Способ исследования структуры тел в шлифах

Союз Советскнк Социалистических Республик(22) Заявлено 110677 (21) 2498580/18-25с присоединением заявки И(23) Приоритет(51) М. Кл. 801 М 21/40 Государственный комитет сссР но делам изобретений и открытийОпубликовано 150179.Бюллетень М 2 Дата опубликования описания 15.01,79.Тол тарский ина и орденауниверситет иисследовательедочный институ ский ордена Ле осударственный союзный научногеолого-раз Ленингр Знамени и ВЗаявители 54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ Т В ШЛИФАХсплос коли путеЛ греш ника ноок поле троп Изобретение относится к областиизмерительной техники и может бытьиспользовано в геологии при изученииструктур горных пород, в горнодобывающей промышленности при оценкезапасов полезных ископаемых и оценкетехнологических параметров их добычи,при производстве инженерно-геологических работ, при оценке качестваестественных и искусственных материалов и пр,Известны способы изучения структуры тел путем получения микроскопичекого изображения структуры тела с последующим дифференцированием ее на15отдельные составляющие элементы (поры,трещины, минеральная часть).По способу определения пористостител по шлифам 11 получают микрофотогра.фии пор исследуемого тела через поля 20ризационный микроскоп с вращениемкости поляризации света на 90 О ичественный анализ микрофотографиим фотометрирования.ля этого способа характерна по 25ность количественной оценки, возющая за счет неконтрастности темрашенных элементов и наличия взрения изотропных сечений анизоных минералов.30 Наиболее близким по техническойсущности и достигаемому результатук предлагаемому изобретениУ являетсяспособ 21, при осуществлении которого производят просвечивание шлифаполяризованным по кругу светом, обратное круговое преобразование света,фильтрацию светового потока анализатором, регистрацию полученного изображения и качественную оценку компонентов структуры.Недостатком способа является погрешность при количественной оценкеструктуры тела за счет изотропныхсечений анизотропных минералов, что снижает точность исследований, Фотографическая регистрация изображенийприводит к низкой производительности исследованияЦелью изобретения является повышение точности и производительности исследования структуры тела в шлифах.Поставленная цель достигается тем, что по предлагаемому способу регистра цию изображений производят при различном угле наклона шлифа относительно светового потока, дополнительно регистрируют изображение без анализатора, совмещают полученное изображение с изображением различных ком642635 Составитель А.Савченко Техред Н.Бабурка Корректор В.КРивошапк Редактор И,Шубина Заказ 7748/42 Тираж Ю 9 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Яосква, ЖРаушская наб., д,4/5филиал ППП Патент, г.ужгород, ул. Проектная, 4 понент структуры и но совмещенным изображениям производят количественную оценку каждого компонента структуры.Кроме того, с целью устранения погрешностей, зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов струк- Ь туры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны, света. 30Способ реализуется следующим образом.Исследуемый шлиф пористого тела помещают на вращающийся предметный столик (типа Федоровского), который также)5 может менять угол наклона относительно оси поляризационного микроскопа (типа Полами) . Столик расположен между двумя четвертьволновыми пластинками, размещенными межцу анализатором и поляризатором, Пластинки20 ориентированы под углом в 90 относительно друг друга .и под углом в 45 О по отношению к поляризатору и анализатору. Просвечивают шлиф лучемп 8 поляризованного по кругу света, такой свет возникает при прохождении плоскополяризованного света через четверть- волновую пластинку. Для выявления изо" тропных сечений минералов производят, их просвечивание путем изменения на клона плоскости шлифа на заданный угол. Свет, прошедший через шлиф, трансФормируется при прохождении через вторую четвертьволновую пластинку,расположенную между шлифом и анализатором, 35 находящимся в скрещенном положении по отношению к поляризатору. Проецируют изображение через окуляр системы на мишень передающей трубки. Детектируют иэображение пор по яркости сигнала и производят его видеозапись с видео- контролем, Выводят из светового потока анализатор и получают на выходе системы с использованием детектирования сигнала по яркости изображение непрозрачных и темноокрашенных участков и производят их видеозапись. Производят коррекцию изображения пор (трещин) шлифа путем сложения (вычитания) с позитивной (негативной) картиной непрозрачных темноокрашенных участков. Производят количественную оценку всех элементов структуры изучаемого тела: пор(трещин) минеральной части и ее непрозрачных и темноокрашенных включений. 1;сли в шлифе имеют место прозрачные и непрозрачные неконтрастныезоны, то в этом случаепропускаютсвет через вторую пластинку, толщинакоторой заданным образом отличаетсяот толщины первой четвертьволновойпластинки (по ходу луча), так, чтобысоздать заданную разность хода и получить контрастное по цветотону изображение изотропных прозрачных зон,различающихся от анизотропных и полупрозрачных зон. Производят детектирование участка с заданным цветотономс помощью монохроматического светоФильтра, введенного в световой потокза второй пластинкой.Предложенный способ позволяет автоматизировать. технологию исследованияструктуры горных пород и других телпутем его применения в автоматическиханализаторах изображений (типа Квантимет, ЯМ 5 и др.)Формула изобретения1, Способ исследования структурытел в шлифах, включающий просвечивание шлифа поляризованным по кругу све-том, обратное круговое преобразованиесвета, Фильтрацию светового потокаанализатором регистрацию полученногоиэображенця, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью повышения точности ипроизводительности исследования, наклоняют шлиф относительно оптическойоси дополнительно регистрируют изображение без анализатора, совмещаютполученное изображение с изображениями различных компонент структурыи по совмещенным изображениям производят количественную оценку каждогокомпонента структуры,2. Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью устранения погрешностей, зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементовструктуры, изменяют разность ходасветовых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего черезуказанные зоны света.Источники информации, принятые вовнимание при экспертизе1. Авторское свидетельствоР 339847, кл. 8 01 М 23/00, 1972.2,ЩТХ-М 1 Не 1 Ю 0 пУ еп Йг ЫэьепсйаВ цпдтесЬп 1 к."1970, В,5, Р 3/4, в,81-84,