G01M 11/00 — Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам

Страница 6

Способ контроля юстировки положения оптической оси пучка света и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1597118

Опубликовано: 30.09.1990

Авторы: Йорг, Херст

МПК: G01M 11/00

Метки: оптической, оси, положения, пучка, света, юстировки

...и четвертого и второго и четвертого нормированных световых сигналов в дифференциальных блоках 31 - 33 определяются три нормированных раэностныхсигнала 3 - П , которые модифицируются в соответствии с квадратичнойфункцией, нарастание которой дляменьших значений раэностного сигнала происходит сильнее по сравнениюс линейной функцией, Благодаря этому элиминируются знаки разностныхсигналов и оценка отклонений становится более удобной,Нормированные значения разностныхсигналов 5,= 6 з подаются в каскады34 - 36 возведения в квадрат, Затемнормированные возведенные н квадрат 25разностные сигналы В, - Г) сравниваются н средствах 37 - 39 сравнения снормированным граничным значением Ь,хранящимся в регистре 40. Нормированное граничное значение...

Способ измерения функции передачи модуляции оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1597653

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Сторожев

МПК: G01M 11/00

Метки: модуляции, оптических, передачи, систем, функции

...2 час, сть35каждье М иульссв П.вырабатывает одинимпульс П, т.,е. делит частоту вМ раз (на Фиг.2 показано в качествепримера деление в 4 раза). ИмпульсыП по длительности равны периоду40следования импульсов У, но сдвинутыотносительно них на половину периода.Полученный сигнал открывает аналоговый ключ 11, разрешаощий прохождениена измерительный прибор 13 каждого 45М-го импульса входного напряжения Б,.Напряжение на входе нзмериельнсгсприбора 13 предст вляйт собой входноенапряжение П, из каждьх М ичу- совкоторого исклсчеь груп;и из Мимпульсов. Зтс аналогично понижениюпространственной частоты тест-объекта в М раз.а(Образом может быть нрсведена градуирсвка на пониженных пространственньгх частотах. Посла градуировкианалоговый (лсч включгетсл...

Устройство для центрирования линз

Загрузка...

Номер патента: 1597654

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Ародь, Власенко, Джурко, Мощеников

МПК: G01M 11/00

Метки: линз, центрирования

...соединяет канавки 12с атмосферой, расфиксируя узел 3 качания относительно патрона 1, и одновременно соединяет канавки 13 с вакуумной сетью 15, фиксируя узел 4 смещения относительно узла 3 качания,после .чего произнодится выставление 20узла 3 качания,Для устранения смещения распределитель 14 соединяет с атмосферой канавки 13, расфиксируя узел 4 смещения,и одновременно соединяет с вакуумной 25сетью 15 кананки 12, фиксируя узел 3качания относительно патрона 1, послечего производится выставлеиие узла4 смещения,Первоначально при помощи узла 3 30качания (или узла смещения 4) опорнаялинза 5 выставляется в промежуточнуюпозицию с контролем по смещению центра кривизны одной из ее поверхностей,рассчитанному таки образом, что затем при...

Способ определения разрешающей способности оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 1597655

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Каземирчук, Крылов, Смирнов

МПК: G01M 11/00

Метки: оптической, разрешающей, системы, способности

...сигнал поступаетна вход У двухкоордипатного самописца 17, на вход Х котооого одновременно подается сигнал с датчика положения сканирующей системы. Таким образом, перо самописца вычерчивает ввыбранном масштабе кривую дифракционную распределения интенсивности вдольоптической оси. Дальнейшие измерениялинейных размеров дифракционных порядков проводятся на полученном графике с учетом масштабных соотношен Крепление оптическои системы должно обеспечпвать возможность ее размещения как для реапизации известногоспособа, так и предлагаемого способа,Сущность изобоетения заключаетсягпедующем,Для определения величины разрешающей способности необходимо сформиров с генератора 2, через направленный, ответвитель 5 и аттенюатор 3 поступает в антенну 4 и...

Способ контроля центрировки линзы при обработке ее оправы в шпинделе станка

Загрузка...

