Патенты с меткой «критической»
Способ определения критической температуры фазового перехода жидкость-пар
Номер патента: 1404913
Опубликовано: 23.06.1988
Авторы: Скрипов, Чепиков, Шутов
МПК: G01N 25/12
Метки: жидкость-пар, критической, перехода, температуры, фазового
...к измерительной технике, а именно к определению критической температуры фазовогоперехода жидкость - пар.Целью изобретения является повышение,точности измеряемой критическойтемпературы фазового перехода жидкость - пар,На чертеже приведена схема осущест 10вления способа.Ампула 1 с исследуемой жидкостьюпомещается в маятниковый подвес 2 иподвергается нагреванию в термостате 3. Ампула совершает периодическиеколебания в вертикальной плоскостимежду источником 4 света и фотодатчиком 5. В момент, когда ампула закрывает от источника света. фотодатчик,сигнал с последнего подается черездифференциальный каскад 6 на обмоткуэлектромагнита 7 и на блок 8 измерения периода колебаний.Импульсное магнитное поле от элек-.тромагнита 6 приводит к...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1412729
Опубликовано: 30.07.1988
Автор: Павлович
МПК: A61B 3/00
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...Время каждого предъявления по результатам предварительных исследований установлено 5 с, что значительно превышает время установки в запоминающем регистре 9 текущего значения частоты предъявления световых:.мельканий, поэтому синхронизация этих двух процессов не нужна. После каждого предьявления пациент принимает решение - различает он.или не различает световые.мелькания и нажимает одну иэ двух кнопок "Различаю" или "Не раз з 14127 личаю", расположенных на пульте 11 пациента таким образом, что на первую он нажимает правой рукой, на вторую - ,левой, Если после первого предъявления пациент нажимает кнопку Различаю", единица в регистре 10 сдвига перемещается вправо (010000), ,в запоминающем регистре 9 записывается число 110000 (48 Гц)....
Устройство определения критической частоты ионосферного канала
Номер патента: 1417202
Опубликовано: 15.08.1988
Автор: Свистиль
МПК: H04B 17/00
Метки: ионосферного, канала, критической, частоты
...счетчик 24 переходит в состояние "2" и устройство производит измерение уровня помех на третьей 50 частоте Р, Р Рщ+ 2 ЬЕ. Предположим, что данная частота является непригодной для зондирования. Тогда анализатором 10 будет выработан единичный уровень, который исключит за пись информации в регистр 25. В ре 55 ,зультате по адресу "2" будет записа на комбинация "1", т.е. для третьей Р Рщ,+ 2 дЕ частоты зондирова ния ближайшей пригодной частотой является вторая Рт =. Р ци,к + Ь ЕПредположим, далее, что и четвертая анализируемая частота Р = Р ++ 4 д Е окажется пригодной, то поадресу "4" запишется "4",Устройство, последовательно перестариваясь с одной частоты на другую,производит измерение уровней помех и для каждой анализируемой частоты...
Способ определения критической длины усталостной трещины
Номер патента: 1427227
Опубликовано: 30.09.1988
МПК: G01N 3/32
Метки: длины, критической, трещины, усталостной
...предприят Ужгор л. Проектная,Изобретение относится к механичео ким испытаниям материалов и может быть использовано при определении критической длины усталостной трещины пластичных материалов.Цель изобретения - снижение трудоемкости путем упрощения регистрации момента образования хрупких трещин.На чертеже представлены образцы 1 О для осуществления способа определения критической длины усталостной тре- . щиныеОбразцы имеют трубчатую форму, тонкостенные, В образце, нагружаемом 15 циклическим кручением, возникают усталостные трещины 1, а по достижении критической длины - хрупкие трещины 2,Способ определения критической длины усталостной трещины осуществля ется следующим образом.Тонкостенный трубчатый образец из пластичного материала...
