Патенты с меткой «sif2»

Номер патента: 176473

Опубликовано: 01.01.1965

Авторы: Казаков, Шлугер

МПК: C25D 21/14

Метки: sif2, аниона, например, постороннего

...величины катодного напряжения для анализа других посторонних ионов, например Р - и ЯР,2 в , неприменим, так как протяженность участка сне на осциллограмме потенциал - время очень мала.При изучении растворов с различными типами анионов было установлено, что при добавлении к электролиту, уже содержащему сульфат в качестве постороннего аниона, других анионов, например Р, 51 Р- , протяженность участка с/е на осциллограмме увеличивается пропорционально концентрации вновь добавляемого аниона.Отличительной особенностью предлагаемого способа является то, что перед проведением анализа в пробу электролита вводится заданное количество сульфатов (2 - 3 г/л).На фиг, 1 схематически изображена осцил 25 лограмма потенциал - время; на фиг. 2 -...