G01B 9/021 — с использованием голографических устройств

Страница 2

Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: 787892

Опубликовано: 15.12.1980

Авторы: Голиков, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/28 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...и другие элементы. В качестве регистратора 8 излучения используются фотопластинки, фототермопластинки и другие светочувствительныематериалы,Устройство работает следующим образом.Предварительно регулируют блок 4вращения плоскости поляризации так,чтобы он вращал плоскость поляризации источника 1 когерентного излучения на 90 . Поляризующий узел 9 ориОентируют таким образом, чтобы черезнего проходило только излучение,плоскость поляризации которого повернется на 90 О относительно плоскости. излучения.После, этого на регистраторе 8 излучения получают голограмму рассеивателя 7 с расположенными за ним отражателем б. Затем разворичивают отражатель б вокруг центра кривизныконтролируемой оптической поверхности и наблюдают через полученную...

Устройство для измерения пространственного распределения оптических неоднородностей объекта

Загрузка...

Номер патента: 789679

Опубликовано: 23.12.1980

Авторы: Ауслендер, Вишняков, Левин

МПК: G01B 9/021

Метки: неоднородностей, объекта, оптических, пространственного, распределения

...объекта изменение амплитуды плоского предметно го пучка в направленииоси р,образующей угол Ф=ф+ЙИ с осью Х и лежащейв сечении 2"- 7. в линейном приближении пропорционально функции 3 789679 ,флинзу и фотодетектор. Для восстановления объемного показателя преломленияфазовых нестационарных объектов используется преобразование Радона.Время измерения определяется систе 5мой обработки в ЗВМ 1 2,Недостатком известного устройстваявляется использование сложной многоракурсной схемы просвечивания.0Цель изобретения - упрощение устройства и обеспечение измерений вреальном масштабе времени за счет оптической обработки световых сигналов.Поставленная цель достигается тем,что в предлагаемом устройстве для измерения пространственного распределения...

Способ контроля формы поверхностиобекта

Загрузка...

Номер патента: 813135

Опубликовано: 15.03.1981

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 11/25, G01B 9/021

Метки: поверхностиобекта, формы

...что необходимо, например, для дальнейшей обработки объекта до заданных размеров. Кроме того, точность контроля снижается иэ-эа влияния погрешностей, обусловленных фотографическим процессом.Целью изобретения является повышение точности контроля и возможность контроля зеркально-отражающих поверхностей.813135 Формула изобретения 0 Составитель Л.Лобзоваедактор И.Нестерова Техред М.Коштура Корректор Н Сте 2 /47 Тираж 642 ВНИИПИ Государственного комитета ССС по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., Заказ 7 Подписное д. 4/ илиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Поставленная цель достигается эа счет того, что контурные линии регистрируют непосредственно на контролируемом объекте.На чертеже изображена...

Способ голографической интерферо-метрии

Загрузка...

Номер патента: 818503

Опубликовано: 30.03.1981

Автор: Нилс

МПК: G01B 9/021

Метки: голографической, интерферо-метрии

...возникающие при изгибе объекта, и легко находят участок, подверженный максимальной нагрузке, Крометого, дополнительным смещением пластин выполняют другие комбинации голограммной записи, когда лазер генерирует более двух импульсов. 65 тЧтобы не иметь специального пускового импульса,цля начала движенияпластин и чтобы избежать действиябольших сил ускорения на голограммныепластины, пластины выполняются посто-янно вращающимися до, во время,ипосле экспонирования. При этом осьвращения голограммных пластин располагается перпендикулярно поверхности пластинки и так, что часть пластинки всегда находится за прорезьюи экране (экран с прорезью устанавливается,цля ограничения экспонируемыхучастков на регистрирующей пластине).П р.и м е р.Время...

Способ голографического контролятрехмерного фазового обекта сдвухкратной экспозицией

Загрузка...

