G01M 11/00 — Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам
Фокометр
Номер патента: 1695162
Опубликовано: 30.11.1991
Автор: Пизюта
МПК: G01M 11/00
Метки: фокометр
...экрана 5 и линии раздела фотоприемников 11 - 14 параллельны между собой иперпендикулярны направлению перемещения столика 7. Расстояние между плоскостями установки фотоприемников жесткофиксировано и равно Е, Расстояние междуфотоприемниками 11 и 12 равно У 1, а междуфотоприемниками 13 и 14 - У 2, Датчик величины перемещения подключен к входублока 15 обработки информации, Фотоприемники подключены по второму входу блокаобработки информации.Фокометр работает следующим образом.Источник 1 света при помощи конденсора 2 освещает щель 4 коллиматора. Объектив коллиматора 3 формирует широкийпучок параллельных лучей, из которогощель экрана 5 вырезает узкий пучок параллельных лучей, который пентапризмой 6 отклоняется на 90 в сторону...
Способ определения фокусного расстояния оптической системы
Номер патента: 1696930
Опубликовано: 07.12.1991
Авторы: Морозов, Москаленко, Саар, Соскинд
МПК: G01M 11/00
Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного
...источника. Для этого производят пространственную фильтрацию многомодового лазерного излучения (или эквивалентную фильтрацию его углового спектра). В результате этого спекл-шум устраняется и точность измерений повышается,Предлагаемый способ определения фокусного расстояния оптической системывключает два этапа измерений. На первом этапе измеряют линейное расстояние д между интерференционными кольцами от точечного источника с дискретным угловым спектром в фокальной плоскости испытуемой системы. На втором этапе измеряют разность угловых размеров соседних колец, Для этого измеряют линейное расстояние между кольцами без оптической системыи расстояние вдоль оптической оси й от точечного источника излучения до плоскости регистрации. При...
Способ интерференционного контроля качества телескопических оптических систем
Номер патента: 1696931
Опубликовано: 07.12.1991
Автор: Гусев
МПК: G01B 9/02, G01M 11/00
Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических
...от известного способа голограмму регистрируют в плоскости изображений диффузного рассеивателя и освещают ее волнами с измененными углами падения, причем изменения углов падения опорной и объектной волн противоположны по направлению, перед регистрацией интерферограммы проводят пространственную фильтрацию прошедших волн в плоскости голограммы.Предлагаемый способ обеспечивает создание условий получения интерферограммы бокового сдвига в полосах бесконечной ширины с использованием когерентного диффузно рассеянного света, в результате чувствительность увеличивается по сравнению с дифференциальной интерферометрией в полосах конечной ширины,На чертеже изображена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство включает блок 1...
Датчик вертикали телевизионных камер
Номер патента: 1700414
Опубликовано: 23.12.1991
Автор: Смирнов
МПК: G01M 11/00, H04N 5/222
Метки: вертикали, датчик, камер, телевизионных
...оптическая схема датчика.Датчик вертикали телевизионных ка ер содержит излучатель (лазер) 1 синзой 2, апертурной диаФрагмой 3 иоллиматором 4, двухапертурную диаФрагму 5, установленнуюв держателе 6, с расположенными в отверстиях диаФрагмы шаровыми линзами 7, висяими на подвесе закрепленном в дерателе, объектив 8 и плоское зеркао 9, установленное с возможностьюоворота в двух взаимно перпендикурных направлениях.Датчик работает следующим обраои.Пучок света от излучателя 1, пребразованный линзой 2, прошедший че-, ез диаФрагму 3 и расширенный коллиМатором 4, падает на двухапертурную диаФрагму 5, отверстия которой расположены в вертикальном направлении Симметрично относительно оптической Оси коллиматора. В отверстиях диаФ" рагин...
Устройство для юстировки предмета с неплоскостной, различным способом отражающей поверхностью
Номер патента: 1702210
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Камил
МПК: G01B 11/26, G01M 11/00
Метки: неплоскостной, отражающей, поверхностью, предмета, различным, способом, юстировки
...диафрагму 3. Первый проекционный объектив 6 создает изображение первой точечной диафрагмы 3 на юстируемомпредмете 17. Второй проекционный объектив 7 создает изображение диафрагмы 3через второй светоделитель 8 на первомфотоприемнике 9, Аналогично излучение отвторого источника 11 излучения через конденсор 12 освещает вторую точечную диафрагму 13, затем второй проекционныйобъектив 7 создает ее изображение на юстируемом предмете 17, а первый проекционный объектив 6 через первыйсветоделитель 4 на втором фотоприемнике10,Первый и второй фотоприемники 9 и 10соединены между собой по дифференциаль 5 10 15 20 25 30 35 40 50 55 ной схеме (фиг,З), Если сигналы с фотоприемнйков 9 и 10 различны; что соответствует неточной юстировке...
