Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов (его варианты)

пц 911305 Союз СоветскииСоцмапистмчесииаРеспублик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51)М. Кл. а 01 Ы 27/82 с присоединением заявки М оеудеротеаииый комитет. СССР ао делам изобретеиий и открытий(7 ) Заявитель Институт прикладной физикЯ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХПОВ (ЕГО ВАРИАНТЫ) Изобретение относится к измерительной тех"нике и может быть использовано для калибровки магнитных дефектов.Известно устройство, содержащее контрольныйобразец с искусственным дефектом, выполненным, например, в виде прямоугольного паза, Контрольные образцы позволяют калибровать магнитный дефектоскоп в реальных условиях, т.е,с учетом магнитных свойств изделия 1.Недостатком устройства является низкаяточность калибровки дефектоскопа в связи с1 Отем, что при его эксплуатации дефектоскопнеобходимо настраивать на выявление некоторого дефекта, имеющего заданные размерыпо ширине и глубине,15Заданные размеры могут иметь различныезначения в зависимости от требований к ка-.честву изделия и в зависимости от условийэксплуатации дефектоскопа, например от уровня помех, создаваемых магнитными неодно.родностями материала изделия. Все это приводит к тому, что дефектоскоп должен бытьоснащен большим количеством контрольныхобразцов с искусственными дефектами. При малом количестве контрольных образцов размеры ближайшего искусственного дефектамогут значительно отличаться от заданныхразмеров дефекта, подлежащего обнаружению,поэтому калибровка дефектоскопа в этомслучае оказывается неточной,Кроме того, к недостаткам известного устройства можно также отнести сложность изго.товления искусственных дефектов некоторыхтинов, например волосовин.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для ка.либровки магнитных дефектоскопов, содержащее источник электрического тока и проводник, выполненный в виде пластины.При пропускании электрического тока вокруг проводника образуется магнитное поле,эквивалентное магнитному полю дефекта. Поэтому с помощью данного устройства можно.калибровать магнитные дефектоскопы 2).Недостатком известного устройства являетсянизкая точность калибровки, так как приэксплуатации дефсктоскоп должен настраивать,ся на дефекты самых различных размеров,го г 5 30 35 40 45 50 55 3 911а для точной калибровки он должен бытьоснащен большим количеством проводников,воспроизводящих магнитное поле отдельногодефекта,Цель изобретения - повышение точностикалибровки.Поставленная цель достигается тем, что уст.ройство снабжено контрольным образцом бездефекта, пластина закреплена на его поверх.ности, а ширина пластины выбирается равной ширине минимального дефекта на контро.лируемом изделии.Кроме того, в устройстве для калибровки(по второму варианту) проводник может бытьвыполнен в виде двухпроводной линии из микропровода, закрепленной на поверхности контрольного образца, а расстояние между проводниками выбирается равным ширине минимального дефекта на контролируемом изделии.На фиг, 1 представлено устройство для калибровки магнитных дефектов при намагничивании изделия параллельно контролируемойповерхности; на фиг, 2 - устройство длякалибровки дефектоскопов, работающих принамагничивании иэделия перпендикулярноконтролируемой поверхности; на фиг. 3распределение магнитного поля, создаваемогоустройством для калибровки; на фнг, 4 - .то же, для калибровки магнитных дефектоскопов: на фиг, 5 - распределение магнитногополя дефекта при нормальном намагничивании;на фиг. 6 - то же, при параллельном намагничивании.Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов (фиг. 1) содержит бездефектныйконтрольный образец 1, электропроводящуюпластину 2 и источник 3 электрического тока.Электропроводящая пластина 2 закреплена наповерхности контрольного образца 1 и соединена с источником 3 электрического тока,Ширина 1, пластины выбирается равной ширине 1, минимального дефекта на контролируемом изделии.Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов (фиг, 2) содержит беэдефектныйконтрольный образец 4, двухпроводную линию5 и источник 6 электрического тока, Двухпроводная линия 5 выполнена иэ микропро.вода, закреплена на поверхности контрольногообразца 4 и соединена с источником 6 элек.трического тока.Расстояние 1 г между проводниками выбирается равным ширине минимального дефекта1 на контролируемом изделии,Устройство (фиг. 1) для калибровки маг.нитных дефектоскопов работает следующимобразом,От источника 3 по пластине 2 пропускаютэлектрический ток. Если ширина пластины рав 305на ширине (фиг, 6) дефекта 7, то распреде.ление напряженности образуемого магнитного поля (фиг. 3) близко к распределению напря. женности магнитного поля (фиг, 6) дефекта 7 при намагничивании контролируемого иэделия 8 магнитным полем параллельно контродируемой поверхности. Так как ширина пластины в устройстве для калибровки выбрана равнойширине 1, магнитного дефекта, то необходи-.