Способ испытаний цифровых интегральных микросхем
Формула | Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Формула
СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ, предусматривающий создание форсированной нагрузки испытуемой интегральной микросхемы, путем подачи на ее выводы переменного электрического напряжения и контроля правильности ее функционирования, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности испытаний, на входы испытуемой интегральной микросхемы подают постоянное электрическое смещение и устанавливают амплитуду переменного электрического напряжения в пределах переходного участка входной переключательной характеристики интегральной микросхемы, контролируют амплитуду выходного сигнала микросхемы, увеличивают частоту до значения, при котором амплитуда выходных сигналов микросхемы находилась в пределах переходного участка выходной переключательной характеристики интегральной микросхемы, после чего проводят контроль функционирования интегральной микросхемы.
Описание
Целью изобретения является повышение величины форсированной нагрузки и ее однородности для элементов цифровой микросхемы в процессе испытаний на надежность, т.е. повышение эффективности испытаний.
На чертеже приведена блок-схема установки для реализации предлагаемого способа испытаний.
Электрическое смещение с источника 1 и переменные сигналы с генератора 2 через фазовращатель 3 подают на входы микросхемы 4, выходные сигналы с которой поступают на нагрузку 5. Источник питания 6 обеспечивает режим работы микросхемы 4 по постоянному току или напряжению. Величина постоянного смещения с источника 1 и переменные входные сигналы с генератора 2 задают динамический режим работы элементов цифровой микросхемы в пределах переходного участка ее выходной переключательной характеристики.
Сущность способа заключается в одновременном введении всех элементов цифровой микросхемы в динамический режим работы на переходном участке выходной переключательной характеристики на частотах, на которых отсутствует формирование логических сигналов внутри и на выходах микросхемы. Для этого на входы цифровой интегральной микросхемы подают электрическое смещение и переменные сигналы с амплитудами в пределах переходного участка входной переключательной характеристики при различных сочетаниях фазы переменных сигналов и с частотой, на которой амплитуды соответствующих переменных сигналов на выходах микросхемы остаются в пределах переходного участка ее переключательной характеристики.
Частота входных переменных сигналов соответствует частоте, при которой в элементах и на выходах микросхемы исключается формирование логических сигналов (согласно результатам испытаний для КМОП цифровых микросхем, частота входных переменных сигналов на порядок превышает максимальную рабочую частоту изделия). Для исключения фиксации состояния элементов микросхемы в определенной рабочей точке в пределах переходного участка входной переключательной характеристики изменяют соответствие фаз входных переменных сигналов с помощью фазовращателя 3. В качестве нагрузки 5 могут быть применены пассивные цепи или входы однотипных испытываемых микросхем при объединении их в параллельно-последовательные цепочки.
Способ позволяет повысить величину и однородность форсированной нагрузки при испытаниях цифровых интегральных микросхем на надежность и таким образом сократить длительность испытаний, повысить достоверность их результатов. В зависимости от степени интеграции и логической структуры испытываемых цифровых микросхем величина форсированной нагрузки может измеряться от 10 до 104 раз и увеличивается с ростом степени интеграции цифровых микросхем.
Изобретение может быть использовано для форсированного и ускоренного испытания цифровых интегральных микросхем (М) на надежность. Цель изобретения - повышение величины форсированной нагрузки и ее однородности. Для этого осуществляется одновременное введение всех элементов М в динамический режим работы на переходном участке выходной переключательной характеристики на частотах, на которых отсутствует формирование логических сигналов внутри и на выходах М. При этом на входы М подают электрическое смещение и переменные сигналы. Амплитуды последних - в пределах переходного участка входной переключательной характеристики при различных сочетаниях фазы переменных сигналов. Частота поддерживается таковой, что амплитуды соответствующих переменных сигналов на выходах М остаются в пределах переходного участка ее переключательной характеристики. 1 ил.
Рисунки
Заявка
4127456/21, 24.06.1986
Хмарцев В. С, Юсупов В. Т
МПК / Метки
МПК: G01R 31/28
Метки: интегральных, испытаний, микросхем, цифровых
Опубликовано: 15.12.1994
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1385806-sposob-ispytanijj-cifrovykh-integralnykh-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытаний цифровых интегральных микросхем</a>
Устройство для испытаний микросхем
Номер патента: 947980
Опубликовано: 30.07.1982
Авторы: Домеников, Кудрявцев, Сорокин
МПК: H05K 13/08
...на ряд отсеков металлическими перегородкамиПри этом в одном отсеке установлен прецизионный блок 9 питания, бО в другом отсеке Б размецен блок 3 задания электрического режима, в отсеке с крышкой устанавливается многоместная.тепловая камера 4, помещенная н экран. В верхней части зв шктного кожуха расположены окна 5,предназначенные для выхода пружинныхконтактов гребенки и подключения внешнего измерительного прибора. На защитном кожухе 1 закреплены бронзовые экранируюцие пружины б, предназначенные для соединения экрана камеры 4с защитным кожухом 1 устройства. Камера 4 установлена в направлявших 7на основании 8 с возможностью вертикального перемещения при помощи механизма 9 подъема. Высокочастотный разъем 10 служит для контроля...
