Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СООЭ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК бб 1-:".,"33 И 5 Ия;"Д-;:;. ;,.; ,.Бс" а.ь,Я САНИЕ ИЗОБРЕТЕ ИДЕТЕЛ ЬСТВ К АВТОРСКОМ Устроиство содержит контролируемую асферическую линзу 3, компенсатор 4, обеспечивающий автоколлимационный ход лучей после отражения от зеркальной поверхности, и анализатор 5, содержащий осветительную, эталонную и регистрирующие ветви интерферометра, Контролируемая асферическая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка. Компенсатор установлен в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона. Контроль формы поверхности заключается в анализе интерференционной картины, получаемой в результате интерференции эталонного и рабочего волновых фронтов. Рабочий волновой фронт формируется после прохождения излучения дважды через оптические элементы, закрепленные в патроне. 1 ил. автоколлимационный ход лучей, К устройство содержит анализаторУстройство работает следующ зом. ме того,обра 1 С) ваю-ДьГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ФОРМЫ АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЛИНЗЫ ВПРОЦЕССЕ ЕЕ ОБРАБОТКИ(57) Изобретение относится к оптическомуприборостроению и предназначено дляконтроля формы асферических поверхностей линз в процессе их обработки, Цельюизобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства,Изобретение относится к оптическориборостроению. Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в серийном производстве,На чертеже представлена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленным на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой асферической линзой 3, которая обращена к гильзе предварительно обработанной асферической поверхностью, являющейся ее базой, Линзы 4 компенсатора закреплены в полой части патрона так, чтобы в полученной оптической системе была исправлена волновая аберрация, а также обеспечивался Оно уст щем станке ботка асфе обработки о румент и со ности линз анализатор 5 зуется осеет регистрирую тические эл патроне, явл ного интерф на. Сравнивнавливается на обрабать на котором производится обраической поверхности, После т нее отводится режущий инстстороны обработанной поверх 3 к устройству подводится В качестве анализатора испольительная (рабочая) эталонная и щая ветвиинтерферометра, Опменты 3 и 4, закрепленные в яются рабочей ветвью полученерометра типа Твайма на-Грия волновой фронт, выходящий1661604 Составитель В. Сячиновдактор Т. Юрчикова Техред М.Моргентал Корректор М, Кучерявая аказ 2117 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 о-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 роизводст из рабочей ветви, с эталонным фронтом, определяют разность хода лучейинтерференционной картины, которую наблюдают визуально или регистрируют на фотоприемнике, и по анализу интерференционной картины судят о качестве обработки асферической поверхности. В случае необходимости обработку целиком или по зонам можно продолжить после отвода анализатора из зоны действия обрабатывающего инструмента.Формула изобретения Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки, включающее точечный источник излучения, установленный перед контролируемой асферической линзой, компенсатор с зеркальной поверхностью и анализатор 5 волнового фронта, о т л и ч а ю щ е е с ятем,что, с целью повышения производительности контроля, контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе об рабатывающего станка, причем компенсатор установлен за контролируемой линзой в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона.
СмотретьЗаявка
4434339, 06.05.1988
МГТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
ПУРЯЕВ ДАНИИЛ ТРОФИМОВИЧ, ТУРЧКОВ МИХАИЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЕРМИЛОВ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ, ПОЛЕТАЕВ ВЛАДИМИР ВИКТОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 11/00
Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы
Опубликовано: 07.07.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1661604-ustrojjstvo-kontrolya-formy-asfericheskojj-poverkhnosti-linzy-v-processe-ee-obrabotki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки</a>
Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Номер патента: 1661603
Опубликовано: 07.07.1991
Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков
МПК: G01M 11/00
Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы
...обработанной сферической поверхностью, по.которой осуществлено ее базирование, В полой части патрона установлены источник 4 излучения, точечная диафрагма 5 и линзы б компенсатора так, чтобы в полвливается н оиэводится е окончания к я инструмент поверхности л ится микроско чку А, и на ис я питание, При рхности расчет зображения т тана ипр а обраба- обработоторой отсо стороинзы 3 к, сфокуочник 4 оотве ному знаочеч ной ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОбРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Технология оптическихМ. Н, Семибратов М,; 1085, с,Авторское свидетельствоМ 1569639, кл, 6 01 М 11/00,ученной оптическокомпенсатора и асла исправлены сУстройство содермикроскоп 7,Устройство разомУстройство устывающем станкека заготовки, послзаготовки...
