Патенты с меткой «толщин»
Способ определения толщин слоев и межфазных зон в многослойных покрытиях и композиционных материалах
Номер патента: 1081516
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Будкевич, Верстак, Дубровская, Короткина, Рутман
МПК: G01N 27/26
Метки: зон, композиционных, материалах, межфазных, многослойных, покрытиях, слоев, толщин
...электрохимического растворения подложки при постоянстве электрохимических параметров процесса, используя характер зависимости потенциала электрохимического растворения каждого слоя или зоны от времени, выявляют каждый слой (зону) и время его растворения, основываясь на регистрации соответствующих точек перегиба кривой зависимости электрохимического потенциала от времеви.Способ осуществляется следующим образом.1081516 Таблица 1 Опыт Слой ванадия Переходная зонаванадий-железо Слой железа 12, мкм Ъ ,мкм Г ч Ьз, мкм 0,828 0,833 0,836 1 2,006 2 2,000 3 2,010 0,404 0,403 0,405 0,172 0,173 0,174 4,185 0,7894,200 0,792 4,224 0,798 перегиба кривой зависимости потенциала электрохимического растворения от времени.Потенциалы...
Способ дуговой сварки деталей различных толщин
Номер патента: 1127721
Опубликовано: 07.12.1984
Авторы: Карпов, Оганджанян
МПК: B23K 9/16
Метки: дуговой, различных, сварки, толщин
...под этот бурт более тонкуюдеталь и производят соединение деталейпутем оплавления бурта 1 .Недостатком способа является возможность прожога тонкой детали за счет теплового воздействия сварочной дуги. Крометого, тепловое воздействие приводит к изменению физико-механических свойств материала тонкой детали, что не допустимонапример Для упругих чувствительных элементов, определяющих метрологические характеристики манометрических приборов,Целью изобретения является повышениекачества сварных швов путем исключенияпрожега более тонкой детали.Поставленная цель достигается темчто согласно способу дуговой сварки деталей различных толшин, преимущественносильфонов с арматурой, при котором наболее толстой детали выполняют наклонный бурт,...
Устройство для фотометрического контроля оптических толщин пленок в процессе их нанесения на вращающийся образец
Номер патента: 1136012
Опубликовано: 23.01.1985
Авторы: Введенский, Фурман, Эльгарт
МПК: G01B 21/08
Метки: вращающийся, нанесения, образец, оптических, пленок, процессе, толщин, фотометрического
...сприемной щелью монохроматора иположение изображения относительно50щели наиболее благоприятно с точкизрения разрешающей способностидиспергирующего элемента монохромато,ра и соотношения сигнал-шум всегофотометра 2 с монохроматором 2 вцелом.С второго выхода блока 5 такто-.вых импульсов на вход привода 13 вращения поступает последовательность импульсов с частотой , для обеспечения вращения двигателя привода со строго определенной и постоянной угловой скоростью - для обеспечения дальнейшей синхронизации всего устройства. Так как вращающий момент с двигателя на карусель с закрепленным в ней контролируемым образцом обычно передается через редуктор с определенным передаточным отношением то для обеспечения общей синхронизации работы...
Устройство для измерения электросопротивления движущейся металлической проволоки микронных толщин
Номер патента: 1180810
Опубликовано: 23.09.1985
Авторы: Багаев, Воронина, Сироткин
МПК: G01R 27/14
Метки: движущейся, металлической, микронных, проволоки, толщин, электросопротивления
...Сь улр(ыеяюЬ;их импульсо,Гзок т нхО;1 н.х кльс)еь гостояьйЦЗ ЯЦЛЗОГО 3 Х КЛЯЧЕЙ. ЧЦС.Г 0 КотОРЬХ О ;) С 5, ЕЛ Я Е Т Г Я Ч 5 С Л О и и:3 М С 15 1 Т Сз:г ЬХ ДЯТЧ 1 КОВ ) а Н;ОП ВЫ Мг)1 ТИПЛРКСОР 6 ПРРг 1 НЯВНЯЧЕНЫЙ ДЛЯ ПЕРЕг ЯВИГИ 1 НЛЛг 1 На УЗЕТ ГИГ ЕНИЯ,БЛОК 5 уСИН(Згця и црс ОГраяГВЛц ясиги;3.л, блок Я ре; цгтр ации, с одержлщий ключ 9 элемента памяти, элемент 10 памяти, вычитающий блок 11,блок 12 выходных ключей, блок 13ячеек памяти, многоканальный пишущийпотенциометр 14, блок 5 сравненияи синхронизации.Устройство работает следующимобразом,Образцы проволоки 2 заправляютв жидкостные датчики 1. На блоке 15 10сравнения задают допустимые пределыизменения сопротивления проволоки.С Формирователя 3 импульсы подаютсяна вход Формирователя 4...
