Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1627827
Автор: Недбай
Текст
/02 ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕ М 1399644, Иель изабреенин - угпичецие точности измерс ции д счеувеличения эЛАективцо дцерурмзь, Луч 1 О света,идущий из ицтс ррерае грпроходит через Аакугиругич эг:.ц3 и с поагью .еркдлд 5, уставовоного с возможцсч т ю цаваратд, цдцрдвляетгя цд зернаа 1, р .магилас дконтролируемом абьекте 2, стражаггя от зеркала 1 (луч Т ) и ц рс з ер -кало 5 назирс тгя ид фокусрукк,элемент 3 . 1 аг.1 ъ .т(Га 1 атрд е, Рт -гя уголквьм атрджепсм 4 и гнавдпроходит АакуГ 1 ув 3.Рсцт.1кало 5, еркало 1, эр;ла 5 и с ефакугирувчиз .ге т 3 на вдегяв интер ерпгРр,11. й госуддрг.твеццый 8)идетельство О" О9/02, 1988 111,ХФ 1;Чи змер- с)вердвт,св,Г10 Усрайства рдбадсдзом., юга а ой луч светл 1рометрд (це пак хад интерс дает цд у 3 пдрдлл прахат е прдвляется т зеркала азврдщдетсицз ской ос 5зеркала орджде ся 5еркало после которой отражает отражателем 4, праха;и ражается последователь 5, плоского зеркала 1, кала 5 и через линзу 3 вращается в интер,ерам используется предлагде мцогократикх отражений ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГННТ СССР Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(57) Изобретето атцагится к тельной техшке и является уг цецстви дциегл изобретения па Изобретение агцосится к изерительной технике,11 ель изобретения - увеличеше точ насти измерений эд счет увеличенияЪ эдектинцг спертуры инзы.Иа чертеже предсгднлед принципиальная схема предлагаемого устройства для многократных отражений н двухлученом интерЛероетре.Устройства содержит плоское зеркало 1, устдцавлеццае цд контролируемом объекте 2, Локусируюи эземецт 3 в виде собирающей линзы, уголковьй отражатель 4 и плоское зеркало 5, устацовлециое ца пути лучей между линзой 3 и зеркалом 1 с нозмомиостью поворота и цдправляощее сходящиеся ца зеркале 1 лучи. л гц зд:дцо)пдельца ге ати -ного юцд зеркало 1, 1 (лу 1 ) ия ц.:пиау 3,ся уголкаш мт лцзу 3, отца от ггсцо д ат з р(лнч 1 ) а 2етр, в кот рсм мае угтрагва1627827 Составитель И.МининРедактор И.Середа Техред М.Дидык орректор М.Шаро раж 376 аказ 3 НИИПИ одписцо ткрытиям при ГКНТ ССС д, 4/5 етениямушская н гударствеццого комитета по изо 113035, Иогква, Ж, Р изводгтвгнно-издательг.кий комбинат "Патент", г. Ужгород, ул, Гагарина,Поворотом зеркала 5 луч, отраженный от поверхности контролируемого объекта, изменяет место своего прохождения через линзу 3, как при первом своем прохождении, так и при последующих, и благодаря этому появляется возможность изменять кратность отражений,т.е. регулировать чувствительность интерйерометра. Например, 1 О при изображенном на чертеже повороте зеркала 5 из положения 11 в положение б количество отражений увеличива"тся до трех. (последовательность прохождения лучом элементов блока много кратных отражений в этом случае показана штриховой линией).Поворот зеркала может осуществляться и це только вокруг оси, перпендикулярной плоскости чертежа, цо ц во круг других осей, за счет чего появляется возможность производить измерения интерЮерометром с использованием данного блока при любом расположении относительно контролируемогообъекта, т.е. поворотом плоского зеркала согласовать направление лучей иицтерферометра с положением поверхности контролируемого объекта. Формула и з о б р е т е н и я Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерЬерометре по авт.св. У 1399644, о т л и ч а ющ е е с я тем, что, с целью увеличения точности измерений, оно снабжено дополнительным плоским зеркалом, оптически сопряженным с зеркалом, устанавливаемым ца контролируемом объекте, и собирающей линзой, установлецным с возмгжностью поворота.
