Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛ ИСТИ Ч Е СК ИХРЕСПУБЛИК 166160(5115 6 11/00 ОПИСАН ОБРЕТЕНИЯ ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ процессе обработки в условиях серийного производства. Устройство содержит источник 4 излучения, точечную диафрагму 5, компенсатор б, контролируемую линзу 3 и анализатор 7 оптического иэображения. Контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка, причем компенсатор, диафрагма и источник излучения установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенса 1 ора совмещены с осью вращения патрона. Контроль асферической линзы заключается в анализе изображения точечной диафрагмы после прохождения от источника через оптическую систему, состоящую из компенсатора и контролируемой линзы, В качестве анализатора может быть использован микроскоп.1 ил,В.И. Ермилов деталей, Ред54, 221,СССР09.03,88,54) УСТРОЙСТВ ФЕРИЧЕСКОЙ П ПРОЦЕССЕ ЕЕ О (57) Изобретение приборостроени контроля асферич обработки, Целью вышение произв О КОНТРОЛЯ ФОРМЫ АСОВЕРХНОСТИ ЛИНЗЫ В БРАБОТКИотносится к оптическому ю и предназначено для еских линз в процессе их изобретения является поодительности контроля в У) С: системе, саста ерической лин ерическая абе жит также ана Изобретение относится к оптическомриборостроению,Целью изобретения является иие производительности контроля в ибработки вусловиях серийного прои щеи иэ ыЗ,бырация. изаторовышероцессе зводстНа чертеже изображена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленной на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой и контролируемой асферической линзой 3. Линза обращена к гильзе предварительно обработанной сферической поверхностью, по.которой осуществлено ее базирование, В полой части патрона установлены источник 4 излучения, точечная диафрагма 5 и линзы б компенсатора так, чтобы в полвливается н оиэводится е окончания к я инструмент поверхности л ится микроско чку А, и на ис я питание, При рхности расчет зображения т тана ипр а обраба- обработоторой отсо стороинзы 3 к, сфокуочник 4 оотве ному знаочеч ной ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОбРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Технология оптическихМ. Н, Семибратов М,; 1085, с,Авторское свидетельствоМ 1569639, кл, 6 01 М 11/00,ученной оптическокомпенсатора и асла исправлены сУстройство содермикроскоп 7,Устройство разомУстройство устывающем станкека заготовки, послзаготовки отводитны обработаннойустройству подводсированный на тоизлучения подаетсствии формы повечению размер л отает следующлм абра1661603 Составитель В, Сячиновдактор Т, Юрчикова Техред М,Моргентал Корректс Заказ 2117 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5твенно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Прои диафрагмы 5 должен иметь минимальную величину. По увеличению размера изображения или по изменению его формы судят об отклонении формы асферической поверности от расчетной. Применение кольцевых диафрагм, которые устанавливают между анализатором 7 и линзой 3, позволяет сурить о местных ошибках формы поверхности и линзы в целом, При обнаружении йогрешностей анализатор отводят из зоны рбработки и производят доводку асферической поверхности линзы 3. Вместо микроскопа в качестве анализатора может спользоваться решетка Ронки с экраном или подвижные решетки с экраном, О качестве линзы судят по анализу ронкиграмм Йли муаровой картины,Формула изобретения Устройство контроля формы асферической поверхности линзы впроцессе ее обработки, включающее точечный источник 5 излучения, компенсатор, установленные перед контролируемой асферической линзой, .и анализатор качества изображения за ней, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности контроля, 10 контролируемая линза закреплена в гильзе,жестко соединенной с патроном, закрепленным на шпинделе обрабатываемого станка, причем компаратор и тбчечный источник установлены в полой части патрона, 15 а оптические оси контролируемой линзы икомпенсатора совмещены с осью вращения патрона.
СмотретьЗаявка
4434339, 06.05.1988
МГТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА
ПУРЯЕВ ДАНИИЛ ТРОФИМОВИЧ, ТУРЧКОВ МИХАИЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ЕРМИЛОВ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ, ПОЛЕТАЕВ ВЛАДИМИР ВИКТОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 11/00
Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы
Опубликовано: 07.07.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1661603-ustrojjstvo-kontrolya-formy-asfericheskojj-poverkhnosti-linzy-v-processe-ee-obrabotki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки</a>
Предыдущий патент: Стенд для испытания гидроаппаратуры
Следующий патент: Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки
Случайный патент: Приспособление к горелке бытовой газовой плиты