Устройство для определения способности к проходу кривых участков железнодорожного пути многоосными рельсовыми транспортными средствами
Номер патента: 1705714
Опубликовано: 15.01.1992
Авторы: Алексеенко, Вербицкий, Горняк, Журба, Лаптев, Махно, Стеринзат
МПК: G01M 11/00
Метки: железнодорожного, кривых, многоосными, проходу, пути, рельсовыми, способности, средствами, транспортными, участков
...транспортными средствами. Цель изобретения - повышение эффективности устройства, Устройство содержит тензометрические датчики 1 давления, установленные под отрезками рельсов 2 и опирающиеся посредством шаровых опор 3 на основание или на эксцентрики 4 вала 5. Провода от тензодатников 1 соединяются с преобразователем сигналов, От преобраэователеи сигналов подходят провода к коммутатору, связанному с регистрирующим прибором - индикатором. 1 з.п. ф-лы, 2 ил посредством шаровых опор 3 на основание устройства, либо на эксцентрики 4 вала 5, Провода 6 от тензодатчиков 1 соединяются с преобразователем сигналов 7, От преобразователей 7 подходят провода 8 к типовому коммутатору 9, последнии связан с регистрирующим прибором - индикатором...
Способ получения интерферограммы для контроля качества линз и объективов
Номер патента: 1712779
Опубликовано: 15.02.1992
Автор: Гусев
МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...
Метки: интерферограммы, качества, линз, объективов
...объекта.со значением 1 фокусного расстояния голограмму Фурье рассеивателя с помощью коллимированного опорного пучка, осуществляют смещение рассеивателя в его плоскости и изменение угла падения опорного пучка, вновь записывают голограмму Фурье рассеивателя и проводят фильтрацию полученной двухэкспозиционной голограммы до получения интерферограммы контроля.- В отличие от известного способа освещение рассеивателя осуществляют расходящейся сферической волной с радиусом В кривизны фронта в плоскости рассеивателя Й = 1 /( - 1), где- расстояние от главной плоскости контролируемого объекта до регистрирующей среды,В предлагаемом способе возможность достижения положительного эффекта с физической точки зрения обеспечивается созданием...
Стенд для испытания оптических систем
Номер патента: 1723477
Опубликовано: 30.03.1992
Автор: Мусатов
МПК: G01M 11/00
Метки: испытания, оптических, систем, стенд
...кривизны, совпадающим с центром входного зрачка исследуемой оптической системы 7, На С-образной направляющей б установлено с возможностью перемещения второе осно вание 8, на котором установлены третье 9 ичетвертое 10 плоские зеркала. Третье зеркало 9 установлено с возможностью поворота относительно четвертого зеркала 10, которое своей отражающей поверхностью по вернуто в сторону входного зрачкаоптической системы 7. Для обеспечения постоянства оптической связи между вторым 5 и третьим 9 зеркалами они кинематически соединены между собой шатунной тягой 11 35 (фиг,2); при этом одно из зеркал, например третьезеркало 9, соединено с тягой 11 жестко, а зеркало 5 образует с тягой 11 поступательную пару 12, Движение второго основания 8 с вторым...
Способ определения положения экстремума дифракционного распределения
Номер патента: 1727015
Опубликовано: 15.04.1992
Авторы: Каземирчук, Соловьева, Шаторный
МПК: G01M 11/00
Метки: дифракционного, положения, распределения, экстремума
...возвратно-поступательного перемещения), чем период изменения функции интенсивности.Точность фиксации экстремумов повышается за счет того, что при положении диафрагмы во время сканирования, соответствующем положению минимума распределения, величина второй гармоники сигнала, снимаемой с перемещающегося возвратно-поступательного приемника не обращается в нуль, как при сканировании приемником, не перемещающимся возвратно-поступательно, а наоборот, достигает максимального значения. Кроме того, ведется обработка сигнала на переменном токе, чем улучшаются помехозащищенность и характеристики усиления сигнала, а также отпадает необходимость работы с сигналами существенно различной мощности (в максимумах и минимумах распределения).Способ...