Номер патента: 838321

Опубликовано: 15.06.1981

Авторы: Гусев, Пойзнер

МПК: G01B 9/021

Метки: голографического, контролятрехмерного, объекта, сдвухкратной, фазового, экспозицией

...тем, что светочувствительную среду при первой экспозиции освещают точечными источниками предметной и опорной волн, расс тояние от которых до св еточувс твительной среды отличается в два раза,а интерференционную картину в видеколец Ньютона регистрируют в +1дифракционном порядке,Способ заключается в следующем.Поскольку при первой экспозиции контролируемый объект отсутствует, а расстояния от точечных источников предметной и опорной волны до светочувствительной среды отличаются в два раза, то распределение интенсивности света в плоскости светочувствительной среды при первой экспозиции описывается выражением дифракционном порядке за ней возникают две волны.Во-первых, плоская волна описываемая уравнением1 сх(2 ь п 6+ 6(п В О-А,А " ,...

Устройство для измерения геометрическихпараметров зеркальных оптическихэлементов

Загрузка...

Номер патента: 847026

Опубликовано: 15.07.1981

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/021 ...

Метки: геометрическихпараметров, зеркальных, оптическихэлементов

...фокусного расстояния отражателя 5,причемрасстояние Ь от прямолинейного краяА рассеивателя б до оптической осиотражателя 5 меньше половины диаметра 0 отражателя 5. Регистратор 7 излучения расположен таким образом, чтоплоскость, проходящая через центррегистратора 7 излучения и прямолииейный край А рассеивателя б, составляет с этим рассеивателем угол с 6, величина которого находится в диапазонеот Ф/2 до .Устройство работает следующим 20образом.Поток излучения от источника 1кегерентного излучения через светоделитель 2, блок 4 освещения и рассеиватель б падают на отражатель 5, на рместо которого в процессе измеренияустанавливают исследуемый зеркальныйоптический элемент. Отраженный зеркальными элементом поток поступаетна регистратор б...

Устройство для восстановления голо-грамм

Загрузка...

Номер патента: 848998

Опубликовано: 23.07.1981

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 9/021

Метки: восстановления, голо-грамм

...эталонного объекта.Волновой фронт нерассеяннойсоставляющей, содержащийся в свет25 вом потоке от диффузно рассеивающго объекта, не зависит от микрореефа, а определяется лишь формойповерхности объекта. Таким образом,при контроле форм поверхностей диф 30 фузно рассеивающих объектов исполь848998 Формула изобретения Составитель В,Климовдактор О.Черниченко Техред М.Коштура . Корректор Ю.Макаренк Помитета СССоткрытийя наб., д,исно илиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная зуются волновые фронты нерассеянной составляющей.При контРоле зеркально отражающих объектов Форму волнового фронта, формируемого эталонным объектом, легко определить иэ геометрических построений или аналитически. В этом случае формаволнового фронта...

Интерферометр для контроля измененияаберраций линз и зеркал при закрепленииих b оправы

Загрузка...

Номер патента: 848999

Опубликовано: 23.07.1981

Авторы: Духопел, Ефимов, Славнов, Федина

МПК: G01B 9/021

Метки: закрепленииих, зеркал, измененияаберраций, интерферометр, линз, оправы

...зеркала 9. Интерферометр настраивается так, что фокус микро- объектива 3 совмещается с фокальной плоскостью контролируемой линзы 15. В этом случае лучи, выходящие иэ линзы 15, наиболее приближаются к 40 параллельному ходу и после отражения от вспомогательного зеркала 9 возвращаются в обратном направлении. На обратном пути они, минуя плоское ножевидное зеркало 5, последователь но попадают на объектив 10, зеркало .12, полупрозрачную пластину 13, голограмму 14, Чтобы обеспечить разделение хода рабочего пучка в прямом и обратном направлении и свести к 50 минимуму угол наклона главного луча к оси контролируемой линзы 15, плоское зеркало 5 выполнено ножевидным, причем острая кромка на его отражающей поверхности совмещена с...

Способ контроля слоистой структуры с использованием голографии

Загрузка...

