 - 29), полев точке расположения опорного образца не...

Номер патента: 317969

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Абрамов, Барышников

МПК: G01N 23/00

Метки: анализаторов, градуировки, заряженных, магнитных, частиц, энергии

...используют несколько ядерных реакций, одновременно идущих на ядрах мишени при одной энергии падающих частиц и приводящих к образованию ядра продукта в основном и возбужденном состоянии, с одновременной регистрацией детектором энергии продуктов всех реакций. Разность энергии продуктов реакции определяется только энергией уровней ядра продукта и,поэтому для используемой ядерной реакции точно известна и не зависит от энергии первичных частиц. Градуировка проводится по этой известной разности энергий продуктов реакций и по положениям пиков продуктов реакции на зарегистрированном спектре.По линии относительной энергетической градуировки можно определить сдвиг пиков аппаратурного спектра по шкале энергии ХЕ,2при уменьшении энергии...

Номер патента: 329407

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Волынский, Плто

МПК: G01N 23/00

Метки: магнитного, резонанса, спектрометр, ядерного

...линецйый градиент компенсирующего поля в области расположения 30 трех образцов, 3294071(,атушка положцтелыгой ооратцой связи 18 выполцеца в виде соленоида, в которгяг помещен второй опорный образец 8. Коаксиггльпо с цим расположен соленоид 16.Изменения линейного градиента поля вдоль оси ампулы 2 компенсируются следующим образом,Переменное напряжение спицового ге ератора (блоки 6, 8 - 13) подается ца вход преобразователя частота - напряжение И, ца выходе которого получают постоянное напряжение, пропорциональное частоте. Это цацрякепие сравнивается со стабилизированным опорным цацряжспием, и разность напряжений подается ца катушки 15, через которые осуществляется отрицательная обратная связь по магнитному полю в спиновом генераторе....

Номер патента: 329454

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Барков, Бондаренко, Иванова

МПК: G01N 23/00, G01T 1/36

Метки: рентгеновский, спектрометр

...трубка 2, жестко соединен со щекой 3, подвижно связанной со втулкой 4, и со щекой 5, неподвижно соединенной с полуосью б. Полуось б охватывается втулкой 7 и через зубчатую передачу, состоящую из зубчатого колеса 8 и вала-шестерни 9, соединена с рукояткой 10.Для измерения угла падения первичных рентгеновских лучей рентгеновская трубка 2 может поворачиваться вокруг оси О - Опрн этом щека д скользит по втулке 4, а полуось б - по втулке 7.1:1 з вертикального положения трубка может повернуться по часовой стрелке до горизонтального положения и обратно, а также против часовой стрелки на 30 и обратно. Таким образом, рентгеновская трубка поворачивается относительно образца на 120 с помощью рукоятки 10 через вал-шестерню 9 и зубчатое колесо...

Номер патента: 331296

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Байер, Изобретеии, Лебедев, Объединенный, Пиотровски, Райко, Тыррофф, Херрманн

МПК: G01N 23/00

Метки: короткоживущих

...продуктов, требуемый элемент осаждается методом элек тролиза на полосю фольги нз тч.оплавогометалла и помещается в нспарнтельную камеру ионного источника с поверхностно) иониза.цией. Процесс разделения изотопов проводится до полного испарения радиоактивного 30 элемента с фольги. Прн этом происходит эф3312 Н 11 екцвца ионизация паров вещества ца расс 1,сицоц поверхцос ц л сталлиеского иоццзатора,Г 1 рц решсццц задачи исходными были следуОщце соображения: при сравнительно больцшх количествах исходных веществ (Р), которые должны быть введены в плазменный ионный источник для стабильного газового разряда ц небольших величинах ионного тока(/ = 1 О - за), допускаемых обычно использующимися масс-сепараторами, требуется длительное...

Номер патента: 339847

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Королев, Миркин

МПК: G01N 23/00

Метки: библио, нйн, патентно-тга

...контрастность изображения.Цель изобретения - уменьшение трудоемкости и повышение точности подсчета пор в прозрачном шлифе. 25Цель достигается тем, что по предлагаемому способу фотоэлектрическим методом регистрируют световой поток, прошедший через полупрозрачный негатив с изображением шлифа пористого тела. Негатив получают фото- з 0 фированием шлифа кристаллической порочерез поляризационный микроскоп,пределение пористости тел по предлагаеу способу проводят в следующем порядке.Малоконтрастный естественный объект - шлиф горной породы или другого пористого тела - фотографируют через поляризационный микроскоп в скрещенных николях, осуществляя вращение на угол, кратный 90, вокруг оптической оси системы анализатор -...