Устройство для фокусировки проекционного объектива
Номер патента: 1727016
Опубликовано: 15.04.1992
МПК: G01M 11/00
Метки: объектива, проекционного, фокусировки
...сканирующего растра 2 строится через полупрозрачное зеркало 3 объективом 4 через прозрачную подложку на поверхность предмета 17. Отраженное от поверхности предмета изображение перестраивается объективом 4 на поверхность анализирующего растра 7, При сканировании растра 2 его изображение на анализирующем растре 7 также будет перемещаться. Анализирующий растр 7 имеет такой же шаг и направление штрихов, что и растр 2. В результате при сканировании в направлении, перпендикулярном направлении штрихов, штрихи изображения растра 2 будут перекрыватьсмя штрихами анализирующего растра 7, что приведет к синусоидальной модуляции светового потока. проходящего через растр 7 и соответствующего изменению напряжения на выходе фотоприемников 8 - 11.Свет,...
Способ определения децентрировки квазиконцентрических менисков
Номер патента: 1746239
Опубликовано: 07.07.1992
Авторы: Вереникина, Зубков, Мядель, Рожков
МПК: G01M 11/00
Метки: децентрировки, квазиконцентрических, менисков
...преломления мениска; У - смещение автоколлимационного изображения тест-объекта с оси оптической системы.При использовании для центрирования менисков третьего порядка (Е = 3) создают изображение точки А тест-объекта в плоскости изображения центра С 1 кривизны первой поверхности мениска= 1), Фрагмент установки, содержащей подвижный компонент объектива 4, при базировании контролируемого мениска по второй поверхности с помощью приспособления 6, 7 для случая М = 3 изображен на чертеже, где В - автоколлимационное изображение точки А 1, полученное с помощью рефлекса 3-го порядка от поверхностей мениска; С 1 - изображение центра кривизны С 1 первой поверхности через оптическую систему, состоящую иэ отражающей второй и преломляющей первой...
Способ центрирования линз
Номер патента: 1755086
Опубликовано: 15.08.1992
Авторы: Власенко, Комлик, Мощеников, Счастная
МПК: G01M 11/00
Метки: линз, центрирования
...первому и второму вариантам выполнения способа:где знак "-" берется при последовательности центрирования: радиальная юстировка, угловая юстировка;знак "+ - . при последовательности центрирования: угловая юстировка, радиальная юстировка.Предлагаемый способ был испытан в установке прецизионной обработки элементов высокоразрешающих обьективов при :совмещении центров кривизны двух поверхностей линзы в оправе с осью вращения шпинделя.При этом патрон 3 был выполнен со сферической направляющей поворотной части 4 (фиг.).Автоколлимэционный микроскоп 6 содержал автоколлимационную трубку со светоделителем, образующим боковой .оптический канал позиционно-чувствительной регистрирующей системы в виде линейного фотометрического клина с установленным зэ...
Способ контроля распределения температурных полей
Номер патента: 1760377
Опубликовано: 07.09.1992
Авторы: Жаркова, Томилин, Хачатурян
МПК: G01K 11/12, G01M 11/00
Метки: полей, распределения, температурных
...изобретения Способ контроля распределения температурных полей, в котором в зону контролируемого температурного поля помещают жидкокристаллическую термоиндикаторную пленку и проецируют полученное на ней изображение на экран, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей способа засчетосуществления проецирования в проходящем свете, жидкокристаллическая термоиндикаторная пленка выполнена на подложке с коэффициентом пропускания 0,2-0,5. Составитель Е.АндрейченкоТехред М.Моргентал Корректор Н,Король Редактор Заказ 3180 Тираж Подписное Е 1-ИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно издательский комбинат "Патент", г. Ужгород,...
Способ фокусировки телескопического объектива и устройство для его осуществления
Номер патента: 1760423
Опубликовано: 07.09.1992
МПК: G01M 11/00
Метки: объектива, телескопического, фокусировки
...с визирной сетки 12 со светящейся маркой окуляра 13 на координатно-чувствительный приемник излучения 14, установленный на подвижной каретке микрометрического механизма 15, действующего а измерительном направлении.Измерительное направление - это то направление, в котором перемещаются изображения светящейся марки при расфокусировке телескопического обьектива, Сигнал рассогласования с приемника излучения 14 регистрируется на электрическом индикаторе 16. В фокальной плоскости обьектива автоколлиматора установлен коллектив 17 с маркой, подсвеченной лазерным осветителем с разделителем луча, состоящим из лазера 18, светоделительной призмы-ромба 19, шторки 20 с тремя фиксированными положениями и положительной линзы 21, фокус которой...