Номер патента: 855386

Опубликовано: 15.08.1981

Авторы: Алексеев, Быстряков, Воеводин, Громов, Задорожный, Поляков

МПК: G01B 9/021

Метки: голографии, использованием, слоистой, структуры

...плат, а также невозможность определения координат аномалий в плоскости клеевого шва.Цель изобретения - обнаружение аномалий и определение их координат в плос.кости клеевого шва,Поставленная цель достигается тем, чт(в способе контроля слоистой структуры сиспользованием голографии, заключающемся в том, что контролируемый объект освещают когерентным излучением и регистрируют на фотопластинке картину интерференции рассеяной объектом волны с опорнойволной, объектную волну формируют в видеплоского пучка, направляют пучок.на контролируемый клеевой шов под углом полного внутреннего отражения, при этом слоистую структуру и фотопластинку синхронноперемещают в двух взаимно перпендикуляр-ных направлениях относительно друг друга.На чертеже...

Устройство для измерения деформаций

Загрузка...

Номер патента: 861933

Опубликовано: 07.09.1981

Авторы: Карпов, Немченок, Полонин, Синяев

МПК: G01B 9/021

Метки: деформаций

...расположенные по ходу излучения светоде-.лительный элемент 5, опорное зеркало6, два зеркала 7 и 8, одно из которых7 устанавливается на контролируемойповерхности 9, другое 8 - перпендикулярно излучению, отраженному отпервого зеркала 7, и блок 10 регистрации, установленный во втором потокеизлучения от светоделительного бло,.ка 2,Устройство работает следующим образом. 35Излучение лазера 1 делится светоделительным блоком 2 на два параллельных пучка. Один из пучков поступает на оптический элемент 3 расширения и обеспечивает работу голографи 40 ческого интерферометра. Другой пучок поступает на све 1 оделительный элемент 5, который выполнен в виде плоско- параллельной пластины с полупрозрачным покрытием на одной плоскости, просветляющим " на...

Способ контроля отклонения формы поверхности детали

Загрузка...

Номер патента: 938008

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Казак, Чебакова

МПК: G01B 11/25, G01B 9/021

Метки: детали, отклонения, поверхности, формы

...точек в заданном сечении поверхности, ню при условии обязательного определения расстояч ф ния от точечных источников до даннои точки контролируемой поверхности 23 .Однако такое определение требует привлечения специальных методов и приспособлений для измерения расстояний между точками. Кроме того, оп- в ределение расстояния от ъочечных источников до базовых точек детали, всегда осуществляется с некоторой погрешностью, равной сумме погрешности собственно измерения расстоя- ы ния и погрешности задания базовых точек. Это обстоятельство снижает точность контроля отклонения Формы 4детали, Необходимость определениярасстояния от точечных источников добазовых точек также снижает производительность контроля отклоненияФормы.Низкие точность и...

Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 996857

Опубликовано: 15.02.1983

Авторы: Ибрагимов, Ларионов, Лукин, Мустафин

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...13 с плоскостью голограммного компенсатора 9,Иитерферометр работает следующимобразом.Излучение лазера 1 расширяется телескопической системой 2, проходит светоделитель 3 и зеркалами 10 и 11 направляется на голограммный компенсатор 9. 66Часть излучения восстанавливает с компенсатора 9 волну а 1 сравнения, а другая часть возвращается плоским зеркалом 12 вновь на компенсатор 9 и восстанавливает волну, идентичную 65 волне а, но распространяющуюся впротивоположном ей направлении.Волна, идентичная волне а, проходит проекционный объектив 8, положительную оптическую систему 7 ипадает на контролируемую поверхность13 по нормалям к ней,Отразившись от поверхности 13,волна проходит элементы 7 и 8 рабо-чей ветви интерферометра, а...

Устройство для контроля асферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1017923

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Лукин, Маврин, Мустафин, Рафиков, Топоркова

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 5/32 ...

Метки: асферических, поверхностей

...что и не позволяет использовать его для контроля одновременно двух сечений торической поверхности, 65 Цель изобретения - возможность контроля неосесимметричных поверхностей, преимущественно торических.Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для контроля асферических поверхностей, содержащем последовательно расположенные моно- хроматический источник света, коллиматор и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, зеркало, установленное в одной ветви, голограммный компенсатор, установленный в другой ветви, и регистрирующий блок, голограммный компенсатор выполнен в виде осевой голограммы сферического волнового Фронта с радиусом кривизны Р, равным в плоскости голограммыЙВ - Й 5 Р=" 2 с возможностью установки ее...

