Способ автоматического управления процессом получения профилированных кристаллов из расплава

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 0 В 15/2 ОМИТЕТОТКРЫТИЯМ ОСУДАРСТВЕННЬО ИЗОБРЕТЕНИЯРИ ГКНТ СССР(57) Изобрет ции процесс ванных крис сущ- ЯВЛЯ- ения кри- гулинных ти от оп влястОПИСАНИЕ И ВТОРСКОУУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Государственный всесоюзный центральный научно-исследовательский институт комплексной автоматизации(56) Авторское свидетельство СССР М 469285, кл. С 30 В 15/30, 1972.(54) СПОСОБ АВТОМАТИЧЕСКОГО УПРАВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОМ ПОЛУЧЕНИЯ ГРОФИЛИРОВАННЫХ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСПЛАВА ие относится к автоматизав выращивания профилироллов из расплава способом Изобретение относится к автоматизации процессов выращивания профилированных кристаллов из расплава способом Степанова с применением смачиваемых расплавом формообразователей и может быть использовано для выращивания кристаллов полупроводникового коемния, лейкосапфира, ниобата и танталата лития и других матеоиалов.Профилированные кристаллы полупроводникового кремния применяют для изготовления фотопреобразователей солнечной знергии наземных и космических злектробатарей, Трубы из лейкосапфира являются 50 17 ОО 112 А 1 Степановс применением смачиваемых расплавом формообразователей, может быть исгользовано для вь ращивания кристаллоз полупровпднлкового кремния, лейкосапфира, чиобата и танталата лития и друг.,х.".материалов и позволяет повысить качество ре.улирования процесса выоащивания профилированных кристаллов, ре улиоование техноло ических перемен-. чь:х процесса кристаллизации в зависимости от изменения веса и сил поверхностного натяжения растущего кристалла, котооое определяю- на основании измерения силы, приложенной к формообразователю, заглубленному в расплав, Способ включает регулирование температ 1 ры нагревателя и скорости вытяГивания кристалла в зависимости от изменения веса растущего кристалла и сил повеохностного натяжения, которые опоеделяют путел измерения силы, приложенной к формообразователю, за- ГлlбленномУ в расплав,компонентами ламп накачки лазеров триевых ламп высокоГо давления и дрНаиболее близким по технической ности к предлагаемому изобретению ется способ автоматическоо управ. г,рсцессом выогщивания объемных сталлов из расплава, включающий ре рование технологических переме процесса кристаллизации в зависимос изменения площади или периметра речного сечения растущего кристаллаНедостатком известного способа ется то, что усилие, приложенное к зат растущеГо кристалла, передается на чвительный элемент силоизмарительного устройства через шарнирную тягу; проходящую в канале полого штока.Чувствительный элемент устанавливается на каретке технологической установки. Поэтому шарнирная тяга имеет сравнительно большую длину, При дефектах изготовления штока, деформации его от воздействия высоких температур и др, возникает трение тяги о внутреннюю поверхность штока, обусловливаощее помехи в измерении усилия, приводящее к ухудшению качества регулирования,Этот способ автоматического управления неприменим в бесштокоаых технологических установках, в которых используют вывод троса, к которому крепится затравка, из камеры выращивания через вакуумное уплотнение, Трение троса о вакуумное уплотнение искп 1 очает прецизионное измерение сил, приложенных к затравке растущего кристалла.Кроме того, известный способ автоматического управления технически трудно осуществить в технологических установках, в которых при вытягивании кристалла трос наматывается на барабан лебедки, т,к. в этом случае для измерения сил поипоженных к затравке растущего кристалла, необходимо взвешивать большегрузную лебедку с барабаном.Целью предпа. емого изобретения является улучшение качества регулирования процесса выращивания профилированных кристаллов,Поставленная цель достигается тем, что в способе автоматического управления процессом получения профилированных кристаллов из расплава, включающем регулирование технологических переменных процесса кристаллизации, например, температуры нагревателя, скорости вытягивания кристалла и других а зависимости от изменения площади или периметра ипи периметра поперечного сечения растущего кристалла, указанное изменение площади или периметра поперечного сечения растущего кристалла определяют по силе, приложенной к формообразователю, заглубленному в расплав.