Способ определения децентрировки квазиконцентрических менисков

Номер патента: 1746239

Авторы: Вереникина, Зубков, Мядель, Рожков

ZIP архив

Текст

(3)5 6 01 М 11/О Е ИЗОБРЕТЕНИ ИСА ВТОРС ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТПРИ ГКНТ СССР У СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Научно-исследовательский институт радиоэлектроники и лазерной техники МГТУ им. Н.Э. Баумана(56) Креопалова Г.В. и др. Оптические измерения. - М.: Машиностроение, 1987, с. 94.Пахомов И,И. и др, Расчет оптических систем лазерных приборов. - М,: Радио и связь, 1986, с. 27-30.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕЦЕНТРИРОВКИ КВАЗИКОНЦЕНТРИЧЕСКИХ МЕ- НИСКОВ Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для измерения и устранения децентрировки одиночных лина со,сферическими поверхностями в процессе их изготовления и сборки оптических приборов,Целью изобретения является повышение точности центрирования квазиконцентрических менисков.На чертеже показана функциональная схема устройства для реализации способа.На схеме обозначены источник 1 излучения, тест-объект 2, выполненный в отражающем покрытии наклонного зеркала, автоколлимационный объектив, состоящий из неподвижного 3 и подвижного 4 компонентов,измеряемый объект (мениск) 5, фторопластовое кольцо 6, призма 7, дополнительный объектив 8, сетка 9 и окуляр 10,З 2 1746239 А(57) Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для измерения и устранения децентрировки одиночных линз со сферическими поверхностями в процессе их изготовления и сборки оптических приборов, Цель изобретения - повышение точности центрирования кваэиконцентрических менисков. Цель достигается тем, что центрированный относительно исходной оси тест-объект проецируют в плоскость, совпадающую с плоскостью его изображения мениском. Предложенный способ может быть также использован при контроле центрировки многолинзовых оптических систем, 1 з.п.ф-лы, 1 ил,Способ осуществляют следующим образом.При использовании для центрирования мениска отражений (рефлексов) М-го порядка (к - 3, 5; 7) создают иэображение осевой точки А тест-объекта в плоскости изображения центра кривизны С)-й поверхности мениска через предшествующую систему при ф - 1)/2 последовательных внутренних отражениях от поверхностей мениска и одном преломлении первой поверхностью (в обратном ходе).8 случае применения рефлексов М-го порядка положение плоскости автоколлимации За определяется с помощью матричного метода расчета лучей какщв 1 к/Р 11 -%5 Ь 1)" Зф п 1 влкпвлРаук/ЯД 05(1) 1 4 п 1 и"дирак ф"Ю 11 Х Ф 22 Р 1 вя - элементы матрицы М оптической системы, образованной (М - 1)/2 отражающими поверхностями и одной преломляющей поверхностью мениска.Величина децентрировки при базировании мениска по (-й поверхности определяется из соотношения о(-) (Ъ -"Ф -)т-(ц(фд(1 р,й-р 1.1 е т)р,ф-лр,у яр д 1.9,/д Уу где аз -- угол между осью оптической системы и нормалью к (3 - )-й поверхности мен иска;р 1, р 2 - кривизны первой и второй поверхностей мениска соответственно;б - толщина мениска;и - показатель преломления мениска; У - смещение автоколлимационного изображения тест-объекта с оси оптической системы.При использовании для центрирования менисков третьего порядка (Е = 3) создают изображение точки А тест-объекта в плоскости изображения центра С 1 кривизны первой поверхности мениска= 1), Фрагмент установки, содержащей подвижный компонент объектива 4, при базировании контролируемого мениска по второй поверхности с помощью приспособления 6, 7 для случая М = 3 изображен на чертеже, где В - автоколлимационное изображение точки А 1, полученное с помощью рефлекса 3-го порядка от поверхностей мениска; С 1 - изображение центра кривизны С 1 первой поверхности через оптическую систему, состоящую иэ отражающей второй и преломляющей первой поверхностей мениска. Центр кривизны С 2 второй поверхности с помощью опорного кольца 6.совмещен с оптической осью прибора. Величина децентрировки при использовании рефлексов третьего порядка и базирования мениска по -й поверхности оценивается по зависимости где аз -в . угол между осью оптическойсистемы и нормалью к свободной поверхности мениска в осевой точке;р 1, р 2 - кривизны соответственно пер-.5 вой и второй поверхностей мениска;б - толщина мениска;и - показатель преломления материаламениска;У - смещение автоколлимационного10 иэображения тест-объекта с оси оптическойсистемы,Прииспользовании рефлексов третьегопорядка для определения децентрировкименисков и тест-объекта в виде светящейся15 точки диаметромосвещенность Ез автоколлимационного изображения можно приближенно записать какЕз =- Мор ( - р) ( - 0) 1 ( + (р),где Мо - светимость тест-объекта;20 р - диаметр кружка рассеяния рефлексирующей оптической системы третьего порядка;о - коэффициент поглощения в стеклемениска по оси;25 р - коэффициент френелевского отражения преломляющих поверхностей по оси,Формула изобретения1, Способ определения децентрировкиквазиконцентрических менисков, заключа 30 ющийся в том, что мениск базируют по -йповерхности, центрированной относительно исходной оси, тест-объект проецируют вплоскость, совпадающую с плоскостью егоизображения, полученного эа счет отраже 35 ния от (3 - )-й поверхности, и определяютдецентрировку в виде угла наклона нормали этой поверхности к оптической оси, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности, величину децентри 40 ровки.определяют по формуле о,(-1) р -(р,-)тзк- ф/я, + с 1" а)45где сз -- угол между осью оптической системы и нормалью к (3 - )-й поверхности мениска в осевой точке;Р 1, 02- кривизны соответственно пер вой и второй поверхностей мениска;б - толщина мениска;У - смещение автоколлимационногоизображения тест-объекта с оси оптической системы;55 Я - удаление плоскости автоколлимационного изображения тест-объекта от первой поверхности контролируемого мениска, образованного отражениями М-го порядка (М1746239 о 3 (- ) ф дг о 1 Составитель А.ТулубенскийРедактор И,Шмакова Техред М.Моргентал Корректор П. Гереа Тираж Подписноеосударственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Заказ 2389ВНИИП роизводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 10- общее число отражений от поверхностеймениска, 1 с = 3, 5, 7), причемгфнкФ 115-0,51-7)" 3 ф т, иБнгде и - показатель преломления материаламен иска,при этом изображение мениском образуют эа счет дополнительных отражений от его поверхностей.2. Способ по и, 1, от л и ч а а щ и й с я 5 тем, что используется отражение третьего.порядка, причем величина децентрирования при базировании мениска по 1-й поверхности оценивается по Формуле;ОЛ.ПР 9 р, -гт1 0 ясфй яз)1-2 р сФИО )ффгГ Реда-Уд фРю(фРчбфйРЮП-Я)

Смотреть

Заявка

4744514, 29.09.1989

НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ И ЛАЗЕРНОЙ ТЕХНИКИ МГТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА

ВЕРЕНИКИНА НИНА МИХАЙЛОВНА, ЗУБКОВ ДМИТРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, МЯДЕЛЬ ГЕННАДИЙ ГЕННАДЬЕВИЧ, РОЖКОВ ОЛЕГ ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01M 11/00

Метки: децентрировки, квазиконцентрических, менисков

Опубликовано: 07.07.1992

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1746239-sposob-opredeleniya-decentrirovki-kvazikoncentricheskikh-meniskov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения децентрировки квазиконцентрических менисков</a>

Похожие патенты