Патенты с меткой «оптико-электронных»

Способ измерения линейных перемещений в оптико-электронных измерительных системах с интерференционной модуляцией

Загрузка...

Номер патента: 446744

Опубликовано: 15.10.1974

Авторы: Ковалев, Никитенко, Скурко, Шестопалов

МПК: G01B 11/26

Метки: измерительных, интерференционной, линейных, модуляцией, оптико-электронных, перемещений, системах

...3 и 4 выделяют соответственно электрические сигналы первой и второй гармоник модулирующего напряжения.Сигнал первой гармон 14 ки4 л01= Уггг 151 п -Лхзгп 11 удваивают при помощи удвоителя 5 частоты. При разложении в ряд функции, осписывающей напряжение, имеют электрический сиг,нал 4 л 4У = Ыгг, згп -- Лх - 1/ггг,л л л4 о усоо 2 иС соо 4 ооС сообиСЛ Х 1335 57яиз которого выделяют сигнал только удвоенной частоты4 4 лУ = - Ут 31 п -- Лх з 1 п 201.3 ЗлЛ,После удвоения частоты сигнал У, сдвигают по фазе на 90 фазовращателем 6 и на еговыходе получают напряжвниеУ 4= У,д 4 Я 1 п Лх з 1 п 2 о 1,4 лЭто бпапряжение при помощи вычитателя7 сравгнивают с сигналом второй гармонвки4 лУ 5= гг,5 сов -- Лх сов 2 в,ополученным при полощи...

Диапроектор для настройки оптико-электронных приборов

Загрузка...

Номер патента: 859991

Опубликовано: 30.08.1981

Автор: Пустовалов

МПК: G03B 23/08

Метки: диапроектор, настройки, оптико-электронных, приборов

...в оригиналодержателе б, установленной между свободными концами 7и 8 Г-образных пружин 9 и 10 и упорами 11 и 12, жестко связанных с винтами 13 механизмов перемещения,каждый из которых состоит из винта13 и гайки 14 со шкалой 15. Каждыйиз упоров 11 и 12 снабжен поперечнойпланкой 16 и 17, жестко связаннойс ним. В боковых стенках 18 и 19 корпуса 1 выполнены вЫступы 20 и 21высотой, равной ширине пружин 9 10и 10, образующие со стенкой корпуса 1 направляющие, в которых установлены поперечные планки 16 и17 упоров 11 и 12, причем ширина этихнаправляющих в поперечном сечении 15равна ширине каждой планки 16 и 17,а Г-образные пружины 9 и 10 жесткозакреплены на их концах. Один из упоров (например 11) снабжен осью 22поворота, а в корпусе 1...

Система регистрации перемещений в оптико-электронных измерительных устройствах с интерференционной модуляцией

Загрузка...

Номер патента: 896392

Опубликовано: 07.01.1982

Авторы: Алешин, Дубров

МПК: G01B 9/02

Метки: измерительных, интерференционной, модуляцией, оптико-электронных, перемещений, регистрации, устройствах

...реверсивного счетчика 8, второй 3 вход которого связан с генератором 7 пилообразного напряжения, и делителем 6 частоты, а первый. - с выходом умно- жителя 4 частоты.Система регистрации перемещений10 работает следующим образом.Сигнал с генератора 7 на частоте 1 через делитель 6 частоты поступает на модулятор 5, с помощью которого в интерферометре 1 производится сканирова 13 ние интерференционной картины в пределах одной полосы с частотой Ц . Эта интерферограмма направляется на фото- приемник 2, при этом на выходе фотоприемника. 2 выделяется синусоидальный ф 0 сигнал с частотой Хои, фаза которого изменяется при движении интерференционной картины причем увеличению (уменьшению) длины измерительного плеча интерферометра на )./2 ( 3, -...

Проекционное устройство для настройки оптико-электронных приборов

Загрузка...

