88614
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 88614
Текст
"-щ 3:" ЕНИЯ " ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ. Г. Дра вский СМА Л ЛУБОКОЙ ВЫТ И ЧЕККИ Л ИСТОВ ЫХ МЕТАЛЛОКИ 49 г. за408191у СССРи товарных знаков10 за 1964 г. Заявлено 3 декабряв Гостехник Бюллетене изобретенийпубликовано я, правильно подобранная смазка имее глубокой вытяжки листового металл и при изготовлении деталей из высок меняемых в промышленности для из контуров деталей высокоскоростных ные смазки не отвечают п е ъявл Активна для процесса и в частност сплавов, при и наружных атов, Извебольшое значение и чеканки вообще прочных листовыхсиловых летательных аппамым к ним требометаллов и 9 и алюмив ее состав ого мыла и деформацию ме. штамповке, значи- ность процесса и полированной пона рабочую о позволяст анок). Смаздмет изобретения кой вытяжки листовых металлов и чеканки, натали марок ЗОХГСА, ЭНи алюминиевых спла- -8 и др., отличающаяся тем, что в ее состав нического вазелина, 30 о хозяйственного мыла и Смазка для глу пример для чеканкивов марок АКи А входит около 65% т 5l, стеарина,р ст рд яеваниям.Описываемая смазка для глубокой вытяжки листовыхчеканки, например для чеканки стали марок ЗОХГСА, ЭНниевых сплавов марок АКи АК, отличается тем, чтовходит около 65% технического вазелина, 30% хозяйствен5% стеарина.Предлагаемая смазка облегчает пластическуюталла, сокращает число переходных операций прительно понижает усилие вытяжки, обеспечивает плавспособствует образованию и сохранению гладкой иверхности на металлическом изделии,Смазку пульверизатором легко наносят тонким слоемчасть инструмента и деформируемую часть заготовки. Этбез повторного нанесения производить 4 - 5 вытяжек (чекка легко смывается.
СмотретьЗаявка
408191
МПК / Метки
МПК: C10M 169/04
Метки: 88614
Опубликовано: 01.01.1950
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-88614-88614.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">88614</a>
Предыдущий патент: Способ получения граммофонной пластинки
Следующий патент: Способ получения борида кальция и свободного бора
Случайный патент: Устройство для измерения параметров микросхем