Устройство для контроля состояния критической ситуации
Номер патента: 1429149
Опубликовано: 07.10.1988
Авторы: Головкин, Миронов, Юсупова, Ярцев
МПК: G08G 5/00
Метки: критической, ситуации, состояния
...с сигналом М рассмотрим два случая работы устройства: переход не обнаружей и переход45, обнаружен.При М = 0 (переход в новое состояние не обнаружен) и П 20 (равенство нулю сигнала с второго выходаблока 3 памяти означает, что списоксмежных состояний до конца не просмотрен), сигнялы логического нуляБ 2 и М поступают при этом на инверсные входы элемента И 20, сигнал логической единицы с выхода которого(при поступлении на вход тактовогоимпульса с генератора 17 тактовыхимпульсов) поступает на счетный входсчетчика 14. На выходе госледнего. Формируется код следующего состояния14295из списка смежных состояний, в соответствии с которым происходит опрос спедующего датчика.При М = 0 (переход не обнаружен) и. 021 (конец списка),сигнал логи 5 ческой...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1468504
Опубликовано: 30.03.1989
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...в исходное состояние с тем отличием, что в реверсивном счетчике 9 уже записано некоторое число импульсов, определяющее новую начальную частоту мельканий источника 1 световых импульсов, меньшую на 3 - 5 Гц зафиксированной при предыдущем испытании критической частоты слияния мельканий. В дальнейшем работа устройства осуществляется аналогично указанному.Если испытуемый по какой-либо причине не нажимает кнопку 4, происходит переполнение реверсивного счетчика 9, на выходе переноса в старший разряд которого формируется импульс, обеспечивающий подачу через группу элементов 2 - 2 И - 2 ИЛИ 14 на информационные входы вычитающего счетчика 15 параллельного кода с шины 17 длительности паузы. Одновременно сигнал с выхода переноса реверсивного...
Способ измерения критической частоты слоя ионосферной плазмы
Номер патента: 1493938
Опубликовано: 15.07.1989
Авторы: Борисов, Сокольников, Таращук, Терехов
МПК: G01N 22/00
Метки: ионосферной, критической, плазмы, слоя, частоты
...результате отражения слоем ионосферной плазмы, Сигнал с выхода радиоприемного устройства 4 поступает на вхоп анализатора 5 спектра,где измеряется доплеровское смещение йГ несущей частоты Г, Значение несущей частоты Г, которому соответствует38 экстремальное значение доплеровского смещения, принимается за значение критической частоты Г.Доплеровский сдвиг частоты радиоволны, провэаимодействовавшей со слоем ионосферной плазмы, критическая частота которого меняется со временем , есть где (Г- Фазовый путь радиоволны вслое моносферной плазмы, Реальный профиль электронной концентрации в слое Р 2 ионосферной плаэмы - это плавная гладкая функция высоты, адекватно аппроксимируемая в максимуме электронной концентрации.(где и формируется область...
Устройство определения критической частоты ионосферного канала
Номер патента: 1494234
Опубликовано: 15.07.1989
Автор: Свистиль
МПК: H04B 17/00
Метки: ионосферного, канала, критической, частоты
...сигнал, который обеспечивает запись значения 0,5 с информационного выходаблока 7 в соответствующий регистрформирователя 10. В результате навыходе формирователя 10 формируетсяновое значение вероятности Р Это значение через блок 7 поступает на преобразователь 9, на выходе которого формируется значение частоты, делящее участок диапазона 25,2. на два, с равными вероятностями нахождения в них критической частоты ЕцЕи Йрг. Код частоты Й, поступает на блок 5 опорных частот, который формирует высокостабильные колебания для перестройки передатчика 1 и приемника 4. Помеха на частоте Кср поступает через антенну 3, переключатель 2 и приемник 4 на блок 7 поиска пригодной частоты, где сравнивается с пороговым значением. Если частота оказывается...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1498460
Опубликовано: 07.08.1989
