Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1084665
Авторы: Гейтенко, Захаров, Ильин, Кузин, Максименко
Текст
(51) 6 01 М 27/8 ОМИТЕТ СССР ТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(56)В 5582В 739 детельство ССС 27/90, 1975. тельство СССР27/90, 1977 Ф 3372295/25-2831.128107.04,84, Бюл,В,М.Захаров, Вльин, Г,В,Кузиб 20,179,14 (0881. Авторское с817, кл. 0 01Авторское сви391, кл. 6 01отип)54)(57) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КОНТОЛЬНОГО ОБРАЗЦА ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПОВаключающийся и том, что на изделии выбирают бездефектный участоки наносят на него искусственныйподповерхностный дефект, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью изготовления искусственных подповерхностных дефектов в образцах сложной формы, на выбранном участке предварительно выполняют отверстие диаметра, меньшего по сравнению с размером искусственного дефекта, вэто отверстие вводят химическое вещество, воздействующее на материалобразца, и вытравливают полость,имитирующую искусственный подповерхностный дефект.Изобретение относится к неразрушающим испытаниям, преимущественно с применением вихревых токов и может быть, использовано при настройке и градуировке дефектоскоповИзвестен способ изготовления многослойных контрольных плоских образцов для дефектоскопов-имитаторов иэделий для настройки и градуировки дефектоскопов; в подповерхностном слое которых содержится искусствен ный дефект, Этот способ включает изготовление, например, трех плоско- параллельных пластин, в том числе пластину, имитирующую поверхностный слой иэделия, и пластину, имитирую щую подповерхностный слбй изделия, изготовление в пластине, имитирующей подповерхностный слой, искусственного дефекта, например отверстия, и сборку всех пластин в пакет, имитирующий изделие.Г 1 3.Однако способ не применим для изготовления контрольных образцов сложной формы.Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ изготовления контрольного образца для дефектоскопов, заключающийся в том, что на изделии выбирают бездефектный участок и наносят на нем искусственный подповерхностный дефект - выполняют прорезь с помощью режущего инструмента. При этом для изготовления подповерхностных искусственных дефектов из, делие выполняют иэ нескольких слоев, искусственный дефект выполняют во внутреннем слое, а затем все слои собирают в единый образец 2.Недостатком этого способа является то, что в случае контроля под поверхностного дефекта изделия сложного профиля или сложной форьы, например, рельса, шара и т.п. практически невозможно изготовить сборный иэ нескольких слоев образец-имита тор иэделия с искусственным дефектом в подповерхностном слое.Кроме того, способ не обеспечивает контакта между слоями образца по всей их поверхности, что снижает качество настройки и градуировки дефектоскопа. Цель изобретения - изготовление искусственных подповерхностных дефектов в образцах сложной формы,Поставленная цель достигается тем, что согласно способу изготовления контрольного образца для дефектоскопов, заключающемуся в том, что на изделйи выбирают бездефектный , 60 участок и наносят на нем искусственный подповерхностный дефект, на выбранном участке предварительно выполняют отверстие диаметра, меньшего по сравнению с размером искусственного 65 дефекта, в зто отверстие вводят химическое вещество, воздействующеена материал образца и вытравливаютполость, имитирующую искусственныйподповерхностный дефект,Способ осуществляется следующимобразом.На выбранном бездефектном участке изделия сверлят отверстие диаметра, малого по сравнению с размеромдефекта, затем в зто отверстие вводятхимическое вещество, например, щелочьили кислоту, в зависимости от материала изделия, и вытравливают полость,имитирующую искусственный подповерхностный дефект. Размеры дефекта определяются свойствами и количеством введенного в отверстие химического вещества, а также продолжительностью травления.