Номер патента: 346693

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Данилов, Шлоков

МПК: G01N 23/00, G01T 1/16

Метки: анализа, количественного, руд, смесей, фазового

...Бюллетеньтение относится к области количестфазового анализа смесей, руд, мине- держащих ферромагнитные вещестЦель изобр стря на результат учтемпературы. 15Предложенный способ отличается тем, что измеряют величину эффекта е в анализпруемой фазе при энергии гамма-квантов меньшей энергии, соответствующей положению максимума резонансного поглощения еп, в 20 данной фазе.На чертеже дан график, поясняющий схему выбора е для проведения анализа.Температурные изменения величины измеряемого эффекта, обусловленные температур ной зависимостью вероятности резонансного поглощения, компенсируются ее изменениями за счет температурного сдвига положения максимума резонансного поглощения. Вследствие этого осуществляется температурная 30...

Номер патента: 347070

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Венцюс, Литовский, Электрификации, Ярашюнас

МПК: B01F 3/18, G01N 23/00

Метки: качества, литериалов, смешивания, сыпучих

...сыпучих компонентов, затем приступают к собственно определению достижения желаемои степени гомогенизации смеси.Подбор радиоактивных индикаторов осуществляют в следующем порядке.Смешиваемые компоненты загружают в смеситель. В процессе перемешивания отбирают пробы желаемых целесообразных величин и, по данным количественного химического анализа последних, строят кривые вероятностного распределения соотношения компонентов в выбранных пробах. После этого смеситель снова заправляют перемешиваемыми компонентами в первичном соотношении, одновременно вводят один пз предусмотренных радиоактивных индикаторов, запускают смеситель в первичном режиме и измеряют флуктуации интенсивности излучения. По стабилизации этих флуктуаций судят о времени...

Номер патента: 386225

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Еремин, Климов

МПК: F27D 1/16, G01N 23/00

Метки: агрегатов, тепловых, толщины, футеровки

...тивность элемента 25 кону.определения тоагрегатов по автся тем, что, сизмерения, удельраспределяют 1 покладки по эксп лщины футеровкисв.253083, отцелью повышения ую объемную акдлине эталона и ненциальному заИзобретение относится к способам определения толщины футеровки тепловых агрегатов, например, металлургических печей и мохкет найти применение в других отраслях промышленности, где,необходим контроль за степенью износа футеровки тепловых агрегатов.Основное авт. св.253083 выдано на способ определения толщины футеровки тепло. вых агрегатов путем непрерывного определения разности дозных полей эталона и элемента кладки с одинаковой распределенной удельной объемной активностью.Недостатком известного способа является то, что он применим...

Номер патента: 389448

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Вител

МПК: G01N 23/00

Метки: 389448

...какой-либо длине волны, на определенном расстоянии от источника рентгеновского излучения. В фокусе отраженных от кристалла лучсй располагают счетчик, расстояние до которого от кристалла должно б орасстоянию от кристалла до источгеновского излучения.В этом случае источник, кристалл и счетчик находятся на круге Роуланда, что соответствует максимальной интенсивности рентгеновского излучения строго определеннойлинии спектра. Затем кристалл и счетчик закрепляют так, чтобы их взаимное положениево время дальнейшей юстировки было постоянно.Кристалл и счетчик, расположенные нагайке ходового винта, перемещают относительно источника рентгеновского излучения,добиваясь при этом наличия излучения однойи той же линии спектра за счет...

Номер патента: 391450

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Еременко, Полканов

МПК: G01N 23/00

Метки: полезных, содержания

...и лиловую окраску,По известчому способу невозможна разбраковка пиропа на разновидности с эпределенным содержанием хрома, Пирол по этому способу разбраковывается лишь на малохро,мистый и хромастый, причем трудно отнести к той или иной фракции пироп,промежуточной окраски. К 1 роме того, такой способ недостаточно надежен, из-за того, что не всегда четко выдерживается зависимость, на которой основал способмежду содержанием хрома н интенсивностью окраски пирона.Цель изобретения - выявление и учет зерен пиропа с определенным содержаоием хрома.Это до:тигается тем, что пиропсодержащую пробу поинтервально, например с интервалом в сто градусов, нагревают от 20 до 400 С и при достижении заданных температур последовательно отбирают,в отдельные...

