Способ изготовления образцов для калибровки дефектоскопов

Номер патента: 968726

Опубликовано: 23.10.1982

Авторы: Анохов, Денисов, Качанов, Конжуков, Скоробогатько

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопов, калибровки, образцов

...нагревают до температуры, составляющей 0,5-0,7 температуры ееплавления, и деформируют при этой тем- .пературе.На фиг. 1-4 показана последовательность операций при изготовлении об- щраэца,Образец изготавливается из заготовки 1 цилиндрической формы с прорезью2 треугольного сечения с помощью гильзы 3, ИСпособ реализуется следующим образом,В заготовкецилиндрической формы выполняют прорезь 2 треугольногосечения. Рекомендуется выполнять про- щрезь с монотонно уменьшающейся глубиной от одного торца заготовки 1 к другому, Заготовка 1 с прорезью 2 вставляется в гильзу 3, с внутренним диа"метром, на 0,2-0,3 мм превышающим вне-шний диаметр заготовки 1, Длина гильзы 3 меньше длины образца. Затем заготовку 1 нагревают до температуры,составляющей...

Номер патента: 1288577

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Дегтерев, Денисов, Качанов, Конжуков, Скоробогатько

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопов, калибровки, образцов

...два зазора, представляющиесобой две газовые поры; на фиг. 3 -заготовка, деформированная кручением20вокруг оси; на фиг. 4 - заготовка,отверстие в которой выполнено подуглом к ее оси.Образец содержит заготовку 1, от 25верстие 2, отрезки 3 проволоки и зазоры 4, имитирующие дефект типа газовая пора.Способ изготовления образцов длякалибровки дефектоскопов заключается30в том, что в заготовке 1 параллельно ее оси выполняют отверстие 2, вкоторое плотно вставляются отрезки3 проволоки из того же материала,что и заготовка 1. При этом отрезки 3 проволоки вставляются в отверстие так, чтобы между их концамиоставался зазор 4, соответствующийразмеру поры. Далее заготовка 1 деформируется кручением вокруг своейоси. В результате получается...

Номер патента: 1586809

Опубликовано: 23.08.1990

Автор: Ротенберг

МПК: B21B 19/04

Метки: заготовки, задачи, конце, косовалковый, наклонными, переднем, плоскостями, стан

...доООносика оправки 1 глубины пентровочного отверстия на заготовке 1, ++ 10 - 50 мм Ктиг,1), Веттг 15:1 п 1 а дополнительного удлинения профилированнойчасти заготовки определяется преиму 55щественно прокатываемым сортаментом(ДнаМЕтРОМ ЗаГОтОВКИ), ВЕЛИЧ 11 НОтйт УГла вхОдного конуса Очага деформациии практически отклонением протяжен 4ности очага деформации до носика оправки 11, которое обусловлено точностью ее установки в очаге, а также технологическими причинами, влекущими изменение обжатия перед носиком оправки, При этом с ростом диаметра заготовки, увеличением возможного отклонения 11 а также уменьшением угла входного конуса очага деформации, выбор величины дополнительного удлинения профилированной части заготовки смещается в сторону...

Номер патента: 1557513

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Жуков, Коновалов, Тарасов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки

...работает следующим образом.Приводные ролики 5 приводят вовращение элемент 1 с искусственными дефектами 2 и 3 вместе с элементом 4 из диэлектрического материала вокруг оси. Проточки 6 роликов 5предохраняют от соскальзывания элемент 1 с дефектами 2 и 3 относительно вращающихся роликов 5 и, тем самым удерживают элемент 1 в однойплоскости вращения, Элемент 1 с дефектами 2 и 3, проходя через преобразователь 7 или 8 дефектоскопа,периодически формирует на его выходеимпульсы от начала и конца, а такжекалиброванные импульсы от минимальных искусственных дефектов 2 и 3,что эквивалентно получению импульсов на выходе преобразователя 7или 8 дефектоскопа от начала, концаи дефектов длинномерных изделий.Для калибровки дефектоскопов сразличными...

Номер патента: 328605

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Иностранна, Иностранцы, Сейго

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки

...с выходом усилителя 4, индикатор 7 сигналов от дефектов, подключенный к выходу селектора 6, схему 8 совпадения с двумя входами, один 10 пз которых связан с выходом селектора 6,а другой через блок 9 пусковых сигналов -- с выходом усилителя 3; многоканальный амплитудный анализатор 10 импульсов, соединенный входом с выходом схемы 8, блок 11 15 делителей напряжения, через которые соответствующие каналы анализатора 10 соединены со входами схемы 12 ИЛ 11, выход которой подклочен в цепь регулировки усиления усилителя 4. Сигнал с выхода разба лансированной мостовой схемы 1 прп взаимодействии датчиков с контролируемым изделием усиливается усилителями 3 и 4 и после детектирования детектором 6 обрабатывается селектором б. При характерном сигнале...