Номер патента: 1597656

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Степин

МПК: G01M 11/00

Метки: линзы, обработке, оправы, станка, центрировки, шпинделе

...поверхность 3, закреплена на плавающем патроне 4 шпинделястанка Автоколлимационное устройство 5 состоит из источника 6 света,конденсора 7, точечной диафрагмы 8,светоделителя 9, объектива 10 с отверстием, объектива 11, сетки 12,окуляра 1 3, Объектив 10 сфокусированна бесконечность, а объектив 11 - наплоскость 1 4, проходящую через ось15 цилиндрической поверхности 3. Автоколлимационное .изображение точечнойдиафрагмы 8, построенное в плоскостисетки 12 сходящимися лучами, идущимичерез объектив 11, обозначено нафиг,2 цифрой 16, а автоколлимационное изображение точечной диафрагмы8, построенное объективом 1 О, обозначено цифрой 17, Знаком й обозначены установочные поверхности оправы,подвергающиеся обработке,Процесс центровки линзы в...

Способ контроля качества поверхности оптических деталей

Загрузка...

Номер патента: 1597657

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Дымшиц, Палто, Юдин

МПК: G01M 11/00

Метки: качества, оптических, поверхности

...фотоприемника 9 (например, ФЭУ).С помощью предлагаемого устройства предлагаемый способ контроляреализуется следующим образом.При подаче напряжения на электропроводящие слои 2 и 4 в диэлектрическом слое 3 создается электрическое 30поле. Вследствие этого узкая спектральная полоса (или линия) поглощения испытывает смещение (эффектШтарка). При освещении диэлектрика3 монохроматическим излучением 8 отисточника б интенсивность луча, про-,шедшего сквозь слой 3, изменяется, авследствие отражения от контролируемой поверхности проходит сквозь слой3 дважды. Изменение интенсивностилуча 8,зависит от величины штарковского смещения полосы поглощения, которое определяется значением электрического поля в диэлектрике.Если поверхность детали 5 не имеет...

Способ контроля волнового фронта в оптических системах

Загрузка...

Номер патента: 1599691

Опубликовано: 15.10.1990

Автор: Ивонин

МПК: G01B 11/00, G01M 11/00

Метки: волнового, оптических, системах, фронта

...в симметричных относительно оптической оси точках, коррелятор 10 (типа Х 6 - 4).Способ осуществляется следующим образом.Лазерное излучение от лазерапропускают через телескоп 2, пропускают по атмосферной трассе 3, разбивают на ряд зон амплитудным экраном 4 при максимальной входной апертуре 5, телескопом 6 формируют частотную плоскость амплитудного экрана 4 и проецируют ее на плоскость 7 регистрации, в которой установлены приемники 8 и 9 излучения, Оптический сигнал в точках местонахождения приемников превращают в электрический и обрабатывают на корреляторе К 6 - 4 в режиме измерения кросс-корреляционной функции сигналов от приемников 8 и 9, определяя корреляцию К 1,. сигналов от приемников 8, 9 и дисперсию каждого сигнала 01;,...

Способ контроля качества оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1601512

Опубликовано: 23.10.1990

Авторы: Бабак, Беляев, Махотько

МПК: G01M 11/00, G01N 15/00, G01N 15/02 ...

Метки: качества, оптических, систем

...модуляции приемного элемента (на фиг. 1 отсутствует) блока 7.После регистрации пространственно периодический сигнал, преобразованный в электрический, обрабатывается в блоке 8 путем усиления и детектирования, а затеи воспроизводится в виде спектра амплитуд пространственно периодического сигнала, находящегося в Функциональной зависимости от пространственной частоты сигнала,Информацию о дисперсной системе получают путем анализа характера изменения спектра амплитуд пространственно периодического сигнала, как Функции пространственной частоты,в частности, по отношению амплитуд сигналов нулевой и фиксированной частот, или путем анализа характера изменения пространственного распределения интенсивности в плоскости приемного элемента блока 7...

Устройство для определения фокусного расстояния оптической системы

Загрузка...

Номер патента: 1612214

Опубликовано: 07.12.1990

Автор: Санников

МПК: G01M 11/00

Метки: оптической, расстояния, системы, фокусного

...отрицательного омпсне)3-а и обьектива автоколлимационной трубы,/, фокусное расстояние исиьпуемой (Фоптической сисг=мыУстройство работает;.)елуюши м образом Испытуемую оптическую систему 9 уста навливают в держатель "., убираюцийся оптический отрицательный компонент 1,. устанавливают в положение, показанное на фиг. 1 сплошными линиями, вклочаюг осветитель 6 и осевым перемещением лержателя 8 с оптической системой 9 добиваю)си резкосги 1:аблюлаемого в микроскоп 4 автоколлимационного изображения Т.ст-ог)ъекта 5. Ириlэтом задняя фокальная лоскость испытуемой оптической системы 9 совмецается с передней фокальной гОскостьк) 1; Оптического отрицательнс го компонента 13, а расстояние и между лавными плоскостями оптической системы 9 и...

