Способ контроля слоистой структуры с использованием голографии

ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРеспубликОпубликовано 15.08.8 . Бюллетень30 па делам нэобретеннй н аткрытий(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ СЛОИСТОЯ СТРУКТУРЫ С ИСГ 10 ЛЬЗОВАНИЕМ ГОЛОГРАФИИ0 Гееударстеенный кемнтет (23) Приоритет -Изобретение относится к физическим методам испытания материалов и изделий без их разрушения и может быть использовано для контроля качества клеевых швов,Известен способ анализа соединений между двумя деталями, заключающийся в том, что в детали, содержащей хотя бы пару соединенных по общей поверхности элементов, с помощью преобразователя возбуждаются колебания. Наружная часть двух элементов, на которой присутствует или отсутствует одна линия их соединения, освещается источником когерентного света, причем как отраженный, так и прямой когерентный свет действуют на фотопластинку, Пластинка обеспечивает получение голограммы, которая затем соответствующим образом освещается для воссоздания визуального изображения части поверхности. Из-за интерфЕренции между световыми волнами, отраженными от детали в верхней и нижней точках ее колебаний, изображение содержит интерференционные полосы и пятна. Аномалии в линиях и пятнах характеризуют неоднородности соединения между элементами детали, влияюцие на .форму колебаний поверхности 11. Недостатком этого способа является то, что для получения интерферограммы освещается наружная поверхность соединения и аномалии в интерференционных линиях несут информацию об аномалиях, распределенных по ширине клеевого шва, при этом от. сутствует возможность определения координат аномалий в плоскости клеевого шва.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ контроля слоистой структуры с использованием голографии, заключающийся в том, что контролируемый объект освещают когерентным излучением и регистрируют на фотопластинке картину интерференции рассеянной объектом волны с опорной волной. При этом для проверки непрерывности клеевого соединения между двумя слоями слоистой структуры один из слоев армируют покрытием его наружной поверхности веществом, которое образует жесткий слой и которое удаляют без разрушения основного слоя. Затем слоистую структуру подвергают действию нагрузки, например. путем ее нагрева и измеряют результирующую деформацию способом голографической интерферометрин Аномалии в интерферометрической карт цтне . соответствуют нарушениям непрерыв. ности клеевого соединенияСЗХНедостатком известного способа является то, что для исследования аномалий вклеевом шве необходимо наружную поверхность армировать жестким слоем, что невсегда возможно, например, при контролепечатных электронных плат, а также невозможность определения координат аномалий в плоскости клеевого шва.Цель изобретения - обнаружение аномалий и определение их координат в плос.кости клеевого шва,Поставленная цель достигается тем, чт(в способе контроля слоистой структуры сиспользованием голографии, заключающемся в том, что контролируемый объект освещают когерентным излучением и регистрируют на фотопластинке картину интерференции рассеяной объектом волны с опорнойволной, объектную волну формируют в видеплоского пучка, направляют пучок.на контролируемый клеевой шов под углом полного внутреннего отражения, при этом слоистую структуру и фотопластинку синхронноперемещают в двух взаимно перпендикуляр-ных направлениях относительно друг друга.На чертеже приведена схема возможнойреализации предлагаемого способа.Способ осуществляется следующим образом,Когерентный сигнал с лазера 1 подаютна светоделительное зеркало 2, где проис. ходит разделение пучка на объектный иопорный. Объектный пучок посредством отражательного зеркала 3 направляют намикрообъектив 4, с выхода которого получают пучок в виде конуса. В окрестностифокуса микрообъектива 4 устанавливаютщелевую микродиафрагму 5, посредствомкоторой формируют пучок в виде плоскостии подают на коллиматор . Коллимированный пучок посредством отражательного зеркала 7 направляют на слоистую структуру8 под углом, обеспечивающим полное внутреннее отражение пучка на границе раздела, так чтобы пучок скользил по клеевомушву и не проходил во второй слой, Г 1 учок,прошедший клеевой шов, подают иа голографическую пластину 9, которую с обратной стороны освещают опорным коллимированиц",: пучком и формируют следующим образом.С выхода светоделительного зеркала 2через отражательное зеркало 10 и 11 пучок подают на микрообъектив 12 и микродиафрагху 13 после чего направляют его на коллиматор 14 и голографическую пластину 9, Для получения совокупности голограмм, йолностью описывающих всю поверхность клеевого шка, плоскость шва сканируют объектным пучком, например, путем передвижения слоистой структуры 8 и синхронным перемещением фотопластинки 9 в двух взаимно перпендикулярных направлениях, что позволяет определять наличие аномалий 15 и их координаты в плоскости.В Отличие от известных, предлагаемыйспособ позволяет осуществить контроль качества изготовления ряда новых объектов, например, многослойных электронных плат, что является необходимым для достижения высокого качества изготовления.Формула изобретенияСпособ контроля слоистой структуры сиспользованием голографии, заключающийся в том, что контролируемый объект освещают когерентным излучением и регистрируют на фотопластинке картину интерференции рассеянной объектом волны с опорной ЗО волной, отличающиися тем, что, с цельюобнаружения аномалий и определения их координат в плоскости клеевого шва, объектную волну формируют в виде плоского пуч.ка, направляют пучок на контролируемый клеевой шов под углом полного внутреннего отражения, при этом слоистую структуру и фотопластинку синхронно перемещают а двух взаимно перпендикулярных направлениях относительно друг друга.40 Источники информации,принятые во внимание при экспертизеСостввнтельред А. Войк64венногоретеннй35, Раушг. Ужгоро РедактЗаказ Т,Гыршкан Тех3 И 83%5 ТаранВНИИПИ Государстпо дела и нвоб13035, Москва, Ж -Фнлнал ППП Патента,В. Аджвеввроюс ас корректор Э. ШПодпнс носкоинтета СССРоткрытнйская наб., д. 4/д, ул Проектная, 4