Способ определения ориентации монокристаллов

Номер патента: 1733988

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Лисойван, Маврин

МПК: G01N 23/20

Метки: монокристалла, ориентации

...нормали к грани, не изменившей своей кристаллографической ориентации в результате второго поворота,и нормали к плоскости, перпендикулярной оси первого поворота. Эту проверку осуществляют перед измерениями углов первого и второго поворотов,На фиг. 1 изображено взаимное положение кристаллофизических осей ХУ 2, выбранных плоскостей (2110), (0110), (0001) и нормалей М 1, Й 2, Мз к этим плоскостям; на фиг. 2 - положение их относительно нормалей Йа, МБ, М 6 к граням двухповоротногокварцевого пьезоэлемента.П р и м е р, Проверка углов поворотов на сверхтонком пьезоэлементе среза ух 3/35 10 ф/3050 ф. Эксперимент проведен на рентгеновском дифрактометре с гониометром ГУРс гониометрической приставкой, позволяющей вращать образец вокруг...

Номер патента: 232883

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Красноперов, Кузьмин

МПК: E21B 47/02

Метки: геологическогоразреза, между, осью, пластом, плоскость, проектирования, скважины, углов

...с а зображеио предлагаемое устг. 2 - схема действия устрой ИЯ УГЛОВ МЕЖДУ ОСЬЮ ОСТЬ ГЕОЛОГИЧЕСКОГО30 35 40соку, где Л - угол между осью скважины п плоскостью пласта в точке встречи (измеряется на керне);О - зенитный угол скважины вблизи точки встречи с пластом (определяется прц цнклцнометрической съемке скважины);у - разность азимутов скважины ц линии падения пласта (азимут скважины определяется по данным инклцнометриц; азимут линии падения пород должен быть известен).Знак плюс в формуле берут в случае, когда скважина и пласт на разрезе падают навстречу друг другу. Прибор моделирует зависимость для случая встречного падения пласта и скважины, наиболее часто встречающегося в практике,Так как угол р неизвестен (керн извлекается...

Номер патента: 1744462

Опубликовано: 30.06.1992

Автор: Мачтовой

МПК: G01B 21/00

Метки: вращения, излучения, колебаний, плоскости, поляризованного, угла

...фазовый детектор 17,Излучение от источника 1 пропускают через поляризатор 2, оптически активное вещество 3, вызывающее вращение плоскости колебаний излучения на угол д, и далее через модулятор 4, анализатор 5 и объектив 6 направляют на фотоприемник 7 в виде излучения, модулированного по интенсивности в соответствии с (1), см. эпюру Е на фиг.16,В качестве приемника применяют матрицу ФПЗС с универсальным средним регистром в режиме межкадрового вычитания (МКВ), В твердотельном телевидении (4) при так. м режиме работы подавляется стационарная часть сигнала, что позволяет существенно повысить чувствительность, Возвращаясь к выражению (1), очевидно, к стационарной части сигнала на выходе ФПЗС можно отнести составляющие частоты 2 ви...

Номер патента: 607100

Опубликовано: 15.05.1978

Автор: Кудевицкий

МПК: G01B 5/24

Метки: углов

...опыта проектирования и эксплуатации инструмента и являются достаточными для любого режущего и нструмента.Радиальные лучи расположены на диаграм.ме с равномерным угловым расстоянием между лучами в интервале углов 0 - 90 для каждой четверти. Эти лучи служат для наглядногоопределения угла в плане (р) и направления секущей плоскости, в которой определяется искомый угол.Верхняя половина диаграммы (1 и 11 четверти) обозначена зоной отрицательных углов, нижняя половина диаграммы (111 и 17 четверти) - зоной положительных углов (фиг. 2).Таким образом, отрезки радиальных лучей диаграммы, исходящих из ее центра, можно представить как векторы, показывающие направлениевеличину и знак искоМого угла.Для удобства пользования устройством шкалы (д и с 1...

Номер патента: 1820211

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Сухопаров, Тимощук, Федотов

МПК: G01C 1/06

Метки: визуальное, отсчетное

...объектив 4, расположенные в,диаметрально противоположных точках шкалы лимба 3, две ромбическиепризмы 5, плоскости главного сечения которых перпендикулярны плоскости лимба 3,входные преломляющие грани обращены кобъективам 4, а выходные - к окуляру 6,плоскопараллельную пластинку оптического микрометра 7, расположенную эа объективом 4 в одном иэ каналов отсчетногомикроскопа, и систему подсветки 8 шкалылимба, расположенную внутри угломерноголимба 3.Устройство работает следующим образом,Лучи света от системы подсветки 8 припологом падении испытывают многократное полное внутреннее отражение от поверхностей лимба 3 и освещают штрихи шкалылимбаРассеянные лучи от штрихов сопряженных участков лимба 3 попадают на приз-.му 1, идут навстречу друг...