Дробнич

Способ элементного анализа твердых тел

Загрузка...

Номер патента: 1777055

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Дробнич, Мастюгин, Поп

МПК: G01N 21/62

Метки: анализа, твердых, тел, элементного

.../) 55 можно определить спектр масс. поверхностных атомов вещества, а по высоте изломов - концентрации этих частиц. Следует отметить; что функции распределения по другим, отличным от Ч составляющим скорости такЦЧ ) - Р) (Ч ) +(Чд, (3) где б Чг) и и( (Ч) - функции распределе(4) ( )ния соответственно однократно и многократно рассеянных частиц. Многократно рассеянные частицы проходят в веществе достаточно большой путь и взаимодействуют с разными атомами мишени, Поэтому 11) (Ч) не имеет каких-либо ярких особенностей, и из нее трудно извлечь полезную информацию. Информа)цию о поверхности дает распределение 1 (Ч), Действительно, при однократном квазиупругом рассеянии первичный ион взаимодействует только с одним атомом мишени, расположенным...