Устройство для контроля качества волоконно-оптической заготовки кольцевого преобразователя

Загрузка...

Номер патента: 1631340

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Дукаревич, Равкин, Чуриков

МПК: G01M 11/00

Метки: волоконно-оптической, заготовки, качества, кольцевого, преобразователя

...при изготовлении кольцевого преобраз ователяЦель изобретения - повьппение точности контроля.На т,ертеже изображено предлагае мое устройство.Устройство для контроля качества волоконно-оптической заготовки кольцевого преобразователя содержит расположенные последовательно на олти-. 15 ческой оси источник 1 светового излучения, конденсорную линзу 2, маску 3 с чередукщимися прозрачными и непрозрачными кольцевыми зонами, причем чередуются зоны равной площади и рав ной ширины, размещенную в узле 4 крепления волоконно-оптическую заготовку 5, вторую (контрольную) маску 6 прижатую к выходному торцу заготовки 5, являющуюся негативным изображе нием маски 3, и микроскоп 7, установленный эа маской 6.Устройство работает следующим...

Способ контроля оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1642294

Опубликовано: 15.04.1991

Автор: Айсин

МПК: G01M 11/00

Метки: оптических, систем

...оптической системой 28 вплоскость анализа, в которой установленлинейный ПЗС 6, входящий в фотопреобра 45 зователь 5.Генератор 7 формирует импульсы, поступающие на формирователь 10. Формирователь 10 формирует импульсы опроса ПЗС6. Счетчик 8 совместно с дешифратором 950 формирует временные интервалы накопления и считывания зарядов с ПЗС 6. Импульсы управления ПЗС 6 через блок ключей 11поступают на ПЗС 6,На выходе ПЗС 6 формируется периоди 55 ческий видеосигнал в виде двух видеоимпульсов, амплитуда которых пропорциональнараспределению освещенности в изображении щелевых диафрагм 3, 4.Периодический видеосигнал поступаетс выхода ПЗС 6 на вход интегратора 12.Цикл опроса ПЗС 6 разделен на двавреманных интервала, в каждом из которыхинтегратор 12...

Устройство для контроля оптических систем

Загрузка...

Номер патента: 1642295

Опубликовано: 15.04.1991

Авторы: Айсин, Подобрянский, Чурилин

МПК: G01M 11/00

Метки: оптических, систем

...12 сигналом, формируемымдешифратором 9,В конце каждого подцикла, перед сбросом интегратора 12, осуществляется запо 35 минание сигнала, формируемого на выходе интегратора 12 в ДЗУ 13, 14, сигналами, поступающими на управляющие входы ДЗУ 13, 14 с дешифратора 9,В течение первого подцикла ключевой элемент 15 открыт управляющим сигналом, 40 формируемым дешифратором 9. Напряжение, запомненное ДЗУ 13 в предыдущем цикле формирования видеосигнала, посту паетчерез ключевой элемент 15 на делитель 17 напряжения. в котором делится в два раза, С выхода делителя 17 напряжения сигнал поступает на первый вход компаратора 18, на второй вход которого поступает сиг 55 ет сигнал "Лог. 1", поступающий на счетныйвход триггера 19, перебрасывая его в...

Юстировочное устройство

Загрузка...

Номер патента: 1643971

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Гуревич, Шпигель

МПК: G01M 11/00

Метки: юстировочное

...- показатель преломления пластины.На фиг. 2 показан вид световых пятен а 1, а 2,на фотоприемнике 8. Центры световых пятен отстоят друг от друга на величину, равную радиусу светового пучка. где Л- длина волны излучения;Я - расстояние между центрами соседних световых пятен;.а- угол расходимости светового пучка, При колебаниях пластины 6 происходит смещение интерференционных полос по фотоприемнику, при этом, если период ийтерференционной картины меньше ширины области перекрытия, сигнала на фотоприемнике нет,При уменьшении угла расходимости светового пучка, падающего на пластину 6, период Е интерференционной картины увеличивается, когда. период интерференционной картины становится равным ширине области перекрытия световых пятен, движение...

