Устройство для определения оптических параметров микрооптики

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 008 А 19) Яц ГОСУДАРСТВЕН ЮЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(ГОСПАТЕНТ СССР) 01 М 11/ 51 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ К АВТОРСКОМУ СВ ЛЬСТВ да 4, испытуемой микроы 6, экран-диафрагмы риемника 8, Ч-образных ровочных приспособлеилителя 15,измерительикатором 17. наконечником выхо линзы 5, диафрайн кольцевой 7, фотоп канавок 9; 11, асти ний 10,12, 13,14, ус ного блока 16 с инд(71) Вильнюсский научно-исследовательский институт радиоизмерительнцх приборов(56) Авторское свидетельство СССР М 712721, кл. 0 01 М 11/02, 1980,Патент Великобритании 1 Ф 483033, кл. 6 01 М 11/02, 1938.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МИКРООПТИКИ(57) Йспользование: устройство для определения оптических параметров микрооптики относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля качества ЪИзобретение относитсФ к области измерительной техники, в частности для определения качества при, изготовлении оптических деталей (например микролинэ).Целью изобретения является увеличение точности измерений, расширение функциональных возможностей.На фиг. 1 представлена схема устройст; ва для определения оптических параметров микрооптики; на фиг, 2 - вид экрана-диаф рагмы в виде кольца; на фиг. 3 - схема распределения ("вырезания") пучка кольцевой экран-диафрагмой.Устройство для определения оптических параметров микрооптики состоит из источника оптического излучения 1, источника излучения в ИК-области спектра 2, Ч- образного оптического ответвителя 3 с изображения и измерения оптических характеристик как линз цилиндрических градиентных, так и других видов линз, используемых в компонентах волоконно-оптических линий связи. Сущность изобретения: устройство состоит из источника оптического излучения, источника излучения в ИК-области спектра, Ч-образного оптического ответвытеля, испытуемой микролинзы, диафрагмы, экрана-диафрагмы кольцевой фотоприемника, Ч-образных канавок, юстировочных приспособлений, усилителя, измерительного блока с индикатором. Устройство позволяет измерять характеристики линз, дисперсию линзы при различных длинах волн, положение фокальной плоскости, фокальное расстояние, Устройство позволяет производить измерения в видимой и невидимой областях спектра. 3 ил. Измерение оптических параметр микрооптики производится в следующей последовательности.Первый этап - юстировка стенда. Включаем источник оптического излучения 1 и относительно оси оптического излучения выставляем диафрагмы 6, 7 и плоскости торцевых поверхностей Ч-канавок 9, 11 перпендикулярно оси оптического излучения с помощью юстировочных приспособлений 10, 12, 13, 14.У-образный оптический ответвитель 3подключается следующим образом; входные концы ответвителя - на источники излучения 1, 2, выходной конец 4 ответвителя 3устанавливается в Ч-канавку 9 юстировочного приспособления 10. Испытуемая мик- .рооптическая деталь 5 закрепляется вЧ-канавке 11 юстировочного приспособления 12.Второй этап, проводимый после установки линзы - юстировка выходного торцаоптического ответвителя, микролинэы 5, диафрагм 6, 7 с помощью юстировочных приспособлений 10, 11, 12, 13 и 14относительно оси оптического излучения, 15Вторая кольцевая экран-диафрагма 7 устанавливается перед фотоприемником 8 натаком расстоянии, которое позволяет получить диаметр пятна изображения источника больший, чем диаметр кольцевой 20экран-диафрагмы при различных параметрах пучка излучения, прошедшего черезлинзу (см.рис,За,б,в).При такой схеме устройства световойпоток, выходящий из линзы, преобразуется 25в близкий к параллельному и проходя экрандиафрагму 7 падает на фотоприемник 8 сусилителем 15, измерительным блоком 16 и.индикатором визуального наблюдения 17.С целью увеличения точности иэмерения фокального расстояния форма пятнаприемной площадки фотоприемника "вырезается" кольцевой экран-диафрагмой 7, укоторой центр отверстия затемнен, Такаяконструкция экрана-диафрагмы 7 позволяет 35получать максимальный сигнал на индикаторе только в одном случае - если пучок,прошедший линзу, будет квазипараллельным, то есть источник света находится вфокальной плоскости линзы (фиг.Зб). В случае расходящегося пучка, когда источникнаходится за фокальной плоскостью линзы(фиг.За), сигнал на фотоприемнике будетменьшим, И в случае, когда источник находится ближе фокальной плоскости линзы 45(фиг.Зв), сходящийся пучок будет попадать вцентр кольцевой экран-диафрагмы,Устройство работает следующим образом.Юстировочным приспособлением 10 50перемещаемвдоль оси излучения выходнойторец ответвителя 4 вплотную к торцу линзы5. Фиксируем значение положения торца наиндикаторе визуального наблюдения 17 -А 1. С помощью юстировочного приспособления 10 перемещаем в продольном направлениии выходной конец ответвителя 4 до тех пор, пока на измерительном блоке 16 фотоприемника 8 сигнал не достигнет максимума и это значение положения торца на индикаторе 17 - А 2 фиксируем, Разность значений А 1-Аг есть фокальный отрезок линзы.Для определения качества линзы (формы изображения, наличие трещин, абберации) используется метод сравнения с параметрами эталонной линзы. Если измеренные значения максимальной величины сигнала меньше эталонного более чем, например, на 5, то линза бракуется.Наличие в схеме устройства оптического ответвителя дает возможность измерить хроматическую абберацию линзы по разбросу значений фокусного расстояния при поочередном подключении излучения. разных длин волн.Заявляемое устройство благодаря введению в него оптического ответвителя, второго источника ИК-излучения и кольцевой диафрагмы по сравнению с существующими позволяет:- произвести контроль качества линзы (форма изображения, наличие трещин, сколов);- измерить фокальное расстояние;- измерить хроматическую абберацию линзы.При этом вышеперечисленные параметры микродеталей возможно определить как в видимо; так и в невидимом участках длин волн, а следовательно, расширить функциональные возможности устройства, что невозможно сделать по схеме устройства, приведенной в прототипе. Формула изобретения Устройство для определения оптических параметров микрооптики, содержащее последовательно установленные перед микролинэой источник излучения, а за ней экран-диафрагму и фотоприемник, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности измерений и расширения функциональных возможностей, дополнительно введен второй источник ИК-излучения, оптический ответвитель, входы которого оптически связаны с источниками излучения, а плоскость выходного торца ответвителя установлена в фокальной плоскости контролируемой микролинзы, за которой установлена диафрагма, экран-диафрагма выполнена кольцевой, а расстояние от нее до фотоприемников определяется параметрами микролинзы, 1826008) Ларадлеяъяый пучок и) .Сходщжяся пучок кг.З Составитель В,ДемидовТехред М,Моргентал ектор И.Шмакова Редактор С.Кулакова аз 2316 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССП 113035 Москва Ж 35 Ра аская наб. 4 5изводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101