Устройство для регулирования толщин полосы
Номер патента: 1186307
Опубликовано: 23.10.1985
МПК: B21B 37/24
Метки: полосы, толщин
...электродвигателей.Устройство работает следующимобразом.40 Перед началом прокатки очередной полосы известного сортаментаустанавливают задание исходнойразности моментов приводных элек40 45 50 55 тродвигателей 1 и 2 задатчиком 7.При этом исходное значение разностимоментов должно обеспечивать возможность увеличения или уменьшения сопротивления металла пластической деформации. В начале прокатки по сигналу от измерителя 12отклонений толщины прокатываемойполосы блок 5 регулирования толщины воздействует на блок 4 установки зазора между валками в направлении уменьшения отклонения толщины. Одновременно с помощью регулятора 6 разности моментов обеспечивается поддержание заданной разности моментов. При достижении нулевых отклонений...
Устройство для контроля электросопротивления движущихся длинномерных изделий микронных толщин
Номер патента: 1200201
Опубликовано: 23.12.1985
Авторы: Гак, Красавин, Сироткин
МПК: G01R 27/14
Метки: движущихся, длинномерных, микронных, толщин, электросопротивления
.... На блоке 16сравнения задают допустимые пределыизмерения сопротивления проволоки.С формирователя 3 сигналов тактовыеимпульсы подаются на вход формирователя 4 управляющих импульсов. С помощью формирователя 4управляющих импульсов поочередновключаются входные аналоговые ключи, число которых соответствуетчислу датчиков, и микроток с выходаформирователя 3 протекат через соответствующее измеряемое комплексноесопротивление, создавая на нем падение напряжения, которое поступаетчерез мультиплексор 6 на блок 7 усиления и преобразования, содержащегоусилитель 8, фазочувствительные детекторы 9 и 10, детектор 12, переключатель 3 режимов и фильтр 11низких частот. На вторые входы фазочувствительных детекторов 9 и 10подаются синхронизирующие напряжения...
Устройство для измерения магнитострикции образцов микронных толщин
Номер патента: 1238011
Опубликовано: 15.06.1986
Авторы: Венков, Есиков, Петровых, Соснин, Ястребов
МПК: G01R 33/18
Метки: магнитострикции, микронных, образцов, толщин
...на уровне, задаваемом выходным напряжением интегратора 24. Далее импульс открывает проходной элемент 18, благодаря чему конденсатор 25 частично разряжается через сопротивление нагрузки, преобразователь 9 и резистор 26. Напряжения с нагрузки и эталонного резистора 26 поступают на перемножитель 19 и далее на интегратор 20, на выходе кото-, рого получается импульс напряжения с амплитудой, пропорциональной тепловой энергии, выделившейся в ветвях преобразователя 9 за время протека ния калибрующего импульса тока.Амплитуда этого импульса запоминается в виде постоянного уровня .нап ряжения в.амплитудном детекторе 21, затем с помощью блока 22 это напряжение сравнивается с опорным, вырабаты" ваемым источником 23, и поступает на вход...
Устройство для электрохимической обработки длинномерных изделий микронных толщин
Номер патента: 1258900
Опубликовано: 23.09.1986
Авторы: Воронина, Гак, Сироткин, Цветов
МПК: C25D 21/12
Метки: длинномерных, микронных, толщин, электрохимической
...выхода вычитающего блока 6 напряжение, пропорциональное либо количеству загрязнений, снятых в ванне окончательной обработки 5 (переключатель П 2 в положении 1 ) , либо количеству загрязнений, снятых обеими (4 и 5) ваннами обработки (пеН реключатель П 2 в положении 2 ) , по 11дается на контакт 2 переключателя П 1. С помощью переключателя П 1 осуществляется выбор режима управления либо по количеству оставшихся загрязняющих веществ (положение 1 ), либо по количеству снятых загрязняющих веществ (положение 2 ). С переключателя П 1 выбранное напряжение подается на вход блока 7 коммутации. Напряжение 11(фиг.2) подается на вход триггера Шмитта (ТШ) на другой вход ТШ оператором с помощью потенциометра К 1 задается пороговое напряжение Б ,...