Устройство для контроля положения фокальной плоскости объектива

Загрузка...

Номер патента: 1643972

Опубликовано: 23.04.1991

Автор: Прибыловский

МПК: G01M 11/00

Метки: объектива, плоскости, положения, фокальной

...5 установлены под углом коптической оси в плоскости, проходящейчерез оптическую ось и строку элементовфотоприемника. В этом случае изображение тест-объекта 2 находится под углом кплоскости чувствительных элементов фотоприемника 5. Если центральный элементфотоприемника 5 установлен точно в фокальной плоскости объектива 4, изображение на экране осциллографа 7центрально-симметричное (фиг, 2). Спадсигналов на краях связан с расфокусировкой изображения. При несовпадении центрального элемента фотоприемника 5 сизображением центра тест-объекта картинана экране осциллографа 7 смещает на величину Л т. Смещение фокальной плоскостиобъектива 4 на величину Лотносительнофотоприемника 5 связано с величиной Лтсоотношением 5 10 15 20 25 30 35 40...

Способ контроля децентрировки оптических поверхностей и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1643973

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Кисляков, Метелкин, Носов, Якимов, Янковский

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки, оптических, поверхностей

...приобретает фазовый сдвиг, который определяется как конструктивными параметрами контролируемой оптической поверхности, так и величиной ее децентрировки. Отраженное излучение вновь проходит через объектив, который по частотному спектру восстанавливает изображение тест-объекта.Вышедшее из оптической системы излучение отражается от светоделителя 4 и формирует изображение тест-объекта в плоскости анализа фазового оптико-электронн а го и реаб разо вателя б. Если контролируемая поверхность центрирована, та ее оптическая ась совмещена с базо 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 вой осью и при вращении поверхности относительно базовой оси изображение тест- объекта в плоскости анализа остается неподвижным.При наличии децентрировки контролируемой...

Устройство для перемотки оптического волокна

Загрузка...

Номер патента: 1645867

Опубликовано: 30.04.1991

Авторы: Борисов, Жилкина, Ларин, Харитонов, Шевченко

МПК: G01M 11/00

Метки: волокна, оптического, перемотки

...узла 9и, пройдя через оптический соединитель 18, поступает на второй приемник 1 Д, После прсобраэаванця вкгектрический сигнал с выхода фотодетектора 19 сигнал через усилитель20 подвижцьп электрический соединитель 21 поступает на вход блока 10анализа, Вычислительное устройствона экране дисплея 11 формирует графи сеское изображение импульсцсга оптического отклика в координагах: повертикллц - оптическая мощность в логарифмцескам масштабе, гга горизонтали - время, прцвнденнае к магшздбурасстояцця.После проведения процедуры преднарительнога измерения оптическое волокна здправляетс:я в испытательныйузел 3, что вызывает уменьшение оптической мощности зондирующего импупьса на выходе оптического волокна. Изгибы оптического волокна в...

Устройство для измерения хроматической дисперсии одномодовых волоконных световодов

Загрузка...

Номер патента: 1645868

Опубликовано: 30.04.1991

Авторы: Гринштейн, Маренков

МПК: G01M 11/00

Метки: волоконных, дисперсии, одномодовых, световодов, хроматической

...выход исследуемого световода 15 в различные моменты времени. Там они разделяются оптическим демультиплексором 16, и импульс одного из лазерных диодов 9- 11 поступает на вход первого фотоприемника 17, а импульс лазерного диода 12 - на вход второго фотоприемника 18. Электрические импульсы с их выходов поступают на первые входы соответственно элементов И 3 и 4, затем на первые входы элементов ИЛИ 5 и 6, затем на модуляторы и лазерные диоды, и цикл повторяется. Однако, так как электрические импульсы на выходе Фотоприемников 17 и 18 появляются в различные моментывремени, то и на вход исследуемого световола 15 оптические импульсы поступают не одновременно. Поэтому с кадым новым циклом интервал времени между приходами двчх оптических импульсов...

Устройство для измерения удаления выходного зрачка телескопических систем

Загрузка...

