Имитатор для настройки дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(54) ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ДЕФЕКТО об линдр Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для настройки дефектоскопов с преобразователями, вращающимися; вокруг контролируемого изделия.Известен имитатор, выполненный в виде плоского многослойного изделия. Толщина каждого слоя имитатора меньше глубины проникновения электромагнитного поля, Слои отличаются друг от друга по электромагнитным параметрам (электропроводности, магнитной проницаемости и коэрцитив ной силе) 11.Данный имитатор, представляющий собой плоское изделие, не может быть применен для настройки или проверки прибора с проходными датчиками, предназначенного для контроля протяженных цилиндрических изделий. Неприменим также рассмотренный имитатор для приборов с вращающимися вокруг контролируемого изделия преобразователями и.Наиболее близким к изобретению по технической сущности является имитатор для настройки дефектоскопов, выполненный в ви де протяженного цилиндра с искусственным дефектом 21. Недостатками этого имитатора являются трудность обеспечения ширины раскрытия искусственных дефектов порядка 0,01 - 0,03 соответствующей ширине наиболее широко распространенных и опасных естественных дефектов; отсутствие возможности измерения глубины дефектов с указанным раскрытием; малое расстояние от торца имитатора типа трубы, на который может наноситьсидефект на его внутренние поверхности; отсутствие возможности нанесения дефектов различной ориентации относительно поверхностей изделия; отсутствие возможности имитации в них скрытых подповерхностных дефектов; чрезвычайно большая трудоемкость и сложность выполнения протяженных дефектов.Цель изобретения - упрощение и повышение точности изготовления искусственного дефекта.Указанная цель достигается тем, что цилиндр составлен из нескольких концентричных слоев, а искусственный дефект выполнен в виде сквозной прорези по крайней мере в одном из слоев, причем сквозная прорезь выполнена вдоль разующей циНа фиг. 1 - 5 приведены варианты выполнения электродинамического возбудителяколебаний.На фиг. 1 приведен имитатор, содержащий и концентрично соединенных цилиндрических слоев, из которых, например, слои1 и 2 со сквозными прорезями 3 воспроизводят дефекты заданной геометрии,Основным параметром, характеризующим дефект, является глубина Ь. Задаваятолщину слоев 1 и 2, воспроизводят соответственно глубины дефектов Ьи 1, Приэтом ширина дефекта д обеспечивается необходимо минимальной. Дефектом в данномслучае является стык между торцами слоев1 и 2. В случае, когда имитатор применяетсядля вихретоковых дефектоскопов, связь между слоями имитатора осуществляется за счетпроникновения в контролируемое изделиеэлектромагнитного поля.Применение имитатора для настройкидефектоскопов, работа которых основана напропускании тока через контролируемое из фделие, требует, чтобы между слоями имитатора была обеспечена электрическая связь.Для этого торцы слоев имитатора должныбыть сварены или пропаяны.На фиг. 2 приведен имитатор для настройки прибора, контролирующего дефектына внешней поверхности, Дефект необходимой геометрии воспроизводится стыком слоя4, размещаемого на внешней поверхности.На фиг. 3 приведен имитатор для настройки прибора, контролирующего дефекты зОна внутренней поверхности труб. Дефектвоспроизводится стыком слоя 5. размещаемого на внутренней поверхности трубы,На фиг. 4 приведен имитатор, воспроизводящий подповерхностный дефект за счетстыка слоя 6, размещенного между двумя35трубами.На фиг. 5 приведен имитатор, воспроизводящий дефект, расположенный под угломк внешней поверхности, отличным от 90.Ориентация дефекта относительно поверх ености задается торцами слоя, образующимистык за счет изменения угла наклона торцов.Необходимый угол наклона обеспечиваетсясоответствующей обработкой, например фрезерованием торцов плоского листа.