На чертеже представлена схема устройства, реализующего предложенный способ.Устройство содержит профилированный кристалл 1 (на чертеже труба), который выращивают в герметичной камере 2 из расплава, поступающего на рабочую поверхность формообразователя 3 по капиллярам 4 из тигля 5, рэзистианый нагреватель 6, трос 7, на нижнем конце которого закреп 5 10 15е 20 30 35 40 45 лен заправкодержатель 8, верхний конец троса закреплен на барабане 9 лебедки, который приводится во вращение приводом 10, тигель 5 перемещают вертикально вверх с помощью штока 11 и привода 12.Система автоматического регулирования включает силоизмерительное устройство 13-15, регулятор 16 температуры, регулятор 17 привода вытягивания кристалла барабан 9 лебедки), регулятор 18 привода перемещения тигля, корректирующий регулятор 19, датчик 20 скорости привода аытя иванля коисталла. Силоизмерительное устройство содержит датчик 13, помещенный в герметичный корпус 14 и слстему тяг 15, соединяющих датчик 13 с формообразователем 3,Способ автоматического управления процессом получения профилированных кристаллов осуществляется следующим образом. Формообразователь 4 заглублен в расплав и подвешен с помощью тяг 15 к датчику 13 силоизмеритепьного устройства. Выход,цатчика 13 подключен к входу корректирующего устройства регулятора 19, Ко второму входу этого регулятора подключен выход датчика 20 скорости привода вытягивания кристалла, По скорости привода вытягивания кристалла в корректирующем регуляторе 19 формлруется желаемая программа изменения во времени выталкивающей сипы, действующей на формообразоаатель 3, Лзменение выталкиваю.це: силы во времени зависит от площадл и периметра поперечного сечения растущего кристалла. По разностл сигналов датчика 13 силоизмеритепьного устоойства и желаемой программы з корректирующем регуляторе 19 опрецепяется управление регулятором ".6, 17, 18 температуры нагревателя 6, привода 10 вытягивания кристалла и поивода перемещения тигля 12.За базовый обьект принято устройство согласно прототипу.Формула изобретения Способ автоматического управления процессом получения профилированных кристаллов из расплава, включающий регулирование температуры нагревателя и скорости вытягивания кристалла в зависимости от изменения веса растущего кристалла и сил поверхностного натяжения, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью улучшения качества регулирования, изменение веса растущего кристалла и сил поверхностного натяжения, определяют путем измерения силы, приложенной к формообразователю, загпубленному в расплав,170012 Корректор М.Кучеряв А.3 робок Реда каз 4446 Тираж Подписное . 8 НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10 Сост Техр тель Г.КроткМ.Моргентал

Смотреть

Заявка

4733081, 26.05.1989

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ВСЕСОЮЗНЫЙ ЦЕНТРАЛЬНЫЙ НАУЧНО ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ КОМПЛЕКСНОЙ АВТОМАТИЗАЦИИ

АТАМАНЕНКО ВИТАЛИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ, КУЗЬМИНОВ КИРИЛЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЛЕЙБОВИЧ ВАЛЕРИЙ САМУИЛОВИЧ, МИТИН АЛЕКСЕЙ МИХАЙЛОВИЧ, СЕРЕДА АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ, СУХАРЕВ ВАДИМ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ТАЛЯТ-КЕЛПШ ВЛАДИМИР ВЛАДИМИРОВИЧ, ФЕДОРОВ ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ, АВЕРЬЯНОВ ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, ДУБИНИН НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ, ЕВТОДИЙ БОРИС НАУМОВИЧ

МПК / Метки

МПК: C30B 15/20

Метки: кристаллов, профилированных, процессом, расплава

Опубликовано: 23.12.1991

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1700112-sposob-avtomaticheskogo-upravleniya-processom-polucheniya-profilirovannykh-kristallov-iz-rasplava.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ автоматического управления процессом получения профилированных кристаллов из расплава</a>

Похожие патенты