СмотретьЗаявка
4457961, 11.07.1988
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
НЕДБАЙ АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/02
Метки: двухлучевом, интерферометре, многократных, отражений
Опубликовано: 15.02.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1627827-ustrojjstvo-dlya-mnogokratnykh-otrazhenijj-v-dvukhluchevom-interferometre.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для многократных отражений в двухлучевом интерферометре</a>
Способ измерения коэффициента отражения зеркал
Номер патента: 1122097
Опубликовано: 30.05.1985
Авторы: Роговцев, Фурвшов, Черсянин
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркал, коэффициента, отражения
...отражающейповерхности диэлектрическим образцом6 толщиной д с помощью каретки 8 икривошипно-шатунного механизма 9 соверщает возвратно-поступательное движение с частотой Г, задаваемой электродвигателем 10. Крайние положенияплоского зеркала 7 с диэлектрическимобразцом 6 толщиной д относительнопотока излучения приведены на фиг.2.При этом в первую половину периодамодуляции поток излучения послепрохождения диафрагмы 3 пропускаютчерез образец 6 толщиной И и отражают зеркалом 7. Отраженный потокизлучения вновь пропускают через образец 6. Ослабленный вследствиеотражения от зеркала 7 и двойногопрохождения через образец 6 толщиной д, поток излучения через диафрагму 3 поступает наделитель потока 2.С помощью делителя 2 осуществляютотделение части...
Способ измерения абсолютного коэффициента отражения зеркала и устройство для его осуществления
Номер патента: 1286963
Опубликовано: 30.01.1987
МПК: G01N 21/55
Метки: абсолютного, зеркала, коэффициента, отражения
...фотосигна 1 1лов 1, 1 и 1Пусть падающий на светоделитель 3 пучок излучения обладает энергией, способной вызывать на приемнике излучения фотосигнал 1Тогда можно написатьно использовать некалиброванные зеркала с неизвестным коэффициентом отражения.При измерениях предлагаемым способом устраняется погрешность, получа ющаяся за счет переворачивания изоб- . ражения пучка излучения на приемной площадке приемника излучения, которая может достигать нескольких процентов.10Формула изобретения1. Способ измерения абсолютного коэффициента отражения зеркала, заключающийся в том, что пучок излучения источника делят на два пучка, образующих канал сравнения и измерительный канал, измеряют величину сигнала 1 п, перекрывая канал сравнения, 20 измеряют...
Устройство для измерения коэффициента отражения зеркала
Номер патента: 1509688
Опубликовано: 23.09.1989
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркала, коэффициента, отражения
...поворачивают вокруг друх взаимно перпендикулярных осей, лежащих в плоскости, перпендикулярной оптической оси устройства, таким обра- . зом, чтобы световой пучок, отраженный от зеркала 15 и затем отраженный от внешней поверхностипластины 8, попадал в центр "креста" ПФП 6, При этом световой пучок, отражен - ный от зеркала 15 и от внутренней поверхности пластины 8, попадает на заданный участок ФП 11Выходные сигналы ФП 10 и 11, при этой равны рают, Убирают также зеркало 15. Частьсветового потока фп, падающего напластину 8, отражается на ФП 10, авторая часть этого потока проходитпластину 8, отражается от пластины 9и попадает на ФП 13Выходные сигналы 11 и 11 на ФП О и 13 при этомсоответственно оказываются равными(7) (8) 2 РаР 9 фч 2,ь "...
Устройство для измерения коэффициента отражения зеркала
Номер патента: 1679304
Опубликовано: 23.09.1991
Автор: Чернов
МПК: G01N 21/55
Метки: зеркала, коэффициента, отражения
...который отражается от полупрозрачного зеркала 13, - на позиционно-чувствительный фотоприемник 14. Так как световой пучок, отразившийся от зеркала 18,проходит меньший путь при поступлении на позиционно-чувствительный фотоприемник 15, чем при поступлении на позиционно-чувствительный фотоприемник 14, то по разности выходных сигналов позиционно-чувствительных фотоприемников 14 и 15 (вычитание осуществляется в сумматорах 16 и 17) можно судить об угловом положении зеркала 18. Держатель 5 зеркала 18 поворачивают вокруг двух взаимно перпендикулярных осей, проходящих через точку пересечения лучей, таким образом, чтобы выходные сигналы сумматоров 16 и 17 стали равными нулю, При этом исследуемое зеркало 18 с высокой точностью устанавливается...
Интерферометр для контроля формы астрономических зеркал
Номер патента: 662795
Опубликовано: 15.05.1979
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02, G02B 3/02
Метки: астрономических, зеркал, интерферометр, формы
...Зеркало 4 исключают из хода лучей. Затем фотографируют интерференционную картину и сравнивают форму интерференционных колец с их теоретическим видом, на основе чего и делают заключение о погрешностях формы контролируемой поверхности в данкой зоне. Сопостав.ляя результаты контроля различных зон контролируемой поверхности (астрономического зеркала) делают общее заключение о правильности ее формы, т. е.о соответствии ф . действительной формы зеркала теоретической.Формула изобретения еломлен я линзы де и - показатель пр ид - ее толщина;К - абсолютное значение радиуса элоццой сферической поверхности;г - абсолютное значение вершинногорадиуса гиперболической поверхности линзы.11 а фиг, 1 изображена принципиальнаяоптическая схема предлагаемого ....
Предыдущий патент: Способ настройки интегральных тензометрических мостов
Следующий патент: Способ контроля формы поверхности вращения
Случайный патент: Приспособление для опломбирования упаковок