Оптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках

Номер патента: 141656

Авторы: Марченко, Целищев, Чуриловский

ZIP архив

Текст

Класс 421, 61 о о 141656 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУодписная группа М 170 Н. Чуриловски М. М Цели щевКОНТРОЛЯПРОЗРАЧНЬ ченк ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ УСТАНОВКА ДЛ ЛИЧИЯ МИКРОННЫХ ОТВЕРСТИЙ В ПОИ ПЛОТНЪХ ПЛЕНКАХ ноября 1960 г.и открыти Ма 686978 рц Совете в Комитет по делам изобретениинистров СССР Заявле Опубликовано в Бюллетене изобретений 1 Ча 19 за 196 Обычно контроль наличия небольших отверстий в полупрозрачных и плотных пленках в заводских условиях производится визуально на просвет, что в производственных условиях яляется малопроизодительным и неэффективным, так как не может гарантировать обнаружения всех имеющихся микронных отверстий в пленке.Предлагаемая оптико-электронная установка для контроля наличия микрснных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках позволяет автоматизировать процесс контроля обнаружения небольших отверстий и осуществить непрерывность процесса измерения. Решение поставленной задачи обеспечивается применением в качестве развертывающего устройства вращающейся многогранной призмы, установленной за апертурной диафрагмой осветителя, которая расположена в фокальной плоскости объектива, Для проектирования изображения на катод фотоумножителя в плоскости, сопряженной с плоскостью контролируемой пленки, расположена диафрагма с прямоугольным отверстием.На чертеже приведена оптическая схема предлагаемой установки.Осветительная часть установки выполнена в виде источника света 1, сферического рефлектора 2, фильтра 3 и трехлинзового конденсора 4, который дает мнимое изображение источника света в плоскости 5. С помощью сферических зеркал б и 7 и наклонной полупрозрачной пластины 8 изображение источника света из точки О, расположенной в плоскости 5, переносится в точку О в которой расположен входной зрачок приемной части установки - апертурная диафрагма 9. Над осветителем находится стол 10 с щелевой прорезью, закрытой защитным плоскопараллельным стеклом 11,Апертурная диафрагма 9 расположена в фокальной плоскости объектива, благодаря чему создается телецентрический ход лучей,141656значительно улучшающий условия работы развертывающего устройства, выполненного в виде вращающейся многогранной призмы 12.В плоскости Я сопряженной с плоскостью контролируемого изделия 14, располагается диафрагма с прямоугольным отверстием, за которой распо,хожена конденсорная линза 15, проектирующая изображение на катод фотоумножителя 16. Призма 12 приводится в равномерное вращение от синхронного электродвигателя (на чертеже электродвигатель не показан), благодаря чему производится построчная развертка изображения контролируемой пленки в плоскости стола.Для осуществления непрерывного процесса контроля пленка перемещается над столом перпендикулярно направлению развертки.Электрическая часть установки состоит из приемного устройства в виде фотоэлектронного умножителя, импульсного усилителя и блока питания.Предлагаемая установка может быть рекомендована для массового контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках на автоматических и поточных линиях оптико-механических заводов, гальванических цехах различных предприятий,П р едмет изобретенияОптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках, отличающаяся тем, что, с целью автоматизации и осуществления непрерывности процесса измерения, за апертурной диафрагмой осветителя, расположенной в фокальной плоскости объектива, установлено развертывающее устройство в виде вращающейся многогранной призмы, а в плоскости, сопряженной с плоскостью контролируемого изделия, расположена диафрагма с прямоугольным отверстием, проектирующая изображение на катод фотоумножителя.141656 оставитель В, Г. Туфельд Редактор Н. С, Кутафина Текред А, А Камышникова Корректор Л. И. Самсоно оми и от при СМосква, Це гр. М. Черкасский пе ипография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петровка, 14Поди к печ, 9.Х 1-61Зак. 11080ЦБТИ 1 ю формат бум. 70 Х 1081/аТираж 700ете по делам изобретениовете Министров СССР Объем 026 изд. л.Цена 5 коптий

Смотреть

Заявка

686978, 22.11.1960

Марченко Б. М, Целищев В. И, Чуриловский В. Н

МПК / Метки

МПК: G01B 9/00

Метки: микронных, наличия, оптико-электронная, отверстий, пленках, плотных, полупрозрачных

Опубликовано: 01.01.1961

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-141656-optiko-ehlektronnaya-ustanovka-dlya-kontrolya-nalichiya-mikronnykh-otverstijj-v-poluprozrachnykh-i-plotnykh-plenkakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках</a>

Похожие патенты