Способ неразрушающего контроля толщин неметаллических покрытий
Номер патента: 1260667
Опубликовано: 30.09.1986
Авторы: Бульбик, Пылаев, Соколов
МПК: G01B 7/06
Метки: неметаллических, неразрушающего, покрытий, толщин
...цифроаналоговый преобразователь 13. Переключают триггер 4 в положение, при котором ветвь с резистивным элементом К оказывается отключенной (ключом П) от емкостного накопителя 20 и подключеннойк цепи КС, имитирующей емкостной накопитель и эквивалент входного сопротивления операционного усилителя. Результат, записанный в счетчике 7, обнуляется, Подают зондирующее воздействие на высокопотенциальный электрод 18 и результат, пропорциональный сумме двух составляющих потока, записывают в реверсивный счетчик 7 и регистр 9. Переключают триггер 3 в положение, при котором ветвь с резистивным элементом К, оказывается отключенной (ключом П,) от емкостногонакопителя 20. Реверсивный счетчик 7при этом устанавливают в состояниевычитания. Снова подают...
Способ определения толщин слоев многослойных неметаллических изделий
Номер патента: 1320722
Опубликовано: 30.06.1987
МПК: G01N 22/00
Метки: многослойных, неметаллических, слоев, толщин
...слоя ИИ используют для расчета толщин каждого из слоев и решения соответствующей системы уравнений. 1 ил.+ь, )+ Периферийное устройство 13 содержит блок регистрации обработанной информации и пульт управления режимами работы отдельных устройств. Исследуемое изделие 14 в общем случае содержит Я слоев, Перемещение изделия осуществляется с помощью привода, который связан с синхронизатором 15, задающим работу генератора тактовых импульсов ЭВМ. 10 Формула изобретенияСпособ определения толщин слоев многослойных неметаллических изделий, включающий многократное зондирование исследуемого изделия электромагнитным излучением, измерения коэффициентов отражения от исследуемого изделия и расчет толщины каждого из слоев, о т л и ч а ю щ и й с я...
Способ измерения распределения толщин материальных полых объектов
Номер патента: 1408214
Опубликовано: 07.07.1988
Автор: Сахаров
МПК: G01B 15/02
Метки: материальных, объектов, полых, распределения, толщин
...импульсов детекторами определяют максимальнтю амплитуду им пульсов, соответствуюгпиг интенсивцс. - ти излучения зарегистрцрованкого детекторсм, и опрецеляемых комптсговскими электронами, а. 11 ри регистрации импульсов производят амплитуднуо дис-. криминацию по двум уровням напряжения в области амплитуд, болгших макси" мальнс возможных амплитуд ссздавае 45 мых комптоновскими элек"роками, а толщину объекта в каждо сечении определяют по формулеГ 1К 1Х = - 1 п- 8 (-"-; -- .,)р Мгде Х - толщина ма тер.ала: полный кс змфиц 1 ект Осласлсния мсцоэцергетическсгогамма-изл уения;скорости счета импульс.оь при наличии объекта зарегистрированные при двух урознях дискриминации; М,ф - 11 е, в стаута г 1 и 1 сб 1 ек1р - грацуцрогсчцый ксэффициецт,и 1...
Термоэлектрический способ контроля толщин различных покрытий на одинаковых основах
Номер патента: 1427271
Опубликовано: 30.09.1988
МПК: G01N 25/32
Метки: одинаковых, основах, покрытий, различных, термоэлектрический, толщин
...с диаметром контакта 6=0,1 мм; Е - в цепи с диаметром контакта горячего электрода 6 --=2,5 мм.В табл, 2 приведены значения тер- моЭДС, полученные при применении этих же электродов на образцах хромовых покрытий, также нанесенных на латунь Л 63, Е, - текущие значения термоЭДС для цепи, содержащей горячий электрод с диаметром контакта с изделием Й = =0,1 мм; Е - с диаметром 6=2,5 мм.40В качестве эталонной толщины выбрана для обоих покрытий толщина б = =22 мкм, в качестве эталонных значений термоЭДС - значения термоЭДС в цепи содержащей горячий электрод с 6=0, мм, Дпя никелевых покрытий эталонное значение термоЭДС Еа, равно +154 мкВ, для хрома - Е = -218 мкВ, После этого для каждого образца покрытия находят выражение вида Е -Е/ 50 /Е-Е,...