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...цикле нарастания частоты мельканий (ЧМ) за вычетом кода, равного значению и. Затем работа устройства происходит аналогично первому цикла нарастания ЧМ.В счетчике 6 происходит увеличение кода, зафиксированного в нем в предыдущем цикле убывания частоты на велицину, равную и импульсам, и теперь следующий аналогичный цикл счетчика начнется с этого кода.Код, поступающий на преобразователь 9 код в часто с коммутатора 7, соответствует диаграмме д, где показано поочередное прохождение кода от счетчиков 5 и 6 для циклов нарастания и убывания ЧМ. Прохождение информационных сигналов от счетчиков 5 и 6 на выход коммутатора 7 определяется сигналом на выходе 2 программного блока 4.Далее в преобразователе 9 код - цастота формируется частота,...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1516087
Опубликовано: 23.10.1989
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...изобретения - унроцени устройства. На фиг. 1 схематически )добр;ж и) выполнение устройства; на фиг ) нд блюдаемая световая картинаУстройство содержит световои зкрд выполненный в виде полно цилиор;) с )и" отражающего матерна,щ, источники 1 и т; счетный триггер 4, ненрознацныс з),р;(ц(Устройство работает следуя(цим ом На вход счетноп григгерд 4 ц;.)дк)гся импульсы с изменяющейся частотй, е,овдния. Источники 3 светд работают (редно, тдк кдк подключены к1)чо) и инверсному входам тригге 1)д -1, 1 р ) ц;)с тоте следования свстовых имцульнижс критической частоты слияния мель;циивето ва я ка рти на н редста нл яет соби ко,,ц( ) ызоны с поочередным освецсннс х .)седних зон. По достижении критических . ид кний частоты световых стимулов...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1516088
Опубликовано: 23.10.1989
Авторы: Баранов, Вагапов, Марданов, Файзуллин
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...5 сдстоты с фс)р мирова ние ссдч да ьсц)Й сс 1гы.Пульт 13 испытлемого предназначен лл я форм и ров; ц и я кс)ла у и рд влец и я скоростьк и нд и рд вле нием изменения чдстогы светов)л мельканий, а также формирования сигналовРеакция (шина 31) и .;Р;)эрецение (шицд 30) для разрешения регистрдцци критической частты и формирования цд шльной частоты мельканий.На фиг, 9 привелец вариант фуцкцис)- нальной схемы пульта 3 испытуемс)гс) лля зддания четырех скоростей изменения световых мельканий Группа 79 переключате. лей служит для формирования кода скорости .;Увеличение, д группа 80для формирования кода скорости .;Уменьшение. Кол скорости . создается на выходах элементов И 82 (шина 21): код 00 (с)= =О, =0) кол запреты изменения частоты (нулевая...
Устройство для определения критической скорости удара лесных семян
Номер патента: 1531880
Опубликовано: 30.12.1989
Автор: Свиридов
МПК: A01C 1/00
Метки: критической, лесных, семян, скорости, удара
...7. Барабан 6 усгдццнлен цд лвух опорных стойках 8. Положсние Одрабацд чожцо изменять с помощью болтового сцелинения 9 и П-образно(с) Вырс за ( цдзд ) ца одной из стцс к. Пцнерхность бзрдбдцд 6 покрыта уцр гс)- леОрчире 1 х чдтериа,ом 10, цацричср цр О.1 О н О 1, л, 51 ц р(.лот В р д щ (. н и я и ц В р (.ж л с. ция с(.чян Б 1 цмснт 3(х выорос;1. Пц крс)5(м )елиего 5 и ве;еочогц 4 шкивов и выброснцп бзрдбдцд 6 ичек)тся ребор;1 ы 11, ЕОорые цс 3 ечив;кт сто(ч)13 к) рсбст у(трой( гнд. Н, рдче.екрсцлеце плита 12,)5 Р(.),13 БЕ 131 5 31 313, 1(РЦХЦ,113 ЧОГЦ С(.МС 11 с М 11 от чцментд Выброса;1 ц уларе), плиты 12 .3 дкрс(Г 3(д с вц:)хОжНстью ес церемс цс ция в гцризсцтеГь 3 О НГОскцст 3. Лгя Огц и; раменыццлцен горизонтально расположенный цдз...
Способ определения критической температуры хрупкости металлических конструкционных материалов
Номер патента: 1545143
Опубликовано: 23.02.1990
Авторы: Драгунов, Караев, Попов, Преображенский, Сугирбеков, Шур
Метки: конструкционных, критической, металлических, температуры, хрупкости
...хрупкости определяют пначалу резкого уменьшения ударнойвязкости на температурной зависимости. Полученное таким способомзначение критической температурыхрупкости совпадает со Значением,получаемым с помощью известного сп154543 скачкообразного изменения значения КСЧ , т.е. для рассмотренного случая Т - -50 С. Формула изобретения Составитель О.Бульканов.Редактор Н,Лазаренко Техред Л,Олийнык Корректор Н,Ревская Заказ 488 Тираж 501 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035 Москва, Н(-35, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 соба, по которому длядостижения результата определяют процент вязкой составляющей в.изломе образца. При...
