Патенты с меткой «критической»

Номер патента: 1751355

Опубликовано: 30.07.1992

Авторы: Вишневская, Старцев

МПК: E21F 3/00

Метки: влажности, водорастворимые, воздуха, гигроскопические, критической, обдувающего, ограждающие, поверхности

...температуреограждающих поверхностей,Выбор легких отрицательных аэроионов в качестве индикатора гигроскопичности ограждающих поверхностей приизменении относительной влажности омывающего их "оздуха объясняется большейчувствительностью легких отрицательныхаэроионов к изменениям микроклиматических .условий и тепломассообменным процессам, чем, например, легкихположител ьно заряжен ных аэро ионов.На фиг.1 изображена схема по определению критической влажности воздуха гигроскопических водорастворимыхограждающих поверхностей горной выработки.Способ осуществляют следующим образом.В сквозной горной выработке 1 с гигроскопическимиводорастворимыми ограждающими поверхностями 2, последовательносоединенной с горной выработкой 3, устанавливают счетчик...

Номер патента: 1762897

Опубликовано: 23.09.1992

Автор: Роженцов

МПК: A61B 5/16

Метки: критической, мельканий, слияния, частоты

...напряжение в частоту, которая управляет источником 16 (интервал времени 0 - Т 1).Испытуемый нажимает ключ 1 (момент времени Т 1), Импульс с ключа 1 сдвигает состояние регистра 2 на один разряд вправо, сигнал с первого выхода регистоа 2 включаеттриггер 3, который через переключатель 13 устанавливает генератор 14 в реким генерации быстро меняющегося линейно нарастающего напряжения с крутизной 51, Преобразователь 15 преобразует это напряжение в пропорционально изменяющуюся частоту, которая источником 16 преобразуетсяв световые импульсы, предъявляемые испытуемому (интервал времени Т 1 - Т 2), В момент слияния световых мельканий испытуемый нажимает ключ 1 (момент времени Т 2, частота Е 2), импульс с которого вновь сдвигает состояние...

Номер патента: 1789195

Опубликовано: 23.01.1993

Автор: Гуров

МПК: A61B 5/16

Метки: исследования, критической, мельканий, слияния, частоты

...быть реализована схема блока 9 коммутации, позволяющая подключать больщее число автономных пультов 4 пациента за счет соответствующего увеличения числа переключателей кнопочных в наборе 13, ВЗ-триггеров, входящих в схему 14, входных емкостей одновибратора 15, элементов И - НЕ схемы 16, а также логических элементов И 17.Блок 10 задания режимов обследования пациентов предназначен для управления врачом условиями проводимого обследования и состоит из узла задания цвета, включающего переключатель кнопочный ЦВЕТ, причем, первый контакт переключателя соединен с плюсом источника питания, а второй - с тактовым входом двоичного счетчика, например, К 561 ИЕ 10, первые два выходных разряда которого образуют второй выход блока 10 задания режимов...

Номер патента: 1797098

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Каримов, Ларченко, Миронов, Молин, Пряхина, Юсупова, Ярцев

МПК: G05B 23/02, G08G 5/00

Метки: кода, критической, объекта, ситуации, состояния, текущего, технического, формирования

...15 сравнения формирует на выходе сигнал логической единицы в том случае, если содержимое блока 16 буфернойпамяти, коммутируемого коммутатором 18,меньше содержимого блока 17 буферной памяти.Блок 17 буферной памяти служит дляопределения кода смежного состояния, соответствующего активному переходу с максимальным приоритетом.Работа устройства происходит следующим образом см,фиг, 1).Функционирование блока 22 микропрограммного управления основано на потактовом формировании кода состоянияработы устройства, который хранится вовнутренней памяти данного блоха и определяет;сигналыуправления блоками 14,4,6, 16,17;коды следующих состояний, в которыепроисходит переход из данного состояния,При поступлении внешнего сигнала"Сброс" обнуляется...

Номер патента: 1806607

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Корчажинский, Тодуа, Толкачев

МПК: A61B 5/16

Метки: исследования, критической, мельканий, слияния, спектральной, частоты

...с актуальным состоянием испытуемого. В это же время критическая частота измерения при диаметре стимула 9,0мм и 1,2 мм изменяется слабо и служит 50характеристикой стабильных свойств человека (темперамент, лабильность и пр.).На чертеже изображено предлагаемоеустройство.Предлагаемого устройство, состоит 55(фиг.1) из монокулярной эачерневой изнутри визирной трубы длиной 330 мм (1) с окуляром (2) и диафрагмой с отверстием 1,0-1,2мм (3), перед которым экспонируются источники спектрального излучения (4) - в нашем случае лампа белого мелькающего света и цветофильтров красного, зеленого, синего и желтого цветов, установленные на плате (5). Внутри трубы с возможностью перемещения смонтирована оптическая диафрагма (б), которая движется...

Номер патента: 1836919

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Нетудыхатка, Стоянов, Ходин

МПК: A61B 5/16

Метки: критической, мельканий, слияния, частоты

...диск с нанесенными черно-белыми секторами с отверстием в центре (7-10 мм), установленным в штанге с рукоятью. Рукоять удерживается кистью, на указательный палец которой надевается напальчник со спицей, которая вводится в отверстие платы. С тыльной стороны платы расположен экран, фон которого сливается с фоном диска при определенной частоте вращения.На чертеже изображена схема предлагаемого устройства. Исслед мощью, рук укаэательн ная указка проводя ща платы 1. Ре во касаний следований регуляторо формировд увеличения ледуемый и бретение относитсятехники и может профессионального ких профессий, свям. Для этого разраючающее диск из ала (плату) с отверсенными на.нее бемикродвигатель, , кронштейн платы, ь, теплопроводящую ции на пальце,...