Устройство для контроля соотношения толщин слоев ленты при плакировании
Номер патента: 1519809
Опубликовано: 07.11.1989
Авторы: Аленушкин, Благинин, Гришмановский, Каменцев, Пинчук
МПК: B21B 38/04
Метки: ленты, плакировании, слоев, соотношения, толщин
...4 в зонудеформации валков 3 плакиронанногостана, приводятся н движение измерительные ролики 7, механически связанные с. импульсными датчиками 8,ныдсцящими электрические импульсы,длительность которых обратно пропортцтональца скорости лент, на вторые1519809 Устройство для контроля соотношения толщин слоев ленты при плакировании содержащее разматыватели с плавходы соответствующих цифровых из - мерителей 9 и 10 скорости ленти 2.С генератора 11 эталонной частоты на соответствующие входы (первые и третьи) цифровых измерителей склрос - ти поступают две последовательности импульсов Г, и 10241 , необходимые для функционирования электрической схемы цифровых измерителей скорости1 О в заданном диапазоне скоростей.С приходом от датчика 8 импуль -...
Способ измерения толщин и деформаций слоев многослойных конструкций с плоской поверхностью
Номер патента: 1567867
Опубликовано: 30.05.1990
Авторы: Трибунский, Яковлев
МПК: E01C 23/07, G01B 7/06
Метки: деформаций, конструкций, многослойных, плоской, поверхностью, слоев, толщин
...1, 2 и 3 дорожной конструкции размещают электрические проводники 4, которые в процессе изменения толщин или деформации слоев повторяют их конфигурацию. Через экранированную цепь 5 к концам линейного проводника подключают генератор 6 переменного электрического тока, создающий вокруг проводника электромагнитное поле. На плоской поверхности дорожной конструкции на высоте Н над точкой 7 измерения в вертикальной плоскости, проходящей через проводники 4, размещают индуктивный преобразователь 8 с измерительным прибором 9. Вращая преобразователь 8 вокруг оси 1 О, перпендикулярной вертикальной плоскости, фиксируют максимальный сигнал измерительного прибора 9 и угол а между вертикалью и продольной осью преобразователя 8, т.е. его...
Способ контроля оптических толщин слоев при нанесении на подложку многослойных покрытий
Номер патента: 1567873
Опубликовано: 30.05.1990
Авторы: Байгильдин, Гавриленко, Гайнутдинов
МПК: G01B 11/06
Метки: многослойных, нанесении, оптических, подложку, покрытий, слоев, толщин
...иэ того, что матрица, являющаяся результатом произведения матриц, соответствующих четырем чередующимся слоям, при выборе длины волны излучения согласно (1) эквивалент на единичной матрице. Другими словами, пропускание системы слоев на длине волны, вычисленной по (1), не зависит от числа систем (ВН) или (НВ)2 нанесенных на подложку (В и Н - слои 45 с высоким и низким показателями преломления).Из (1) видно, что аргумент арксинуса не превышает единицу при любом Х. Таким образом, предлагаемый способ 50 позволяет использовать вещества с любыми показателями преломления.Длина волны Фк в зависимости от Х. системы;и - показатель преломления подложки; и - показатель преломоления исходной среды (воздух). Результаты для Х и 1/Х аналогичны.Видно, что...
Способ контроля оптических толщин слоев при нанесении на подложку многослойных покрытий
Номер патента: 1585669
Опубликовано: 15.08.1990
Авторы: Байгильдин, Гайнутдинов
МПК: G01B 11/06
Метки: многослойных, нанесении, оптических, подложку, покрытий, слоев, толщин
...отсюда получены формулы (3) и (4).Для второго слоя из (6) получаем формулу (2).Нанесение первого слоя прекращается по достижении им определенной величины, Очевидно, что наименьшаяошибка в толщине слоя получается когда нанесение слоя прекращается в точке перегиба, т.е. в точке, гдеДифференцируя дважды (5), получа-.ют формулу (1)Доказательство расширения диапазона показателей преломления наносимых слоев и подложки. Т = 3.+Б+Рф(5) Я ного Я 0 14 ---2Нанесение слоя прекращают по достижении потоком прошедшего (отраженного) излучения экстремального значения.При выполнении указанных условий оптическая толщина каждого слоя равна 0,25 ДЭто вытекает из следующих рассуждений: п ип - показатели преломления череП+ 1дующихся слоев.Поток пропущенного...