Способ определения критической концентрации мицеллообразования растворов
Номер патента: 1567941
Опубликовано: 30.05.1990
Авторы: Исаев, Лыков, Словецкий, Таратин, Фролова
МПК: G01N 21/78
Метки: концентрации, критической, мицеллообразования, растворов
...Вноси 1 кзлит ль ь,) и цск фаз л до сс чаыце 1 с, л Гмвт кллся 1 дцьс С.МЕ.И ГГе СЛ.11 ЕИЯ;)З,.ННЬХ КОНЦЕН Граций о;1 в.:- ой дисц рсои фазы и,)ис. Герое чл; род И ползл 1 серию колл; идны. сссей, к,ццсчтраци.оторых близки к ККМ и леж;т по обегор, ы от цее. Приг. товленны. ко.Лс идные зс)в,ры выдержи ваагко 1 орое вр мя для выпадения нз; и(л а(: ии, и(а,лиии и, и, к(р,., у, Ги(;)ниии,(м и нелл избытк ц красителя, затем центрифугируют. (: корость центрофугировац(ля подбирают таким образом, чтобы, не разрушая коллоидцых растворов, освободиться от избытка красителя, несолюбилизи рова нного мицеллами и находящегося в дисперсионной среде во взвешенном состоянии. Полученные экспериментальные точки зависимости Оптической плоности коллоидных...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1595469
Опубликовано: 30.09.1990
Автор: Громышев
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...стороны экрана расположен отражатель 6, служащий для компенсации потерь освещенности при прохождении через матовый экран внешнего света. Отражатель 6 в зависимости от прозрачности выполнен таких размеров, чтобы скомпенсировать 10 - 2000 поглощения светового потока матовым экраном 4. Измерение освещенности вне и внутри тубуса проводилось люксометром Ю.Устройство работает следующим образом.Оператор на рабочем месте испытуемого определяет направление наибольшей фиксации взгляда испытуемого во время производственной деятельности. Тубус 3 с открытой наружной поверхностью матового экрана 4, заключенного в отражатель 6, располагается в направлении наибольшей фиксации взгляда испытуемого. Свет, прямо падающий на внешнюю поверхность матового...
Способ определения критической температуры сверхпроводящего материала пленки
Номер патента: 1306290
Опубликовано: 23.10.1990
Авторы: Дмитриев, Пренцлау, Светлов, Чурилов
МПК: G01K 7/00
Метки: критической, пленки, сверхпроводящего, температуры
...достижению положительного эффекта;генерация электромагнитных колебаний наступает в промежуточном состоянии пленки, где ток генераций значителен (порядка миллиампер, см. фиг. 1);зависимость амплитуды генерируемого сигнала от тока генерации имеет высокую крутизну, а генерацию происходит в узком токовом диапазоне(см. фиг. 1)4зависимость тока генерации от температуры ичеет линейный характер, при этом критическая температура пленки Т определяется как температу" ра с нулевым значением тока генера- ции (см. фиг. 2). При этом независимо от параметров пленки Тс опредепяетсл как температура, при которой ток генерации 1=0. Т =1 /А + йТ. (2) 35 Величину Т. с помощью такого способа легко определить графическиДля этого измеряют два значения 1при...