Номер патента: 1129580

Опубликовано: 15.12.1984

Авторы: Бирюков, Ильин

МПК: G03B 23/08

Метки: настройки, оптико-электронных, приборов, проекционное

...выполнен ввиде непрозрачного экранас внецентровым отверстием.На чертеже представлена предлагаемое устройство, общий вид. 45 Устройство содержит две рабочие ветви. Первая ветвь состоит из осветителя 1, матового стекла 2, двух турелей 3 и 4 со светофильтрами(не50 показаны), двухлинэового конденсора 5 ителевизионного тест-объекта 6.Вторая ветвь состоит из осветителя 7, матового стекла 8, двух турелей 9 и 10 со светофильтрами не показаны), двухлинзового конденсора 1, точечного тест- объекта 12 с механизмом вращения 13, приводящимся в движение электродвигателями 14 и 15 через дифференциал 16. Изображение тест-объектов строится объективом 17 в плоскости изображения, Куб-призма 18 служит для совмещения двух рабочих ветвей. Зеркала 19, .20 и...

Устройство для контроля фокусного расстояния и линейного увеличения оптических и оптико-электронных систем

Загрузка...

Номер патента: 1383126

Опубликовано: 23.03.1988

Авторы: Айсин, Гай, Заболотский, Подобрянский

МПК: G01M 11/00

Метки: линейного, оптико-электронных, оптических, расстояния, систем, увеличения, фокусного

...(фиг.4, И 8), расстояние между серединами которых пропорционально фокусному расстоянию или линейному увеличению оптической системы 33,Импульсы, снимаемые с выхода 0- триггера 8, поступают на формирователи 10 и 11, формирующие по переднему и заднему фронтам короткие импуль сы, поступающие на счетные входы триггеров 12 и 13. Сигналы, снимаемые с выходов триггеров 12 и 13, поступают на входы логического элемента И 14, на выходе которого формируется импульсный сигнал, длительность которого равна времени между формированием заднего фронта первого импульса и передним фронтом второго импульса, снимаемого с Р-триггера 8 (фиг.4, И 14).35Импульсный сигнал, снимаемый с выхода логического элемента И 14, поступает на первый вход логического...

Способ измерения перемещений в оптико-электронных измерительных системах

Загрузка...

Номер патента: 1404819

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Горелик, Коваленко, Турухано

МПК: G01B 21/00

Метки: измерительных, оптико-электронных, перемещений, системах

...- к выходу генератора 3 частоты 2 ы, причем синхровход генератора 2 соединен с выходом генератора 3, фотоприемник 4, выход которого связан с входом избирательного усилителя 5, настроенного на частоту 2 а, фазометр 6, один из входов 25 которого подключен к выходу усилителя 5, а второй вход - к выходу генерато-. ра 3 частоты 2 я,Способ осуществляется следующим образом. : 30 15(ас,", 21(-,1-а) 1(-,а)+21 (-,-а) яп - Ь х( - а) соя-"Ьх яп 2 ЖГ Ъполученным от генератора 3 модулирующего напряжения частоты 2 и, Фазовоеусловие (1) позволяет определить необходимую амплитуду фазовой модуля"ции. Так при использовании освещающего источника с длиной волныфО, 63 мкмамплитуда принудительных гармонических колебаний составляет а=0,08 мкм, 45Таким...

Проекционное устройство для настройки оптико-электронных приборов

Загрузка...

Номер патента: 1458854

Опубликовано: 15.02.1989

Авторы: Бондарев, Гаврилин, Ильин

МПК: G03B 23/00

Метки: настройки, оптико-электронных, приборов, проекционное

...15 импульсов осуществляется приводом 7 через синхронизатор 16. Зеркала 8 и 9 служат для уменьшения общих габаритов прибора.Устройство работает следующим образом.Источник света 2 посредством матового стекла 3, светофильтра 4, конденсора 5 равномерно освещает тест- объект 6, изображениекоторого при помощи зеркал 8, 9 и 13, куб-призмы 11 и объектива 12 проецируется в плоскость изображения.Второй канал работает аналогично,4тест-объект 6 его вводится в основную ветвь при помощи куб-призмы 10. Канал импульсной подсветки работает следующим образом.Привод 7 механически соединен с синхронизатором 16, обеспечивающим замыкание электрических контактов синфаэно с вращением оси привода тест-объекта 6. Синхронизатор 16 электрически соединен с...

