Способ измерения массовой поверхностной плотности или толщины

Номер патента: 1408213

Авторы: Андрейшин, Васильев, Горшков, Кутовой, Петров

ZIP архив

Текст

СООЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИРЕСПУБЛИН В 4 0 О В 5/02 Б"Ж 1 Т; Л тики И.Ку" ПОВЕ посоГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ(71) Киевский институт автомаим. ХХУ съезда КПСС(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАССОВОностной плотности или толщин,80140821 бам измерения толщины с помощью потоков элементарных частиц и предназначено для использования в черной металлургии для контроля горячего проката.Цель - повышение точности. Способвключает в себя размещение контролируемого иэделия и эталонов в измерительном зазоре между источником идетектором-измерителем, Новым в способе является приведение неэкспоненциальной зависимости сигнала детектора от измеряемой величины к линейному закону и проведение градуировки иизмерения массовой поверхностнойплотности или толщины на основе указанной зависимости, 2 ил,Изобретение относится к способамизмерения толщины с помощью;отоковэлементарных частиц и предназначенодля использования в черной металлургии для контроля горячего прокатаЦель изобретения - повышение точности калибровки,На фиг. 1 представлена блок-схемаустройства, реализующего способ; нафиг, 2 - изображена зависимость1 п(С-О ) от поверхностной плотностиили толщины Й,Источник 1 гамма-излучения блока2 источника излучения и блок 3 детек тирования расположены по разные стороны листового материала 1, непостоянно находящегося в измерительном зазоре между блоком 2 источника и блоком 3 детектирования. В блоке 2 источ 2 гника излучения устанавливают калибровочный поглотитель 5, который можетпомещаться на пути потока излученияв сторону блока 3 детектирования, Выход последнего, ра.ботающего в прапор циональном аналоговом режиме, соединяют с входом сумматора б, на второйвход которого подают репернык сигналот перестраиваемого источника 7 напряжения. Выход сумматора б подключают 3 Она вход преобразователя 8 напряжениечастота, который производит прямоепропорциональное управляемое преобразование входного сигнала в частоту,С выхода преобразователя 8 частотныйсигнал подают на вход вьчислительногоустройства 9, выход которого соединен с входом блока 10 отображения.Вычислительное устройство 9 содержитсредства для преобразования частотно Ого сигнала с блока 8 в сигнал толщинц, Между блоком 3 детектирования исумматором включен КС-звенник 11,Кроме того, для реализации способаиспользуют комплект (три эталонных 45поглотителей известной толщины, изготовленных из однородного материала,позволяющий получать необходимые значения толщин,Устройство работает следующим об 5 О разам.При отсутствии листового материала поочередно помещают в измерительньй зазор эталонные поглотители с тремя по крайней мере значениями толщин С 1, й 2, й, лежащих в диапазоне измерения толщиномера (Фиг, 2), и определяют после преобразования на КС-звен-РР-Р 1,1=1 е + Ы(1-),где 1 интенсивность падающего излучения;линейный коэффициент ослабления излучения;плотность листового материала;параметр, учитывающий многократное рассеяние,преобразований получаютррах1-ое +1 (2) После Иэ (2) следует, что влияние рассеянного излучения сводится к постоянной для данной геометрии измерения добавке 1 Ы к экспотенциальной Функции от толщины, Вычитая 10 из 1, приводят эависимос;.ь к экспоненциальному виду:(3) Обозначив соответствующие электрические сигналы иэмери геля через С(1), Б(+1 Ы), С(1), р (р) и х(рй), получают следующее соотношение:С-Б,=(Соо) еОпределение коэффициента р производят следующим образом. Для трех градуировочных образцов толщиной определяют два соотношения 1 п( С)-1 п( С)й, -си( С 2-.)-1 п( СЗ+-)62-азгде Б - напряжение источника 7 напряжения. Сложение ск капов СС 2 С с на пряжением (-1) производится в сумматоре б. Методом подбора определяют значение Б=1 прк котором указанные соотношения равны, Дпя значения на" пряжения 1 определяют коэффициент нике и сигнала детектора, соответствующие значения аналогового сигналаЗависимость интенсивности прошедшего излучения 1 от толщины 1 листового материала с учетом многократного рассеяния может быть представлена как

Смотреть

Заявка

4067387, 18.02.1986

КИЕВСКИЙ ИНСТИТУТ АВТОМАТИКИ ИМ. ХХУ СЪЕЗДА КПСС

ПЕТРОВ ВАЛЕРИЙ ПЕТРОВИЧ, АНДРЕЙШИН ВИТАЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ГОРШКОВ ЮРИЙ СЕМЕНОВИЧ, ВАСИЛЬЕВ ВИКТОР АЛЕКСЕЕВИЧ, КУТОВОЙ ВАЛЕНТИН ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 15/02

Метки: массовой, плотности, поверхностной, толщины

Опубликовано: 07.07.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1408213-sposob-izmereniya-massovojj-poverkhnostnojj-plotnosti-ili-tolshhiny.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения массовой поверхностной плотности или толщины</a>

Похожие патенты