Номер патента: 396603

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Павлов, Тетельбаум, Хохлов

МПК: G01N 23/00

Метки: азота, кремнии

...позволяют фиксировать то количество азота, которое может повлиять на характеристики приборов при получении цх цоццо-лучевым методом.Цель изобретения - устранение этого нсдос гатка.Для этого исследуемый образец кремтця, например, р-тица бомбардируют ускоренными ионами неона или любого другого инертного газа, Ускоренные ионы, проникая в крсмний, разбивают растворенные в нем электрически нейтральные азотсодержащие молекулы или 53 Х 4, переводя азот в атомарное состояние. Доза облучения должна быть близкой к граничной дозе аморфизации, Отжиг облученцого ооразца при 600 в 9 С кроме удаления радиационных дефектов приводит к переходу атомов азота из мсждоузлй в узлы кристаллической решетки, где азот проявляет свои донорные свойства, т. е....

Номер патента: 408209

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Борщевский, Попова, Шавлов

МПК: C01B 31/20, G01N 23/00, G01N 31/00 ...

Метки: анализа, выделения, изотопного, карбонатов

...проце водят в расплаве безводнщелочных металлов при 2 Способ пзотопног жения, о 0 упрощен и жение пр фторидовнатов для го разло, с целью са, разлоых гидро - 250 С. Изобретение относится к способам выделения элементов из минералов для изотопного анализа с целью решения различных геологических задач научного и прикладного характера по установлению условий формирования горных пород и месторождения полезных ископаемых.Известен способ выделения СО 2 из карбонатов разложением их безводной ортофосфорной кислотой при 25 С в стеклянной вакуумной аппаратуре. Однако известный способ достаточно сложный, трудоемкий и малопроизводительный; например, для полного выделения СО, из карбонатов требуется продолжительное время (3 - 6 час).С целью упрощения...

Номер патента: 366393

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Берхоер, Вител, Шифрин

МПК: G01N 23/00

Метки: анализа, образцов, рентгеновского

...и увеличение точности определения компонентов сырьевых материалов и повышение качества цемента.Это достигается тем, что стандартные образцы изготавливают пз средней пробы исследуемого материала путем добавления к ней химически чистого колпонента. подлежащего определению, в количестве, охватывающем диапазон его колебаний в исследуемом материале, а содержание компонентов в материале определяют в соответствии с соотношением:366393 С = а " -, С,о(1 - О,Яа),Жьг - ВУ, - В Предмет изобретения Составитель Г. Данилов Техрсд Е. БорисоваРедактор А. Батыгии Корректор Е. Денисова Заказ 120/57 б Изд,142 Тираж 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д, 45 Тип, Харьк. фил, пред....

Номер патента: 373605

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Лифшиц

МПК: G01N 23/00

Метки: анализа, рентгеноструктурного

...эта цель достигается тем, что первичный пучок рентгеновских лучей, идущих от кольца источника, является расходящимся, образец перемещаютвдоль прямой, перпендикулярной плоскости, в15 которой лежит кольцо источника, и проходящей через середину кольца, и регистрируетинтенсивность рентгеновских лучей, дифрагмированных вдоль этой прямой, причем размеры участка образца, от которого измеряет 20 ся дифракция, определяются диафрагмамирегистрирующего устройства.Способ поясняется чертежом, где показанорасположение источника рентгеновских лучей,образца и регистрирующих устройств диа 25 фрагмами.Вокруг луча, идущего из какой-либо точкикольца источника 1, имеющего радиус Р, наобразец 2, возникает конус дифракции 3,Если О один из углов,...

Номер патента: 379891

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Власенко, Назаренко, Чернов

МПК: G01N 23/00, G01T 1/16

Метки: контрастности, минерального, сырья

...стороне спирали.Такое выполнение покускового питателяпозволяет порционно загружать его исследуемой пробой, причем на выпуклой сторонеспирали куски выстраиваются в один ряд, авыдвижная заслонка в необходимый моментотделяет кусок от порции, направив затемего в узел измерения.На фиг. 1 схематически изображено предлагаемое устройство в продольном разрезе;на фиг. 2 - вид устройства в плане (экрани бункер не показаны),Устройство содержит стопор 1, кронштейн2, фотодиод 3, осветитель 4, ступицу 5, валб, мотор-редуктор 7, раму 8, зубчатую передачу 9, весы 10, детектор 11, рамку 12, платформу 13, стакан 14, бункер 15, диск 1 б, заслонку 17, пластину 18, спираль 19, пневмоцилиндр 20.Диск, жестко соединенный с валом, установлен в ступице рамы и...