Устройство для определения критической частоты слияния световых мельканий
Номер патента: 1609469
Опубликовано: 30.11.1990
Авторы: Антоненко, Бабердин, Рыбин
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, световых, слияния, частоты
...на выходе делителя б частоты задается в блоке 10 дискретногозадания частоты, Этот сигнал проходит через делитель.7 частоты на стабилизатор 8 мощности импульса, обеспечивающий заданную яркость источника света.Определение критической частотыслияния световых мельканий (КЧСМ)производится следующим образом.На источнике света появляются световые мелькания с частотой, задаваемой блоком 10, Испытуемому предъявляется для идентификации по очередисерии световых сигналов с постоянной частотой в каждой серии. Длитель.ность подачи сигнала с постояннойчастотой составляет не менее 300 мс.Разница по частоте между сериямипостоянных сигналов составляет 10,и 0,1 Гц. Измерения проводят отменьшей частоты к большей. При сли 1 г,нии мельканий...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1623604
Опубликовано: 30.01.1991
Авторы: Авдонин, Армеев, Клочков
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...схеме мультивибратора на двух элементах микросхемы К 176 ЛА 7 с регулируемой частотой грубо и плавно (резисторами СПОна 1 МОм и 330 КОм), На остальных двух элементах микросхемы К 176 ЛА 7 собран по аналогичной схеме генератор импульсов с частотой 1 Гц для управления работой триггера К 176 ТВ 1, Генератор и триггер образуют распределитель 8 управляющих импульсов. С блока 7 переключателей, собранного на кнопочном переключателе марки П 2 К с зависимой фиксацией, управляющий сигнал "1" поступает на входы электронного коммутатора 6, выполненного на микросхеме К 176 КТ 1, В зависимости от режима работы устройства сигнал с генератора 1 проходит по одному из открытых каналов электронного коммутатора б и попадает на блок 5 ключей,...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1623605
Опубликовано: 30.01.1991
Авторы: Гаскаров, Полевщиков, Роженцов
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...режим генерации медленно меняющегося линейно нарастающего напряжения с крутизной Яз, преобразуемого по цепи генератор 12 - преобразователь 13 - источник 14 в световые импульсы (интервал времени Тз - Та), В момент слияния световых мельканий (момент времени Т 4. частотаЕ) испытуемый нажимает кнопку 1. состояние регистра 2 вновь сдвигается на один разряд вправо, сигнал с его третьего выхода выключает 5 10 15 20 25 триггер 5 и включает мультивибратор 9. Генератор 12 сохраняет на выходе постоянное напряжение, соответствующее частоте Е, С выхода мультивибратора 9 импульс через элемент ИЛИ 15 поступает на вычислитель 16, в который записывается значение частоты Е. Интервал времени Т 4 - Т определяется длительностью импульса. вырабатываемого...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1627130
Опубликовано: 15.02.1991
Авторы: Лаврентьев, Полевщиков, Роженцов
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...не прекращается с его окончанием. При редкимсветовых проблесках ощущение от них ис. чезает до момента наступления следующего проблеска. Испытуемый вращением ручки потенциометра пульта 2 увеличивает частоту генератора 1 до состояния, когда после дующий световой проблеск отдельного точечного источника 3 света подается еще на фоне ощущения, возникшего от его предыдущего светового проблеска, В этот момент испытуемый видит свет непрерывным, фиксирует его как момент слияния световых мельканий и размыкает ключ пульта 2, подающий питание на источник 3 света, Для считывания критической частоты световых мельканий испытуемый замыкает ключ на пульте 2, подакнцлй питание на блок 7 индикации, на котором отображается часто 1 а генератора 1 в герцах,...
Способ определения критической температуры хрупкости металлических материалов
Номер патента: 1640587
Опубликовано: 07.04.1991
Авторы: Андренко, Драгунов, Караев, Попов, Сугирбеков, Щукина
МПК: G01N 3/18
Метки: критической, металлических, температуры, хрупкости
...групп образцов, 1 ил. особ осуществляют следующим о зом,Проводят серию исп разцов на ударный изги ной их выдержкой (нагрев различных температурах первой группы образцов о ратурную зависимость у При испытании второй гру одной из температур верх ковязкого перехода для определяют ударнуювяз трещины, находят средне этой группы образцов и ытаний групп обб с предваритель, охлаждение) приПри испытании пределяют темпедарной вязкости, ппы образцов при него порого хруп- каждого образца кость зарождения е ее значение для устанавливают ее1640587 5 10 15 20 25 30 35 40 45 ресечения ее с прямой 1 в точке В. Опуская из этой точки перпендикуляр 3 на ось температур, находят критическую температуру хруп кости КТХ=-23 С.Таким образом, предлагаемый...
Способ оценки критической частоты слияния световых мельканий
Номер патента: 1641276
Опубликовано: 15.04.1991
Автор: Жужгин
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, оценки, световых, слияния, частоты
...бинокулярныи микроскоп без окуляров подают два световых потока раздельно в каждый глаз, осуществляют переключение световых потоков поочередно с одного глаза на другой с увеличением частоты переключения до фиксации момента слияния световых мельканий.П р и ме р. ИспытуемомуА.Б.26 лет, до и после нагрузки (перелет через 3 часовых пояса) подают дветовых потока изменяющейся частоты, создаваемых светодиодами красного цвета, и осуществляют переключение световых потоков поочередно с нараста(57) Изобретение относится к медицине, а именно к физиологии человека. Способ позволяет повысить точность определения критической частоты слияния мельканий, что достигается подачей световых потоков раздельно, поочередно в каждый глаз, переключая световые...
