Способ определения постороннего аниона, например fи sif2-,

Номер патента: 176473

Авторы: Казаков, Шлугер

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических Республиктельства Ъо ависимое от авт,101/26-25) аявлено 09,Х.1963 (присое;пшеьием заявкириорптетпубликовано 02.Х.1965 48 а, 6 МП Госудврственныи комитет по делам изобретений и открытий СССРУДК 621.35:543 юллетень Ло 088 та опубликования описания 15.1.1966 Авторыизобретейи М. А. Шлугер и В, А. Казак итель ЕНИЯ ПОСТОРОННЕГО АН ИОНА, и ЯРг - В ЭЛЕКТРОЛИТАХЛЯ ОСАЖДЕНИЯ ХРОМА Б ОПРЕДЕЛ АПРИМЕР Г 6 200 г/л . Катоддля 2 -моменту есс идет реакции кообразпосле чеет изобретени стороннего аниона, электролитах для ованием кривой изиала во времени в кривой, а в качектролита - времеполяризующего томенения величины отличающийся тем, очности измерения, а в пробу электрочество сульфатов,Подписная группаИзвестныи спосоо определения концентрации аниона 504 в электролите для хромирования с использованием кривой изменения катодного потенциала во времени в качестве поляризационной кривой, а в качестве критерия состава электролита - времени от момента включения поляризующего тока до момента резкого изменения величины катодного напряжения для анализа других посторонних ионов, например Р - и ЯР,2 в , неприменим, так как протяженность участка сне на осциллограмме потенциал - время очень мала.При изучении растворов с различными типами анионов было установлено, что при добавлении к электролиту, уже содержащему сульфат в качестве постороннего аниона, других анионов, например Р, 51 Р- , протяженность участка с/е на осциллограмме увеличивается пропорционально концентрации вновь добавляемого аниона.Отличительной особенностью предлагаемого способа является то, что перед проведением анализа в пробу электролита вводится заданное количество сульфатов (2 - 3 г/л).На фиг, 1 схематически изображена осцил 25 лограмма потенциал - время; на фиг. 2 - график, показывающий зависимость протяженыости участка де на осциллограммах от концентрации анионов 1 - Р и 2Первоначальный состав электролитаСгО и 2 г/л НЯО 4, температура 20 Сная плотность тока для 1 - 20 а/дм 2,15 а/дл 2.Точка 6 (фиг. 1) соответствуетвключения тока. На участке с/е процпри потенциале, отвечающем течениюСг 6 -+-Сгз, В точке е потенциал скачно смещается до значения в точке /,го начинается осаждение хрома.Длительность анализа 5 - 7 лшн. Способ определения понапример Р и ЯР 6 - , восаждения хрома с использменения катодного потенцкачестве поляризационнойстве критерия состава элени от момента включенияка до момента резкого изкатодного напряжения,что, с целью повышения тперед проведением анализлита вводят заданное колиему г. иг Составитель Н. КашиноваТехред Т. П. Курилко Корректоры: С. Н. СоколоваГ. П. Зимин бова едактор ипография, пр. Сапунова Заказ 3780/1 ЦНИИПИ ираж 1725 Формат бум. 60)(908 Обьем 0,16 изд. л,сударственного комитета по делам изобретений и открыт Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 на 5 копСССР

Смотреть

Заявка

856101

М. А. Шлугер, В. А. Казаков

МПК / Метки

МПК: C25D 21/14

Метки: sif2, аниона, например, постороннего

Опубликовано: 01.01.1965

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-176473-sposob-opredeleniya-postoronnego-aniona-naprimer-fi-sif2.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения постороннего аниона, например fи sif2-,</a>

Похожие патенты