Номер патента: 278897

Опубликовано: 05.01.1974

Авторы: Гросс, Котов, Покорный, Шах

МПК: G01N 23/00

Метки: спектров, универсальная

...находится кристалл-монохроматор 5, осуществляющий монохроматизацию первичного пучка. Кристалл-монохром атор может переме 30 щаться внутри камеры вдоль оси первичного1 О пучка и при этом синхронно поворачиваться так, что отраженный моноэнергетический пучок нейтронов всегда направляется через диафрагму 6 и механический прерыватель 7 на неподвижный образец 8. Перемещение кристалл-монохроматора внутри камеры и синхронное поворачивание при этом осуществляется за счет того, что кристалл-монохроматор установлен на поворотной оси зубчатого сектора, который жестко связан с осью поворота кристалл-монохром атора и сцеплен с зубчатой рейкой-щупом, которая при движении скользит по ленте, имеющей профиль, выполненный по закону: Лй, = -45 -- агс 1...

Номер патента: 307696

Опубликовано: 15.02.1974

Авторы: Коцен, Усенков, Якубович

МПК: G01N 23/00, G01V 5/00

Метки: концентраций, радиоактивныхэлементов, радиометрического, раздельного

...Весь детектор обладает высокой прозрачностью к люминесцентному излучению, возникающему в зернах активированного сернистого цинка, примешиваемого в Исследуемую пробу для повышения эффективности регистрации а-частиц,Электронный прибор, подключенный к вы. ходу фотоэлектронного умножителя 2, отбирает импульсы по амплитуде или временным особенностям, Амплитуда импульсов от сцинтилляций сернистого цинка в несколько раз превышает амплитуду импульсов от сцинтилляций пластмассового люминофора. Кроме того, импульсы от сцинтилляций, возникающих в сернистом цинке и пластмассовом люминофоре, резко (на два порядка) различаются по длительности и фронтам нарастания.Разделенные в амплитудно-временном селекторе, импульсы с а и р каналов поступают па вход...

Номер патента: 424053

Опубликовано: 15.04.1974

Авторы: Декопов, Орлов

МПК: G01N 23/00

Метки: держатель, магнитный

...держатель снабжен пружинным прижимом для прижатия пленки к постоянному магниту, выполненному в виде цилиндра из магнитно-твердого материала на основе редкоземельных элементов и кобальта и помещенному в корпусе из ферромагнитного мате риала с гарантированным зазором между торцовой поверхностью посгоянного магнита и опорной поверхностью корпуса.В другом исполнении постояньш магнитукрепляют, например, посредством клеевого 10 соединения на регулировочном винте, установленном в корпусе, что позволяет регулировать зазор между торцовой поверхностью постоянного магнита и опорной поверхностью корпуса.15 На фиг, 1 показан предлагаемый держательс жестким креплением постоянного магнита, разрез; на фиг. 2 - держатель с регулировочным винтом,...

Номер патента: 437950

Опубликовано: 30.07.1974

Авторы: Кайдалов, Магарик

МПК: G01N 23/00

Метки: измерительная, износа, камера, радиоактивности, устройства, частиц

...болтов 2 крепится отъемная крышка 3. Для повышения жесткости корпуса внутри в центре камеры предусмотрен стержень, составляющий единое целое с корпусом 1, Для подвода масла от двигате ля к камере служат каналы 4, а отвод его осуществляется через нижний центральный канал 5. Поступающий с маслом воздух, скапливающийся в верхней части камеры, удаляется через штуцер 6, который связан трубкой с ма гистралью возврата масла в двигатель,Детектор излучений 7 примыкает торцовойповерхностью к торцовой поверхности корпуса 1. В воздушном зазоре между корпусом камеры и детектором излучения для устранения 5 его перегрева помещена эластичная полиэтиленовая оболочка 8 в виде полого диска, в который через патрубок 9 от вентилятора подается воздух,...

