G01B 11/27 — для проверки соосности
Устройство для центрирования световодов при их установке в обрабатывающий станок
Номер патента: 1335806
Опубликовано: 07.09.1987
Авторы: Гайдуков, Ковалев, Малышев, Несмелов, Фаловский
МПК: G01B 11/27
Метки: обрабатывающий, световодов, станок, установке, центрирования
...центрируемого световода 14. Первую шторку 5 с помощью механизма 6 перемещения первой шторки 5 устанавливают вблизи выходного торца центрируемого световода 14 так чтобы ее верхняя кромка располагалась вблизи от вращения шпинделя 2 обрабатывающего станка, Вторую шторку 7 с помощью механизма 8 перемещения второй шторки 7 устанавливают на максимально удаленном расстоянии ат первой шторки 5, при зтом ее верхняя кромка располагается в зоне, чтобы исключить экранирование световых пучков на выходном торце центрируемого световода 14 после первой шторки 5.Так как в первоначальный момент световод 14 не соосен оси вращения центрировочного патрона 3 его выходной торец описывает окружность, а световые пучки частично перекрываются первой шторкой 5...
Датчик активного контроля к станку для центрирования наконечников соединителей волоконных световодов
Номер патента: 1350491
Опубликовано: 07.11.1987
МПК: G01B 11/27
Метки: активного, волоконных, датчик, наконечников, световодов, соединителей, станку, центрирования
...световода 20 попадают пучки лучей осветителя 1. В базировочном устройстве2 закреплен центрируемый наконечник19 соединителя волоконных световодов20. Объектив 3 формирует изображениесветящегося торца наконечника 19 вплоскости изображения.Пучки лучей, прошедшие черезобъектив 3, разделяются светоделительным кубиком 4 и пентапризмой 5на два пучка лучей, первый из которых проходит через первый поляризатор 6, а второй - через второй поляризатор 7, при этом после поляризаторов первый и второй пучки лучейбудут плоско поляризованы во взаимно перпендикулярных плоскостях.Отразившись от призмы 8 первыйи второй пучки лучей пройдут черезрадиальный растр 9 и разделятся двулучепреломляющей прйзмой 10, приэтом каждый из пучков лучей попадетна вход только...
Способ измерения отклонений от соосности отверстий
Номер патента: 1352200
Опубликовано: 15.11.1987
Авторы: Александров, Биенко, Галушко, Ильин
МПК: G01B 11/27
Метки: отверстий, отклонений, соосности
...527034 краж 677 ПодписносВНИИПИ Государстненного комитета С,СС:Р по делам изобретений и открытий13035, Москвы, Ж 35, Раугнская наб., д. 4/51 роизводственно.нопиграсрияеское предприятие, г. Ужгород, уп. Проектная, 4 Изобретение относится к электронно-измерительной технике, в частности к фотоэлектрическим спосооам измерения соосности отверстий.Целью изобретения является повышение тоЧности измерения отклонения от соосности отверстий относительно их обпей оси утем получения минимумов интенсивности в центре лифракпионных картин.Способ осуществляется следуюгцим образом.Формируют суцок с плоским волновым фронтом монохроматицеского излучения. Померцают в него последовательно по ходу пуч. ка обьектыдиафрагмы с отверстиями, отклонение от...
Устройство для центрирования объектов
Номер патента: 1375952
Опубликовано: 23.02.1988
Автор: Шиляев
МПК: G01B 11/27
Метки: объектов, центрирования
...плоских 13 и14 и параболического 12 кольцевых отражателей с диафрагмами 11.Узел 6 центрирования скрепляют с 20 объектом.Устройство работает следующим образом,Коллимированный пучок лучей источника 3 излучения разделяется тремя 25 светоделителями 4 и отражателями 5на четыре пучка лучей, один из которых совпадает с направлением пучкалучей источника 3 и является осьюцентрирования, а три остальных парал 30 лельны первому и смещены относительноего на одинаковое расстояние.Первый пучок лучей (фиг,2) проходит через диафрагму 8, диаметр которой равен диаметру пучка лучей ис точника 3, конический световод 9 ипопадает на фотоприемник 10.Три остальных пучка лучей черезсоответствующие диафрагмы 11 падаютна кольцевой параболический отражатель 12,...