Способ определения второй критической температуры хрупкости
Номер патента: 1672271
Опубликовано: 23.08.1991
МПК: G01N 31/18
Метки: второй, критической, температуры, хрупкости
...соотношения (э и бс, .и экстраполируя предельное ди амическое напряжения на нулевое значениестатического напряжения, можно получить значение предельного напряженияпри однократном ударном нагружении. Величину динамической нагрузки изменяют с помощью тенэорезисторов, накле"енных на образец. Определяют предельное максимальное напряжение 5 с как сумму предельных статического ( и динамическо -55 го 6 напряжений,Из графика (фиг.1) видно, что зависимости С э) и 5 (С ) линейны. Образцы подвергают испытаниям ири температурах О, -40 и -80 С, Для определения второй критической температуры хрупкости на Лиг.2 приведены значения условных пределов текучести, определенных при испытаниях гладких образцов (без надреза) в том же температурном интервале,...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1697743
Опубликовано: 15.12.1991
Авторы: Попик, Романенко, Суворов
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...шаге измерения ширина. допустимой зоны измененля частоты мельканий уменьшается да значения равного 1/2 ЛГ, На втором шаге предъявления опять выбираат частоту мельканий, равную средней частоте допустимой зоны, ограниченной на предыдущем шаге. Проведя аналогичные измерения, определяют новое значение зоны дапустлмых значений, которое будет равно 1/4 Л Г, Таким абразом, процесс измерения Г,чс описываемым устройством представляет собой дискретную последовательность состоящую изшагов) предьявления испытуемому отличающихся значений частоты мельканий источника 2. После каждого предъявления получают новую область значений частоты мельканий, соДеРкаЩУю Гк си, катоРая в 2 раза меньше предыдущей, Количества шаговопределяется необходимой...
Устройство для измерения критической частоты слияния мельканий
Номер патента: 1704764
Опубликовано: 15.01.1992
Автор: Роженцов
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, слияния, частоты
...3 - 1, делитель 20, регистр 2 и генератор 12 в исходное состояние (цепи не показаны).При нажатии кнопки 1 (момент времени Т 2, частота Г 2) импульс с нее устанавливает на инверсном выходе делителя 20 "1" и открывает вентиль 21. Одновременно вновь сдвигается состояние регистра 2 на один разряд вправо. Сигнал с второго выхода регистра 2 выключает триггер 3, запускает мультивибратор 8 и включает триггер 4, последний через переключатель 11 устанавливает генератор 12 в режим генерации быстроменяющегося линейно подающего напряжения с крутизной 32. Интервал времени Т 2-Тз определяется параметрами времязадающей цепи, подключенной к мультивибратору 8 коммутатором 23, при этом частота уменьшается на фиксированную величину, равную, например, 5...
Способ определения критической плотности тока в сверхпроводниках
Номер патента: 1711102
Опубликовано: 07.02.1992
Авторы: Демин, Иванов, Морозовский, Немошкаленко, Никитин, Павлюк, Погорелов
МПК: G01R 19/08, G01R 33/035
Метки: критической, плотности, сверхпроводниках
...сверхпроводящего тела М, которая описывается линией ОАВ на фиг 1 при возрастании напряженности внешнего поля и линией ВСЭ при спадании. На участке ВС зависимость линейная, протяженность участка ВС характеризует критическую плотность тока, 1 к Н 6-НВ предлагаемом способе изменение напряженности магнитного поля обеспечивают изменяя расстояние между магнитом и сверхпроводящим телом. В таком случае критическую плотность тока определяют из соотношения3 = А - (Х - Хс), (2)В20 ВеличинУ (Х б - Хс) = Ь Х находЯт измеряя силу взаимодействия магнита и сверхпроводящего тела., Она зависит от намагниченности и при разведении ца участке ВС, где изменение 1 пропорциоцальцо изменению Н, также изменяется линейно с изменением расстояния:Р - Р...
