G01R 31/28 — испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала

Номер патента: 1805470

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Вдовиченко, Вишняков, Павлив

МПК: G01R 31/28, G06F 11/00

Метки: блок, блоков, выходной, тестера, цифровых

...22 принимается шифратором 1,Значение третьего состояния на входешифратора 1 кодируется им как "1","0", логической единицы - как "1", "1" и логического нуля - как "0", "0", Результат фиксируетсяв регистре 13 с помощью строба на входе 19,местоположение которого внутри такта выдачи данных можно менять,На фиг.2 показан фрагмент цифровой 35последовательности (фиг.2,6) от О К 22 и двапримера поступления строба, Если фронтыреального сигнала значительно отличаютсяот эталонного (фиг,26, пунктир), то цифровой код; формируемый шифратором 1, будет 40также отличаться от эталонного и квалифицироваться как ошибочный (фиг,2,6),Изменяя при разных проверках местонахождение строба, можно добиться эталонной цифровой последовательности (сдвиг 45по времени в...

Номер патента: 1809398

Опубликовано: 15.04.1993

Автор: Козлов

МПК: G01R 31/28

Метки: больших, интегральных, схем, функционального

...контроля.Вычислительный блок 24 служит для долговременного хранения информации - программ контроля в ОЗУ ЭВМ 26, передачи этой информации через блок 25 согласования (интерфейс) в блок 20 тестовых последовательностей, блок 21 синхронизации, а также для обработки результата контроля, поступающего с выхода блока 22 памяти. В качестве вычислительного блока 24 применен вычислительный комплекс "Электроника МС 0102",Работа устройства при контроле БИС по одному выводу происходит следующим образом,В контактный блок 18 помещается контролируемая БИС. Перед началом работы из вычислительного блока 24 производится запись информации в блок 20 тестовых последовательностей и в блок 21 синхронизации. В блок 21 синхронизации заносится информация о...

Номер патента: 1817047

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Бражников, Киселев, Назарова, Ярцев

МПК: G01R 31/28

Метки: аппаратуры, модуля, работоспособности, радиоэлектронной, тракта, усилительного

...импульса на выходе элемента НЕ 7 и входе "б" элемента ЗАПРЕТ 13 появится "логический 0", а на входе "а" и выходе элемента ЗАПРЕТ 13 через время та 2= тн появится "логическая 1" с выхода элемента 8, которая перебросит ВЯ-триггер 17 и вызовет загорание индикатора 22, свидетельствующего о том, что длительность контролируемого импульса больше нижнего допуска, Через время таз =гном+ тауаы- Ьг, после окончания действия импульса с линии задержки 8, на входе Я триггера 17 будет "логический 0", на входе В - "логическая 1", индикатор 22 погаснет, затем процесс повторяется вновь. Также по переднему фронту импульса срабатывает компаратор 10, настроенный на нижний допуск по амплитуде, и "перебросит" триггер 19 в единичное состояние, индикатор 24,...

Номер патента: 1132686

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Красножон, Сухоруков

МПК: G01R 31/28, H01L 21/66

Метки: бис, мдп, многопороговых

...и определение их токов стока,на затворы обоих транзисторов подаютодинаковое напряжение и одновременноизменяют его до момента равенстватоков стока транзисторов, а годность)1 ЛП БИС определяют путем сравненияполученных значений тока стока инапряжения затвора с номинальнымизначениями, при этом параметры транзисторов тестовой ячейки выбираютиз соотношения:"д 11 П ) ) 0(),где 1 11 - пороговое напряжениепервого и второготранзисторов соответственно;- крутизна первого ивторого транзисторовсоответственно.1 Ь чертеже изображены переходныехарактеристики двух МДП-транзисторов с различной крутизной: с индуцированным каналом (поз.1) и встооенным кзналом (поз,2) д-типа в ркремнии, показанные с учетом технологического разброса пороговогонапряжения...

