Способ измерения удельного заряда частиц

Номер патента: 1326100

Автор: Айзенцон

Описание

Способ измерения удельного заряда частиц по авт.св.N 1134043, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерений количественного содержания компонентов в анализируемом веществе и уменьшения помех для наблюдения спектра при качественном определении его состава, дополнительно осуществляют фокусировку компонентов и измерения их тока на дополнительный коллектор, а регулирование напряжения U1 между пластинами отклоняющей системы осуществляют в соответствии с выражением
,
где U1I - ускоряющее напряжение, В;
d - диаметр входного отверстия дополнительного коллектора, м;
h - расстояние между пластинами, м;
b - длина пластин, м;
L - расстояние от коллектора до центра отклоняющей системы, м.

Заявка

3975368/21, 14.10.1985

Айзенцон А. Е

МПК / Метки

МПК: H01J 49/30

Метки: заряда, удельного, частиц

Опубликовано: 20.01.2000

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1326100-sposob-izmereniya-udelnogo-zaryada-chastic.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения удельного заряда частиц</a>

Похожие патенты