Способ калибровки дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 328605
Авторы: Иностранна, Иностранцы, Сейго
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК ПАТЕНТУ 328605 Соос Советских Социалистических РеспубликЗависимый от патентаМ, Кл, 6 01 п 27/86 Заявлено 22.И,1970 (ЛЬ 1451593/25-28)Приоритет Комитет по делом вобретений и открытий ори Совете Министров СССЕОпубликовано 021.1972, БюллетеньДата опубликования описания 30.111.19 УДК 620,179,(088.8)Авторы зобретен Иностранцы Тосихиро Мори и Сейго А(Япония) Иностранная фирма Ниппон Кокан Кабусики Кнд 3 аявител Я ПОСОБ КАЛИБРОВКИ ДЕФЕКТОСКОПО Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при калибровке дефектоскопов. Известен способ калибровки дефектоскопов, заключающийся в том, что выходной сигнал анализируют посредством амплитудного анализатора, запоминают результаты анализа в виде дискретных электрических сигналов блоком памяти, сравнивают эти сигналы с эталонными блоком сравнения и по результатам сравнения регулируот блоки дефектоскопа.Однако при этом способе калибровка дефектоскопов производится вручную, что не исключает субъективных ошибок, и, кроме того, способ является трудоемким.Цель изобретения - автоматизация калибровки.Для этого сигналами, полученными в результате сравнения, автоматически регулируют коэффициент усиления усилителей дефектоскопа посредством цепей, изменяющих крутизну характеристики их активных элементов.На чертеже представлен вариант блок-схемы дефектоскопа, содержащий мостовую схему 1 с включенными в ее плечи индуктивными датчиками (на чертеже не показаны), источник 2 возбуждения мостовой схемы, соединенныи выходом с ее диагональю, предварительный усилитель 3, связанный входом с выходом мостовой схемы, усилитель 4, подключенный входом к выходу предваритель ного усилителя 3, детектор 6, селектор б, входкоторого соединен через детектор 6 с выходом усилителя 4, индикатор 7 сигналов от дефектов, подключенный к выходу селектора 6, схему 8 совпадения с двумя входами, один 10 пз которых связан с выходом селектора 6,а другой через блок 9 пусковых сигналов -- с выходом усилителя 3; многоканальный амплитудный анализатор 10 импульсов, соединенный входом с выходом схемы 8, блок 11 15 делителей напряжения, через которые соответствующие каналы анализатора 10 соединены со входами схемы 12 ИЛ 11, выход которой подклочен в цепь регулировки усиления усилителя 4. Сигнал с выхода разба лансированной мостовой схемы 1 прп взаимодействии датчиков с контролируемым изделием усиливается усилителями 3 и 4 и после детектирования детектором 6 обрабатывается селектором б. При характерном сигнале от 25 дефекта на выходе селектора 6 создаетсясоответствующий сигнал, который регистрируется индикатором 7 и одновременно поступает на один из входов схемы 8 совпадения на другой вход схемы совпадения подаетсяПредмет изобретения Составитель А. Духанин едактор А. Купрякова Техред А. Камышиикова Корректор Т. МиронПодписное ете Министров СССРказ 673,13 Изд. Лов 190 Тираж 448НИИГ 1 И Комитета по делами изобретений и открытий при СМосква, Ж, Раушская наб., д, 4/5 ипографни, нр. Сапунова,сигнал с блока 9, формирующего пусковые импульсы из импульсных сигналов с выхода усилителя 3, которые подвергаются в блоке 9 амплитудно-временным преобразовапи, и для того, чтобы зафиксировать необходимый порог для схемы 8; сигнал с выхода схемы Ь поступает на амплитудный многокапальп лй анализатор 10, каждый канал которого соответствует определенному уровню составляющей указанного сигнала; таким образом, сигнал посредством анализатора 10 квантуется по уровням, а затем в виде соответствующих потенциалов воздействует по выходным каналам анализатора через делители этих потенциалов и схемы ИЛИ па цепи, измспяющп крутизну характеристики активных элементов усилителей дефектоскопа. Споссб калибровки д фектоскопов, заключаюптийся в том, что выходной сигнал анали зируют посрсдством амплитудного анализатора, запоминают результаты анализа в виде дискретных электрических сигналов блоком памяти, сгавнивают эти сигналы с эталонными блоком сравнения и по результатам срав пения регулируют блоки дефектоскопа, отлииои 1 ийся тем, что, с целью автоматизациика ибровки, сигналами, полученными в результате сравнения, автоматически регулируют коэффициент усиления усилителей де фектоскопа посредством цепей, изменяющихкрутизну харагсристикп их активных элементов.
СмотретьЗаявка
1451593
ПАТШТЕ ЛИОт
Иностранцы Тосихиро Мори, Сейго Андо, Иностранна фирма Ниппон Кокан Кабусики Кайс
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопов, калибровки
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-328605-sposob-kalibrovki-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ калибровки дефектоскопов</a>
Предыдущий патент: Патентнотgt; amp; л11чеп; д 5 f: 5aoycka
Следующий патент: Оптический элемент для отклонения и фокусирования светового потока
Случайный патент: Устройство для считывания графической информации