Устройство для контроля параллельности осей вращающихся деталей
Номер патента: 1392358
Опубликовано: 30.04.1988
МПК: G01B 11/27
Метки: вращающихся, осей, параллельности
...установки источника 1 света(фиг. 3) или экрана 2 (фиг. 4) относительно оси 5 при различных положениях источника 1 на экране 2,Во всех этих четырех представленных случаях при вращении детали 4 синхронно с ним вращаются источники 1, падающий 6 и отраженный 7 пучки (лучи)и экран 2, След отраженного пучка (луча) 7 на экране 2 представляет собой неподвижное относительно экра" на пятно, траектория движения кото" рого в пространстве - окружность с центром на оси 5 вращения, лежащая в плоскости ей перпендикулярной (при перекосе мишени эта плоскость не совпадает с плоскостью мишени). На фиг. 5 показан случай, когдападающий пучок (луч) 6 и ось 5 вращения совпадают и неперпендикулярныплоскости зеркала 3. При вращениипадающий н отраженный пучки...
Устройство для контроля соосности двух отверстий
Номер патента: 1408212
Опубликовано: 07.07.1988
МПК: G01B 11/27
Метки: двух, отверстий, соосности
...марки, частично отражаясь от нее пучок света лазерападает на координатнъвл фотоприемник3, Другая часть пучка проходит черезполупрозрачное зеркало 6 и попадаетна координатный фотог:риемник 5, ПокОординатам положения центра отражен-.ного пучка лазера па фотоприемнике 3судят об угловом отклонении двух ст 1 Сверстий, а по координатам положенияотраженного и прошедшего частей пучков через зеркала на координатныхфотоприемниках 3 и 5 определяют отклонение от соосности контролируемыхотверстий,По измерениям устраняют угловоеотклонение от соосностя отверстий,совмещая их центры с общей осьюОпределение углового отклоненияот соосности отверстий осуществляет:ся путем определения у:.лов (фиг, 2).Х 1И =агсСдб гдеи /3 - углы, определяющие угловое...
Устройство для контроля прямолинейности перемещений
Номер патента: 1411580
Опубликовано: 23.07.1988
Автор: Шиляев
МПК: G01B 11/27
Метки: перемещений, прямолинейности
...к другу отражающими поверхностями ретроотражателя 5и полуконического отражателя 10, параболического зеркала 11, позиционночувствительного Фотоприемника 12 оптически сопряженного с параболическим зеркалом 11, ретроотражатель 5выполнен в виде двух полуконическихотражателей 13 и 14.Устройство работает следующим об"разом.40Луч лазера 1 светоделителем 2 делится на два, один из которых поступает на фотоприемник 3, определяющийположение падающего на него луча, авторой луч, ориентированный паралле 45льна направлению передвижения объекта, - на полуконический отражатель13 ретроотражателя 5.За счет того, что поверхность отражателя 13 выполнена в виде частотноселективного фильтра, излучение длиной волныпроходит дальше и пос 1тупает на...
Оптический способ центровки вала
Номер патента: 1442823
Опубликовано: 07.12.1988
Авторы: Абрамов, Петушков, Тюрин, Федотов, Шереметьев
МПК: G01B 11/27
Метки: вала, оптический, центровки
...его окружностей. Совпадение центра проекции лазерного пучка с окружностью на экране 3 при повороте целевого знака 6 на 360 показывает, что ось 9 вала отцентрирована по оси валопровода.После центровки оси 9 вала на пути лазерного пучка устанавливают полупрозрачную светоделительную пластину 5 и направляют отраженный от нее пучок на второй целевойзнак 7, расположенный на торце второго центрируемого вала (ось 10). Изменяя положение пластинки 5 добиваются совмещения проекции центра отраженного от нее лазерного лучка с центром целевого знака 7. После этого наблюдают отраженный от целевого знака 7 след пучка на втором экране 8. Поворачивают целевой знак 7 вокруг оси 10 второго вала на дискретные углы, равные 90, 180, 270 и 360. При этом...
