Способ элементного анализа образцов

Номер патента: 392438

Авторы: Варик, Вител

ZIP архив

Текст

ОПИСАЙИИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистыцеских РеспубликЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 22,1 Ч.1971 ( 1647847/26-25) С 01 ч 5 00 с присоединением заявкиПриоритет осударственныи комите Совета Министров ССС по делам изобретений и открытий50,835 (088,8) публиковано 27.Ч 11.1973, Бюллетеньата опубликования описания 12.Х.1973 Авторыизобретения, Лейпуиская, В, И. Дрыикин и В, И. Вари сесоюзный научно-исследовательский институт ядерной геофизики и геохимииаявитель МЕНТНОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦО СП тронноельн ому актиего про- нейтроне испольп об или ментн го ак проб.Это достига зец облучают ском наприм щим учет во разцом, и по ,рений активн концентрации разце. й обра ным ди ечиваю оля об х изме судят о а в об ется тем, что исследуемь одновременно с эталон ер, алюминиевым, обесп змущения нейтронного п результатам независимь ости образца и диска определяемого элемент нного Для учета степени возмущения неитро поля вместе с анализируемой пробой об ют диски, располагаемые вне пробы или ри нее, которые могут быть изготовлен веществ, слабо поглощающих нейтроны висимо от хода сечения поглощения с гией нейтронов, например, алюминия, дия, марганца. Толщину и форму дисков бирают таким образом, чтобы наведенна тивность диска обеспечивала требуемую тистическую точность измерений. ы из неза- энер- вана- подя ак- стаПосленаведенн веденной фициент ный отнооблучен н облучения ю активно активност возмущени шению нав го с проб регистрируют раздел сть пробы и диска. По и диска вычисляют к я нейгронного поля, еденной активности ди ой к активности диска,на- оэф- равска,б Изобретение относится к неитроннвационному анализу, в частности, к,ведению на установках Нейтрон,ном размножителе (НР) и других, гдзуются представительные навески ротбитые массы.При навесках до 100 г. и более, используемых при .проведении нейтронного активационного анализа на установках Нейтрон, НРи других, часто на результаты анализа влияет состав проб. В особенности это относитсяк анализу пород, в которых могут иметь местозначительные вариации содержаний сильнопоглощающих нейтроны элементов, таких, какбор, кадмий, хлор. Вариации элементного состава приводят к разной степени возмущениянейтронного поля пробами в зоне облучения,причем эффект может достигать 50 отн. % посравнению с эталонными пробами. В связи сэтим невозможен подбор единых эталонов для 2анализа проб (кернов) даже в пределах однойскважины месторождения.Известные способы проведения анализа наустановках Нейтрон, НР и других не предусматривают учета степени возмущения нейтронного поля. В результате этого обнаружены систематические ошибки в элементномопределении,Цель изобретения - устранение систематических ошибок, связанных с вариациями эле- зо ого состава, при проведении н тивационного анализа представ392438 Предмет изобретения Составитель И. Трофимова Техред Л. Богданова Корректор Н. Стельмах Редактор М, Жиляева Заказ 2761/17 Изд.1778 Тираж 755 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 45Типография, пр. Сапунова, 2 лученного с эталоном. Исправленное значение наведенной активности пробы находят путем деления измеренной активности пробы на коэффициент возмущения нейтронного поля.Исправленное значение наведенной активности пробы сравнивают затем со значением наведенной активности эталона и отсюда вычисляют содержание определяемого элемента. Эксперименты показали, что такой способ учета Р позволяет получить точные результаты анализа в различных по химическому составу пробах. Способ элементного анализа образцов методом нейтронной активации, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности анализа, исследуемый образец облучают одновременно с эталонным диском например, алюминиевым, обеспечивающим учет возмущения нейтронного поля образцом, и по результатам независимых измерений активности образца н диска судят о концентрации определяемого элемента в образце.

Смотреть

Заявка

1647847

Всесоюзный научно исследовательский институт дерной геофизики, геохимии

витель Д.И. Лейпунска В.И. Дрынкин, В. И. Варик

МПК / Метки

МПК: G01N 23/222, G01V 5/00

Метки: анализа, образцов, элементного

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-392438-sposob-ehlementnogo-analiza-obrazcov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ элементного анализа образцов</a>

Похожие патенты