Способ контроля формы асферической поверхности линзы
Номер патента: 1421991
Опубликовано: 07.09.1988
Авторы: Комраков, Лазарева, Пуряев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: асферической, линзы, поверхности, формы
...блок 1 формируетпучок лазерного излучения требуемой конфигурации, который после отражения от светоделителя 2 разделяется образцовой поверхностью пластины 3 на два пучка - объектный, который проходит через поверхность пластины 3, и опорный, который отражается от нее. Первоначально компенсатор 4 отсутствует и объектный пучок,проходит через иммерсионную жидкость 5,:контролируемую асферическую99 35 д 0 лируемой поверхностью линзы компен 45 где Ь - длина волны излучения;Х - допустимая погрешность формыконтролируемой поверхностилинзы50 вновь освещают контролируемую поверхность объектным световым пучком и регистрируют вторую интерферограмму , а корректировку интерферограммы выполняют вычитанием первой интерферо...
Интерферометр для контроля формы выпуклых поверхностей линз большого диаметра
Номер патента: 1059418
Опубликовано: 07.12.1983
Авторы: Горшков, Лихачев, Лозбенев, Мамонов, Пуряев, Фомин
МПК: G01B 9/02
Метки: большого, выпуклых, диаметра, интерферометр, линз, поверхностей, формы
...линзу, предназначенную для заполнения пространства между момпенсатором и неконтролируемой поверхностью линзы, и регистратор интерференционной картины, оптически.сопряженный с осветителем, снабжен оптичес.ким элементом, выполненным в виде двояковогнутой линзы с эталонными поверхностями,радиусы кривизны которых не равны друг дру.гу, компенсатор выполнен в виде двояковогнутой линзы, на одну иэ поверхностей которойнанесено отражающее покрытие, осветитель устанавливается со стороны контролируемой поверхности линзы, оптический элемент размещается между осветителем и контролируемой поверхностью линзы саосно линзе.с возможностью переворота на 180 в плоскости, проходящей через оптическую ось линзы, и ориентируется так, что обращенные друг к...
Способ установки сферических поверхностей линз
Номер патента: 276765
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Дюжиков, Золотое, Ливенский, Орлов, Харивуло
МПК: B24B 11/00, B24B 13/02
Метки: линз, поверхностей, сферических, установки
...поверхности контрольного эталона и креплении пх па основании приспособления, отлпкаюи(ийся тем, что, с целью уменьшения разброса лшз цо частоте (точности), детали устанавливают в оправках, зафиксированных на основании приспособления, а базовые и ориентирующие поверхности посадочных гнезд 20 30 Известны способы установки сферических поверхностей линз, например, кварцевых элементов резонаторов, при доводке и полировке, основанные на предварительной установке обрабатываемых деталей по вогнутой сферической поверхности контрольного эталона и креплении их на основании приспособления.Предложенный способ отличается от известных тем, что детали устанавливают в оправках, зафиксированных на основании приспособления, а базовые и ориентирующие...
Устройство для получения асферических поверхностей оптических даталей
Номер патента: 701772
Опубликовано: 05.12.1979
МПК: B24B 13/00
Метки: асферических, даталей, оптических, поверхностей
...следующим образом, Корпус 1 предварительно устанавлива-.ют относительно станины 9 так, чтобы эластичный элемент 7 из резины или резиноподобных35 материалов мягко контактировал с периферии- ной поверхностью заготовки 8, а поверхность подушки 5, выставленная без биения относительно оси вращения планшайбы 4 и закрепленная на.ней, совмещалась с поверхностью заготовки, являясь продолжением ее геометрической формы.Инструменту 10 через пиноль 11, вал .13,клиноременную передачу, шкив 18, которой смонтирован на валу, и каретку 16 сообщают45перемещение от программного механизма по меридиональному сечению асферизуемой поверх.ности и плоско-параллельное круговое движение с эксцентриситетом "е" вокруг оси вала 13, кроме этого он совершает...
Предыдущий патент: Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Следующий патент: Стенд для испытаний транспортных средств
Случайный патент: Электронагревательное устройство с термовыключателем