Устройство для контроля параллельности осей двух соосных отверстий
Номер патента: 1446464
Опубликовано: 23.12.1988
МПК: G01B 11/27
Метки: двух, осей, отверстий, параллельности, соосных
...1 р расположенных в контролируемых отвертиях.На чертеже представлена принципиальная схема устройства.Устройство содержит активный элемент 1 лазера с системой накачки (не показана), полупрозрачное зеркало 2 резонатора и фотоприемник 3, установленные в центрирующем элементе 4, расположенном в одном из контролиру О емых отверстий, глухое зеркало 5 резонатора и диафрагму 6, установленные в центрирующем элементе 7, расположенном в другом контролируемом отверстии. 25Устройство работает следующим образом. создает условие генерации излучения активным элементом 1 лазера.Наличие диафрагмы 6 перед зеркалом 5 на оси устройства позволяет ограничить угловой разворот зеркал резонаторов, при котором возможна генерация излучения в лазере. При...
Способ измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
Номер патента: 1449842
Опубликовано: 07.01.1989
Автор: Бакеркин
МПК: G01B 11/27
Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической
...образом. 20По ходу излучения за объективом 1устанавливают измеряемую деталь 2так, что излучение, выходящее из объектива 1, фокусируется в вершину 0измеряемой детали 2. При этом опреде 25лявт положение А детали 2. Затем деталь 2 смещают вдоль оптической осиобъектива 1 до тех пор, пока излучение, выходящее из объектива 1, послеотражения от поверхности измеряемои30детали 2 не сфокусируется в центркривизны С поверхности объектива 1,обращенной к измеряемой детали 2, иопределяют положение А детали 2.Точность фокусировки в обоих случаяхопределяется по резкому изображениюсетки микроскопа или соответствующейкартине в интерферометре, выходнымоптическим элементом которых является объектив 1. Определив разность заФиксированных отсчетов в...
Интерферометр для измерения радиусов кривизны отражающих поверхностей
Номер патента: 1460598
Опубликовано: 23.02.1989
МПК: G01B 11/27, G01B 9/02
Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов
...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...
Фотоэлектрический датчик для центрирования объектов
Номер патента: 1471067
Опубликовано: 07.04.1989
Авторы: Кривобоков, Мыльников, Шиляев
МПК: G01B 11/27
Метки: датчик, объектов, фотоэлектрический, центрирования
...противоположно в двухвзаимно перпендикулярных направляющих четыре измерительных блока наодинаковом расстоянии от оптическойоси датчика, Каждый из измерительныхблоков выполнен в виде двух плоскихзеркал 7 и 8, установленных параллельно одно другому, и позиционночувствительного Фотоприемника 9. В 40корпусе 1 выполнены четыре отверстия10, через которые зеркала 7 оптически связаны с соответствующей частьюкольцевой зеркальной эоны 4 конуса 3.Позиционно-чувствительные Фотоприемники 9 оптически связаны через зеркала 7 и 8 и отверстия 10 ссоответствующей частью кольцевой зеркальной зоны 4 конуса 3. Диаметр диафрагмы 2 устанавливают равным диаметРупучка лучей излучателя.Датчик работает следующим образом.Пучки лучей излучателя,...
Устройство для контроля несоосности цилиндра относительно базового отверстия
Номер патента: 1490471
Опубликовано: 30.06.1989
Авторы: Кассиров, Мухамедов, Секисов
МПК: G01B 11/27
Метки: базового, несоосности, отверстия, относительно, цилиндра
...цилиндр 7, расположенныйв цилиндрическом базовом отверстиикорпуса 8, и механизм 9 перемещенияцилиндра 7,Первый осветитель 1 и первый регистратор 3 образуют первый измерительный канал, а второй осветитель 4и второй регистратор 6 - второй измерительный канал, Измерительные каналы расположены во взаимно перпендикулярных плоскостях. Осветитель ифотоприемник регистратора в каждомизмерительном канале установлены под 35острым углом к оси контролируемоговала.Предварительно измерительные каналы могут быть выставлены по образцовому цилиндру 7, закреплены относительно базового отверстия корпуса 8.. Устройство работает следующим образом.Из коллимированного пучка, формируемого каждым осветителем 1, 4, спомощью соответствующей диафрагмы 2,5,...