Интерферометр для контроля оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1065684

Опубликовано: 07.01.1984

Авторы: Бубис, Ган, Кузнецов, Робачевская, Флейшер

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021, G02B 27/54 ...

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей

...бинарную фазавуюсинтезированную голограмму б, рас-.положенную перед светоделителем 5в другой ветви, наблюдательную систему, включающую объектив 7 с пере"менным фокусном расстоянием,объектив 8 и окуляр 9, прямалиней"нцй ножфуко, установленныйс возможностью йрадольпого и поперечного перемещения относительноосн наблюдательной системц..Иитерферометр работает следующим образом.Пучок света ат манохроматического 1 источника света, собираетсяв.:точкулинзой.2 в плоскости однойиз сменнцх диафрагм набора 4. Лнн"эой 3 формируется точечный источ них света в виде точки О в центрекривиэнц поверхности а светоделителя 5, выполненного в виде при; М змеина-линзового блока. Поверхностьа является эталонной поверхностью интерферометра. На поверхности а...

Способ визуализации фазовых неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 1095032

Опубликовано: 30.05.1984

Автор: Махмутов

МПК: G01B 9/021

Метки: визуализации, неоднородностей, фазовых

...данного способа является его сложность, так как поляна отражателе и регистрирующей среде при регистрации и восстановленииголограммы практически совпадают.Цель изобретения - упрощение способа и расширение его функциональных 35возможностей.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу визуализации фазовых неоднородностей путем регистрациистоячих волн, образованных сфокусированной объектной волной, .прошедшейчерез неоднородность, и той же объектной волной, но встречно направленной,запись голограммы осуществляют с диффузным отражателем, установленным эа 45регистрирующей средой в пределах глубыны резкости объектива.На фиг. 1 изображено устройство,реализующее способ; на фиг.2 - схемавосстановления голограммы. 50Устройство...

Устройство для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: 1100497

Опубликовано: 30.06.1984

Авторы: Голиков, Гурари, Прытков

МПК: G01B 11/24, G01B 11/255, G01B 9/021 ...

Метки: геометрических, зеркальных, оптических, параметров, элементов

...расположенных источника 1 когерентного излучения, светоделителя2, связанного оптически с системой 3формирования опорного пучка излученияи системой формирования предметногопучка излучения, включающее блок 4освещения и сигнальный канал, состоящий из отражателя 5, рассеивателя 6и регистратора 7 излучения.Отражатель 5 установлен на подвижной каретке механизма 8 пространственного сдвига. В устройство введенасистема дополнительных отражающихэлементов 9, расположенных перед отражателем 5 и выполненных в виде тонких пластинок из отражающего материала, например металлической фольги,внедренных в толщу прозрачной пластины, на которой рассеиватель 6получен матировкой одной из ее поверхностей, Допустимо расположениеотражающих элементов 9...

Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1104362

Опубликовано: 23.07.1984

Авторы: Вячин, Мамонов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/021

Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей

...от контролируемой поверхности. На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для контролякачества оптических поверхностей.Интерферометр содержит монохроматический источник 1 света, телескопическую систему 2 и светоделитель3, делящий световой поток на двеветви, микрообъектив 4, прямоугольнуюпризму 5, объектив 6, сферическоезеркало 7, установленное так, чтоцентр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива6, опорный оптический элемент 8,плоское зеркало 9, голограмму 10,объектив 11, диафрагму 12 и регистратор 13.Объектив 6 может быть выполненв виде двояковыпуклой линзы 14 имениска 15, обращенного вогнутостьюк двояковыпуклой линзе 14,Описываемый интерферометр работает следующим образом.Предварительно производят...

Процессор для неразрушающего контроля

Загрузка...