Номер патента: 1827652

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Козлов, Кураченко, Наумов, Прохоренко, Чуварыгин

МПК: G01R 31/28

Метки: бесконтактного, диагностирования, интегральных, логических, состояний, схем, цифровых

...проводились с использованием осциллографа С 1-99 с коаксильным кабелем РКи выходным сопротивлением 1 мОм. Эпюры напряжений, снятых с осциллографа приведены на фотографии (фиг. 8), где развертка А - соответствует импульсу на выводе элемента 2 ИНЕ, развертка Б - сигнал, снимаемый с датчика,Выбор датчика, состоящего из 3-х витков объясняется компромиссом между сложностью конструкции датчика и собственной резонансной частотой контура, т.к. увеличение числа витков приводит к увеличению Ь, росту Ск и, следовательно, к уменьшению резонансной частоты 1 рез и снижению требований к широкополосности и быстродействию последующих устройств. Переколебательный процесс контура ударного возбуждения при необходимости можно демпфировать, введением...

Номер патента: 1829017

Опубликовано: 23.07.1993

Автор: Нерезенко

МПК: G01R 31/28

Метки: диодно-емкостных, неразрушающего, одиночных, отказов, последовательного, типа, умножителей, элементов

...при обрывеконденсатора С 4 последнего каскада умножителя на 1 Ч-ом этапе исследования; на фиг.21 - ВАХ 1 исправного умножителя и ВАХ 2,которая совместно с ВАХ 2 на фиг. 18 указывает на обрыв конденсатора Сз, а совместнос ВАХ 2 на фиг. 19 - на обрыв конденсатораС 2 на И-ом этапе исследования,Все ВАХ, представленные на фиг, 7,21,выполнены в масштабе А =0,2 мА/дел., ЛО== 100 В/дел.Изобретение относится к способам контроля качества и надежности путем измерения электрических свойств изделий ихаоактеризуются следующими признаками:- наличием совокупности действий - создание определенных условий, снятиевольт-амперных хаоактеристик исправныхизделий и изделий с дефектами, выбор информативных параметров методом распознавания образов и оценка...

Номер патента: 1835524

Опубликовано: 23.08.1993

Авторы: Иванов, Кучер, Соловьев, Хаскин

МПК: G01R 31/28

Метки: измерительных, систем

...измерительная система производит измерения циклически. Подключив все датчики, вошедшие в список,записанный в запоминающем устройстве18, процесс измерения сразу же повторяется, Очередной цикл измерений начинаетсяс измерения напряжения ИОН 10, т,к, вячейке запоминающего устройствэ 18 с нулевым адресом записан номер этого канала.После того как блок упранлен,1 я 6 передаст в коммутатор номер канала, к которомуподключен ИОН. и сформирует команду" Пуск коммутатора". который в свою очередь по завершении процедуры подключения канала сформирует и передаст черезлинию задержки 5 команду "Пуск АЦП", ввыходном регистре АЦП 4 после завершения и роцедуры преобразования будет зафиксирован результат измерения напряженияИОН, а в это же...

Номер патента: 1837244

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Иванов, Манько, Новиков, Самошкин, Соловьев, Тарашкевич, Шаповал

МПК: G01R 31/28

Метки: аппаратуры, диагностирования, электронной

...иа фиг,6, Счетчик 10 состоит из двухсчетчиков 28 и 29, где выход переполнения28 счетчика 28 подключен к суммирующемугвходу 29 счетчика 29, а информационныеоыходы счетчиков 28 и 29 - к выходам 10 и 45110 счетчика 10 соответственно, суммирующий вхор 28 счетчика 28 подсоегдинеквходу 10 счетчика 10, а его вкод 28 обнуления - к входу 29 обнуления счетчика 29 игвходу 10 счетчика 10. Счетчики 28 и 29 собраны на ликросхемах 555 ИЕ 7.Блок 3 начальной установки и блок 4пуска собрана по стандартной схеме на ВЯтриггерах, предотвращающей дребезг контактов клавиш начальной установки и пуска, 55выведенных на внешние панели этих блоков.Аналоговый коррелятор 5 представляет из себя стандартный прибор заводского изготовления типа "Х 6-4",Работа...