Устройство для контроля положения оси отверстия
Номер патента: 1490472
Опубликовано: 30.06.1989
Авторы: Каракулев, Михайлов, Пичугин, Фомченко
МПК: G01B 11/27
Метки: оси, отверстия, положения
...элемента 3 меньшего диаметра. Для подсветки целевых знаков 6 и 7 установлена лампочка 16, закрепленная наоправе 17. Отсчетный узел 18 закреплен перпендикулярно оси корпуса 1.Для преломления хода лучей на осикорпуса 1 закреплена призма 19. Вслучае применения шариков 20 (см.фиг. 3) устанавливается обойма 21,предохраняющая их от выпадания.9Устройство работает следующим образом,Затем отсчетный узел 18 через приз:му 19 последовательно фокусируют нарасположенные на оси корпусацелевые знаки 6 и 7 и измеряют координаты каждого из них относительно осиотсчетного узла 18По разности значений одноименных координат определяют положение оси отверстич 22.2 э,п. ф-лы, 3 ил. Устройство помещают в контролируемое отверстие 22, при этом ползун 8 отводят в...
Способ центрирования световодов
Номер патента: 1502960
Опубликовано: 23.08.1989
Авторы: Бабкин, Гайдуков, Измайлов, Ковалев, Лошаков, Малышев, Попков, Фаловский
МПК: G01B 11/27
Метки: световодов, центрирования
...скрепленный со шпинделем 2 и предназначенный для установки в него центрируемого световода 4 с наконечником 5, источник 6 света, установленный на станине 1 так, что он оптически связан с входным торцом центрируемого световода 4, шторку 7, установленную по 35 ходу пучка лучей из выходного торца центрируемого световода 4 после центрирующего патрона 3, фоторегистрирующий блок 8, выполненный, например, в виде матрицы ПЗС с блоками управления (не показаны) и установленный по ходу пучка лучей из выходного торца центрируемого световода после шторки 7 индикатор 9, подключенный к выходу фоторегистрирующего блока 8.45Устройство, реализующее предложенный способ, работает следующим образом.Пучки лучей от источника б света проходят через...
Устройство для контроля центрировки линз
Номер патента: 1509587
Опубликовано: 23.09.1989
Авторы: Курибко, Селезнев, Спивак
МПК: G01B 11/27
Метки: линз, центрировки
...установки 8)оптически сопряжена через светоделитель с плоскостью изображения проекционного объектива б. Блок 10 визиро 40вания может быть выполнен в виде окуляра и оптически связан через отражатель 3 с диафрагмой 4.Контролируемую линзу 11 устанавливают после объектива 7 по ходу пучка 45лучей лазера 1.Перед измерением устанавливаютчувствительность телевизионной установки 8 так, чтобы на экране монитора 9 размер автоколлимационного изоб"ражения точечной диафрагмы 4 имел минимальную величину.Устройство работает следующимобразом.Пучки лучей лазера 1 собираютсялинзой 2 в точечном отверстии диа"фрагмы 4, Проекционный объектив 6 иобъектив 7 формируют иэображение диа"фрагмы 4 в автоколлимационной точке контролируемой линзы 11. Отраженныеот...
Устройство для контроля центрирования оптических деталей
Номер патента: 1536198
Опубликовано: 15.01.1990
Автор: Парняков
МПК: G01B 11/27
Метки: оптических, центрирования
...12,При децентрировании оптической детали 20 ее центр кривизны не совпадает с осью вращения шпинделя 21 станка, при этом центральные лучи двух отраженных световых пучков отклоняются от оптических осей объективов 17 и 19. На основе зависимости расстояния между двумя отклонениями центра световых пучков в плоскости фотоприемника 12 или сетки 9 рассчитывают величину децентрировки.Аналогичным образом определяется децентрировка второй поверхности детали 20.Устройство можетбыть использовано также при контроле центрирования оптических поверхностей при склейке линзовых компонентов. В этом случае при фокусировании наклонных оптических систем на одну из склеиваемых поверхностей, принимаемую за базовую, в плоскости анализа формируется система...