Номер патента: 439740

Опубликовано: 15.08.1974

Авторы: Косолапов, Хабахпашев, Центер

МПК: G01N 23/00

Метки: веществ, делящихся, концентрации

...Цветкова Заказ 3581/16 Изд,1893 Тираж 651 Подписное ЦИИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 от генератора (14 мэв), то плотность потока запаздывающих нейтронов будет пропорциональна плотности потоков первичных нейтронов при любом расстоянии г от источника нейтронов, Тогда из (2) следует:(и(-/)зап = (иУ)" чЗ (3) Для большого объема плотность потока нейтронов от (а, и)-реакции на кислороде определяется соотношением:(пИ)Е= А С, (4) где А - плотность нейтронных источников (а, и)-реакции при единичной концентрации делящегося вещества С. Используя (3) и (4), получим:(п/)зап 1 г дел 4 (5) (пУ)А С Для плутония, например, отношение...

Номер патента: 441483

Опубликовано: 30.08.1974

Авторы: Волков, Гончаров, Саханов, Уваров

МПК: G01N 23/00

Метки: аппаратуры, гамма-дефектоскопов, дистанционного, чувствительности, электронной

...изделий; обеспечение возможности определения чувствительности электронной аппаратуры в любое время в процессе контроля изделий.Цель достигается тем, что в предлагаемом устройстве держатель с расположенными на нем дефектометрами установлен между ок. ном коллиматора детектора излучения и контролируемым изделием с возможностью вращения, в результате которого происходит перекрытие дефектометрами окна коллиматора в момент пересечения оси системы источник - детектор излучения,На фиг, 1 изображен узел привода поворо 1 ного держателя дефектометров в двух проекциях; на фиг. 2 - общий вид предлагаемого устройства, установленного на дефектоскопе.Устройство содержит корпус 1 детектора излучения, плиту 2, дефектометры 3, пружинные зажимы...

Номер патента: 441485

Опубликовано: 30.08.1974

Авторы: Багдавадзе, Мосулишвили

МПК: G01N 23/00

Метки: биологических, образцах, содержания, химических, элементов

...образцов,Цель изобретения - повышение чувствительности и точности количественного анализа следовых элементов без химического разложения образца,Цель достигается тем, что из цельных тканей различных органов путем дифференциальрасного Знамени институт физики Грузинской ССР ного центрифугирования выделяют субклеточные компоненты (ядра, митохондрии, микро- сомы) и насадочную жидкость.Образцы перед облучением помещают в кадмиевый фильтр и после облучения потоком нейтронов измеряют интегральный 7-спектр на германий-литиевом детекторе высокого разрешения.Способ состоит в следующем.Выделенные из тканей субклеточные фракции в количестве 0,5 мг помещают в миниатюрные полиэтиленовые контейнеры и облучают вместе со стандартами анализируемых...

Номер патента: 443291

Опубликовано: 15.09.1974

Авторы: Бабад-Захряпин, Герт, Минашкин

МПК: G01N 23/00

Метки: рекристаллизации, скорости, собирательной

...текстура) скорость рекристаллизации максимальна.На чертеже представлен график реализации предполагаемого способа.Необходимо предварительно построить для выбранного покрытия с заданным типом текстуры зависимость скорости рекристаллизации от ограниченности текстуры. Эта зависимость определяется с помощью эталонов. Ограниченность текстуры может быть определена рентгенографически по полюсным фи44329 Предмет изобретения И Ва 7 П И ЯО 1 ап цп га граеыгиоулрнслурь Ц Составитель В. Вощанкин Редактор Л, Цветкова Техред Е. Подурушина Корректор А. ДзесоваТираж 651 Подписиовета Министров СССРткрытийаб., д. 4/5 аказ 1218/2 Изд.1281ЦНИИПИ Государственного комитетапо делам изобретений иМосква, Ж, Раушская Типография, пр. Сапунова, 2 гурам. В...

Номер патента: 457912

Опубликовано: 25.01.1975

Авторы: Пекки, Трайбер

МПК: G01N 23/00

Метки: рентгеновский, спектрограф

...цель достигается выполнением диспергирующего кристалла в виде сегмента внутренней поверхности тора, что придает кристаллу форму выпуклого желоба.На фиг. 1 - изображена конструкция предлагаемого спектрографа; на фиг. 2 - поперечное сечение кристалла по А - А.Источник рентгеновского излучения расположен перед входной диафрагмой 1. Полевая диафрагма 2, диспергирующий кристалл 3 с кристаллодержателем 4 закреплены в корпусе спектрографа 5. Фотопленка б установлена на прикадровом столе 7, который обеспечивает ее расположение по фокальной поверхности диспергирующего кристалла. Диспергирующий кристалл изогнут в взаимно ортогональных плоскостях с радиусами Я, и Л 2, благодаря чему кристалл имеет форму сегмента внутренней части...