Номер патента: 1647329

Опубликовано: 07.05.1991

Авторы: Пизюта, Шульженко

МПК: G01M 11/00

Метки: выходного, зрачка, систем, телескопических, удаления

...экрана 5вырезает узкий пучок лучей и направ.ляет его в объектив контролируемогоприбора. Из окуляра контролируемогоприбора выходит узкий пучок, параллельный оптической оси системы. Присканировании щелью непрозрачного экрана 5 перпендикулярно оптическойоси пучок лучей за окуляром такжебудет смещаться перпендикулярно оптической оси.Фотоприемник 11 непрерывно анализирует положение следа пучка лучейи выдает информацию на управлениеэлектродвигателем 9. Столик 8 непрерывно отслеживает за выходящим пучкомлучей. Контактный наконечник 12 приэтом неподвижно находится иа оптической оси устройства. В момент срезанияпучка лучей апертурной диафрагмой исчезает световой сигнал на фотоприемнике и перемещение столика перпендикулярно оптической оси...

Способ определения фокусного расстояния объектива

Загрузка...

Номер патента: 1652852

Опубликовано: 30.05.1991

Автор: Кондратов

МПК: G01M 11/00

Метки: объектива, расстояния, фокусного

...системы,состоящей из объектива 7, камеры 8 свидиконом и монитора 9. Между светоделительной пластиной 3 и зеркаломб зеркального блока расположены дополнительная светоделительная пластина 10, испытуемый объектив 11 идополнительное плоское зеркало 12,Дополнительная светоделительнаяпластина 10 закреплена в держателе13 с встроенной гайкой и связана через винт 14 с приводом 15 и со шкалой 16 с нониусом. Испытуемый объектив 11 помещен в узел 17 крепления исвязан через винтовую пару 18 с приводом 19, Дополнительное плоское зеркало 12 закреплено в держателе 20 свстроенной гайкой и связано черезвинт 21 с приводом 22 и со шкалой 23с нониусом.Определение фокусного расстоянияиспытуемого объектива осуществляютследующим образом,Коллимирующую и...

Способ определения фокусного расстояния зеркальных оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: 1652853

Опубликовано: 30.05.1991

Автор: Кондратов

МПК: G01M 11/00

Метки: зеркальных, оптических, расстояния, фокусного, элементов

...образом.Коллимирующую и приемную системы, 45светоделительную пластину 3 и зеркальный блок (Фиг, 1) устанавливаюттак, чтобы пучки лучей, прошедшие соответственно зеркала 4,5 и 6 по ипротив часовой стрелки, были параллельны, Это достигается с помощью интерференционной картины в виде "нулевой полосы (светлое или темное поле)или с конечным числом полос, возник,йющей после светоделительной пластины 3 при совмещении этих пучков 55лучей, направляемых объективом 7 навидикон 8, и наблюдаемой на экранемонитора 9. Затем (фиг. 2) за светоделительной пластиной 3 перпендикулярно пучкам лучей устанавливают в держатель12 дополнительную светоделительнуюпластину 10, что наблюдается на мониторе 9 по интерференционной картине, содержащей то же число...

Устройство контроля фокусных расстояний объективов

Загрузка...

Номер патента: 1656364

Опубликовано: 15.06.1991

Авторы: Варшавская, Заболотский, Подобрянский, Хлебников

МПК: G01M 11/00

Метки: объективов, расстояний, фокусных

...выходу ПЗС и обеспечивающего измерение числа импульсов между началом ПЗС и серединой изображения штриха сетки 2. Индикатор 11 может быть выполнен в виде осциллографа. Синхронизацию работы отсчетных устройств обеспечивает генератор синхроимпульсов,Устройство работает следующим образом,Контролируемый объектив 12 устанавливают в объективодержатель 3. Пучки лучей осветителя 1 проходят через штрихи сетки 2 и попадают в контролируемый объектив 12, Оператор перемещения объективодержателя 3 совмещает переднюю фокальную плоскость объектива 12 с плоскостью штрихов сетки 2, при этом на осциллографе 11 длительность фронтов импульсного сигнала с выхода линейки ПЗСотсчетного устройства 8 и 9 минимальна,а амплитуда импульса максимальна,Параллельные...

Юстировочное устройство

Загрузка...