Устройство контроля центрирования линз и линзовых систем
Номер патента: 1582003
Опубликовано: 30.07.1990
Авторы: Болтянов, Заболотский, Земсков, Подобрянский, Хлебников
МПК: G01B 11/27
Метки: линз, линзовых, систем, центрирования
...выходу блока 6 регистрации.,выполненного в виде датчика перемещения изображения, например, приборас зарядовой связью, два индикатора15 и 16, входы которых подключены квыходам соответствующих управляемыхключей 13 и 14,Устройство работает следующим образом,С помощью осветителя 2 производится засветка щелевой диафрагмы 3,изображение которой с помощью свето- делителя 4 и микрообъектива 5 проецируется в центр отверстия в зеркале7, Последовательно отразившись отзеркальных поверхностей диска оптического коммутатора 8 и зеркала 7,световой поток попадает в объектив11, смещением которого вдоль оси производится настройка на первую узловую точку укрепленной в патроне;17 центрируемой линзы 18, соответствующей радиусу кривизны одной иэ ее...
Коллимационный способ контроля децентрировки оптических деталей
Номер патента: 1620830
Опубликовано: 15.01.1991
Авторы: Водотыка, Троицкий, Тюкова
МПК: G01B 11/27
Метки: децентрировки, коллимационный, оптических
...линзу 10 устанавливают в базировочный узел 5, Базировочный узел 5 устанавливают с возможностью смещения вдоль оптической оси устройства, Пучки лучей источника 1 света проходят через марку 2, объектив 3, отражаются от зер кала 4, проходят через контролируемую линзу 10, отражаются от зеркала бпроходят через объектив 7 и поле отражения от зеркала 8 попадают на экран 9.Контролируемая линза 10 формирует в 30 своем заднем фокусе изображение А точки А марки 2. Базировочный узел 5 смещают вдоль оптической оси устройства в положение, при котором на экране 9 получают увеличенное изображение самой контроли руемой линзы 10. Затем контролируемую линзу 10 смещают в плоскости, перпендикулярной оптической оси уСтройства, в положение, при котором...
Визуальный целевой знак для контроля соосности объектов
Номер патента: 1633278
Опубликовано: 07.03.1991
Авторы: Алимочкин, Губин, Малыхин, Самарин, Шкурупий
МПК: G01B 11/27
Метки: визуальный, знак, объектов, соосности, целевой
...2, установленный в кор пусе, и экран 3 со шкалой, нанесен- . ный на большем торце фокона. На чертеже также показаны юстировочные винты 4 ориентации фокона вдоль оси корпуса и направление 5 опорного пуч ка света. Корпус 1 предназначен для установки его на контролируемом объекте.Целевой знак работает следующим образом. 25Направляют пучок света, материализующий опорное направление, от источника (не показан) на целевой знак. Световое пятно от пучка света на входном (меньшем) торце фокона пере носят им на матовый экран 3, нанесенный на большем его торце. Изображение светового пятна на экран 3 переносится фоконом 2 с увеличением масштаба изображения. По положению следа пятна относительно шкалы на экране судят о величине и направлении...
Целевой знак для центрирования объекта
Номер патента: 1645810
Опубликовано: 30.04.1991
МПК: G01B 11/27
Метки: знак, объекта, целевой, центрирования
...его от прямоугольной призмы 2, расположенной в корпусе 1 целевого знака, и проектируют луч на сетку 3, расположенную за выходной гранью призмы 2, 11 оложение следа луча на сетке наблюдают с помощью лупы 4, установленной с воэможностью перемещения совместно с сеткой 3, и по положению следа пятна относительно сетки судят о величине смещения центрируемого объек- й та. 2 ил.Юр/ л Составитель Н, СолодухинТехред Л.Сердюкова КорректоР Н, Корольг Редактор С, Лисина Заказ 1344 Тираж 392 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР13035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул, Гагарина, 101 5 164581 руясь на измерительную шкалу перемешений. формула...
Устройство для контроля центрирования оптических деталей
Номер патента: 1657949
Опубликовано: 23.06.1991
Автор: Парняков
МПК: G01B 11/27
Метки: оптических, центрирования
...случае выполнения отражателя 3полупрозрачным он остается в неизменном положении; в случае выполненияотражателя 3 с полним отражением он выводится с оптической оси телескопической системы Л.В этом случае пучок лучей лазера после телескопической системы отражается от отражателя 4, проходит через объектив 5, отверстие Я в диайраг. ме 6, контролируемую оптическую деталь 13 и попадает на позиционно-чувствительный датчик 1). Если контролируемая оптическая деталь 13 децентрирована, то при ее вращении в базировочном узле будут меняться условия прохождения пучка лучей, что приводит к смещению светового пятна на позиционно-чувствительном датчике О.Позиционно-чувствительный датчик 1 измеряет диаметр окружности, которую описывает световое...
