Способ приготовления стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа элементов-примесей в твердых природных материалах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1633319
Авторы: Галактионов, Шилоносов
Текст
(5)5 0 01 Й 1/ И И ОГО ЛЕ- РИдетах Сб ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Уральский научно-исследовательский ипроектный институт медной промышленности "Унипромедь"(56) Атаманов С,П. и др, Исследование минералов медно-никелевых и колчеданных рудметодами лазерного локального спектрального анализа. - Сб.: Методы изучения состава и свойств минералов и горных породКольского полуострова. Апатиты, 1980,с. 60-64,Гайдман Б.М. Количественное опреление никеля, кобальта и хрома в магнетина лазерном микроанализаторе МАА. -Изобретение относится к области локального анализа химического элементного состава твердых природных материалов, в частности к способам приготовления стандартных образцов, и может быть использовано в цветной и черной металлургии, геологии, минералогии,Целью изобретения является повышение точности анализа.Сущность способа заключается в следующем,Подбирают природные материалы, аналогичные исследуемым и свободные от анализируемых примесей. Затем материалы шлифуют и очищают их поверхность. После этого наносят на обработанную поверхность анализируемые примеси тонким равномерным по толщине слоем, не превышающим 0,5 м км (примерно 1 оь от Методы спектрального анализа минераль-.ного сырья, Новосибирск, 1984, с, 78-80.(54) СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ЛАЗЕРН МИКРОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА Э МЕНТОВ-ПРИМЕСЕЙ В ТВЕРДЫХ П РОДНЫХ МАТЕРИАЛАХ(57) Изобретение относится к локальному анализу химического элементного состава твердых природных материалов. С целью повышения точности анализа в способе приготовления стандартных образцов, включающем подбор природного ма 1 эриала, аналогичного исследуемому и свободного от определяемых примесей. и введение примесей, примесь наносят на поверхность материала. 2 табл. глубины взаимодействия лазерного импульса с поверхностью образца) и не вносящим существенных изменений в условия взаимодействия, Измеряя толщину нанесенного слоя, диаметр и обьем кратера, образовавшегося в результате взаимодействия лазерного импульса с поверхностью образца, рассчитывают процентное содержание определяемого элемента в продуктах лазерной эрозии, Рассчитанные концентрации затем используют для построения градуировочных графиков,П р и м е р . Изготовление стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа никеля в пиритах. Иэ образцов пирита, предварительно проверенных на отсутствие никеля, готовили шлифы, на которые затем методом вакуумного напыления наносили тонкий слой никеля.. Юрковецкая Техред М,Моргенгал Корректор В. Гирняк Редак каэ 613 Тираж 390 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС113035, Москва, Ж, Раушская наб . 4/5 1 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород, ул,Гагарина 101 Напыление проводили на установке ВУПпри вакууме 5 ф 10мм рт,ст, Никелевая проволока испарялась из вольфрамовой спирали. Толщину напыления контролировали по предварительно отградуированному датчи ку. Приготовленные стандартные образцы были проанализированы на равномерность распределения никеля по поверхности. Результаты представлены в табл. 1. 10Для оценки точности предложенного способа и способа по прототипу несколько образцов пирита с известным содержанием никеля и равномерным распределением его по поверхности были проанализированы 15 тем и другим способами. Результаты представлены в табл, 2. Иэ табл, 2 видно, что известный способ дает систематически заниженные результаты, Среднее отклонение в предложенном способе почти в 3 раза меньше, чем в способе по прототипу. Формула изобретения Способ приготовления стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа элементов-примесей в твердых природных материалах, включающий подбор природного материала, аналогичного исследуемому и свободного от определяемых примесей. и введение примесей, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности анализа, примесь наносят на поверхность материала,
СмотретьЗаявка
4666587, 24.03.1989
УРАЛЬСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНЫЙ ИНСТИТУТ МЕДНОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ "УНИПРОМЕДЬ"
ШИЛОНОСОВ ИГОРЬ ЛЕОНИДОВИЧ, ГАЛАКТИОНОВ АЛЕКСАНДР ДМИТРИЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28
Метки: анализа, лазерного, материалах, микроспектрального, образцов, приготовления, природных, стандартных, твердых, элементов-примесей
Опубликовано: 07.03.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1633319-sposob-prigotovleniya-standartnykh-obrazcov-dlya-lazernogo-mikrospektralnogo-analiza-ehlementov-primesejj-v-tverdykh-prirodnykh-materialakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ приготовления стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа элементов-примесей в твердых природных материалах</a>
Устройство для анализа образца на скрытую фекальную кровь
Номер патента: 1480777
Опубликовано: 15.05.1989
МПК: G01N 33/48
Метки: анализа, кровь, образца, скрытую, фекальную
...вид сзади; на Фиг. 5 - то же, с поднятой задней заслонкой, вид сзади; на фиг. 6 - заготовка с передней панелью другого типа, внд свру; на фиг7 - пластинка, вид спереди; на фиг. 8 - то же, вид сзади; на Фиг.9-12 "пластинка,которая показывает отрицательную,положительную реакцию анализа и недостоверный результат. 25Устройство для анализа образца" на скрытую Фекальную кровь содержит верхнюю пластину 1 с отверстиями 2, крышку 3, нижнюю пластину 4, промежу точный лист 5, контрольные зоны 6.Устройство работает следующим образом. После открывания крышки Э наносится тонкий мазок фекала на промежуточный лист 5 через одно из отверстий 2. Аналогично наносится второй мазок через другое отверстие 2, Крышка Э закрывается. На контрольные зоны 6...