Номер патента: 1656365

Опубликовано: 15.06.1991

Авторы: Матвеев, Мустафина

МПК: G01M 11/00

Метки: юстировочное

...вдержатель 6, позволяющий поворачивать юстируемую поверхность по двум координатамотносительно оптической оси с помощью механического привода, выполненного в виде 20двух микрометрических винтов 7 и 8 и экран9 наблюдения интерференционной картины.Устройство работает следующим образом,Излучение от монохроматического источника 1 света проходит через расширитель 2 преобразуется им в параллельный,направляется на светоделитель 3 под углом а к нормали его первой поверхности походу излучения, преломляется светоделителем 3 и, пройдя через него, падает на клиновидную пластину 4, клиновидность иориентация которой обеспечивают перпендикулярность ее выходной грани оптической оси устройства. При этом, исходя из 35законов геометрической оптики, угол...

Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки

Загрузка...

Номер патента: 1661603

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков

МПК: G01M 11/00

Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы

...обработанной сферической поверхностью, по.которой осуществлено ее базирование, В полой части патрона установлены источник 4 излучения, точечная диафрагма 5 и линзы б компенсатора так, чтобы в полвливается н оиэводится е окончания к я инструмент поверхности л ится микроско чку А, и на ис я питание, При рхности расчет зображения т тана ипр а обраба- обработоторой отсо стороинзы 3 к, сфокуочник 4 оотве ному знаочеч ной ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОбРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР(56) Технология оптическихМ. Н, Семибратов М,; 1085, с,Авторское свидетельствоМ 1569639, кл, 6 01 М 11/00,ученной оптическокомпенсатора и асла исправлены сУстройство содермикроскоп 7,Устройство разомУстройство устывающем станкека заготовки, послзаготовки...

Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки

Загрузка...

Номер патента: 1661604

Опубликовано: 07.07.1991

Авторы: Ермилов, Полетаев, Пуряев, Турчков

МПК: G01M 11/00

Метки: асферической, линзы, поверхности, процессе, формы

...процессе обработки в серийном производстве,На чертеже представлена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленным на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой асферической линзой 3, которая обращена к гильзе предварительно обработанной асферической поверхностью, являющейся ее базой, Линзы 4 компенсатора закреплены в полой части патрона так, чтобы в полученной оптической системе была исправлена волновая аберрация, а также обеспечивался Оно уст щем станке ботка асфе обработки о румент и со ности линз анализатор 5 зуется осеет регистрирую тические эл патроне, явл ного интерф на. Сравнивнавливается на обрабать на котором производится обраической поверхности, После т нее отводится режущий инстстороны...

Способ контроля волнового фронта

Загрузка...

Номер патента: 1670378

Опубликовано: 15.08.1991

Автор: Гусев

МПК: G01B 11/24, G01B 9/025, G01M 11/00 ...

Метки: волнового, фронта

...ил,3, фотопластинку 5 и блок 6 формирования опорного пучкаСпособ реализуется следующим образом,Излучение с контролируемым волновым фронтом из блока 1 его формирования направляется на матовое стекло 2 На фотопластинке 5 с помощью объектива 4 с апертурной диафрагмой 3, предназначенной для исключения волновых аберраций объектива 4, с внеосевой плоской опорной волной, сформированной в блоке 6, записывается голограмма сфокусированного изображения матового стекла 2 эа время первой экспозиции. Перед второй экспозицией, например, с помощью поворота зеркал, находящихся в блоках 1, 6, изменяется угол освещения матового стекла 2 и угол1670378 зпа =,и(зп 01 - зп%). 25 Составитель В,Бахтинэктор С.Никитина Техред М,Моргентал Корректор М.Демчик...

Устройство для центрирования оптических линзовых компонентов

Загрузка...

Номер патента: 1673904

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Гвоздев, Гольдберг, Дорохин, Ершов, Иванова, Кирилловский

МПК: G01M 11/00

Метки: компонентов, линзовых, оптических, центрирования

...диафрагму. Третья проекционная система 21 через второй светоделитель 20 и светоделитель 8 проецирует тест-объект 19 в центр кривизны верхней поверхности контролируемого компонента, автоколлимационное изображение тест-объекта 19 от верхней поверхности контролируемого компонента создается третьей проекционной системой 21 в плоскости диафрагмы 23, вблизи которой уста- новлена вторая дифракционная линейная решетка 2., на кс рой пучок, формирующий изобр 1 женио тест-объекта, дифрагирует, и образ данны- в результате дифракции пучки, вэаи 1 л,о:;ед,зясь в направлении по нормалям "рихам решетки, перенакладываются. и, Ьду и взаимно когерентными, интерферируют.Вторая увеличивающая система 24 изображает выходной зрачок третьей проекционной...