Способ контроля децентрирования линз и устройство для его осуществления
Номер патента: 1668863
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Климчинский, Садов, Чернявский, Шестаков
МПК: G01B 11/27
Метки: децентрирования, линз
...14, микрообъектив 15 и формируют на позиционно-чувствительном датчике 16 с накоплением изображение тест-обьекта 4.Перед проведением контроля апре деляют минимальный шаг смещения тест-объекта 4, представляющего собой не, прозрачный экран с е щелевыми диафрагмами, Критерием выбора минимального шага является максимальное отношение 15 сигнал-шум на выходе позиционно-чувствительного датчика 11 с накоплением за один цикл измерения. Выходной сигнал позиционно-чувствительного датчика 11 с накоплением при смещении тест-обьекта 4 можно 20 представить в виде эквивалентного группового тест-объекта, число щелей которого равно е и, где и - количество шагов смещения тест-.объекта 4, На фиг. 2 а представлен вид сигнала 1(х ) с выхода...
Способ измерения децентрировки оптических деталей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1672206
Опубликовано: 23.08.1991
Автор: Бакеркин
МПК: G01B 11/27
Метки: децентрировки, оптических
...о положении детали 8 и объектива 2, Затем выбирают необходимую величину смещения Я плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали, исходя из радиусов В 1, И поверхностей оптической детали и требуемой точности измерения величины децентрирования Ь, Смещение 5 плоскости фокусировки излучения производят смещением детали 8 и объектива 2 на 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 величины Д и П, Если измерение Лпроизводить в центрах кривизны детали, то В 1+ В В 1 - В22где Д - величина смещения детали; П - величина смещения объектива; Я 1, Вг - радиусы кривизны оптической детали.С помощью экранов 6 и 7 перекрывают излучение в одном из каналов и выводят из хода излучения экран 13. На экране 11 наблюдают интерференционную картину,...
Способ измерения децентрировки асферической оптической поверхности
Номер патента: 1688109
Опубликовано: 30.10.1991
Автор: Семин
МПК: G01B 11/27
Метки: асферической, децентрировки, оптической, поверхности
...оси 1-1 необходимо определение координат еще одной точки оси симметрии асфериче. ской поверхности 5,С этой целью помещают измерительный датчик в положение, при котором тест- объект 2 фокусируется в точку асферической поверхности 5, имеющую наибольшее по модулю значение аберрации нормали, и асферическая поверхность 5 достаточно точно аппроксимируется сферой радиусом, равным сагиттальному радиусу Б асферической поверхности в указанной точке, Узел 4 регистрации измерительного датчика разворачивают в плоскости, образованной осью 1-1 вращения контролируемой поверхности и оптической осью оптической системы 3, При этом значение угла 3 между осью Н и нормалью к плоскости узла 4 регистрации устанавливают из соотношенияхсов/3 = (1 - 2; )...
Устройство для контроля децентрировки линз и объективов
Номер патента: 1698639
Опубликовано: 15.12.1991
Авторы: Курибко, Селезнев, Спивак
МПК: G01B 11/27
Метки: децентрировки, линз, объективов
...следующим образом, Пучки лучей осветителя 1, пройдя черезмарку 3, попадают в проекционный обьектив 4, который формирует в автоколлимационной точке контролируемой поверхностилинзы 10 изображениемарки 3, Пучки лучей,отразившись от контролируемой поверхности линзы 10, проходят через проекционныйобъектив 4, отражаются от отражателя 2, про. ходят через обьектив 5, поляризаторы 6 ипопадают на вход блока 7 регистрации, гдепроекционный обьектив 4 и обьектив 5 формируют увеличенное изображение марки 3,На выходе блока 7 регистрации (на экране монитора 9) будет увеличенное изображение марки 3. Децентрлровкаконтролируемой поверхности линзы 10(смещение центра кривизны контролируемой поверхности линзы 10 с оси ее базовойповерхности) приведет к...
