Чебакова
Цифровой измеритель одиночных временных интервалов
Номер патента: 1522148
Опубликовано: 15.11.1989
Авторы: Кармалита, Кожемяко, Кузьмин, Чебакова
МПК: G04F 10/04
Метки: временных, измеритель, интервалов, одиночных, цифровой
...и первый вход элемента ИЛИ 4.Через элемент ИЛИ 4 старт-импульс поступает на вход секционированногоэлемента 6 задержки и распространяется по его секциям с соответствующей задержкой. Длительность импульсов "Старт" и "Стоп", а также длительность импульса генератора 2 образцовой частоты должна быть не менее 1,5 о, где- время задержки одной секции секционированного элемента задержки.При совпадении импульса "Старт" и импульса образцовой частоты на входах одного из элементов И группы 9 в единичное состояние переключается соответствующий триггер группы 8, который открывает соответствующий элемент И группы 9, разрешая поступление импульсов образцовой частоты через открытьп 1 элемент И группы 11 на вход соответствующей секции секционированного...
Способ контроля отклонения формы поверхности деталей сложной формы
Номер патента: 1065683
Опубликовано: 07.01.1984
Авторы: Казак, Чебакова
МПК: G01B 11/25, G02B 27/60
Метки: отклонения, поверхности, сложной, формы
...контроля отклоне 30 ний формы целесообразно использовать в качестве стадии технологического процесса формообразованияасферической поверхности без съемадетали со шпинделя станка. Если же35 при вращении детали 18 луч 20 описывает в обратном ходе окружностивокруг самого себя в прямом ходе,то при помощи юстировочных подвижексистемы 2 можно совместить в прост 40 ранстве оба хода луча 20, напримерпри визуа.льном наблюдении этого совмещения на полупрозрачной поверхности 13. Далее вводится в ход луча,20оптическая система 2, и ось этойсистемы 2 устанавливается сооснооси симметрии детали 18, причем положение соосности контролируетсятакже на указанной полупрозрачнойповерхности 13 по постоянству к:ртины совмещения луча 20 в прямоми обратном ходе,...
Устройство для обработки асферических поверхностей
Номер патента: 1028480
Опубликовано: 15.07.1983
Авторы: Биндюк, Иванов, Мельников, Русинов, Чебакова
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, поверхностей
...и инструмента 11, регулируемого при помощи противовеса 18 с переменным моментом нли с переменной силой разгрузки. Настройка устройства в начальном положении осуществляется следующим образом: центры поверхностей 14, 15 и 16 устанавливаются в одной вертикальной плоскости (в плоскости чертежа в определенном положении относительно друг друга и на одной оси в горизонтальной плоскости, при этом происходит ввод параметров начального положения.Устройство работает следующим образом.Изделие 2 и инструмент 11 приводятся во вращение со скоростями в и ц, рычаг 7 движется в пространстве при помощи соответствующего .привода, при этом инструмент 11 движется по поверхности 16, осуществляя съем материала изделия 9 в соответствии с параметрами процесса...
Устройство для копировальной обработки асферических поверхностей
Номер патента: 996174
Опубликовано: 15.02.1983
Авторы: Беляев, Кузнецов, Мельников, Русинов, Чебакова, Чунин
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, копировальной, поверхностей
...имеющего асферический характери соответствующего профилю обрабатываемой асферической поверхности 2, вслучае применения неточечного инструмента, например, инструмента-круга столщиной Н, и в случае применения неточечных сечений контактных элементов,например, контакгных роликов 5 и 7 с 74 4радиусом цилиндрической поверхности %, сравнимом с радиусом цилинцрической поверхности инструмента-круга. ВеличиныН и К таковы, что ими нельзя пренебрегать при определении координат реальной точки контакга пар .инструменг - поверхностьи копир - ролик. Профиль основного копира выполняется соответствующим профилю обрабатываемой асферической поверхности цля снятия ограничения по типу(вицу) обрабатываемой поверхности и возможности обработки на...
Устройство для копирной обработки асферических поверхностей
Номер патента: 986737
Опубликовано: 07.01.1983
Авторы: Кузнецов, Мельников, Русинов, Чебакова, Чунин
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, копирной, поверхностей
...типом копирного механизма.Рассмотрим, например, Формообразование глубокой асферической поверхности высшего порядка, симметричной относительно оси вращения ОХ и заданной следующим уравнением в меридиональном сечении У = 0 (вводим ортогональную систему координат х, у, г, начало которой - точка О - находится в вершине асферической поверхности): 21 /у игде Р(ХЬЕ:ах - полином и-ного по 5=1 рядка. Координатная ось ОХ совпадает с осью вращения (осью симметрии) детали 4 с асферической поверхностью 5 формообразуемой в процессе обработки. , Ось б цилиндрического шарнира 7, посредством которого осуществляется разворот рычага 8 в плоскости, параллельной плоскости УОХ, расположена между осью 9 цилиндрического шарнира 10, осуществляющего разворот...
Способ контроля отклонения формы поверхности детали
Номер патента: 938008
Опубликовано: 23.06.1982
Авторы: Казак, Чебакова
МПК: G01B 11/25, G01B 9/021
Метки: детали, отклонения, поверхности, формы
...точек в заданном сечении поверхности, ню при условии обязательного определения расстояч ф ния от точечных источников до даннои точки контролируемой поверхности 23 .Однако такое определение требует привлечения специальных методов и приспособлений для измерения расстояний между точками. Кроме того, оп- в ределение расстояния от ъочечных источников до базовых точек детали, всегда осуществляется с некоторой погрешностью, равной сумме погрешности собственно измерения расстоя- ы ния и погрешности задания базовых точек. Это обстоятельство снижает точность контроля отклонения Формы 4детали, Необходимость определениярасстояния от точечных источников добазовых точек также снижает производительность контроля отклоненияФормы.Низкие точность и...
Способ изготовления активной массы окисно-никелевого электрода щелочного аккумулятора
Номер патента: 588580
Опубликовано: 15.01.1978
Авторы: Леонов, Розовский, Солнцева, Чебакова
МПК: H01M 4/32
Метки: аккумулятора, активной, массы, окисно-никелевого, щелочного, электрода
...Это приводит к изменению структуры гидрата закпси никеля - увеличению размера крис.таллитов, уменьшейию удельного объема и удельной поверхности и, как следствие, к снижению коэффициента использования ни неляПредлагаемый способ позволяет повыситькоэффициент использования никеля. Для этого шелочь берут в стехпометрическом соотношен;ш к соли никеля, а углекислый на 1 о трпй вводят в количестве 6 - 20 /О по отношению к количестгу твердой щелочи,П р и м е р. Раствор щелочи концентрацией280 - 320 г КаОН на литр нагревают до 45 - 15 60 С, вводят в него углекислый натрий в количестве 15% по отношению к количеству твердой щелочи и прп непрерывном перемешивании добавляют графит в количестве 35 - 40% по отношенгпо к никелю. Перемешивание...