Номер патента: 460491

Опубликовано: 15.02.1975

Авторы: Большаков, Чинский

МПК: G01N 23/00

Метки: анализа, дискретно-непрерывного, отбора, подготовки, проб, продуктов, пульпообразных

...последовательность операций позволяют исключить дополнительное измерение соотношения твердой и жидкой фаз.15 Применение предлагаемого способа поляет проводить определения содержаниямышленного компонента в руде через интервалы времени, равные периоду накопления вкассете пробы заданного веса. Способ может20 быть реализован также и при анализе других продуктов, находящихся во взвешенномсостоянии в воде или иной жидкости.В соответствии с предлагаемым способомнакопители проб, имеющие одинаковые раз 25 меры, помещают на весоконтрольной системепод струей пульпы, которую регулируют таким образом, чтобы твердая фаза успевалаоседать, а жидкая выливалась через край илиспециальное отверстие в верхней части нако 30 пителя,Корректор А....

Номер патента: 467258

Опубликовано: 15.04.1975

Авторы: Емельянов, Кириченко

МПК: G01N 23/00

Метки: дефектов, индикации

...входу второго триггера 7, выход последнего соединен со входом второй линии задержки 8, а ее выход через инвертор 9 соединен со сбрасывающими входами первого 10 и второго триггеров 3 и 7.Устройство работает следующим образом.При исчезновении тока луча или при снижении его ниже заданного значения па вход формирователя подается сигнал, при этом с 15 выхода формирователя импульсы различногознака подаются на вход триггера 3 и на сбрасывающий вход триггера 7. В результате на выходе триггера 3 появляется сигнал, который подается на вход линии задержки 4, а сигнал 20 на выходе триггера 7 снимается, Сигнал навыходе линии задержки 4 появляется спустя время т 1, которое регулируется в зависимости от скорости движения ленты и расстояния между...

Номер патента: 478233

Опубликовано: 25.07.1975

Авторы: Агейков, Беляева, Гевелинг

МПК: G01N 23/00

Метки: камере, образца, рентгеновской, столик, установки

...1 со стойками 2. Между стойками 2 закреплена скоба 3 со столиком для образца и приливами 4. Скоба 3 закреплена на полуосях 5.с возмож 1 ностью врашения относительно скобы 2.478233На концах приливов 4 сделаны глухие карманы, разделенные неполными перегород:- ками на несколько секций (от 3 до 10) и предназначенные для шариковых балансиров 6, На полуоси 5 надеты две пружины 7 5 (скручивания). Один,конец каждой пружины заневолен в приливе 4, а другой-в скобе 2. Сила пружины выбрана такой, чтобы поворачивать приставку на угол 90 о при изменении уравновешивающего момента 1 О на 5-10%. Ножка 8 держателя с кулачковым профилем установлена свободно во втулке столика.Устройство работает следующим образом. 15При подготовке к работе в карманы...

Номер патента: 480963

Опубликовано: 15.08.1975

Авторы: Гефтер, Грановский, Данилюк, Леготин, Писманник

МПК: G01N 23/00

Метки: индикации, линейного, наэлектризованного, перемещения

...способа, где 1 - перемещающаяся нить, 2 - заземленный центрирующийнитенаправитель, 3 - заземленный корпус,4 - собирающий электрод, 5 - источник иони 0 зирующего излучения, 6 - электрический преобразователь, 7 - выходные клеммы,Нить 1, перемещаясь через нитенаправитель2 и соприкасаясь с ним, приобретает зарядыстатического электричества.5 Зафиксированный на собирающем электроде 4 источник ионизирующего излучения 5испускает заряженные частицы, которые напути пробега создают в воздухе повышеннуюионизацию, вследствие чего электрическаяо проводимость воздуха в поле излучения резкоувеличивается.Перемещение наэлектризованной нити вблизи электрода в поле ионизирующего излучения от источника приводит за счет действия5 электрического поля нити к...