Устройство для определения характеристик аналого-цифрового преобразователя
Номер патента: 936419
Опубликовано: 15.06.1982
Автор: Архангельский
МПК: H03K 13/17
Метки: аналого-цифрового, преобразователя, характеристик
...величне (,-2 соВ 2 3 ).РиВ момент выдачи генератором импульсов к-ого импульса ( фиг.2 а,62 на выходе АЦП 1 появляется цифровой сигнал з , являющийся значением входного аналогового сигнала в момент выработки к-го импульса генератором импульсов. Сигнал К подает" ся на вход сумматора 3, при этом первый элемент цифровой задержки 2, синхронизируемая генератором импульсов 7, выдает сигнал ъ 1 с -1), являющийся цифровым значением входного аналогового сигнала в .момент выработки (к)-го импульса генератора импульсов 7.Сигнал(к) после умножения в цифровом умножителе 12 на коэффицид ент -2 сой 2 Л также поступаетЯм на вход сумматора 3,Кроме того, в рассматриваемый момент времени на выходе второго элемента цифровой задержки 14 синхро....
Устройство для определения характеристик аналого-цифрового преобразователя
Номер патента: 1411970
Опубликовано: 23.07.1988
Авторы: Архангельский, Дивнов
МПК: H03M 1/10
Метки: аналого-цифрового, преобразователя, характеристик
...мгновенных зна чений синусоиды (поступающей с генератора 6 синусоидального напряже ния), полученные в моменты возникновения сое, ответственно (Х)-го (К)-го и 1 с-го импуль сов на выходе генератора 7 импульсов;1,Г - значения частот соответственно синусоидального сигнала и импульсов.Второй блок 11 нелинейной функции вырабатывает в цифровом виде сигнал, равный обратной величине суммы моду лей коэффициентов при выборках в последнем выражении, т.е, сигнал, рав- ныйПосле умножения сигнала А, поступающего с выхода сумматора 3, насигнал с выхода второго блока 11 нелинейной функции, осуществляемогоцифровым умножителем 13вырабатывается значение величины, характеризующей погрешность преобразования, приведенное к одной выборке....
Устройство для определения характеристик аналого-цифрового преобразователя
Номер патента: 1457161
Опубликовано: 07.02.1989
Авторы: Архангельский, Дивнов
МПК: H03M 1/10
Метки: аналого-цифрового, преобразователя, характеристик
...блоке 16 нелинейной Функции, на вход которого поступают цифровой сигнал, равный 35 2 сБлок 34 масштабирования блока 16нелинейной Функции, на вход которогопоступает цифровой сигнал, равный40 2 Яс50 Данная величина поступает на входпятого цифрового умножителя 28, где умножается на значение Я (см,выражение (4) цифрового умножителя 28, где умножается на значение Я (см .выражение (4 цифрового сигнала, поступающего с выхода пятого блока 17 нелинейной функции. Таким образом, на выходе цифрового умножителя с выхода первого блока 10 нелинейнойфункции, цифровой сигнал 8 (см, выражение (4 с выхода пятого блока17 нелинейной функции цифровой сигнал З (см,выражение (3) с выходавторого блока 11 нелинейной Функцииицифровой сигнал, равный сумме(Р + (Р ,...
Аналого-цифровой преобразователь интегральных характеристик напряжений
Номер патента: 1615888
Опубликовано: 23.12.1990
Авторы: Жуганарь, Полумбрик, Тютякин, Шаванов
МПК: H03M 1/58
Метки: аналого-цифровой, интегральных, напряжений, характеристик
...формирователя 17 устанавливается в единичное состояниеимпульсом с второго выхода БУВЧ 16.При этом начинается разряд интегратора 14 функционально преобразованньм(квадрированным) опорным напряжением,поступающим на его вход с коэффициен том,задаваемым посредством управля 8881 О, емого инвертора 12 и ЦАП 13, Разрядпрс толкается до фиксации комплратпром 15 возврата напряжения цин,(е) в нулевое состояние (момент времени 5 с ) По пересечении напряжением Бн,(г)нулевого уровня первый выход формирователя 17 сбрас вается в нулевое 10состояние выхоцным напряжением компаратора 15, а на втором выходе формирователя 17 вырабатывается импульс, которым БУВЧ 16 устансвливается в начальное состояние, и начинается новый цикл преобразования, На...
Предыдущий патент: Способ получения цис-дихлорбис-(гидроксиламин) пластины (ii)
Следующий патент: Способ измерения шумовой температуры усилителя
Случайный патент: Библиотеьса