Устройство для измерения дисторсии

Загрузка...

Номер патента: 1673905

Опубликовано: 30.08.1991

Автор: Пизюта

МПК: G01M 11/00

Метки: дисторсии

...12 индикации р и блок 13 цифропечати.Устройство для измерения дисторсии работает следующим образом.Объектив 3 коллиматора формирует от щели 4 широкой пучок параллельных лучей, из которого щель экрана 5 вырезает узкийа пучок параллельных лучей, который падает на контролируемый объектив параллельно оптической оси системы. Этот пучок лучей можно рассматривать, как главный луч широкого телецентрического пучка. который определяет положение изображения. В фокальной плоскости объектива 9 с фокусным1673905и/3 =./, вь числить вероятное увеличение контролируемого объектива фь = Еф."и определить дисторсию 5 как Л = ф -/Уь)/ьУстройство позволяет измерять дисторсию обьективов для предметов, линейный размер которого не больше диаметра входного...

Устройство для контроля радиационной стойкости волоконных световодов

Загрузка...

Номер патента: 1674040

Опубликовано: 30.08.1991

Авторы: Журавин, Медведев

МПК: G01M 11/00, G02B 6/00

Метки: волоконных, радиационной, световодов, стойкости

...состояние устройство приводится нажатием кнопки 13, При этом напряжение па установочному входу устройства падается с выхода источника 18 напряжения через кнопку 13 на второй вход триггера 12 и обнуляющие входы основного 10 и дополнительного 11 счетчиков импульсов и узла 17 Отображения цифровой информации, Триггер 12 устанавливается в единичное состояние, счетчики 10 и 11 обнуля ются и в узле 17 Отабраже- ия цифровой информации сбрасываются предыдущие показания. Загорается индикатор ". Оден" 15. Источник 1 оптического излучения находится ва Вклаченном состоянии, и оптический сигнал с его выхода проходит через воло- конныЙ с Вето ВОД 3 н а Оти ческий Вход фотоприемника 4, где детектируется и затем усиливается усилителем 5 (фиг,2,...

Способ контроля фокусировки телескопической системы

Загрузка...

Номер патента: 1675718

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Заварзина, Прилепских

МПК: G01M 11/00

Метки: системы, телескопической, фокусировки

...1 света (преимущественно лазер), непрозрачный Экран 2 контролируемая телескопическая система 3, положительная линза 4, фотоприемник 5 и измерительный блок 6.Способ контроля фокусировки телескопической системы осуществляют следующим образом,Формируют световой пучок с изменяющейся вдоль его пути распространения равномерностью распределения интенсивности в поперечном сечении, например, путем установки в излучение источника 1 Света (преимущественно лазера) непрозрачного экрана 2, пропускают сформированный световой пучок через контролируемую телескопическую систему 3 и регистрируют неравномерность распределения интенсивности в поперечном сечении светового пучка,Для упрощения реализации способа картину распределения интенсивности...

Способ юстировки поверхностей прозрачных пластин

Загрузка...

Номер патента: 1693421

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Данилов, Тарасенко

МПК: G01M 11/00

Метки: пластин, поверхностей, прозрачных, юстировки

...от всех поверхностей окон пучки выходили наружу из канала 4., 2. Выбирают внутреннюю поверхность одной иэ пластин 3 в качестве опорной, При 1693421чем из двух имеющихся выбирают ту, которая лучше совпадает с плоскостью стенкиканала 4,3. При использовании экрана устанэв"ливают экран 5 так, чтобы он пересекал все 5отраженные пучки 6,4, Выставляют экран (нож) 5 параллель.но опорной поверхности, контролируя равенство расстояний от противоположныхкраев экрана (от ножа при его продольном 10перемещении) до опорной поверхности (например, линейкой).5. Поворачивают юстируемую пластину(второе смотровое окно) вокруг первой оси,параллельной проекции падающего пучка 15на опорную пластину(первое смотровое окно), до минимального отклонения всех...