П р и м е р (контрольный образец . Изготавливают серию образцов с поверхностным слоем толщиной 0,5 мм из нержавеющей стали ОХ 18 Н 10 Т и внутренней частью из сплава алюминия- силумина, Искусственный дефект, имитирующий пору, изготовляют в виде полусферы диаметром 4-9 мм, усеченной поверхностным слоем. Изготовление образца начинают с формирования поверхностного слоя иэ гладкостенной трубы с помощью роликового протяжного стана. Затем поверхностный слой с одного конца герметиэируют с помощью сварки, а с другого конца заполняют силумином по способу литья под давлением. В поверхностном слое каждого образца изготавливают отверстие диаметром 0,8 мм. Пять заготовок, изготовленных таким образом, погружают в ванну с 20-ным раствором щелочи МОН, нагретым до 80-90 С. Через 3 мин заготовки вынимают иэ ванны, промывают горячей водой, опускают на 15 мин в слабый 10,5-ный 1 раствор кислоты НМО, затем промывают в воде и высушивают. Каждая последующая группа заготовок иэ 5 штук находится в щелочном растворе на 1 мин дольше предыдущей. После операции изготовления несплошности образцы группируются по одинаковым показаниям вихретокового дефектоскопа с проходными вихретоковыми преобразователями. Получается 6 таких групп. Косвенно определены размеры дефекта в одном образце из каждой группы путем измерения размеров дефектов 1 известным методом 1 в остальных образцах после удаления в них поверхностного слоя в зоне дефекта. Искусственные несплошности в образцах, с целью исключения нарушения внешних размеров образца и воздействия внешней среды на внутреннюю часть образца, заполняются эпоксидной смолой. Таким образом, изго1084665 Составитель А.федоровРедактор Е.Лушникова Техред М;Надь Корректор А.Зимокосов Заказ 1987/37 Тираж 823. ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений й открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д.4/5 филиал ППП "Патентф г. Ужгород, ул. Проектная, 4Ф товлены шесть образцов-имитаторов сискусственными подповерхностнымидефектами диаметром (4 1 0,5),(9 1 0,5) мм, что позволило осуществить градуировку дефектоскопа в зависимости от размера дефекта заданной формы.П р и м е р 2, Изготавливают4 образца-имитатора с внутреннейчастью из сплава Д 16 и поверхностным слоем, .полученным способом напыления алюминия, толщиной 0,05-0,2 мм,Йскусственный дефект имитирует поруцилиндрической формы диаметром и высотой 1 мм. Внутреннюю часть изготав. 15ливают методом литья в форму. Наее поверхности изготавливают методомтравления несплошность заданных размеров и формы, в которую вставляютстержень из кварца. Затем на первуюзаготовку напыляют слой алюминия толщиной 0,05 мм, на вторую 0,1 мм, на.третью 0,15 мм, на четвертую 0,2 мм.Изготовленные образцы позволяют осу-.ществить градуировку вихретоковогодефектоскопа в зависимости от глубины залегания дефекта.П р и м е р 3. Изготовляют 5образцов-имитаторов с внутреннейчастью из сплава алюминия-силумина и поверхностным слоем толщиной 0,5 ммиз сплава Д 16, Искусственный дефектимитирует пору цилиндрической формыдиаметром 1 - 5 ьк и высотой 2 мм,Внутреннюю часть изготавливают методом литЬя в Форму, На поверхностипервой заготовки изготовляется методом тРавления искусственная несплошность диаметром 1 мм,2 мни т.д. до 5 мм. Все искусственныенесплошности заполнены пластмассойтипа стиракрил. Поверхностный слойизготовляют в виде Фасонной трубыиз цилиндрической трубы путем профилирования,с помощью холодной протяжки через фильеру. Затем внутренняячасть вводится в трубу и сборка помещаетсн в вакуумную камеру, где труба герметизируется с двух концовс помощью сварки. После этого сборкаопрессовывается в автоклаве, Такимобразом, изготовлейы пять образцов,которые позволяют провести градуировку дефектоскопа в зависимости отдиаметра дефекта в диапазоне 1 - 5 ьи,Применение предлагаемого способапозволит изготавливать контрольныеобразцы сложной формы (например,сверл, торов и т.д.),пригодные дляиспытания дефектоскопов.
СмотретьЗаявка
3372295, 31.12.1981
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6575
ЗАХАРОВ ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ, ГЕЙТЕНКО ВАЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ, ИЛЬИН МИХАИЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ, КУЗИН ГЕРМАН ВАСИЛЬЕВИЧ, МАКСИМЕНКО ИВАН ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопов, контрольного, образца
Опубликовано: 07.04.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1084665-sposob-izgotovleniya-kontrolnogo-obrazca-dlya-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления контрольного образца для дефектоскопов</a>
Предыдущий патент: Устройство для контроля структуры графита в чугуне
Следующий патент: Устройство для контроля ферромагнитных изделий методом эффекта баркгаузена
Случайный патент: Способ монтажа мостового крана