Способ измерения непрямолинейности цилиндрических отверстий
Номер патента: 1702177
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Британ
МПК: G01B 11/27
Метки: непрямолинейности, отверстий, цилиндрических
...пучка лучей, выполненный в виде лазера 1 и последовательноустановленных по ходу пучка лучейлазера 1 объектива 2 и диафрагмы 3,После диафрагмы 3 устанавливают контролируемое цилиндрическое отверстие 204 так, чтобы его ось проходила через диафрагму 3. После контролируемого цилиндрического отверстия 4 вплоскости регистрации Р размещаютрегистрирующий узел в виде фотоплас.25тинки или оптического наблюдательного прибора (не показаны),Пучки лучей лазера 1 собираются объективом 2 на диафрагме 3. После диафрагмы 3 пучок лучей попадает в цилиндрическое отверстие 4 и после . многократных отражений от цилиндрической поверхности отверстия 4 в плоскости регистрации Р образуется кольцевая картина, при этом величина непрямолинейности...
Устройство для контроля положения в пространстве фиксирующих элементов
Номер патента: 1737266
Опубликовано: 30.05.1992
Автор: Рязанов
МПК: G01B 11/27
Метки: положения, пространстве, фиксирующих, элементов
...обнаруженного дефекта оно снабжено разъемной обоймой со струбциной,На фиг, 1 показана монтажная схема устройства для контроля и монтажа фиксирующих узлов и элементов стапеля; на фиг.2 - узел на фиг, 1,5 10 15 20 25 30 35 40 Устройство для контроля и монтажа фиксирующих узлов и элементов содержит две линии координатных линеек вдоль оси симметрии стапеля и третью линию поперечных линеек, перпендикулярную оси симметрии, на которых расположены по одному источнику излучения 1, одному целевому знаку 2 на противоположном конце линеек и по одной пентапризме 3 в середине между источником излучения и целевым знаком, поворачивающей луч на 90 в сторону головки 4, Головка 4 на взаимно перпендикулярных плоскостях имеет экраны для ориентации...
Устройство для контроля профиля поверхности оптического волокна
Номер патента: 1742614
Опубликовано: 23.06.1992
МПК: G01B 11/27
Метки: волокна, оптического, поверхности, профиля
...ТЗК, ЧТО ПЛОСКОСТИ симметрии планки и призмы совпадают, и прижимной планки, установленной на призме с возможностью взаимодействия с опорной планкой со стороны полуотнерстия, диаметр которого ранен диаметру поля зрения обьективз микрои 11 тер(ерометра,На фиг,1 представлена предлагаемое устройство, общий нид; на фиг.2 - Ч-образная призма с элементами фиксации цилиндрического наконечника ОС и способ размещения наконечника ОС в Ч-образной канавке призмы (нид А),Устройство содеркит микроинтерферометр 1, Обьектин 2 микроинтерферометра,столик 3 1 ликрои 117 ерферометра, призму 4 с Ч-Образной канавкой, контролируемую деталь 5,микронинты б вертикального и горизонтального перемещения, биссекторную глоскость 7 1 у-Образной канавки, винт 8 крепления...
Способ центрирования двух независимо вращающихся круговых растров
Номер патента: 1747884
Опубликовано: 15.07.1992
Автор: Титов
МПК: G01B 11/27
Метки: вращающихся, двух, круговых, независимо, растров, центрирования
...е соответственно в квадрантах 1,тором Расположен фотоприемник. 11, И и 1 Ч:Из соотношения (2) видно, что фазовый 01- О зп(в т 1 0)сдвиг Й становится равным нулю при энз- соответственно в 1, 1 Ч и И, И 1 квадранта;чениях а 1, равных 0 и 180, В то же время Оз = О зп(ал%)соответственно в 1,1 Ч и П, П 1 квадрантах;Ог" Оп зп(йМ+ ф)соответственно в 1, П и 1 П, 1 Ч квадрантэх;04Ои 8 п(ЙЙ+ ф 4)соответственно в, П и П,Ч квадрантах, 5Иэ полученных соотношений видно, чторазность фаз между диаметральна противоположными сигналами 01 и Оз, 02 и 04 привоздействии на каждую из этих пар составляющих эксцентриситета Ь и еу равна соответственно 2 Й и 2 ф,что вдвое больше, чемпо известному способу при тех же значениях воздействующих составляющих эксцент-...