Номер патента: 1109580

Опубликовано: 23.08.1984

Автор: Щербак

МПК: G01B 9/021

Метки: неразрушающего, процессор

...), которые образуются за голограммой б. Если плечи переходника 7 относительно перпендикуляра к левой грани разнести на угол 2 у = 48 то в верхнем плече переходника выделяются волны, имеющие угол плюс 3, а в нижнем - имеющие угол минус у.Это приводит к тому, что на фотопре 1109580образователе 2 выделяются только две волны: нулевой порядок дифракции информативной волны 15 и минус первый порядок дифракции волны 14, который представляет копию эталонной волны, записанной на голограмме. Аналогично на экран 3 придет нулевой поря" док дифракции волны 14 опорной и первый порядок дифракции волны 15 информативной, Благодаря полному равенству углов прихода опорной и информатив ной волн на преобразователе 2 и экране 3 возникает фазоразностная...

Способ голографического неразрушающего контроля механических дефектов

Загрузка...

Номер патента: 1117445

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Де, Денежкин, Хандогин

МПК: G01B 9/021

Метки: голографического, дефектов, механических, неразрушающего

...контуров эталонного и тестируемого объектов, на ней находят области, охватываемые замкнутыми муаровымиполосами, и места пересечения муаровых полос, соответствующие местамрасположения дефектов, другую муаровую картину образуют путем наложения со сдвигом двух дублей интерферограммы тестируемого объекта,на ней находят места возникновенияновых муаровых полос в процессеплавного увеличения сдвига, соответствующие местам расположения дефектов, и по полученным данным судят о .наличии и местах расположения механических дефектов в тестируемомобъекте,На чертеже приведена структурнаясхема одного иэ возможных устройств,реализующих предлагаемый способ.Устройство состоит из голографического интерферометра 1, устройства 2 восстановления голограмм и...

Голограммный анализатор

Загрузка...

Номер патента: 1149122

Опубликовано: 07.04.1985

Авторы: Белобородов, Белозеров, Камалов, Кутикова, Мустафина

МПК: G01B 9/021, G03H 1/22

Метки: анализатор, голограммный

...измерений.Цель изобретения - повышение информативности за счет изменения ориентации интерференционных полос настройки и точности измерений. Указанная цель достигается тем, что в голограммном анализаторе волновых фронтов, содержащем последовательно расположенные осветительную систему, опорную голограмму, блок оптического сопряжения голограмм с пространственным фильтром, объектную голограмму, причем опорная и объектная голограммы выполнены с возможностью поворота вокруг оптической оси, блок оптического сопряжения голограмм выполнен однокомпонентным, осветительная система расположена за двойным фокусным расстоя,- нием блока сопряжения голограмм, причем выходной зрачок ее расположен в главной плоскости блока сопряжения голограмм и совмещен...

Способ измерения пространственного распределения внутренних неоднородностей объекта

Загрузка...

Номер патента: 1074207

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Вишняков, Левин

МПК: G01B 9/021, G03H 1/16

Метки: внутренних, неоднородностей, объекта, пространственного, распределения

...А(у г) -" Ао ехр1 У, (К у , г) + + фг (у, г)1 Перед третьим перемножением изменяют масштаб Вф (4) на величину КМь,у где- направление третьего ракурса зондирования, т.е. получают ВФ А 1(К 1 Кгу, г) А(Кг у, г)згп узгпу"уПосле третьего зондирования ВФ (5) под направлением 45 выполняют третье. неремнцжение и формируется ВФ,А 1(К.К у, г) А (К у, г) А (уг) у которого перед четвертым перемножением изменяют масштаб в -1 з 1 ЮК;:, ф-Му раэ и т,д. Вся зта последовательность операций выполняется для всех угловондиров ния ( ф 1,перекрывающих (равномерно или неравномерно) диапазон углов от О до 180 фа Пусть ( ф О, а 1180 Закон изменения масштаба в любом и"ом ракурсе для а1, 2. . . Иследующий.,вхп УДля 0-1 и И"го ракурса коэффициенты изменения...

Устройство для регистрации и восстановления интерферограмм фазовых объектов

Загрузка...

