Способ измерения распределения толщин материальных полых объектов

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУбЛИК июБОпи 140821 1)4 С 01 В 15/О фЖ"Яйся,ГТIф Й фTрОПИСАНИЕ ИЗОБРЕК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ ГЕНИЯ 25биологиче во С 19 Рго Я(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕН ТОЛЩИН МАТЕРИАЛЬНЫХ (57) Изобретение от тельной технике, в ационной толщиномет ИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯПОЛЫХ ОБЪЕКТОВ осится к измериастности к ради-.ии, и может быть С: ГОСУДАРСТВЕННЫИ,КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ-169, 1968, р.539. применено для определения защищенности космических и других аппаратов от ионизирующего излучения. Целью изобретения является повышение точности измерения путем исключения погрешности, обусловленной вкладом рассеянного в объекте гамма-излучения. а материальный полый объект направляют гамма-кванты от наружного источника, Регистрируют излучение детек" торами внутри объекта, определяютмаксимальную амплитуду импульсов в детекторе от комптоновских электро" нов и производят дискриминацию по двум уровням амплитуд, больших максимальных комптоновских. По построенной градуировочной характеристике определяют распределение толщин.Изобретение стцсситс;1 к,хцике, в частности к радиаци 1 ц:11 й 1 т 11 пи 1- метрии, и мажет быть прим 1 цена д.1 я определения запищеццсст космических и других аппаратов ст и и 1 ирующе.сИЗЛУЧЕНИЯ, Цель изобретения - павыпе 11 ие тсчНОСггн ИЗМЕРЕНИЯ ПУТЕМ ИСКЛОЧЕЦИЯ Па -грешности, обуславлеццой вкладам рас- ,0сеянного в объекте гамма-излучения,Способ осуществляют следуюцим сбразом.На материальный г 1 ольй объект направляют гамма-кванть 1 а перемешав мого снаружи объекта тсчечнсгс изо"троцкого моноэнергетическогс истов ника, устанавливают спектрсметрические детекторы внутри обекта и регистрируот посредством их электрические импульсы, соотве 1 ству 1 ощие интенсивности излучения цропедшегс сквозь стенки объекта преобразовывают интенсивность зарегистрированно" го излучения в поток электрических импульсов, с помощью эталонных образцов толщины стенок Объекта строятзависимость интенсивнос"и потокаэлектрических импульсов о. толпины стенок объекта, определяют градуиро вочные коэффициецтьг для каждой из эталонных толщи и определяют распределение толщи полых объектов,.При этом во время регистрагпииэлектрических импульсов детекторами определяют максимальнтю амплитуду им пульсов, соответствуюгпиг интенсивцс. - ти излучения зарегистрцрованкого детекторсм, и опрецеляемых комптсговскими электронами, а. 11 ри регистрации импульсов производят амплитуднуо дис-. криминацию по двум уровням напряжения в области амплитуд, болгших макси" мальнс возможных амплитуд ссздавае 45 мых комптоновскими элек"роками, а толщину объекта в каждо сечении определяют по формулеГ 1К 1Х = - 1 п- 8 (-"-; -- .,)р Мгде Х - толщина ма тер.ала: полный кс змфиц 1 ект Осласлсния мсцоэцергетическсгогамма-изл уения;скорости счета импульс.оь при наличии объекта зарегистрированные при двух урознях дискриминации; М,ф - 11 е, в стаута г 1 и 1 сб 1 ек1р - грацуцрогсчцый ксэффициецт,и 1 мг рягм 11 с помощью эта 11 С 1 ой гОЛЩЦЦЫ .111 1.,11 ЦИЕ ДИСКРИМИНИИИ 110 ДВ Муровням в области амплитуд, болыпих,чем т, что содаются комптоновскимиэлектронами (т,е. сос-ветствующиепоглсшеию в детекторе спектра рассеяннсга гамма в излучен в веществе)позволя говысить точность измерения до 5-30 Х по сравнению с 507, визвестном сггос обе,;оормула изобретенияСпособ измерения распределения толпин полых объектов, заключающийся в том, что перемещают точечный изатропный моноэнергетическчй источник относительно объекта и облучают объект гамма-квантами, устанавливают сг;ектрометрические детекторы внутри объекта и регистрируют гпчпульсы, состветствуюпие интенсивности излучения прошедшего сквозь стенки объекта, преобразовывают ивтенсивностьзарегистрированного излучения в поток электрических импульсов и по зависимости интенсивкости потока электрических импульсов от толщины стенок объекта, построенной с помощью талокных образцов толщины стенок Объекта с учетом градуировочных коэффициентов для каждой из эталонных .Олщик, определяют распределение толщи полых объектов, о т л и ч а юп и й с я тем, что, с целью повьппения точности измерения, определяют максимальную амплитуду импульсов, ссстветствующих иктецсивности излучения, зарегистрированного детектором, и определяемых комптоновскими электраками, при регистрации импульсов производят амплитудкую дигп," минацию по двум уровням напряжения в области амплитуд, б 1 льших максимальных амплитуд, создаваемых комптоновскими электрогми, а толщину объекта Х в каждом сечении определяют поформуле1 Ы 2 М 1 1 п- , -- ь ( - -;)1 1+11оде м - полный коэффициент ослаб;1 еция мсцоэнергетическогогамча в ИЗЛУЧЕН;140814 Составитель В,Париасов Техред М.Дидык Корректор М,Максимишинец Редактор М.Бланар Заказ 329 б/41 Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-полиграФическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 11 Н - скорости счета импупьсов 1при няличии объекта, зарегистрированные при двухуровнях дискриминации; И,Мф - то же, в отсутствии объекта;градуировочный коэффициент, измеряемый с помощьюэталонной толщины,