Номер патента: 1838796

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Гаськов, Гирлин

МПК: G01R 31/28, G01R 31/318

Метки: больших, интегральных, схем, функционального

...происходит сравнение выходного сигнала с микросхемы с логическими уровнями "1" и "О". задаваемыми источниками 21, 22 опорных напряжений, Сравнение сигнала проверяемой микросхемы с опорным уровнем осуществляется в момент прихода сигнала стробирования компаратора с управляющих входов 24 (фиг, 2, в) или 25 (фиг. 2, г),Пусть п-й импульс синхронизации установил счетный триггер 18 в состояние, когда на прямом выходе счетного триггера 18 устанавливается нуль, а на инверсном - единица (фиг, 2, д, е). При этом и-й импульс синхронизации, проходя через элемент И 19, формирует импульсы сброса элементов памяти 10, 12, устанавливая на их выходе состояние "ГОДЕН" (логическая "1" на выходе элемента памяти) (фиг, 2, з), Задержанный элементом...

Номер патента: 1839241

Опубликовано: 30.12.1993

Авторы: Воеводин, Воронков

МПК: G01R 31/28

Метки: влаги, интегральных, корпусах, обнаружения, схем

...температур в нижней части корпуса ИС, к которой примыкает кристалл с внутренней стороны, и верхней части корпуса. При охлаждении нижней части корпуса и кристалла до точки росц на ее внутренней стороне и поверхности структуры происходит преимущественное осаждение влаги иэ внутрикорпусного объема. Осаждаемая влага выделяет тепло, стабилизирующее температуру поверхности структуры около точки росы Тр.Термочувствительный параметр (ТЧП) Орд характеризует температуру Т приповерхностного слоя структуры. Модуль его производнойОпрУменьшается в области точки росы (Т = Тр) и увеличивается при ТТр, когда процесс осаждения влаги в основном завершен. На двухкоординатном самописце 5 регистрируют зависимость -Ооряц от Одрях(криваяна фиг,1), которой...

Номер патента: 1839242

Опубликовано: 30.12.1993

Авторы: Елагин, Сырых

МПК: G01R 31/28, G01R 31/318

Метки: логический, пробник

...логические уровни "О" и "1", уровень "запрещенной зоны" на обоих входах. Кроме того, пробник позволяет уловить прохождение коротких одиночных импульсов и определить серию импульсов, Определение состояния иссле. дуемых точек производится по высвечиванию на индикаторе 11. Верхняя часть индикатора используется для индикации информации с "Входа 1",; , нижняя - с "Входа 2" :, причем средний сегмент является общим для обоих входов, Цифры," или ь на любой из частей индикатора означают логическое в исследуе:ой точке, знакозначает значение потенциала в пределах запрещенной зоны или обрыв цепи. Питание подводится к схеме пробника от проверяемого устройства. При неправильной подаче питания смена полярности) диод 14 защищает элементы схемы,...

Номер патента: 2005308

Опубликовано: 30.12.1993

Авторы: Катеринич, Курин, Онопко, Оспищев, Попов

МПК: G01R 31/26, G01R 31/28

Метки: испытаний, микросхем, моп-интегральных, пластине, ускоренных

...достижения сходного эффекта за счет отказа от установления связи коэффициента жесткости с плотностью ПС и сроком службы по току в подложку ИМС в патентной и научно-технической литературе не найдено. Сущность изобретения заключается в том, что ускоренные испытания на надежность МОП ИМС проводятся до разрезания пластины на кристалль 1 на основе установленной для данного типономинала изделия зависимости между вероятностью отказа при воздействии ИИ от уровня дозы ИИ в операции обучение - низкотемпературный отжиг, Контроль стандартных параметров МОП ИМС проводится до и после операции облучение-отжиг в режимах и условиях, указанных в ТУ для испытаний на надежность,Такой способ ускоренных испытаний обеспечивает сокращение длительности испытаний...

Номер патента: 1443593

Опубликовано: 15.08.1994

Авторы: Перфилов, Фролов, Хатунцев

МПК: G01R 31/28

Метки: микросхем, фоточувствительных

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ с зарядовой связью, заключающийся в том, что на испытуемую микросхему подают напряжение питания, формируют в регистре испытуемой микросхемы чередующиеся пустые и заполненные зарядовые пакеты, регистрируют выходной сигнал микросхемы, определяют коэффициент передачи модуляции, по величине которого судят о пригодности испытуемой микросхемы, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени контроля, формирование пустых и заполненных зарядовых пакетов осуществляют электрической инжекцией заряда в ячейки регистра испытуемой микросхемы.