Способ анализа неорганических примесей в газах
Номер патента: 1347006
Опубликовано: 23.10.1987
Авторы: Аратскова, Баскин, Орлов
МПК: G01N 30/48
Метки: анализа, газах, неорганических, примесей
...к аналитической химии, а именно к способам анализа неорганических примесей в газах, и может быть использовано при анализе воздуха производственных помещений.Цель изобретения - повьшение чувствительности, точности и упрощение способа.П р и м е р 1. Через колонку, за" полненную ионообменным волокнистым материалом марки ВИОН АН, представляющим собой сополимер акрилонитрила с 2,5-винилпиридином, длиной 50 мм и внутренним диаметром 6 мм, пропускают газовый поток, содержащий примеси НГ и НС 1. Расход газа составляет 25 л/ч, сорбцию проводят около 2 ч. После этого производят десорбцию водой сконцентрированных примесей, расход воды 2 мл/мин, время десорбции около 10 мин. Поток воды. пропускают через анионообменную разделительную,...
Способ создания образцов сравнения для лазерного и вторично ионного масс-спектрометрического количественного анализа примесей на поверхности кремния и структур на его основе
Номер патента: 1756827
Опубликовано: 23.08.1992
Авторы: Изидинов, Назаров, Разяпов
МПК: G01R 1/00
Метки: анализа, вторично, ионного, количественного, кремния, лазерного, масс-спектрометрического, образцов, основе, поверхности, примесей, создания, сравнения, структур
...и (2)величинами концентрации примеси в интервале 10-10 5 мас.0 в исходном расгворе.Предлагаемый способ характеризуютследующие свойства:простота операций, общедоступностьлабораторного оборудования и оснасткидля создания ОС;простота и точность регулирования впределах не менее 4 порядков содержайиястандартизируемого элемента-примеси;возможность высокой точности прогнозирования содержания примеси и направлейного его изменения на основе простогосоотношения, параметры которого мотутбыть найдены путем простых расчетоввследствие высокой восп роизводймостисвойств матрицы из СПК;тонкая структура и равномерное распределение микропор (обусловливает равномерное распределение примеси пообъему СПК);большая толщина СПК (100 - 200 мкм);что позволяет...
Способ приготовления твердого стандартного образца на основе сульфида металла для определения содержания сероводорода
Номер патента: 1575091
Опубликовано: 30.06.1990
МПК: G01N 1/28, G01N 31/00
Метки: металла, образца, основе, приготовления, сероводорода, содержания, стандартного, сульфида, твердого
...И ОТКРЫТИ И ГННТ СССР(56) Уильямс У,Дж. Опреденов, М,: Химия, 982, с. 54) СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ТВЕРДОГО ТАНДАРТНОГО ОБРАЗА НА ОСНОВЕ СУЛЬФИДА МЕТАЛЛА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕ 1 П 1 Я СОДЕРЖА 1 П 1 Я ЕРОВОДОРОДА нении,П р и м е р, В насыщенный раствор ацетата кадмия в этаноле а1 л вносят при энергичном перемешивании раствор, полученный при0,3 л насыщенного раствора хлориданатрия в 10%-ном водном растворе триэтаноламина и 1 мл ЗХ-наго растворасульфида натрия, Выпавший осадок отфильтровывают на воронке под вакуумом,промывают этанолам, высушивают прикомнатной температуре, затем в сушильном шкафу при 50-70 С до постоянноговесаСодержание сульфид-иона в образотносится к способардь 1 х стандартныхе сульфида металлаодержания сероводороляет повысить устои...
Способ локального анализа газообразующих примесей в твердых веществах
Номер патента: 687930
Опубликовано: 30.05.1992
Авторы: Вассерман, Зуев, Кулаков, Кунин, Михайлова
МПК: B01D 59/44, G01N 27/62
Метки: анализа, веществах, газообразующих, локального, примесей, твердых
...образец и рядом с нимэталон из того же или близкого посвоим физико-механическим свойствамматериала, с заранее введенным в негоизотопом определяемого элемента, отличным от природного (например, сдействием, в случае локального определения водорода). ОЬщее содержание определяемого элемента и его изотопный Осостав в эталоне известны или могутбыть определены перед началом эксперимента тривиальными методами. ЗатеиОЬлучают одновременно микроучасткиОбоих образцов Одинаковыми потоками г 5энергии (например, световой, вводимой через оптическое окно от ОКГ(0,1-1 Дж, в течение 200 мкс). Изме ряют изотопный состав определяемогоэлемента в газовой фазе камеры К,ОЬразовавшийся в результате выделенияи перемешивания газов из...
Предыдущий патент: Способ получения клеток костного мозга для цитологического исследования
Следующий патент: Образец для определения содержания водорода в алюминии и его сплавах
Случайный патент: Способ изготовления коллектора электрической машины