Устройство для контроля качества объектива
Номер патента: 1760424
Опубликовано: 07.09.1992
Авторы: Рожков, Тимашов, Тимашова
МПК: G01M 11/00
...волновых аберраций - дефокусировка, сферической аберрации, комы,кривизны поля и дисторсии соответственно,С учетом аберрэционной функции входного зрачка обьектива поле плоскости входного зрачка примет видО(4 Х)=(А+ В(д(ф)+ 40 + дй - Фо)+д(4+В ) ехРсФ(4 Х) ), (4)В результате преобразования Фурье,выполняемого обьективом 4, в его заднейфокальной плоскости - плоскости 5 регист рации, формируется поле видаТ(Х, ф = АЪ(Х)+В 1+2 ехр 1ФЧЕТ ( 4 о, Х ) ) соз ( 2 Л (Чо Х - 50ф фД - "-. и, 5)где п(х) = 3=(ехрЦЦСде Ь + Ссэ 44 ) 1) - функция рассеяния объектива;ФЧЕТ ( о, Х ) = СДЕ ф + ССФ о + СКР о Х- четные волновые аберрации объектива;ФНечЦо , Ху = Ско фо Х + СдиХ - н ечетные волновые аберрации объектива;Чо = 4 о/А 1 - пространственная...
Способ интерференционного контроля качества телескопических оптических систем
Номер патента: 1760425
Опубликовано: 07.09.1992
Автор: Гусев
МПК: G01B 9/02, G01M 11/00
Метки: интерференционного, качества, оптических, систем, телескопических
...от матового экрана 2 до главной плоскости 5 обьектива контролируемой оптической системы равно его фокусному расстоянию, На фотопластинке 5 с помощью опорной плоской волны, сформированной в блоке 4, проводится запись голограммы диффузно 10 .рассеянного света, прошедшего через контролируемую оптическую систему. Затем после указанной записи голограммы ее освещают исходными обьектной и опорной волнами и с помощью механизмов 6,7 пере мещения сдвигают перпендикулярно оптической оси в одном направлении матовый экран 2 и голограмму 5 на величины, связана 11ные соотношением - =Ь т 2 20 где а и Ь - величины смещений матового экрана 2 и голограммы 5 соответственно;11 и т 2 - соответственно фокусные расстояния объектива и окуляра...
Устройство для измерения оптических характеристик оптических систем
Номер патента: 1781580
Опубликовано: 15.12.1992
МПК: G01M 11/00
Метки: оптических, систем, характеристик
...узких пучков лучей в своей задней фокальной плоскости (на расстоянии наилучшего виденйя), где расположен позйционно-чувствительный фотоприемник 9 (линейка ПЗС). Расстояние между следами узких пучков лччей на фотоприемнике равно 1 и измеряет при помощи него.,Сигналы с,У Новыми признаками в заявленном тех" ническом решении являются конденсатор,щелевая диафрагма, установленйая в передней фокальной плоскости объектива коллиматора, непрозрачный экран с двумя 5параллельными щелями, установленный заобъективом коллиматора, и телескопическая система Галлилея, установленная между непрозрачным экраном и испытуемымприбором.:;,: 10Новые признаки- являются существен-.ными;поскольку обеспечивают достиже ние поставленной цели,Предлагаемое устройство...
Имитатор удаленного протяженного источника
Номер патента: 1784849
Опубликовано: 30.12.1992
Авторы: Гридин, Крюков, Радченко
МПК: B64G 7/00, G01M 11/00
Метки: имитатор, источника, протяженного, удаленного
...коллиматора, конденсатор 7 осветителя 3, источник 8 света осветителя 3, контротражатель 9 осветителя 3. Е - длина отражающей поверхности 4, ограниченная точками А и О, -раСстояние от точки А (сопряженйя отражающего элемента 4 и объектива 1) до проекции точки О на объектив 1, 0 - угол между отражающей поверхностью и оптической 4550 осью 00, К - точка периметра рассеиваощего элемента, е; ж - касательная к точке К, ежо - плоскость, проходящая через касательную е, ж и точку О.Имитатор УП И И работ ает следующим образом.Осветителльный узел 3 предназначен для формирования изображения рассеивающего элемента в диафрагме 2, которая расположена в фокальной плоскости обьектива 1. Пучки лучей в пространстве изобра жений обьектйва 1 образуют...
