Способ измерения толщины селективно осажденных проводящих слоев с помощью профилометра

Номер патента: 1824014

Авторы: Домбровский, Сарычев, Турцевич, Чигирь

ZIP архив

Описание

Способ измерения толщины селективно осажденных проводящих слоев с помощью профилометра, включающий формирование на кремниевой подложке диэлектрического покрытия, вскрытие в нем окон, определение высоты рельефа в окнах с помощью иглы профилометра, определение толщины проводящего слоя после его осаждения как разницы высоты рельефа в окнах до и после осаждения проводящего слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, диэлектрическое покрытие на подложке формируют толщиной, удовлетворяющей соотношению:

0,1 h/H 0,8,

где h - толщина проводящего слоя, H - толщина диэлектрического покрытия, а окна в нем вскрывают в виде прямоугольника, площадь и меньшая сторона которого удовлетворяют соотношению:

4r2 S 100 мкм2,

2r а,

где S - площадь прямоугольника, r - радиус иглы профилометра, применяемого для контроля высоты ступенек рельефа, а - меньшая сторона прямоугольника.

Заявка

4836153/25, 08.06.1990

Научно-производственное объединение "Интеграл"

Чигирь Г. Г, Турцевич А. С, Сарычев О. Э, Домбровский В. Т

МПК / Метки

МПК: H01L 21/66

Метки: осажденных, помощью, проводящих, профилометра, селективно, слоев, толщины

Опубликовано: 20.01.2008

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-1824014-sposob-izmereniya-tolshhiny-selektivno-osazhdennykh-provodyashhikh-sloev-s-pomoshhyu-profilometra.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины селективно осажденных проводящих слоев с помощью профилометра</a>

Похожие патенты