Устройство для аттестации фазовых пластин

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИК 9/О исталлическ уммарная интенсивнос обыкновенйого и после анализато ующихого лучейот длины олны излучения пектру осущест ью ристаллооптикМ.: Недра,нтроли монохроматора руемой фазовой изменение конт ызывает енционромышле аст становится рав нои картины, ко ным нулю на дли волны, для которо5 является полуО -фазовая пластина волновой, Ширина ра 9 и толщина а хромато вязаны елеи 1 мо ластины 6 высит соотношгдеа 4/аи -монохро ием0,1 роказ ател ых ческоильный мления; сперсия обрати атора. инеина о света мляющую ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ВЫХ ПЛАСТИН(57) Устройство позволяет по точность аттестации полуволн зовых пластин. С помощью опт системы 2-4 формируют паралл пучок линейно-поляризованног и направляют его на двупрело пластину 6. ть интерферир необыкновенн ра 7 зависит Развертк вляется с пом Введение ко пластины 15 в аста интерфер1 12493Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для аттестации полуволновых фазовых пластин.Цель изобретения - повышение точности аттестации эа счет измеренияконтраста интерференционной картины.На чертеже приведена структурнаясхема устройства.Устройство содержит источник 1 Освета, конденсор 2, диафрагму 3,объектив 4, поляризатор 5, двупреломляющую кристаллическую пластину 6,анализатор 7, объектив 8, монохроматор 9, линзу 10, фотоприемник 11 и 5блок регистрации, включающий усилитель 12, высоковольтный стабилизатор 13 и компенсационный самопишущийприбор 14.Устройство работает следующим образомСвет от источника 1 падает на оптическую систему 2-4, формирующуюпараллельный пучок лучей. Линейнополяризованный свет, попавший на 25двупреломляющую кристаллическую пластину 6, разбивается на два лучаобыкновенный и необыкновенный, которые распространяются в пластине водном и том же направлении, но с раз- ЗОными скоростями. Электрический вектор Е в необыкновенном луче колеб 1 Елется в направлении оптической осидвупреломляющей оптической пластины,а электрический вектор Е в необыкновенном луче - во взаимноперпендикулярном направлении, причем амплитудаобоих лучей равна Е, / Г 2, где Е,амплитуда колебаний электрическоговектора в луче, прошедшем через поляризатор, Между колебаниями обоихлччей возникнет разность фаз Ь =(21+ а(Й - толщина пластины 6, / - показатель двупреломле ния, 3 - длина волны). После анализатора 7 амплитуды этих лучей становятся равными Е /2. Оба рассматриваемых луча возникают из одного линейно поляризованного луча, поэтому они коге О рентны и могут интерферировать. Еслиполуцелое число, оба луча максимально усилят друг друга и поле при рассмотрении через анализатор окажется просветленным, Если К - целое 55 число, лучи полностью погасят друг друга, и поле останется. темным, При освещении системы белым светом усло 47 2вия максимального усиления или ослабления осуществятся не одновременнодля лучей разных длин волн. Развертка по спектру осуществляется с помощью монохроматора 9 в виде чередуюшихся светлых и темных полос, Ввведение контролируемой фазовой пластины15 между кристаллической пластиной 6и анализатором 7 вызывает изменениеконтраста интерференционной картины.По мере приближения к той длине волны, для которой исследуемая фазоваяпластина является полуволновой, контраст интерференционной картины падает до нуля,Величина потока излучения определяется шириной входной и выходнойщелей монохроматора 9, осуществляющем развертку по спектру интерференционной картины, С другой стороныспектральная ширина щелей монохроматорадолжна быть такой, чтобыможно было записать интерференционную картину без искажений и с достаточным по величине перепадом амплитуды электрического сигнала на максимуме и минимуме картины, ОтношениеО Й 1 0,1 обеспечивает запись интерференционной картины без искажений.с 1 Ь аАТак как А 1 = - " 1, где -- обратщ . а "аная линейная дисперсия монохроматора,1 - ширина входной и выходной целеймонохроматора, ай = - , то ширина/4 Йвходной и выходной щели монохроматора 1 и толщина двупреломляющей кристаллической пластины Й связаны соотношением: 0 М- аЛ- г Формула изобретенияУстройство для аттестации фазовых пластин, содержащее источник света, поляризатор, анализатор, фотоприемник и блок регистрации, о т л и ч а ю ц е е с я тем, что, с целью повыше ния точности аттестации полуволновых Фазовых пластин, оно дополнительно содержит плоскопараллельную двупреломляющую кристаллическую пластину, расположенную между поляризатором и аттестуемой полуволновой фазовой пластиной, и монохроматор, расположенный между анализатором и фотоприемником, причем поляризатор и анали з 249347 4затор скрещены, направление оптичес- зана с шириной 1 входной и выходной кой оси двупреломляющей кристалли- щелей монохроматора соотношениемо с фческой пластины составляет угол 45 1 а с О,Л р(аЛ/а 1 )с направлением пропускания поляриза- где- длина волны;- показатель тора и параллельно плоскости среза 5 двупреломления материала кристаллиэтой пластины, а толщина й двупрелом- ческой пластины; 61 Я 1 - обратная чющей кристаллической пластины свя- линейная дисперсия монохроматора.Составитель В. РандомкинРедактор Р. Цицика Техред Н,Бонкало Корректор А. ТяскоЗаказ 4225/4 Тираж 778 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 3035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4