Номер патента: 1385806

Опубликовано: 15.12.1994

Авторы: Хмарцев, Юсупов

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, испытаний, микросхем, цифровых

СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ, предусматривающий создание форсированной нагрузки испытуемой интегральной микросхемы, путем подачи на ее выводы переменного электрического напряжения и контроля правильности ее функционирования, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности испытаний, на входы испытуемой интегральной микросхемы подают постоянное электрическое смещение и устанавливают амплитуду переменного электрического напряжения в пределах переходного участка входной переключательной характеристики интегральной микросхемы, контролируют амплитуду выходного сигнала микросхемы, увеличивают частоту до значения, при котором амплитуда выходных сигналов микросхемы находилась в пределах переходного участка выходной...

Номер патента: 1417613

Опубликовано: 15.12.1994

Авторы: Хмарцев, Юсупов

МПК: G01R 31/28

Метки: интегральных, микросхем, цифровых

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ, заключающийся в том, что на контролируемую интегральную микросхему подают напряжение питания, формируют тестовое воздействие на логические входы интегральной микросхемы, регистрируют возникающие при этом выходные сигналы, сравнивают их с эталонными сигналами и по результату сравнения судят об исправности интегральной микросхемы, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности и сокращения длительности контроля, на все электрически связанные между собой входы интегральной микросхемы подают постоянное электрическое смещение и сигналы переменного напряжения при различном сочетании фазовых и амплитудных соотношений на различных входах, выбирают амплитуду сигналов переменного напряжения...

Номер патента: 1058441

Опубликовано: 09.07.1995

Авторы: Бурмистров, Хаскович, Щербаков

МПК: G01R 31/28, G01R 31/308

Метки: замыканий, междуэлектродных, обрывов, прибор, проверки, систем, электронно-оптических

ПРИБОР ПРОВЕРКИ ОБРЫВОВ И МЕЖДУЭЛЕКТРОДНЫХ ЗАМЫКАНИЙ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ, содержащий генератор, выход которого соединен со входами n измерительных каналов, каждый из которых содержит соединенный с входом измерительного канала колебательный контур с первым и вторым зажимом для подсоединения проверяемой электронно-оптической системы, выход которого соединен с входом детектора, индикатор, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и достоверности контроля, введены многоканальный коммутатор, а в каждый измерительный канал элемент памяти и электронный ключ, причем выход детектора соединен с первым входом электронного ключа и первым входом элемента памяти, выход которого соединен с входом индикатора, а второй вход каждого...

Номер патента: 1807774

Опубликовано: 10.03.1996

Авторы: Борисихин, Сидоров, Шехурдин

МПК: G01R 31/28, G01R 31/3177

Метки: блоков, цифровых

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ БЛОКОВ, содержащее генератор тестовых последовательностей, блок анализа, блок индикации, источник питания, преобразователь, блок подключения объекта контроля, выходы которого соединены с имитатором нагрузки, а первые входы с первыми выходами генератора тестовых последовательностей, второй вход блока подключения объекта контроля соединен с первым входом блока анализа и через преобразователь с выходом источника питания, первые выходы блока анализа соединены с первыми входами блока индикации, вторые входы которого соединены с вторыми входами блока анализа и вторыми выходами генератора тестовых последовательностей, третьи выходы которого соединены с третьими входами блока анализа, отличающееся тем, что, с...

Номер патента: 1333050

Опубликовано: 10.09.2000

Авторы: Балакирев, Бурба, Монсик, Снитко

МПК: G01R 31/28

Метки: надежности, объектов, прогнозирования, технических

Устройство для прогнозирования надежности технических объектов по авт. св. N 559198, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, оно содержит счетчик, блок синхронизации, блок вычитания и блок деления, первый и второй входы которого соединены соответственно с выходом блока питания и с информационным выходом счетчика, подключенного счетным и синхронизирующим входами соответственно к выходу анализатора случайного процесса и к выходу блока синхронизации, первый и второй информационные входы блока вычитания связаны соответственно с входом установки единичного потенциала устройства и с выходом регистрирующего блока, который является также первым выходом устройства, второй выход которого...