Термоэлектрический способ контроля толщин одинаковых покрытий на различных основах
Номер патента: 1635004
Опубликовано: 15.03.1991
МПК: G01B 21/00
Метки: одинаковых, основах, покрытий, различных, термоэлектрический, толщин
...конуса, диаметрконтакта электрода с иэделием 2 мм. 10Результаты измерений приведены втабл, 1 и 2.Способ осуществляется следующим образом. 15Пусть один горячий электрод (элект 1) имеет радиус контактной площадки г 1другой (электрод 2) - Г 2. Так как в данномслучае электроды выполнены из материалапокрытия, то значения термоЭДС для пар с 20электродом 1 и с электродом 2 соответствуютЕ 1- апот(Г 1, д); (1)Е 2 = СЬо (Г 2, 0), (2)где апо - коэффициенттермоЭДСпарыматериал покрытия - материал основы; .1(г 1, и) - температура на стыке покрытие -основа под электродом 1;т(Г 2, а) - температура под злеОтношение этих ЭДС 30Е 2апой Г 2,ОЕ 1 апо 1 Г 1 ОТемпературу на стыке покрытие - основа можно представить в видет(Г 1, а) = то(Г 1)- Ьт(Г 1,...
Устройство для измерения толщин токопроводящих покрытий
Номер патента: 1672200
Опубликовано: 23.08.1991
МПК: G01B 7/06
Метки: покрытий, токопроводящих, толщин
...работает следующим образом.К во буждающей обмотке 8 подводится питающее напряжение 1-10 В с ча тотой 1-15 ЧГц от ВЧ-генератора 1, В иэмерительых обмотках 9 10 наводится Э/,С, При отсутствии контролируемого образца о прорезяхх б и 7 выходное напряжение равно нулю, так как измерительные обмотки 9 и 10 имеют одинаковые электротехнические параметры и включены встречно. При размещении образца с проводящилт покрытием о прорези 7 в покрытии под действием электром,гиигного поля наводятся вихр алые 1 о ки, которые обусоол 1 оаг т иэл нвнис л 1 агнитного согпотивления ма нитной системы преобразователя. При этом ЭДС, наводимая в измерительной катушке 10, изменяет свое значение, и вгходное напряжение приобретает значение, отличное ог т...
Способ контактной точечной сварки деталей неравных толщин
Номер патента: 1682083
Опубликовано: 07.10.1991
Авторы: Козловский, Угрюмов
МПК: B23K 11/10
Метки: контактной, неравных, сварки, толщин, точечной
...в месте обжатия в пределах упругой де 4 ормзции равной усилию обжатия со стороны тонкой детали, обжатие осуществляют со ;:;,-о;-;:; тонкой детали При уменьшении ус:ля обжзт.я со стороны толстой детали соотве.стьенно увеличивается усилие на тосог водящем электроде, что приводит к увел: :,ению площади его контакта с деталью з следовательно, к увеличению теплоо; вода. уменьшению зоны распгзвления в ток той детали и увеличению проплзвле"ия тс нкой детали, 1 з.п, ф-лы, 1 м1882083 Составигель Т,Мочаловаедактор А,Шандор Техред М.Мгргентал Кор тор Т. Пали Тираж Подписноетвенного комитета по изобретениям и открьгг 113035, Москва, Ж. Раушская наб., 4/5 з 3368ВНЙИПИ Госуд м при ГКНТ С ственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород,...
Способ контактной точечной сварки деталей неравных толщин
Номер патента: 1745462
Опубликовано: 07.07.1992
Авторы: Гусаков, Козловский, Серегин, Царьков, Чакалев
МПК: B23K 11/10
Метки: контактной, неравных, сварки, толщин, точечной
...поверхностью электрода и тонкой деталью теплового металлического экрана.Однако данный способ также сложен в реализации, так как требуетустановки экранов при сварке каждой точки, а в ряде случаев затруднен и сьем экранов. Применение этого способа не всегда рационально в условиях единичного и мелкосерийного производства, когда механизация указанных операций экономически нецелесообразна.Целью изобретения является повышение технологичности процесса сварки деталей неравных толщин.Поставленная цель достигается тем, что в способе контактной точечной. сварки деталей неравных толщин, при котором производят подготовку поверхностей деталей к сварке, зажимают детали между электродами, пропускают импульс сварочного тока и уменьшают теплоотвод от...