Для обеспечения настройки дефектоскопа с двумя системами сканирования, работающего на основе пропускания тока черезобъект контроля, разомкнутые слои имитатора имеют длину в пределах д - О, где д -расстояние между двумя системами сканиро- щвания, Э - . расстояние между токоподводами.Выполнение разомкнутого слоя имитатора длиной д - Р обусловлено следующим.Разомкнутый слой, целиком располагающийся между токоподводами, обеспечиваетнаиболее равномерное распределение токав слое, аналогичное распределению тока вконтролируемых изделиях, представляющих однослойные однородные объекты. Превышение длины дефекта над расстоянием между системами сканирования увеличивает срок службы имитатора, так как имеется возможность перемещать его по мере износа участков дефекта, на которых раньше осуществлялась настройка дефектоскопа.Работает имитатор при настройке и проверке дефектоскопа для обнаружения недопустимых дефектов в трубах на основе пропускания тока через объект контроля следующим образом.Имитатор с дефектом типа несплошности известной геометрии устанавливают в датчике таким образом, чтобы дефект находился между токоподводами. После этого включают прибор и приводят во вращение имитатор. При этом электрическое поле системы сканирования, пересека:я дефект, изменяет свои характеристики. По величине изменения электрического поля устанавливают разбраковочные уровни.Имитаторы предлагаемой конструкции отличаются простотой и малыми затратами на и з готовление, высокой точностью аттестации геометрических размеров дефектов, возможностью легко и просто получать дефект (место стыка листа) большой длины (более 1 м), что многократно увеличивает срок его службы. Это объясняется тем, что при большой длине дефекта возможно осуществлять настройку дефектоскопа на новых участках дефекта, после того как тот или иной участок, на котором проводилась настройка ранее, вышел из строя.Кроме того, лист, применяемый для выполнения слоя с дефектом, может быть упрочнен, например, термообработкой, что дополнительно увеличивает срок службы имитатора. Кроме того, с помощью предлагаемого имитатора возможна настройка на дефект точно заданной геометрии на внутренней поверхности трубы, подповерхностные дефекты и дефекты различной ориентации.Формула изобретения1, Имитатор для настройки дефектоскопов, выполненный в виде протяженного цилиндра с искусственным дефектом, отличающийся тем, что, с целью упрощения и говышения точности изготовления искусственного дефекта, цилиндр составлен из нескольких концентричных слоев, а искусственный дефект выполнен в виде сквозной прорези по крайней мере в одном из слоев.2. Имитатор по п. 1, отличающийся тем, что сквозная прорезь выполнена вдоль образующей цилиндра.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР568817, кл. б 01 Х 27/86, 1977.2, цдд Т. %. Ма 1 ега 1 э Еваца 11 оп,1970,1, с. 8 - 2 (прототип).Составитель И. Кесехред К. Шуфрич ираж 1019 комитет и откр ская н дактор Т. Рожковаказ 2914/37ЦНИИПИпо д113035, МоФилиал ППП Государственного елам изобретений ква, Ж, Раун Патент; г. Ужгор янКорректор МПодписноеСССРытийб., д. 4/5Проектная, 4 ароши
СмотретьЗаявка
2570500, 18.01.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6303
КОСОВСКИЙ ДАВИД ИЗРАИЛЬЕВИЧ, ШКАРЛЕТ ЮРИЙ МИХАЙЛОВИЧ, ХВАТОВ ЛЕОНИД АНАТОЛЬЕВИЧ, КОНЖУКОВ ФЕЛИКС ИЗМАЙЛОВИЧ, СКОРОБОГАТЬКО ЕВГЕНИЙ СЕРГЕЕВИЧ, ИСАКОВ АНАТОЛИЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/86
Метки: дефектоскопов, имитатор, настройки
Опубликовано: 05.06.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-739391-imitator-dlya-nastrojjki-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Имитатор для настройки дефектоскопов</a>
Предыдущий патент: Устройство к дефектоскопу для сохранения постоянства зазора между преобразователем дефектоскопа и контролируемой поверхностью
Следующий патент: Способ магнитошумовой структуроскопии
Случайный патент: Устройство для очистки отходов окорки от примесей