Устройство для контроля децентрировки
Номер патента: 1789901
Опубликовано: 23.01.1993
Авторы: Заболотский, Земсков, Подобрянский, Сыревич
МПК: G01M 11/00
Метки: децентрировки
...- хранения. формирователь 26 короткого импульса, вход которого подключен к выходу компаратора 25, а управляющие входы интегратора22 и схемы 24 выборки - хранения подключены к выходу формирователя 10 сигналов управления,Устройство работает следующим образом.1789901 50 55 Пучки лучей от осветителя 2 собираются конденсатором 3 на диафрагме 4, которая может быть выполнена, например, в виде отверстия прямоугольной формы в непрозрачном экране, Объектив 6 формирует изображение диафрагмы 4 в автоколлимационной точке контролируемой линзы 21. Отразившись от контролируемой поверхности контролируемой линзы 18 пучки лучей проходят через объектив 6, отражаются от светоделителя 5 и пройдя через микрообьектив 7 формируют на чувствительной площадке...
“устройство автоматической наводки на резкость системы “объектив микроскопа объект”
Номер патента: 1826007
Опубликовано: 07.07.1993
Автор: Зайцев
МПК: G01B 9/02, G01M 11/00
Метки: автоматической, микроскопа, наводки, объект, объектив, резкость, системы
...Отраженный от поверхности образца 3 и зеркала 23, расположенного пер , пендикулярно оптической осиинформационного луча, направляется светоделительным кубиком 18 в светоделительный кубик 13, где на его внутренней грани разделяется на два взаимно. перпендику лярных луча. Опорный луч, пройдя фазовую пластинку 15, направляется уголковым .отражателем 16 в светоделительный кубик 13, где он также разделяется на два взаимно перпендикулярных лучз, совпадающих с лучами, полученными при делении отраженного информационного луча. Пройдя поляроиды 19 и 20, полученные таким образом лучи рекомбинируют. Фотоприемники 21 и 22 преобразуют интенсивности падающего на них света в электрические синусоидальные сигналы. Введение фазовых пластин 14 и 15 и...
Способ контроля центрировки линз и устройство для его осуществления
Номер патента: 1830477
Опубликовано: 30.07.1993
Автор: Гуров
МПК: G01M 11/00
Метки: линз, центрировки
...И С 1 сали инте 0,1 сре;цо 1:с и кзотины устра 00 И)КИ ПгИ ОНТ)ОЛРцетри)овки,ЗКИМ ОЭРдЗОМг)ЭЗла ЗЕМОЕ РЕГОЕНИЕ1 сзвоГяег Новьсить точность кс 1 т)0)1 я центрировки линз,Нз че)теже показ:)на схемя прРГГзГВРМОГО )СТРОЙСТВЗ,Нредлагзсмое устройспю содержит поСЛЕДОВДТЕЛЬНО ОЗСГ 1 ОГ 0)КЕНЫЕ ИгОЧН)Кмоно;роматическогс излучения 1, обрзтну)отелескопическую систему 2 и регистрирующий блОк 3, по МОГУ излчения после ОбоатОЙ.Гелес;пичегжой гис; гы 2 в ус 1 ойстве устано)Ген светоделитель 4, в 1:,);Зах котсооГО рззмеьцены огОрные 0 трз)к;Тели 5 и О,и )ием Оп (ЧРО(ИР Г 1 Г)иы 1 уРй В каназхотличны друг от друга, а в обратном ходелучей на выходе светоделитзля 4 последовательь 0 устансВленьобьектиВ ) и мнсгОзлеме пн ый фс гоэлекгривский и реобрззовател...
Способ измерения и контроля рабочих отрезков объективов и устройство для его осуществления
Номер патента: 2003065
Опубликовано: 15.11.1993
МПК: G01M 11/00
Метки: объективов, отрезков, рабочих
...размера сечения пучкалучей в любом месте за отрицательной линзой от величины несовпадения задней фокальной плоскости контролируемогообъектива и передней фокальной плоскости25 отрицательной линзы. Тот же результат будет и при измерении размера сечения пучкаи за положительной линзой в любом месте,кроме задней фокальной плоскости положительной линзы.30 На фиг, 1 изображена оптическая схемаустройства; на фиг, 2 - схема, по которойосуществляется способ измерения рабочегоотрезка в канале с отрицательной линзой;на фиг. 3 - схема. по которой осуществляет 35 ся способ измерения рабочего отрезка в канале с положительной линзой,Способ измерения и контроля рабочихотрезков обьективов заключающийся в том,что параллельный пучок лучей,...