Устройство для измерения температурно-частотных характеристик оптико-электронных приборов

Номер патента: 1701005

Опубликовано: 20.09.1995

Авторы: Алешко, Новоселов, Федюнина, Чугунов

МПК: G01J 5/06

Метки: оптико-электронных, приборов, температурно-частотных, характеристик

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРНО-ЧАСТОТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ, содержащее миру, полосы которой выполнены в виде двухгранного симметричного профиля, и два излучателя, установленных под углом к мире и оптически связанных с ее отражающими поверхностями, отличающееся тем, что, с целью повышения качества метрологического обеспечения, в него введен коллиматор, а мира выполнена в виде непрерывной периодической структуры из диэлектрического материала с несколькими группами профилей различной пространственной частоты, при этом мира размещена в фокусе коллиматора в плоскости, перпендикулярной его оптической оси, высота профиля в каждой группе не превышает глубины резкости коллиматора, а угол Q при вершине профиля...

Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптических и оптико-электронных приборов наблюдения

Номер патента: 1478800

Опубликовано: 27.02.2000

Авторы: Гербин, Федоров

МПК: G01J 5/06, G01M 11/00

Метки: наблюдения, оптико-электронных, оптических, приборов, характеристики, частотно-контрастной

1. Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптических и оптико-электронных приборов наблюдения, содержащее линейку одинаковых непрозрачных элементов, отличающееся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности контроля при работе в полевых условиях, каждый элемент устройства выполнен в виде призмы с равносторонним треугольником в основании, закрепленной на общей раме с возможностью вращения относительно вертикальной оси, при этом коэффициенты отражения соседних граней каждой призмы различны, а расстояние между осями вращения соседних призм равно длине стороны треугольника в основании.2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно дополнительно снабжено...

Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптико-электронных приборов

Номер патента: 1572185

Опубликовано: 10.03.2000

Автор: Гербин

МПК: G01J 3/28

Метки: оптико-электронных, приборов, характеристики, частотно-контрастной

Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптико-электронных приборов, содержащее линейку одинаковых отражающих элементов и два источника излучения, расположенных под углом к этим элементам так, что отраженный лучистый поток каждого из источника излучения оптически связан с своей одноименной поверхностью элемента, отличающееся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности испытаний, каждый элемент устройства представляет собой призму, имеющую в своем основании правильную "трехгранную звезду" и закрепленную на общей раме с возможностью вращения относительно вертикальной оси, причем вогнутые грани призмы выполнены с разными коэффициентами отражения и возможностью...

Вакуумная установка для исследования оптико-электронных устройств

Загрузка...

Номер патента: 1839875

Опубликовано: 20.06.2006

Авторы: Бельченко, Костромин, Кошко, Кулешов, Лебедев, Любарский, Шмелев

МПК: B64G 7/00

Метки: вакуумная, исследования, оптико-электронных, устройств

Вакуумная установка для исследования оптико-электронных устройств, содержащая вакуумную камеру с размещенными в ней теплозащитными и криогенными экранами, криосорбционный насос, вакуумную систему предварительной откачки, соединенную с камерой посредством вакуумной арматуры, контрольно-измерительные приборы, отличающаяся тем, что, с целью повышения достоверности испытаний путем уменьшения вероятности загрязнения легкоконденсирующимися веществами оптико-электронных устройств, а также экономии расхода криогенного теплоносителя, она снабжена приставкой, соединенной с вакуумной камерой в ее верхней части, причем криосорбционный насос расположен в указанной приставке, а переливные концы трубопроводов для подачи криогенного теплоносителя к...