Номер патента: 1140533

Опубликовано: 15.06.1985

Авторы: Ананьева, Кононов, Кузнецова, Мировицкая

МПК: G01B 9/021

Метки: восстановления, интерферограмм, объектов, регистрации, фазовых

...расширители 11-14 и 1655 систем формирования сигнальных иопорного потоков излучения размещены позади отражателей 4,6,8,10,15 соответственно таким образом,что5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 их оптические оси пересекаются водной точке в плоскости регистратора 25, система плоских зеркал17-20 и система экранов 21-24 размещены между расширителями световогопотока 11-14 и регистратором 25,при этом каждый из экранов 21-24может перемещаться по окружности сцентром в точке пересечения оптических осей расширителей световогопотока 11-14. Система плоских зеркал 17-20 размещена относительносистемы расширителей световогопотока 11-14 таким образом, чтокаждому расширителю системы 11-14соотнесено зеркало системы 17-20,при этом углы между...

Голографический способ исследования фазовых объектов

Загрузка...

Номер патента: 1028152

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Комиссарова, Островская, Филиппов, Шедова

МПК: G01B 9/021, G03H 1/22

Метки: голографический, исследования, объектов, фазовых

...восстановления за счет испальзования одного из восстановленных голограммой пучков в качестве восстанавливающего.Голограмма исследуемого объектарегистрируется обычным способом с помощью предметного и опорного пучков,направляемых на голограмму под углом 4 Одруг к другу, Затем голограмму .освещают восстанавливающим световымпучком. При этом восстанавливаютсясветовые пучки "+" и "-" - первогопорядка, а при нелинейной регистрации голограммы также пучки высших порядков. Один из этих пучков, например пучок +1-го порядка, характеризу,емый фазовым множителем с; ( хЫ, 1 Рвновь направляют на ту же голограмму . 5 ОПри этом в + 1 -ом порядке в ос станавливается световой пучок с Фаз овым множителем с " с" с . Этот пучок т акже, в свою очередь, может...

Голографический интерферометр для измерения формы сферических оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1186940

Опубликовано: 23.10.1985

Авторы: Видмант, Гинак, Калинин, Шталенков

МПК: G01B 9/021

Метки: голографический, интерферометр, оптических, поверхностей, сферических, формы

...по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы оптических поверхностей.Целью изобретения является ловышение точности и надежности измере-,ний,На чертеже представлена схемеинтерферометра.Голографический интерферометрсостоит из лазера 1, оптическойсистемы 2 для расширения лазерногопучка, осевой отражательной голограммы 3, линзы 4, установленноймежду голограммой 3 и центром кривизны контролируемой поверхности 5, таким образом, что фокуслинзы 4 совпадает с центром кривизны контролируемой поверхности,полупрозрачной пластины 6 и блока 7 20регистрации. Голограмма 3 может...

Способ определения параметров поворота объекта вокруг оси, перпендикулярной его поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1193458

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Бахтин, Кудрин, Полухин

МПК: G01B 11/26, G01B 9/021

Метки: вокруг, объекта, оси, параметров, перпендикулярной, поверхности, поворота

...Цель изобретения - повышение точности и производительности процесса измерений.На чертеже изображено устройство, реализующее предлагаемый способУстройство содержит двухэкспози- ционную голограмму 1 сфокусированного изображения поверхности объекта, экран 2, две пары неразведенных лазерных пучков 3 и 4, 5 и б, последовательно освещающих голограмму 1, интерференционные полосы 7, образующиеся на экране 2 при взаимодействии волновых Фронтов, восстановленных пучками 3 и 4, и муаровые полосы 8, возникающие в результате наложения одна на другую двух интерФеренционных картин. Экран 2 расположен параллельно голограмме 1 на расстоянии Ь от нее. Пучок 4 смещен относительно пучка 3 на расстояние Ь в плоскости голограммы и имеет возможность...

Устройство для измерения деформаций

Загрузка...

Номер патента: 1204919

Опубликовано: 15.01.1986

Авторы: Гнусарева, Капустин, Пилипенко, Потиченко

МПК: G01B 9/021

Метки: деформаций

...Проектная, 4 1 12Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения малых перемещений и деформаций твердых тел с помощью голографической интерферометрии.Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций и расширение технических возможностей устройства.На чертеже представлена схемаустройства,На схеме. обозначены: лазер 1,полупрозрачное зеркало 2, расширительпучка, состоящий из микрообъектива 3и коллимирующей линзы 4, регистрирующая среда 5, контролируемый объект6, приспособление 7 для крепленияконтролируемого объекта и гибкийсветовод 8; входной торец которогоустановлен неподвижно по ходу пучка,отраженного полупрозрачным зеркалом2, а выходной конец закреплен наприспособлении 7.Излучение лазера...