Автоколлимационное устройство
Номер патента: 2003959
Опубликовано: 30.11.1993
Авторы: Иващенко, Комаров, Мартиросян, Панов, Русских, Суровенков
МПК: G01M 11/00
Метки: автоколлимационное
...так и прямоугольным (для других отражаталей), . Устройство работает следующим образом, Как и обычно, при автоколлимационном методе в юстируемуа ОС через тест-объект и объектив АК вводят пучок лучей источника света и рассматривают через его окуляр автоколлимационное иэображение тест-объекта, построенное лучами, отФормула изобретения АВТОКОЛЛИМАЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО для юстировки оптических резонаторов, содержащих по меньшей мере два сферических отражателя, включающее автоколлиматор, отличающееся тем, что, с раженными от поверхности отражателя. Далее тест-объек совмещают с его изображением подвижкой отражателей и при их совмещении фиксируют взаимоположение отражателей,Для применения устройства без потери точности к ОС, содержащим не...
Способ измерения перемещения объекта
Номер патента: 1619864
Опубликовано: 20.08.1996
Авторы: Айсин, Подобрянский, Хлебников
МПК: G01M 11/00
Метки: объекта, перемещения
...формируется периодический видеосигнал, амплитуда которого пропорциональна интенсивности отраженного от поверхности линзы 29 пучка света, а временное положение максимума периодического видеосигнала относительно начала его формирования связано с пространственным положением отраженного от поверхности линзы 29 пучка света, формирующего изображения щелевой диафрагмы 3. При наличии фоновой засветки ПЗС 6 в формирователе 13 осуществляется сдвиг постоянной составляющей периодического видеосигнала на величину, равную или большую пьедестала, вызванного наличием фоновой засветки, падающей на светочувствительные площадки ПЗС 6, Сформированный формирователем 13 периодический видеосигнал поступает на информационный вход ключевого элемента 14, на...
Устройство контроля центрирования линз и зеркально-линзовых объективов
Номер патента: 1400251
Опубликовано: 20.08.1996
Авторы: Заболотский, Подобрянский, Путилин
МПК: G01M 11/00
Метки: зеркально-линзовых, линз, объективов, центрирования
1. Устройство контроля центрирования линз и зеркально-линзовых объективов, содержащее последовательно установленные вдоль оптической оси перед контролируемым объективом осветитель, сетку, светоделитель, объектив, передняя фокальная плоскость которого совмещена с сеткой, узел базирования, установочная плоскость которого перпендикулярна оптической оси, и средства анализа, отличающееся тем, что, с целью увеличения точности контроля, сетка выполнена в виде щелевой диафрагмы и установлена со смещением относительной оптической оси, за контролируемым объективом по ходу луча установлен двугранный отражатель, выполненный с возможностью перемещения вдоль оптической оси, его входная грань размещена перпендикулярно оптической оси, ребро - параллельно...
Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптических и оптико-электронных приборов наблюдения
Номер патента: 1478800
Опубликовано: 27.02.2000
МПК: G01J 5/06, G01M 11/00
Метки: наблюдения, оптико-электронных, оптических, приборов, характеристики, частотно-контрастной
1. Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптических и оптико-электронных приборов наблюдения, содержащее линейку одинаковых непрозрачных элементов, отличающееся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности контроля при работе в полевых условиях, каждый элемент устройства выполнен в виде призмы с равносторонним треугольником в основании, закрепленной на общей раме с возможностью вращения относительно вертикальной оси, при этом коэффициенты отражения соседних граней каждой призмы различны, а расстояние между осями вращения соседних призм равно длине стороны треугольника в основании.2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно дополнительно снабжено...
Способ выставки осей подвеса динамического моделирующего стенда
Номер патента: 1612716
Опубликовано: 27.07.2000
Авторы: Гормаков, Камашев, Попов, Скорых, Фролов
МПК: G01M 11/00
Метки: выставки, динамического, моделирующего, осей, подвеса, стенда
Способ выставки осей подвеса динамического моделирующего стенда, заключающийся в установке платформы стенда в горизонтальное положение и изменении положения подвеса оптикоэлектронного прибора до совпадения его горизонтальной оси с осью имитатора внешнего ориентира, отличающийся тем, что, с целью повышения точности выставки осей подвеса динамического моделирующего стенда, устанавливают автоколлимационный теодолит за подвесом стенда, направляют его визирную ось на центр подвеса динамического моделирующего стенда и центр имитатора внешнего ориентира, в центре подвеса жестко закрепляют зеркальный элемент, по автоколлимационному изображению штриха теодолита устанавливают его в плоскости,...