мый градиент напряженности магнитного поля(фиг. 3), соответствующий размерам заданногопри калибровке дефекта, получают установкойнеобходимой величины электрического тока впластине 2 (фиг. 1).Устройство для калибровки может бытьзаранее проградуировано по силе электричес.кого тока и размерам дефектов в необходи мом интервале. После установки необходимого значения электрического тока в пластине 2(фиг, 1) на поверхность контрольного образца 1 устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают его в направлении, пересекающем пластину 2, При пересечении датчиком. пластины 2 регулировкой "чувствителыгости настраивают дефектоскоп навыявление дефекта с заданными размерами.Так как настройка на заданные размерыдефекта в устройстве (фиг. 1) для. калибровки производится плавной регулировкой элек- .трического тока, то дефектоскоп может бытьточно откалиброван на любые размеры дефектов. Кроме того, так как устройство снаб.жено бездефектным контрольным образцом 1,который имеет все свойства реальных. изделий,то при калибровке устраняется ошибка, связанная с ограничением чувствительности помехами изделия.Устройство (фиг. 2) для калибровки маг.нитных дефектоскопов работает следующимобразом,От источника 6 по двухпроводной линии 5 пропускают электрический ток. При этом над образцом 4 (фиг. 4) образуется магнитное поле; являющееся суммарным двух полей: магнитного ноля электрического тока двухпроводной линии 5 и вторичного магнитного поля образца 4.Магнитное поле (фиг. 4) двухпроводной линии 5 воспроизводит магнитное иоле (фиг,5) дефекта 7 при намагничивании контролируе. мого изделия 8 магнитным полем перпендикулярно контролируемой поверхности, причем ширина )г дефекта равна расстоянию 1 (фиг,4) между проводниками двухпроводной линии 5.Для того, чтобы с помощью данного устрой ства (фиг, 2) было возможно настраивать магнитный дефектоскоц на выявление дефек. тов 7 (фиг. 5) любых заданных размеров, необходимо размеры двухпроводной линии 591130 выбрать из условия равенства их размерам (фиг.,5) минимального дефекта 7, обнаруживаемого дефектоскопом (по паспорту), Это условие выполнимо, так как двухпроводная линия 5 выполнена из микропровода. При этом, так как магнитные дефектоскопы обнаруживают дефекты 7 (фиг 5) по градиенту напряженности магнитного поля, значение ко., торого у больших дефектов больше, чем у малых, то для настройки магнитного дефекто о скопа на выявление любого заданного дефекта 7, размеры которого больше размеров мж нимального дефекта, достаточно с помощью двухпроводной линии 5 (фиг, 2) создать та.кую напряженность магнитного поля, чтобы градиент напряженности над проводниками соответствовал градиенту напряженности магнитного поля,(фиг. 5) дефекта 7 с заданными размерами, для чего через двухпроводную линию 5 пропускают от источника 6 электричес кий ток необходимой величины, С этой.целью устройство .для калибровки магнитных дефектоскопов после его изготовления может быль проградунровано в необходимых вреде лах по.силе тока и размерам дефектов,После установки в двухпроводной линии 5 необходимого значения электрического тока от источника 6 на поверхность устройства для калибровки устаиавливиот датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают его в йанравлении, пересекающем двухпроводную линию 5, При прохождении датчика по двухпроводной линии 5 регулируют чувствитель.ность магнитного дефектоскопа так, чтобы дефектоскоп выявлял заданный дефект. Плавность регулировки электрического тока в двухпроводной линии, 5 . позволяет настраивать магнитный дефектоскоп на выявление дефек 5тов 7 (фиг. 6) с любыми заданными размерами в пределах технической характеристики дефектоскопа,Описанные варианты устройства, калибров- . ки магнитных дефектоскопов позволяет по высить точность калибровки и, вследствии этого, качество проконтролируемых изделий. Формула изобретения1. Устройство для калибровки магнитныхдефектоскопов, содержащее источник электрн.ческого тока и проводник, выполненный ввиде пластины, о т л и ч а ю щ е е с я тем,что, с целью повышения точности, оно снабжено контрольным образцом без дефекте, пла.стина закреплена на его поверхности, а ширинапластины выбирается равной ширине мииималь.ного дефекта на контролируемом изделии.2. Устройство дл калибровки магнитныхдефектосконов, содержащее источник электри.чес"ого,тока и проводник, о т л и ч а ю щ е.1 е с я тем, что, с целью повышения точности,оно снабжено контрольным образцом без дефекта, проводник выполнен в виде двухпроводной линии из микропровода, закрепленной нвповерхности контрольного образца, а расстояние между проводниками выбирается равнымширине минимального дефекта на контролируе.мом изделии.Источники информации,принятые во внимание прн экспертизе1, "Журнал технической физики", 1957, т,27,вып. 2, с, 368 - 373,2 Известия АН БССР. Серия физико-техии.ческих наук. 1975, У 2, с. 91 (прототнп).911305 Составитель И, Ардашевор Н. Лазаренко Техред М.Рейвес орректо Заказ 111 нлиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проек Тираж 883 ВНИИПИ Государственного по делам изобретений и 13035, Москва, Ж, Рауш