Номер патента: 917614

Опубликовано: 15.04.1994

Авторы: Алферов, Минаев, Сопов

МПК: G01M 9/00

Метки: аппарата, критической, летательного, рулевой, скорости, флаттера, формы

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ СКОРОСТИ РУЛЕВОЙ ФОРМЫ ФЛАТТЕРА ЛЕТАТЕЛЬНОГО АППАРАТА, включающий продувку модели летательного аппарата с отклоненным органом управления в аэродинамической трубе при заданной динамической жесткости рулевого тракта, регистрацию и измерение параметров, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения критической скорости и сохранения модели летательного аппарата от разрушения, задают гармонические колебания органу управления с различными амплитудами и частотами, регистрируют отношение усилия на органе управления к его отклонению для ряда скоростей потока, сопоставляют это отношение с динамической жесткостью рулевого тракта и определяют значение критической скорости.

Номер патента: 1831170

Опубликовано: 20.08.1995

Авторы: Горелов, Иваков, Майзус, Парамонов, Сухарев, Тарасов

МПК: G21C 1/00, G21C 17/00

Метки: активной, высокотемпературного, зоны, исследования, критической, реактора, сборке, тепловыделяющими, физических, характеристик, шаровыми, элементами, ядерного

...активной зоны.Задачей предполагаемого изобретенияявляется расширение экспериментальныхвозможностей путем повышения представительности экспериментов при сокращении затрат на исследование.Способ исследования физических характеристик активной зоны ВТГР с шаровыми твэл на критической сборке заключаетсяв следующем,В корпус загружают шары-имитаторына высоту нижнего торцового отражателя,шаровые твэлы на высоту активной зоны ина них шары-имитаторы верхнего торцового. отражателя,С помощью нагревателей производятразогрев шаровой засыпки и экспериментально, при помощи заранее установленныхтермопар, определяют распределение температур в объеме засыпки шаров, ПроизвоФормула изобретенияСПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК АКТИВНОЙ ЗОНЫ...

Номер патента: 1793811

Опубликовано: 20.12.1995

Авторы: Гасумянц, Казьмин, Кайданов

МПК: H01B 12/00, H01L 39/24

Метки: yba2cu3o7, керамики, критической, перехода, сверхпроводящего, температуры

...что, во-первых, достаточно сложно и трудоемко, а во-вторых, частично разрушает образец.Целью изобретения является упрощение и повышение точности за счет локальных измерений,Сущность способа заключается в том, что для определения величины Тс керамик ЧВа 2 Соз 07-д предлагается пользоваться установленной корреляционной зависимостью между значением Тс и а(Т = 300 К) для этих керамик и, измерив значение при комнатной температуре любым известным способом определять величину Тс по этой зависимости. Этот способ значительно проще и быстрее в исполнении (для проведения 25 измерений требуется наличие лишь нагревательного элемента, термопары и микро- вольтметра для регистрации величины сигналов, а сам процесс проведения измерений занимает 1 - 2...

Номер патента: 1730969

Опубликовано: 10.08.1996

Авторы: Егоров, Жуков

МПК: H01J 1/30

Метки: критической, острийного, температуры, эмиттера

Способ определения критической температуры острийного эмиттера, имеющего проводящее покрытие, включающий возбуждение автоэлектронной эмиссии, получение эмиссионного изображения и автоэлектронного тока, отличающийся с тем, что, с целью повышения точности определения критической температуры острийного эмиттера, регистрацию автоэлектронного тока проводят при двух различных известных значениях температуры эммитера, при каждой температуре в эмиссионном изображении фиксируют появление ореола и измеряют соответствующее значение автоэлектронного тока, а величину критической температуры определяют по формулегде Т1, Т2 задаваемые температуры...

Номер патента: 1829634

Опубликовано: 10.01.1997

Авторы: Гольдштейн, Коровин

МПК: G01R 31/26

Метки: критической, плотности, тиристора

...токе управления, снятие вольтамперной характеристики тиристора и определение величины постоянного тока в точке вольт-амперной характеристики, соответствующей окончанию процесса распространения изготовления, либо путем измерения, например, у неисправного тиристора, который может быть вынут из корпуса. Затем испытуемый тиристор включает в контур с регулируемым источником постоянного тока и токоизмерительным шунтом, На его управляющий электрод подается ток управления, соответствующий техническим условиям. К шунту и выводам тиристора подключают приборы для снятия ВАХ (например, осциллограф или милливольтметр и вольтметр). Включают источник тока и снимают ВАХ тиристора на постоянном токе сначала при увеличении тока от нуля до предельно...

Номер патента: 1829635

Опубликовано: 10.01.1997

Авторы: Гольдштейн, Коровин

МПК: G01R 31/26

Метки: критической, плотности, тиристора

...у предприятия изготовителя, либо путем измерения, например, у неисправного тиристора, который может быть вынут из корпуса. Затем испытуемый тиристор включают в контур с регулируемым источником полусинусоидальСпособ измерения критической плотности тока тиристора, включающий определение площади активной области и-эмиттера тиристора, подачу на управляющий электрод тиристора номинального тока управления, пропускание через тиристор полусинусоидального импульса промышленной частоты, снятие вольт-амперной характеристики тиристора, измерение величины тока в точке вольт-амперной характеристики, соответствующей окончанию процесса распространения включенного состояния в тиристоре, и расчет критической плотности тока тиристора,ного тока...