Способ оценки критической частоты слияния световых мельканий
Номер патента: 1715315
Опубликовано: 28.02.1992
Автор: Рыбин
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, оценки, световых, слияния, частоты
...относится к области медицины, а именно к физиологии человека, Целью изобретения является повышение точности измерения. Способ осуществляют путем подачи серии световых вспышек постоянной частоты с дискретным изменением частоты на 10 Гц, 1 Гц, и 0,1 Гц до достижения ощущения слияния световых мельканий на каждом из трех этапов. Оценку критической частоты слияния мельканий проводят по надпороговой частоте ощущения при частоте дискретизации 0,1 Гц. той световых импульсов, предъявляют серии световых импульсов с постоянной частотой в каждой серии с частотой дискретизации 10 Гц в следующем порядке;10,20,30,40,50 Гц. При частоте 40 Гц возникает ощущение слияния световых мелькаЛ ний, затем серия подается по убывающей: Л 40,30,20 Гц. При частоте...
Способ определения критической концентрации мицеллообразования поверхностно-активных веществ, применяемых при электроосаждении
Номер патента: 1719970
Опубликовано: 15.03.1992
МПК: G01N 21/78
Метки: веществ, концентрации, критической, мицеллообразования, поверхностно-активных, применяемых, электроосаждении
...области спектра). В связи с мутностью растворов (особенно высококонцентрированных) оптическую плотность изме 40 ряют в кювете толщиной (1) 0,1 см. В качестве эталонного раствора берут раствор 6%-ной концентрации, что составляет 60% от исходной концентрации. Его оптическую плотность условно при 45 нимают за ноль. Если в качестве нулевого применяется стандартный раствор с концентрацией меньше концентрации исследуемого раствора ПАВ, оптическая плотность исследуемого раствора изме ряется относительно эталонного и ее записывают со знаком +". В тех случаях, когда концентрация исследуемого раствора меньше концентрации раствора сравнения, в качестве последнего 55 берут исследуемый раствор ПАВ, а затем уже измеряют относительно него...
Устройство для контроля состояния критической ситуации
Номер патента: 1737412
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Каримов, Ларченко, Миронов, Молин, Сулейманова, Юсупова, Ярцев
МПК: G05B 23/02
Метки: критической, ситуации, состояния
...функций, Блок 17 выбора логических функций реализует следующую систему логических функций;У 1 Р 4(хг+хз)+Р 5У 2 Р 4 (Х 2+ХЗ)+Рб+Р 7,Уз Р 4 хз+Рб х 1+Р 7 (1) У 4 = РО+Р 1 Х 1+Рг+РЗ+Р 4 х 2 хзУ 5 = Р 1 х 1+Р 4 (хг+хз)+Р 5+Рб+Р 7, а блок 19 управления и синхронизации реализует систему логических функций:91= Ро 92 = Ро+Р 7, 9 з = Р 1+Рв, 94 = Рг, 95 = Р 21 Яб = РЗ 97 = Р 5 98 = Р 7 (2) где х 1, х 2, хз - логические сигналы на первом втором и третьем входах признаков блока 17 выбора логических функций,у 1У 5 - логические сигналы на выходах блока 17 выбора логических функций,919 в - логические сигналы на первом - восьмом выходах блока 19 управления и синхронизации, Рк - Рк(а 1, аг, аз) = 1, если К = В(а 1, а 2, аз) О, в противном случае а...
Устройство для измерения критической частоты слияния световых мельканий
Номер патента: 1741778
Опубликовано: 23.06.1992
Авторы: Лаврентьев, Роженцов
МПК: A61B 5/16
Метки: критической, мельканий, световых, слияния, частоты
...8 секундных импульсов соединен с входом делителя 4 частоты на два, выход которого соединен с первым входом первого элемента И 5 и входом одновибратора 9, выход которого соединен с входом обнуления счетчика 6, первый выход пульта 2 управления соединен с входом генератора 1 импульсов, выход которого соединен с вторым входом первого элемента И 5 и входом распределителя 10 импульсов, выходы которого соединены с первыми входами источника 3 света, второй выход пульта 2 управления соединен с вторым входом блока 7 индикации и с вторым входом второго элемента И 12, третий выход пульта 2 управления соединен с вторым входом источника 3 света, выход делителя 4 частоты на два соединен с входом элемента НЕ 11, выход элемента НЕ 11 соединен с...