Устройство для сварки в узкую разделку деталей больших толщин
Номер патента: 1078756
Опубликовано: 30.07.1993
Авторы: Агеев, Белоусов, Букаров, Полосков
МПК: B23K 9/173
Метки: больших, разделку, сварки, толщин, узкую
...6 и сопло 7. Вбоковых стенках токоподводящего мундш 20 тука 2 со стороны рабочего торца 8 на высоте, равной высоте сопла 7, выполненонесколько дополнительных отверстий 9, создающих при сварке корневых швов шлейфовую защиту. Дополнительные отверстия9 выполнены под углом а = 30 - 60 к осигорелки, Для управления истечением защитного газа и перераспределения его истечения через мундштук 2 и сопла 7 взависимости от глубины разделки в полости30 10 основного сопла 7 выполнено дополнительное сопло 11, которое закреплено накорпусе 1 горелки концентрично токоподводящему мундштуку 2 и сообщается с основным соплом 7 через отверстия 12 в его35 верхней части, В полости 4 токоподводящего мундштука 2 установлен с возможностьюповорота вокруг оси...
Способ определения толщин тонкопленочных структур
Номер патента: 1835486
Опубликовано: 23.08.1993
Автор: Рыбалко
МПК: G01B 15/02
Метки: структур, толщин, тонкопленочных
...4,2. После чего по сигналу, имеющему меньшую зашумленность, оце нивают толщину оксидного слоя, заполняющего карман в подложке, Оценка может осуществляться сравнением с эталоном или по номограммам. Более достоверный результат получают, используя эталон, В этом 10 случае в качестве эталона берут структуру, представляющую собой кремниевую подложку со сформированным на ее поверхности клинообразным оксидным слоем,Другой пример заявленного способа "5 предусматривает определение толщины островной пленки серебра, нанесенной на молибденовую подложку. Такая структура является основой серебряно-цезиевых фоточувствительных автоэмиссионных пле ночных систем. В связи с тем, что размеры островков серебра не превосходят десятых долей микрометра,...
Устройство для электрохимической обработки длинномерных изделий микронных толщин
Номер патента: 871552
Опубликовано: 27.01.1996
Авторы: Багаев, Воронина, Сироткин
МПК: C25D 21/12, C25D 7/06
Метки: длинномерных, микронных, толщин, электрохимической
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ДЛИННОМЕРНЫХ ИЗДЕЛИЙ МИКРОННЫХ ТОЛЩИН, содержащее ванну, в которой последовательно установлены электроды, выполненные в виде отдельных секций, и систему электопитания, отличающееся тем, что, с целью повышения качества обработки путем выравнивания плотности тока на поверхности изделия по его длине в рабочей зоне и сокращения утечек тока, между одноименно заряженными электродами рабочей зоны установлены изолирующие перегородки, и каждый электрод соединен с отдельным стабилизатором тока блока задачи тока, подключенного к источнику питания.
Способ определения толщин слоев и gaas и ga1-xalxas в многослойных гетероструктурах
Номер патента: 1544111
Опубликовано: 27.02.1996
Авторы: Захаров, Колмакова, Матвеев, Тимир-Булатов
МПК: H01L 21/306
Метки: ga1-xalxas, гетероструктурах, многослойных, слоев, толщин
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИН СЛОЕВ GaAs И Ga1-xAlxAs В МНОГОСЛОЙНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУРАХ, включающий локальную обработку слоя GaAs в травителе на основе концентрированной перекиси водорода и концентрированного водного раствора аммиака при комнатной температуре и локальную обработку слоя Ga1-xAlxAs в концентрированном водном растворе галогеноводорода, замер толщины образовавшихся ступенек интерференционным методом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения толщины в слоях GaAs и Ga1-xAlxAs, где x 0,1, локальную обработку слоя GaAs...
Способ измерения малых толщин ледового покрова
Номер патента: 1840741
Опубликовано: 20.02.2009
МПК: G01N 29/04
Метки: ледового, малых, покрова, толщин
Способ измерения малых толщин слоя льда из подводного положения, например, с подводной лодки, основанный на измерении расстояний до нижней и верхней границ слоя льда путем излучения шумового сигнала и взаимно-корреляционной обработки отраженных от границ слоя эхо-сигналов с опорным, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности измерений толщины слоя льда при сохранении скрытности измерений и их точности, компенсируют неравномерность затухания в слое льда различных частот эхо-сигнала, отраженного от верхней границы, путем подключения на время приема этого эхо-сигнала корректирующего фильтра на входе коррелятора.