Голографический интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1208474

Опубликовано: 30.01.1986

Авторы: Камшилин, Петров

МПК: G01B 9/021

Метки: голографический, интерферометр

...на записываемой голограмме, но дифрагируемый поток направляется точно по тому же направлению, что и прошедший через кристалл 4 второй поток.Анализатор 10, расположенный за кристаллом 4 и ориентированный так, чтобы погасить прошедший через кристалл второй поток, пропускает практически без изменения поток, продифрагировавший на голограмме. Далее с помощью объектива 5 поток, продифрагировавший на голограмме, фокусиру - ется на,регистрирующем узле 6, на экране которого будут наблюдаться в реальном времени голографические инт ер фер о гр аммы. формула изобретения= -к нормали плоскости, обра 2зованной пересечением осей первогои второго потоков, и анализатор 1 О,установленный в первом потоке междуфоторефрактивным кристаллом 4 и объ...

Способ измерения перемещений объекта

Загрузка...

Номер патента: 1216639

Опубликовано: 07.03.1986

Автор: Лисин

МПК: G01B 9/021

Метки: объекта, перемещений

...интерферограмму, измеряют на ней порядок полосы и рассчитывают искомую компоненту вектора перемещения для точки 8, а порядки полос в других точках объекта для измерения в них перемещения измеряют, смещая голограмму параллельно плоскости иэображения из положения 2 в соответствующее положение 3 настолько, чтобы выполнялось условие симметрии для точек смещения изображения 6. Иэ условия симметрии следует, что биссектриса угла между направ,лением освещения и наблюдения при произвольном смещении голограммы совпадает с нормалью к плоскости объекта. Поэтому такая голографическая схема не будет чувствительна к перемещениям в плоскости объекта, т,е. предлагаемый способ позволяет измерять именно перемещения изплоскости объекта.П р и м е р,...

Способ измерения смещений диффузно рассеивающих объектов

Загрузка...

Номер патента: 1224570

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Александровский, Антонов, Инфимовская, Чернышев, Штанько

МПК: G01B 9/021

Метки: диффузно, объектов, рассеивающих, смещений

...их координат на фотографии, что обеспечивает точное определение перемещений. Формула изобретения Способ измерения смещений диффузно рассеивающих объектов, заключающийся в. том, что освещают гобъект по двум направлениям, регистрируют на спекл-фотографии пучок излучения, диффуэно рассеянный объектом, до и после смещения объекта и по полученной спекл-фотографии измеряют смещение объекта, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений, перед регистрацией пучка излучения, диффузно рассеянного объектом, после смещения объекта изменяют фазу части диффуэио рассеянного пучка излучения на величину, не кратную 21 Раде 3/36 Тираж 670 Под ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035,...

Способ исследования фазовых объектов

Загрузка...

Номер патента: 1229567

Опубликовано: 07.05.1986

Авторы: Дан, Дойна, Комиссарова, Островская, Островский, Шедова

МПК: G01B 9/021

Метки: исследования, объектов, фазовых

...Плоское зеркало 3 и сферические зеркала 4 и 5 направляют пучки в плоскость регистрации первичных голограмм (Г). При регистрации первичной голограммы в присутствии фазового объекта 6 последний помещают между германиевой пластинкой 2 и сферическим зеркалом 4, фокусирующим изображение объекта на носителе 7 для записи голограмм, в качестве которого использовалась либо триацетатцеллюлоза, либо пленки поливинилового спирта (реверсивцый носитель). Для восстановления используется пу чок гелий - неонового лазера 8, расширяемый телескопической системой 9 из двух линз. С помощью объектива 10 и диафрагмы 1 осуществляется пространственная фильтрация волн нужного порядка, восстановленных с первичной голограммы. Выделенные световые пучки...